XT-50沖擊試樣缺口投影儀
一、 用途與特點:
該機是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器。該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,操作簡便,檢查對比直觀、效率高,是目前切實可行、并能檢查質量的方法,是相關理化試驗室的必備儀器。
二、 主要技術參數:
1. 放大倍數:50×;
2. 投影屏尺寸:ф200mm;
3. 工作臺位移:縱向±10mm,橫向±10mm,升降±12mm(無刻度);
4. 工作臺轉動范圍:0~360о(無刻度);
5. 光源:鹵鎢燈12V 100W;
6. 電源:220V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸:515×224×603mm;
8. 重量: 約18kg。
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主要技術指標
沖擊試樣缺口投影儀 型號M191487 | 貨號: |
產品說明: JK21-CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質量而設計、開發(fā)的一種專用光學儀器,與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標準樣板圖進行對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高。是理化試驗室的必備專用設備。 技術參數: 投影屏: 200×200mm 放大倍數: 50X 光源: 12V 100W(鹵鎢燈) 電源: 220V 50Hz 150W 外型尺寸: 515×224×603mm 重量: 約18Kg | 產品圖片 |
設備簡介:CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,...
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器,該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。主要技術指標1、投影屏直徑 :180mm2、工作臺尺寸 :方工作臺尺寸:110×125mm 工作臺直徑:90mm 工作臺玻璃直徑:70mm3、工作臺行程 :縱向:±10mm 橫向:±10mm 升降:±12mm4、工作臺轉動范圍: 0~360°5、儀器放大倍率:50X 物鏡放大倍率: 2.5X 投影物鏡放大倍率:20x6、光源(鹵鎢燈):12V 100W7、電源: 220V 50Hz8、外形尺寸:515×224×603mm9、重量: 30kg
、性能特點:
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀/沖擊試驗夏比投影儀,是根據廣大用戶的實際需求與GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種檢察夏比V 型和U 型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器。該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投影到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V 或U型缺口標準樣樣板圖對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是 操作簡便,檢查對比真觀,效率高。 該儀器還可用于機械零件的外形輪廓,防治物纖維,生物切片分析,工量刀具檢驗,儀表元件和半導體器件的投影檢測,操作簡便,檢查對比直觀、效率高。