探針臺(tái)產(chǎn)品及廠家
主要技術(shù)指標(biāo)：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定）
更新時(shí)間:2024-11-22
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測(cè)試（10k~325k）。磁場(chǎng)強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時(shí)間:2024-11-22
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺(tái)直徑：50mm 樣品載臺(tái)平整度<5微米
更新時(shí)間:2024-11-22
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測(cè)，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-11-22
高低溫探針臺(tái)t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80k-420k高低溫測(cè)試環(huán)境，
更新時(shí)間:2024-11-22
該類型的探針臺(tái)主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
更新時(shí)間:2024-11-22
三維磁場(chǎng)探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。
更新時(shí)間:2024-11-22
快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2024-11-22
半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-11-22
氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測(cè)試控溫精度：±0.1k；真空度：10e-3pa；
更新時(shí)間:2024-11-22
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-11-22
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測(cè)量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場(chǎng)的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2024-11-22
高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺(tái)可升加載磁場(chǎng)，低溫防輻射屏設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-11-22
實(shí)驗(yàn)測(cè)量設(shè)備磁場(chǎng)探針臺(tái)芯片測(cè)試半導(dǎo)體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-11-22
jzm-d30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的，探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-11-22
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-11-22
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-11-22
高溫真空探針臺(tái)kt-z1604tz，可單選高溫或低溫等相應(yīng)組件，溫度可達(dá)到400℃。以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測(cè)試結(jié)果誤差。
更新時(shí)間:2024-11-14
真空探針臺(tái)kt-z160tz，高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測(cè)量環(huán)境，以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測(cè)試結(jié)果誤差。
更新時(shí)間:2024-11-14
微型高低溫探針臺(tái)kt-z4019mrl4t結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測(cè)試。-196℃~400℃（配液氮致冷模塊）氣密腔室設(shè)計(jì)，可通保護(hù)氣氛
更新時(shí)間:2024-11-14
微型高溫探針臺(tái)kt-z400mr4t，0-400℃溫控，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-11-14
sjx電動(dòng)臥式測(cè)試臺(tái)一、sjx電動(dòng)臥式測(cè)試臺(tái)的功能： sjx電動(dòng)臥式機(jī)臺(tái)是專為hf系列和nk系列推拉力計(jì)配套用的推拉負(fù)荷試驗(yàn)臺(tái)。本產(chǎn)品采用雙導(dǎo)桿結(jié)構(gòu)，具有穩(wěn)定性好，適用范圍廣
更新時(shí)間:2024-11-07
早在 1912 年，公司創(chuàng)始人 alfred konrad veith 就推出了他的臺(tái)無心磨床，他已經(jīng)使用它來生產(chǎn)精密圓形零件。柏林的工廠在第二次大戰(zhàn)的空襲中被摧毀。
更新時(shí)間:2024-11-06
赫爾納-供應(yīng)德國diatest測(cè)針德國總部直接采購diatest測(cè)針，原裝產(chǎn)品，貨期好，支持選型，為您提供一對(duì)一好的解決方案：赫爾納大連公司在中國設(shè)有10個(gè)辦事處，可為您提供好的維修服務(wù)。
更新時(shí)間:2024-11-06
的英國jandel探針-德國赫爾納赫爾納貿(mào)易(大連)有限公司，2013年創(chuàng)建，德國公司，專.業(yè).德國代.購，價(jià)格優(yōu)惠。
更新時(shí)間:2024-11-06
jandel為我們所熟知的四點(diǎn)電阻率測(cè)量機(jī)制造電阻率探頭。我們還制造用于半導(dǎo)體行業(yè)以及大學(xué)，實(shí)驗(yàn)室工作和研究應(yīng)用的電阻率測(cè)量設(shè)備。jandel engineering是一家私人有限公司，成立于1967年。我們的款產(chǎn)品是電解濕度計(jì)電池，它帶有一個(gè)用0.05mm直徑鉑絲（用于測(cè)量氣體中的水分）的螺旋切割石英成型雙線繞線管。
更新時(shí)間:2024-11-06
德國總部直接采購diatest測(cè)針，原裝產(chǎn)品，貨期好，支持選型，為您提供對(duì)好的解決方案：赫爾納大連公司在中國設(shè)有10個(gè)辦事處，可為您提供好的維修服務(wù)。
更新時(shí)間:2024-11-06
國產(chǎn)手動(dòng)臺(tái)階儀 js10a，穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量，采用金剛石探針，無畸變的觀察樣品區(qū)，實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域，突破三個(gè)核心技術(shù)，國內(nèi)研發(fā)生產(chǎn)，便于售后服務(wù)！局С侄ㄖ婆_(tái)階儀】
更新時(shí)間:2024-10-29
國產(chǎn)半自動(dòng)臺(tái)階儀js100a，擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。js100a提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
更新時(shí)間:2024-10-29
國產(chǎn)全自動(dòng)臺(tái)階儀js1000a，擁有高精度、高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。js1000a提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
更新時(shí)間:2024-10-29
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國工業(yè)控制自動(dòng)化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商，專/業(yè)從事各種國外中高端的工控自動(dòng)化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營來自歐洲、美國、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類自動(dòng)化產(chǎn)品，并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
更新時(shí)間:2024-10-23
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國工業(yè)控制自動(dòng)化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商，專/業(yè)從事各種國外中高端的工控自動(dòng)化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營來自歐洲、美國、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類自動(dòng)化產(chǎn)品，并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
更新時(shí)間:2024-10-23
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國工業(yè)控制自動(dòng)化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商，專/業(yè)從事各種國外中高端的工控自動(dòng)化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營來自歐洲、美國、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類自動(dòng)化產(chǎn)品，并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
更新時(shí)間:2024-10-23
janis st-500系列探針臺(tái)是高性能的研究儀器，旨在為晶片和設(shè)備提供經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的真空和低溫探測(cè)環(huán)境。久經(jīng)考驗(yàn)的st-500低溫恒溫器是這些探針臺(tái)的基礎(chǔ)部分，包括低振動(dòng)技術(shù)（初設(shè)計(jì)用于高空間分辨率光學(xué)顯微鏡），以提供出色的樣品位置穩(wěn)定性。 各地的研究人員正在使用這些系統(tǒng)來進(jìn)行廣泛域的研究，包括mems、納米電子學(xué)、超導(dǎo)性、鐵電學(xué)、材料科學(xué)和光學(xué)。
更新時(shí)間:2024-10-21
janis ccr閉循環(huán)系列探針臺(tái)為研究人員提供了真空和低溫測(cè)試功能，而無需使用液氦，液氮制冷。4 k、10 k和80 k低溫恒溫器使用成熟的gm制冷機(jī)冷卻樣品，性能可靠且價(jià)格合理。典型應(yīng)用包括mems、納米電子、超導(dǎo)、鐵電、材料科學(xué)和光學(xué)。
更新時(shí)間:2024-10-21
ts2000-dp是mpi提供一套多功能且經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動(dòng)高功率測(cè)試探針臺(tái)，可在20°c至300°c的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行晶圓載片上高功率應(yīng)用的測(cè)量，且測(cè)量能力高達(dá)3kv（三軸）/10kv（同軸）和600a（脈沖）。
更新時(shí)間:2024-10-21
mpi ts300-shieldenvironment™（ts300-se）12英寸探針臺(tái)旨在對(duì)300mm晶圓及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測(cè)量功能環(huán)境。 它以佳高度與防震臺(tái)結(jié)合在一起，使日常操作非常方便
更新時(shí)間:2024-10-21
mpi ts200-shieldenvironment™（ts200-se）8英寸探針臺(tái)可提供高emi / rfi /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測(cè)量功能。
更新時(shí)間:2024-10-21
ts3500和ts3500-se 在功能上與mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探針臺(tái)具有相同的功能，并通過配置或升mpi獨(dú)特的waferwallet™而具有完全自動(dòng)化的功能。mpi的解決方案通過提供比其他供應(yīng)商的半自動(dòng)化產(chǎn)品更少的完全自動(dòng)化功能，降低了客戶的總體測(cè)試成本。
更新時(shí)間:2024-10-21
mpi為其的ts2000-se，ts3000，ts3000-se，ts3500和ts3500-se探針系統(tǒng)設(shè)計(jì)了用的siph升，
更新時(shí)間:2024-10-21
mpi的ts3000是半自動(dòng)300mm探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)，搭配獨(dú)特的可開放式下做高低溫測(cè)試，門為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓可靠性以及rf和mmw應(yīng)用而設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-10-21
半自動(dòng)真空低溫探針臺(tái)使晶圓和器件在低溫下9k(singleccr系統(tǒng))、4.5k(dualccr系統(tǒng))甚至低于4k(triple ccr系統(tǒng))的情況下能夠快速、經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行測(cè)試。低溫探針臺(tái)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或氣體環(huán)境中對(duì)高達(dá)100mm、150mm或高達(dá)300mm的晶圓進(jìn)行自動(dòng)動(dòng)或半自動(dòng)測(cè)試。 系統(tǒng)精度高、成本低、噪音低、使用方便。系統(tǒng)建立在一個(gè)振動(dòng)補(bǔ)償?shù)亩喙δ芷脚_(tái)上，能夠配置來各種測(cè)試應(yīng)用程序。
更新時(shí)間:2024-10-21
納米探測(cè)面臨的挑戰(zhàn)· 定位精度· 安全（軟）著陸接觸· 具有適當(dāng)尖端半徑的可靠探針頭· 清潔環(huán)境：試驗(yàn)箱、樣品、探針頭· 振動(dòng)敏感性低· 噪聲抑制· 漂移補(bǔ)償· 電路編輯/延遲：在fib角度操作
更新時(shí)間:2024-10-21
數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
更新時(shí)間:2024-10-18
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