Innova SPM 掃描探針顯微鏡原子力顯微鏡
· 的信號讀錄與輸入功能便于用戶自己設計研究方法
SPM-9600掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡 SPM-9600
- 清晰的觀察圖像 SPM-9600在基本觀察功能的基礎上融入了更強的測量功能，具備了的信號處理功能，再加上研發(fā)的VBDF（Variable Bandwidth Digital Filter）功能，數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率，更高質(zhì)量的觀察圖像。SPM-9600是一種的換代產(chǎn)品。
- 豐富的檢測模式 標準配置模式包括接觸，動態(tài)和位相三種模式。 擴展模式包括：力調(diào)制、側向力，磁力（MFM）、電流、表面電勢（KFM）等檢測模式，并能和納米壓痕儀與Q調(diào)制系統(tǒng)聯(lián)用，可以輕松地升級到可控氣氛模式。無論是初學者還是專家都可輕松使用。
- 簡便快捷的操作 SPM-9600的操作界面簡明易懂。軟件的自動化功能幫助用戶都能輕松操作。并具備防振動、噪聲的結構，可不受外界干擾，快速地觀察各種樣品。
- 可擴展到控制氣氛SPM 通過追加選配件控制氣氛腔，可升級到控制氣氛型掃描探針顯微鏡WET-SPM系列。
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- 主要技術規(guī)格
測定模式 標準：接觸、動態(tài)、相位 選配模式：力調(diào)制模式、電流模式、磁力（MFM）模式、表面電位模式（KFM）、水平力模式（LFM） 分辨率 水平0.2nm 垂直0.01nm 最大掃描范圍（X/Y/Z） 30μm×30μm×5μm（標準） 125μm×125μm×7μm（選配） 55μm×55μm×13μm（選配） 最大樣品形狀 24mm × 8mm 樣品裝載方式 頭部滑動機構 分束器滑動機構 內(nèi)置在AFM頭內(nèi)
德國Nano analytik原子力顯微鏡
基于對納米先進技術的理解，Nano analytik公司研制出獨特的AFM系統(tǒng)。通用，緊湊，操作非常簡單，并適合很多種類的應用。這種新型的初級AFM系統(tǒng)研制的目的是提供一種快速的納 米尺寸的成像，它使用的是“Rangelow”型的懸臂梁，而非光學。這些懸臂上集成有傳感器和執(zhí)行器，不必象其他人工操作AFM那樣，有著復雜著激光調(diào) 節(jié)的步驟。
特別是，這個系統(tǒng)非常適合化學和生物檢測/識別，可應用于材料和生命科學應用領域。這個獨特且高精度的測量儀器設計得非常靈活，可以非常容易地用于如化學 和生物傳感器，可以作為這些傳感器的第一臺表征系統(tǒng)，它可以研究和校準不同的壓阻式或電容式懸臂梁。Nano analytik系統(tǒng)是一臺用戶友好的納米技術工具，它開放的模塊化構架，使得這臺卓越的儀器可以很容易地按照用戶需求被擴展或修改。
產(chǎn)品特點：
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小設計，大理念
我們的AFM的解決方案由獲獎團隊設計和制造。主導思想是偏轉/信號直接從懸臂梁上產(chǎn)生，我們直接從那里讀取數(shù)據(jù)，從而避免了環(huán)境的影響。
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直觀實用
我們遵循簡單實用的設計理念。
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模塊化設計
我們的創(chuàng)新解決方案可以很容易地適應您的個人需求；谀K化的系統(tǒng)，部件如減震、腔室環(huán)境、位置工作臺、掃描和探針可以被預先設置，或將來實現(xiàn)您標準配置的再升級。
功能指標：
| 操作模式 | 交流模式 / 直流模式 |
| 三維形貌 | YES |
| 振幅/相位圖像 | YES |
| 力曲線圖 | YES |
| 樣品/探針接近 | 自動 |
| 探針調(diào)諧 | 自動 |
| 檢測原理 | 壓阻 |
| 掃描范圍 | Pales掃描器*: 20 μm × 20 μm × 5 μm Adeona 掃描器: 15 μm × 15 μm × 4 μm |
| *本底噪聲 | 0.01 nm rms 垂直方向 |
| *橫向精度 | 99.7% 閉環(huán)掃描 |
| *掃描速度 | 0.01 to 40Hz |
| 同步圖像 | 相位、頻率、振幅、不平度 |
| 可選功能 | MFM - EFM - PFM - C-AFM –SThM 磁力顯微鏡－靜電力顯微鏡－ 壓電力顯微鏡－導電原子力顯微鏡－掃描熱顯微鏡 |
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AFM+多功能原子力顯微鏡
AJ-III原子力顯微鏡
AJ-III原子力顯微鏡
原子力顯微鏡
Nano-R2、Nano-DST原子力顯微鏡
主要特點
＊ 閉環(huán)式掃描器, 定位, 誤差小于1nm ＊ 具有兩種掃描器可選用, 種是Light-Level掃描器, 第二種是Crystal Force 掃描器 ＊ Crystal Force掃描器為太平洋納米科技公司的專利, 具有不須校正激光光路, 快速掃描與操作容易等優(yōu)點. 對于公用實驗室與需要量測大量樣品的客戶, Crystal Force掃描器是選擇 ＊ 可配置環(huán)境控制箱, 可控制環(huán)境的溫度, 濕度與通氣氛等強大功能 ＊ 可選配電學模式, 導電模式, 磁力模式, 摩擦力模式, 納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography, 探針加熱模式(探針溫度可達700攝氏度), 加熱樣品臺, 液體池. ＊ Nano-Rp是美國太平洋納米科技公司專門為分析納米顆粒粒徑分析的原子力顯微鏡, 包括: NanoRule+顆粒粒徑分析軟件, 能夠直接分析納米等級的顆粒并繪制出 二維或三維納米顆粒的圖像 Nanoflat Substrates可以將納米顆粒沉淀并固定在基底.
AFM新型原子力顯微鏡
| 技術參數(shù) | ||
| 分辨率：XY方向0.5nm,Z方向0.1nm； 掃描范圍：XY方向最大掃描范圍200㎛ x 200㎛,Z方向10㎛； | ||
| 主要特點 | ||
| 1、XY方向采用進的音圈馬達驅動技術，不但了更大的掃描范圍，而且大大提供的分辨率； 2、開放平臺，支持更大的樣品； 3、采用進的自感應探針，自動樣品逼近，免去了調(diào)節(jié)光路的麻煩； 4、更高的分辨率； 5、快速樣品加載、卸載； 6、價格極為優(yōu)惠； | ||
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| 又名：掃描探針顯微鏡、原子力形貌儀；采用目前近的音圈馬達驅動技術和自感應探針技術，使得測試、操作更加便捷，而且大大的提高了三維形貌的分辨率；而且高性能低價位； |
其他相關產(chǎn)品：
世界原子力顯微鏡（掃描探針顯微鏡），客戶已遍及國內(nèi)眾多重點高校和科研機構，依的品質(zhì)和的技術服務，受到客戶的好評！1.多功能掃描探針顯微鏡：用于測量各種材料表面高精度成像外，還能表征多種材料如無機物非金屬材料、金屬材料、高分子材料、復合材料和生物材料的多種物性，包括磁力、摩擦力、粘彈性、表面電位勢、靜電力、壓電響應、電流像、電流隧道譜、電容等等，還能進行納米尺度的加工及力學性質(zhì)的表征，能在大氣、液體及電化學條件下測量。
2.新型多功能可控環(huán)境掃描探針顯微鏡：目前全球商用的一款真正專業(yè)級高真空環(huán)境控制型SPM， 不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統(tǒng)所有功能；而且掃描在封閉的Chamber中進行，可對測量的環(huán)境（高真空、高溫、低溫、液體、電化學等）進行控制； 可連續(xù)變溫，低溫達-120℃，高溫可達800度；
3.大尺寸樣品掃描探針顯微鏡： 大尺寸φ200mm樣品的微區(qū)（微米至納米量級）形貌及其物理特性進行觀測分析。適用于測量各種光盤（DVD，CD，HD等）、磁盤、半導體、微電子及其他大尺寸的樣品。
4.低溫掃描霍爾顯微鏡（LT-SHPM，低溫霍爾顯微鏡）：該系統(tǒng)可與多種低溫杜瓦聯(lián)用，實現(xiàn)低溫1K~300K溫度范圍內(nèi)樣品表面微區(qū)磁場分布定量化圖像化分析，樣品尺寸達15＊15＊5mm，微區(qū)磁化性能B-H曲線和M-H曲線測量，實時測量動態(tài)磁化現(xiàn)象，支持擴展STM、AFM、MFM、EFM和SNOM等功能，磁場高達16T； 5.多功能PPMS掃描探針顯微鏡（PPMS-SPM）：該系統(tǒng)可與現(xiàn)有的幾乎所有的PPMS系統(tǒng)（物性測量系統(tǒng)，如 Quantum Design,Inc. ）聯(lián)用，實現(xiàn)AFM、MFM、SHPM、STM、EFM和SNOM等測量功能，并且可在溫度范圍2K~300K和磁場高達16T條件下，高分辨成像； 6.mK 超低溫掃描探針顯微鏡（mK-SPM，超低溫原子力顯微鏡）：該系統(tǒng)可與牛津儀器的Dilution低溫杜瓦和He3系統(tǒng)，或者其他mK系統(tǒng)聯(lián)用，實現(xiàn)mK~300K溫度范圍高分辨樣品表面成像；主要測量功能STM、接觸式AFM、非接觸式AFM、MFM、Quartz/Akiyama AFM、EFM和SNOM等，磁場高達16T；