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    • 探針臺(tái)產(chǎn)品及廠家

      定制實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)高低溫真空探針測試系統(tǒng)材料測試儀器
      錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      三維磁場探針臺(tái)多維磁場實(shí)驗(yàn)裝置半導(dǎo)體材料測試
      三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配,通過真正的雙性電源輸出,實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      磁場探針臺(tái)產(chǎn)生多維磁場半導(dǎo)體測試設(shè)備
      磁場探針臺(tái)產(chǎn)生多維磁場半導(dǎo)體測試設(shè)備三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配,通過真正的雙性電源輸出,實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      JZM-D30室溫探針臺(tái)磁場、電源、樣品臺(tái)均可定制
      該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用,可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場環(huán)境探針臺(tái)
      半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場環(huán)境探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)
      半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái) 錦正茂高低溫真空探針臺(tái)可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測試(4.2k~500k)。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      高溫磁場加熱系統(tǒng)
      主要技術(shù)指標(biāo):※ 溫度范圍:室溫—350℃(硅片上邊溫度)※ 控溫精度:±1℃※ 溫度分辨率:0.1℃※ 樣品尺寸:8英寸(需要有固定夾具,還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定)
      更新時(shí)間:2024-11-22
      錦正茂科技低溫三維磁場探針臺(tái)
      可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試(10k~325k)。磁場強(qiáng)度在x軸上為0.75t,在y軸上為0.75 t,在z軸上為0.4t。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      高低溫探針臺(tái) 用于傳感器 半導(dǎo)體 光電測試
      1、真空腔體約直徑260mm,2、帶有4英寸高透射觀察窗,材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺(tái)直徑:50mm 樣品載臺(tái)平整度<5微米
      更新時(shí)間:2024-11-22
      高?蒲袑(shí)驗(yàn)室高低溫探針臺(tái)
      可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測,用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      錦正茂科技 定制高低溫探針臺(tái)
      高低溫探針臺(tái)t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個(gè)80k-420k高低溫測試環(huán)境,
      更新時(shí)間:2024-11-22
      室溫探針臺(tái)實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測試儀器光學(xué)平臺(tái)
      該類型的探針臺(tái)主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      三維磁場探針臺(tái)測試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測試設(shè)備
      三維磁場探針臺(tái)測試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測試設(shè)備通過真正的雙性電源輸出,實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      氣氛型高溫探針臺(tái) 樣品材料電學(xué) 光學(xué)測試實(shí)驗(yàn)臺(tái)
      快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫,可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué),電學(xué)測試。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)
      半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測試
      氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測試控溫精度:±0.1k;真空度:10e-3pa;
      更新時(shí)間:2024-11-22
      真空探針臺(tái)高低溫測試實(shí)驗(yàn)臺(tái)材料測試霍爾測試
      應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)
      實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用,可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      高低溫真空探針臺(tái)測試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺(tái)
      高低溫真空探針臺(tái)測試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺(tái)可升加載磁場,低溫防輻射屏設(shè)計(jì)。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      實(shí)驗(yàn)測量設(shè)備磁場探針臺(tái)芯片測試半導(dǎo)體儀器
      實(shí)驗(yàn)測量設(shè)備磁場探針臺(tái)芯片測試半導(dǎo)體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      JZM-D30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器
      jzm-d30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的,探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      高低溫真空探針臺(tái)材料測試電磁測試儀器
      錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      定制氣氛型高溫探針臺(tái)光學(xué)電學(xué)測試儀器
      根據(jù)樣品材料,形狀不同可選擇探針,插拔等多種安裝測試方式。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺(tái)
      材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
      更新時(shí)間:2024-11-22
      高溫真空探針臺(tái)
      高溫真空探針臺(tái)kt-z1604tz,可單選高溫或低溫等相應(yīng)組件,溫度可達(dá)到400℃。以便測量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。
      更新時(shí)間:2024-11-14
      真空探針臺(tái)
      真空探針臺(tái)kt-z160tz,高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測量環(huán)境,以便測量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。
      更新時(shí)間:2024-11-14
      微型高低溫探針臺(tái)
      微型高低溫探針臺(tái)kt-z4019mrl4t結(jié)構(gòu)緊湊,適用于各種變溫測試。-196℃~400℃(配液氮致冷模塊)氣密腔室設(shè)計(jì),可通保護(hù)氣氛
      更新時(shí)間:2024-11-14
      微型高溫探針臺(tái)
      微型高溫探針臺(tái)kt-z400mr4t,0-400℃溫控,主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測量。
      更新時(shí)間:2024-11-14
        SJX電動(dòng)臥式測試臺(tái)
      sjx電動(dòng)臥式測試臺(tái)一、sjx電動(dòng)臥式測試臺(tái)的功能:    sjx電動(dòng)臥式機(jī)臺(tái)是專為hf系列和nk系列推拉力計(jì)配套用的推拉負(fù)荷試驗(yàn)臺(tái)。本產(chǎn)品采用雙導(dǎo)桿結(jié)構(gòu),具有穩(wěn)定性好,適用范圍廣
      更新時(shí)間:2024-11-07
      德國Veith測試探針
      早在 1912 年,公司創(chuàng)始人 alfred konrad veith 就推出了他的臺(tái)無心磨床,他已經(jīng)使用它來生產(chǎn)精密圓形零件。柏林的工廠在第二次大戰(zhàn)的空襲中被摧毀。
      更新時(shí)間:2024-11-06
      赫爾納-供應(yīng)德國diatest測針
      赫爾納-供應(yīng)德國diatest測針德國總部直接采購diatest測針,原裝產(chǎn)品,貨期好,支持選型,為您提供一對一好的解決方案:赫爾納大連公司在中國設(shè)有10個(gè)辦事處,可為您提供好的維修服務(wù)。
      更新時(shí)間:2024-11-06
      的英國Jandel探針-德國赫爾納
      的英國jandel探針-德國赫爾納赫爾納貿(mào)易(大連)有限公司,2013年創(chuàng)建,德國公司,專.業(yè).德國代.購,價(jià)格優(yōu)惠。
      更新時(shí)間:2024-11-06
      強(qiáng)勢供應(yīng)英國jandel探針-德國赫爾納歐洲直采5分鐘報(bào)價(jià)
      jandel為我們所熟知的四點(diǎn)電阻率測量機(jī)制造電阻率探頭。我們還制造用于半導(dǎo)體行業(yè)以及大學(xué),實(shí)驗(yàn)室工作和研究應(yīng)用的電阻率測量設(shè)備。jandel engineering是一家私人有限公司,成立于1967年。我們的款產(chǎn)品是電解濕度計(jì)電池,它帶有一個(gè)用0.05mm直徑鉑絲(用于測量氣體中的水分)的螺旋切割石英成型雙線繞線管。
      更新時(shí)間:2024-11-06
      赫爾納-供應(yīng)德國diatest測針BMD
      德國總部直接采購diatest測針,原裝產(chǎn)品,貨期好,支持選型,為您提供對好的解決方案:赫爾納大連公司在中國設(shè)有10個(gè)辦事處,可為您提供好的維修服務(wù)。
      更新時(shí)間:2024-11-06
      手動(dòng)臺(tái)階儀
      國產(chǎn)手動(dòng)臺(tái)階儀 js10a,穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量,采用金剛石探針,無畸變的觀察樣品區(qū),實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域,突破三個(gè)核心技術(shù),國內(nèi)研發(fā)生產(chǎn),便于售后服務(wù)。【支持定制臺(tái)階儀】
      更新時(shí)間:2024-10-29
      半自動(dòng)臺(tái)階儀
      國產(chǎn)半自動(dòng)臺(tái)階儀js100a,擁有高精度、高分解能,搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu),提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。js100a提供兩個(gè)彩色攝像頭對樣品和針尖同時(shí)成像,可無畸變的觀察樣品區(qū),方便定位特征區(qū)域,同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
      更新時(shí)間:2024-10-29
      全自動(dòng)臺(tái)階儀
      國產(chǎn)全自動(dòng)臺(tái)階儀js1000a,擁有高精度、高分解能,搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu),提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。js1000a提供兩個(gè)彩色攝像頭對樣品和針尖同時(shí)成像,可無畸變的觀察樣品區(qū),方便定位特征區(qū)域,同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
      更新時(shí)間:2024-10-29
      祥樹優(yōu)勢產(chǎn)品ODU 插針#祥樹趙工推薦
      上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國工業(yè)控制自動(dòng)化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商,專/業(yè)從事各種國外中高端的工控自動(dòng)化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營來自歐洲、美國、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類自動(dòng)化產(chǎn)品,并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
      更新時(shí)間:2024-10-23
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      更新時(shí)間:2024-10-23
      祥樹優(yōu)勢產(chǎn)品STAHL 電機(jī) #祥樹趙工推薦
      上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國工業(yè)控制自動(dòng)化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商,專/業(yè)從事各種國外中高端的工控自動(dòng)化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營來自歐洲、美國、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類自動(dòng)化產(chǎn)品,并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
      更新時(shí)間:2024-10-23
      Janis ST-500系列開循環(huán)探針臺(tái)
      janis st-500系列探針臺(tái)是高性能的研究儀器,旨在為晶片和設(shè)備提供經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的真空和低溫探測環(huán)境。久經(jīng)考驗(yàn)的st-500低溫恒溫器是這些探針臺(tái)的基礎(chǔ)部分,包括低振動(dòng)技術(shù)(初設(shè)計(jì)用于高空間分辨率光學(xué)顯微鏡),以提供出色的樣品位置穩(wěn)定性。 各地的研究人員正在使用這些系統(tǒng)來進(jìn)行廣泛域的研究,包括mems、納米電子學(xué)、超導(dǎo)性、鐵電學(xué)、材料科學(xué)和光學(xué)。
      更新時(shí)間:2024-10-21
      Janis CCR閉循環(huán)系列探針臺(tái)
      janis ccr閉循環(huán)系列探針臺(tái)為研究人員提供了真空和低溫測試功能,而無需使用液氦,液氮制冷。4 k、10 k和80 k低溫恒溫器使用成熟的gm制冷機(jī)冷卻樣品,性能可靠且價(jià)格合理。典型應(yīng)用包括mems、納米電子、超導(dǎo)、鐵電、材料科學(xué)和光學(xué)。
      更新時(shí)間:2024-10-21
      TS2000-DP Probe System 經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動(dòng)高功率測試探針臺(tái)
      ts2000-dp是mpi提供一套多功能且經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動(dòng)高功率測試探針臺(tái),可在20°c至300°c的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行晶圓載片上高功率應(yīng)用的測量,且測量能力高達(dá)3kv(三軸)/10kv(同軸)和600a(脈沖)。
      更新時(shí)間:2024-10-21
      TS300-SE Probe System  MPI 手動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)(微屏蔽)
      mpi ts300-shieldenvironment™(ts300-se)12英寸探針臺(tái)旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測量功能環(huán)境。 它以佳高度與防震臺(tái)結(jié)合在一起,使日常操作非常方便
      更新時(shí)間:2024-10-21
      TS200-SE Probe System  MPI手動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)(微屏蔽)
      mpi ts200-shieldenvironment™(ts200-se)8英寸探針臺(tái)可提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測量功能。
      更新時(shí)間:2024-10-21
      TS3500 Probe System  全自動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)
      ts3500和ts3500-se 在功能上與mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探針臺(tái)具有相同的功能,并通過配置或升mpi獨(dú)特的waferwallet™而具有完全自動(dòng)化的功能。mpi的解決方案通過提供比其他供應(yīng)商的半自動(dòng)化產(chǎn)品更少的完全自動(dòng)化功能,降低了客戶的總體測試成本。
      更新時(shí)間:2024-10-21
      SiPH Probe System  半自動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)
      mpi為其的ts2000-se,ts3000,ts3000-se,ts3500和ts3500-se探針系統(tǒng)設(shè)計(jì)了用的siph升,
      更新時(shí)間:2024-10-21
      TS3000 Probe System 半自動(dòng)300mm探針臺(tái)測試系統(tǒng)
      mpi的ts3000是半自動(dòng)300mm探針臺(tái)測試系統(tǒng),搭配獨(dú)特的可開放式下做高低溫測試,門為產(chǎn)品工程,故障分析,設(shè)計(jì)驗(yàn)證,晶圓可靠性以及rf和mmw應(yīng)用而設(shè)計(jì)。
      更新時(shí)間:2024-10-21
      超低溫磁場探針臺(tái)
      半自動(dòng)真空低溫探針臺(tái)使晶圓和器件在低溫下9k(singleccr系統(tǒng))、4.5k(dualccr系統(tǒng))甚至低于4k(triple ccr系統(tǒng))的情況下能夠快速、經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行測試。低溫探針臺(tái),設(shè)計(jì)用于支持在真空或氣體環(huán)境中對高達(dá)100mm、150mm或高達(dá)300mm的晶圓進(jìn)行自動(dòng)動(dòng)或半自動(dòng)測試。 系統(tǒng)精度高、成本低、噪音低、使用方便。系統(tǒng)建立在一個(gè)振動(dòng)補(bǔ)償?shù)亩喙δ芷脚_(tái)上,能夠配置來各種測試應(yīng)用程序。
      更新時(shí)間:2024-10-21

      最新產(chǎn)品

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