CST-50夏比投影儀（沖擊試樣缺口投影儀）
CST-50型夏比沖擊試驗(yàn)試樣缺口投影儀是為檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計(jì)開發(fā)的用光學(xué)儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上，與刻在觀察屏上的標(biāo)準(zhǔn)圖板(符合國標(biāo)GB、美標(biāo)ASTM)進(jìn)行比對(duì)，即可快速判斷檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格。該儀器操作簡(jiǎn)單，對(duì)比直觀，效率高，能消除人為誤差，是理化試驗(yàn)室的必備用儀器！镞m用標(biāo)準(zhǔn) GB/T 229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》 ASTM E23-02a 《材料缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)沖擊試驗(yàn)方法》★技術(shù)參數(shù)1、放大倍數(shù)：50倍。2、投影屏直徑：200mm。3、工作臺(tái)尺寸 方工作臺(tái)：110mm×125mm 圓工作臺(tái)：Ø90mm 工作臺(tái)玻璃直徑：Ø70mm。4、工作臺(tái)行程：縱向：10mm， 橫向：10mm， 升降：12mm。5、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360°。6、儀器放大倍率：50× 物鏡放大倍率：2.5× 投影物鏡放大倍率：20×。7、光源（鹵鎢燈）：12V 100W。8、電源：AC 220V 50Hz。9、外形尺寸：515mm(L)×224mm(W)×603mm(H)。10、重量：約20kg。
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| 產(chǎn)品名稱：CST-50沖擊試樣缺口投影儀 產(chǎn)品編號(hào)：CST-50 產(chǎn)品說明： 該投影儀是為檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計(jì)開發(fā)的專用光學(xué)儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上，與刻在觀察屏上的標(biāo)準(zhǔn)圖板進(jìn)行比對(duì)，即可快速判定檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格；對(duì)比直觀，操作簡(jiǎn)單，效率高。是理化試驗(yàn)室的必備專用設(shè)備。 主要技術(shù)指標(biāo)：
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CST-50沖擊試樣缺口投影儀
該投影儀是為檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計(jì)開發(fā)的專用光學(xué)儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上，與刻在觀察屏上的標(biāo)準(zhǔn)圖板進(jìn)行比對(duì)，即可快速判定檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格；對(duì)比直觀，操作簡(jiǎn)單，效率高。是理化試驗(yàn)室的必備專用設(shè)備。
一．簡(jiǎn)介：
ST-50型沖擊試樣缺口投影儀，是根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94«金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法»中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種檢察夏比V 型和U 型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投影到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V 或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比真觀，效率高。
該儀器還可用于機(jī)械零件的外形輪廓，防治物纖維，生物切片分析，工量刀具檢驗(yàn)，儀表元件和半導(dǎo)體器件的投影檢測(cè)，操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀、效率高；
二．主要參數(shù)
1. 投影屏直徑：180mm
2. 工作臺(tái)尺寸： 方工作臺(tái)尺寸：110＊125mm
園工作臺(tái)直徑：90mm
工作臺(tái)玻璃直徑：70mm
3. 工作臺(tái)行程：
縱向：±10mm
橫向：±10mm
升降: ±12mm
4. 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0~360º
5. 儀器放大倍率：50X
物鏡放大倍率：2.5X
投影物鏡放大倍率：20X
6. 光源（鹵鎢燈）：12V
7. 電源：220V 50HZ
8. 外形尺寸：515＊224＊603mm
9. 重量：18kg
一、概述 XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是濟(jì)南時(shí)光試驗(yàn)儀器有限公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，對(duì)比直觀。 二、工作原理： XT-50沖擊試樣缺口投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。 根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上，再通過一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致。 三、濟(jì)南沖擊試樣缺口投影儀XT-50主要參數(shù)： 投影屏直徑： 180mm 方工作臺(tái)尺寸： 110×125mm 圓工作臺(tái)直徑： 90mm 工作臺(tái)玻璃直徑： 70mm 縱向： ±10mm 橫向： ±10mm 升降： ±12mm（無刻度） 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍： 0-360°（無刻度） 儀器放大倍率： 50X 物鏡放大倍率： 2.5X 投影物鏡放大倍率： 20X 光源（鹵鎢燈）： 12V 100W 外形尺寸： 515×224×603mm（長×寬×高） 重量： 約18Kg
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
CTS-50型沖擊試樣缺口投影儀是根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和國標(biāo)中對(duì)沖擊試樣的要求而設(shè)
計(jì)，開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和型
缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，一確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，對(duì)比直觀，操作簡(jiǎn)單，效率高，
是理化試驗(yàn)室的必備專用設(shè)備。該產(chǎn)品滿足GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》的要
求，可同時(shí)滿足ASTM E23-02a等國際標(biāo)準(zhǔn)。
二、主要技術(shù)參數(shù)：
1、投影屏直徑： 180mm
2、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0-360°
3、工作臺(tái)尺寸：方工作臺(tái)尺寸：110×125mm，
方工作臺(tái)直徑：90mm，工作臺(tái)玻璃直徑：70mm
4、工作臺(tái)行程：縱向：±10mm，橫向：±10mm，升降：±12mm
5、放大倍數(shù)： 50X
6、光源：12V 100W（鹵鎢燈）
7、電源：220V 50Hz 150W
8、外型尺寸： 515×224×603mm
9、重量：18Kg