| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EM13 LD/635 (或其它選定波長(zhǎng)) |
| 激光波長(zhǎng) | 635 nm (或其它選定波長(zhǎng)，高穩(wěn)定半導(dǎo)體激光器) |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性（1） | 0.5nm (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率測(cè)量重復(fù)性（1） | 5x10-3 (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 單次測(cè)量時(shí)間 | 與測(cè)量設(shè)置相關(guān)，典型3s |
| 的膜層范圍 | 透明薄膜可達(dá)1000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 光學(xué)結(jié)構(gòu) | PSCA（Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度） |
| 激光光束直徑 | 2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動(dòng)調(diào)節(jié)，步進(jìn)5° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié)：±6.5mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° 樣品對(duì)準(zhǔn)：光學(xué)自準(zhǔn)直和顯微對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng) |
| 樣品臺(tái)尺寸 | 平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm |
| 外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時(shí)) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺(tái)，真空吸附泵 |
| 軟件(ETEM) | * 中英文界面可選 * 多個(gè)預(yù)設(shè)項(xiàng)目供快捷操作使用 * 單角度測(cè)量/多角度測(cè)量操作和數(shù)據(jù)擬合 * 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出 * 豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫(kù)支持 |
CHY-C2A電子薄膜厚度測(cè)量?jī)x PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測(cè)量?jī)x
CHY-C2A電子薄膜厚度測(cè)量?jī)x PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測(cè)量?jī)x采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
產(chǎn)品關(guān)鍵詞：測(cè)厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測(cè)厚儀，紙張厚度測(cè)定儀，厚度測(cè)量?jī)x，厚度計(jì)，薄膜厚度測(cè)量?jī)x，薄膜厚度檢測(cè)儀，薄膜厚度測(cè)定儀，薄片測(cè)厚儀，硅片測(cè)厚儀，GB 6672，紙張測(cè)厚儀
CHY-C2A電子薄膜厚度測(cè)量?jī)x PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測(cè)量?jī)x技術(shù)特征：
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2A電子薄膜厚度測(cè)量?jī)x PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測(cè)量?jī)x技術(shù)指標(biāo)：
負(fù)荷量程：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測(cè)量速度：10 次/min（可調(diào)）
測(cè)量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg
儀器配置：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
選購(gòu)件：業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)
該公司產(chǎn)品分類：
智能型反壓高溫蒸煮鍋
鋰電池隔膜透氣性測(cè)試儀
透濕儀、透濕性測(cè)試儀
蒸發(fā)殘?jiān)阒貎x、蒸發(fā)殘?jiān)鼉x
透氣儀、透氣性能測(cè)試儀
透氧儀、透氧性測(cè)試儀
熱粘拉力試驗(yàn)儀
透氣性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)膜片
膠粘帶壓滾機(jī)
圓盤(pán)剝離試驗(yàn)機(jī)
光澤度測(cè)定儀、光澤度計(jì)
鋁箔針孔檢測(cè)儀
智能耐破度測(cè)試儀、耐破強(qiáng)度儀
安瓿瓶折斷力測(cè)試儀
RGT-01真空包裝殘氧儀
抗穿刺性能測(cè)試儀、穿刺力試驗(yàn)機(jī)
摩擦系數(shù)/剝離試驗(yàn)儀
醬料包抗壓試驗(yàn)儀
真空衰減法無(wú)損密封儀
瓶蓋扭力測(cè)試儀、瓶蓋扭矩儀
GB/T 6672臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 包裝薄膜厚度測(cè)定儀Labthink
GB/T 6672臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 包裝薄膜厚度測(cè)定儀LabthinkPARAM博每 CHY-C2A測(cè)厚儀產(chǎn)地：濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司品牌：Labthink蘭光咨詢熱線：0531-85068566、15764121171
CHY-C2A測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
技術(shù)特征：
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2A測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)：
負(fù)荷量程：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測(cè)量速度：10 次/min（可調(diào)）
測(cè)量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg
儀器配置：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
選購(gòu)件：業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)
該公司產(chǎn)品分類：
智能型反壓高溫蒸煮鍋
鋰電池隔膜透氣性測(cè)試儀
透濕儀、透濕性測(cè)試儀
蒸發(fā)殘?jiān)阒貎x、蒸發(fā)殘?jiān)鼉x
透氣儀、透氣性能測(cè)試儀
透氧儀、透氧性測(cè)試儀
熱粘拉力試驗(yàn)儀
透氣性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)膜片
膠粘帶壓滾機(jī)
圓盤(pán)剝離試驗(yàn)機(jī)
光澤度測(cè)定儀、光澤度計(jì)
鋁箔針孔檢測(cè)儀
智能耐破度測(cè)試儀、耐破強(qiáng)度儀
安瓿瓶折斷力測(cè)試儀
RGT-01真空包裝殘氧儀
抗穿刺性能測(cè)試儀、穿刺力試驗(yàn)機(jī)
摩擦系數(shù)/剝離試驗(yàn)儀
醬料包抗壓試驗(yàn)儀
真空衰減法無(wú)損密封儀
瓶蓋扭力測(cè)試儀、瓶蓋扭矩儀
2016款南充薄膜厚度測(cè)量?jī)x|YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀|多少錢(qián)
1、南充薄膜厚度測(cè)量?jī)x|YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀|多少錢(qián)熱門(mén)搜索:YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀Tellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測(cè)試儀
【河北潤(rùn)聯(lián)科技公司】10年品牌“潤(rùn)聯(lián)”★★工業(yè)品領(lǐng)導(dǎo)者★★2014年高新技術(shù)企業(yè)★★2013年有潛力企業(yè)榮譽(yù)★★河北誠(chéng)信民營(yíng)企業(yè)單位★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)，熱線：【】2、南充薄膜厚度測(cè)量?jī)x|YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀|多少錢(qián)多種型號(hào)圖片
【南充薄膜厚度測(cè)量?jī)x|YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀|多少錢(qián)一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒(méi)有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 邢臺(tái)潤(rùn)聯(lián)機(jī)械設(shè)備有限公司】3、南充薄膜厚度測(cè)量?jī)x|YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀|多少錢(qián)多種型號(hào)內(nèi)容
型號(hào):RL046081YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀
【河北潤(rùn)聯(lián)科技公司】10年品牌“潤(rùn)聯(lián)”★★工業(yè)品領(lǐng)導(dǎo)者★★2014年高新技術(shù)企業(yè)★★2013年有潛力企業(yè)榮譽(yù)★★河北誠(chéng)信民營(yíng)企業(yè)單位★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)，熱線：【】2、南充薄膜厚度測(cè)量?jī)x|YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀|多少錢(qián)多種型號(hào)圖片 | | |
| 型號(hào):RL046081YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀 | 型號(hào):RL046082YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀 | 型號(hào):RL046111Tellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測(cè)試儀 |
型號(hào):RL046081YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀主要用于各類紡織品和紡織制品厚度測(cè)定，亦可用于其他均勻薄料的厚度測(cè)定。
主要技術(shù)指標(biāo)：
1.測(cè)定厚度范圍：
YG141L型 0.01～10mm
YG141LA型0.01～20mm
2．小分度值：0.01mm
3．壓腳直徑及面積：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm
100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2
4．壓重砝碼：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只）
5．壓重時(shí)間：10s、30s重要提醒：GB/T3820新標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)實(shí)施，敬請(qǐng)選型注意，老標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)如下：
主要技術(shù)指標(biāo)：（請(qǐng)比較）
1.測(cè)定厚度范圍：0.01～10mm
2．小分度值：0.01mm
3．壓腳直徑：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm
4．壓重砝碼：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只）
5．壓重時(shí)間：10s、30s
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46081-pid-5767.htmlYG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀型號(hào):RL046082YG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀主要用于各類紡織品和紡織制品厚度測(cè)定，亦可用于其他均勻薄料的厚度測(cè)定。主要技術(shù)指標(biāo)： 1.測(cè)定厚度范圍： YG141L型 0.01～10mm YG141LA型0.01～25mm 2．小分度值：0.01mm 3．壓腳直徑及面積：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm 100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2 4．壓重砝碼：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只） 5．壓重時(shí)間：10s、30s重要提醒：GB/T3820新標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)實(shí)施，敬請(qǐng)選型注意，老標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)如下：主要技術(shù)指標(biāo)：（請(qǐng)比較） 1.測(cè)定厚度范圍：0.01～10mm 2．小分度值：0.01mm 3．壓腳直徑：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm 4．壓重砝碼：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只） 5．壓重時(shí)間：10s、30s
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46082-pid-5767.htmlYG141數(shù)字式織物測(cè)厚儀型號(hào):RL046111Tellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測(cè)試儀【適用范圍】：
Tellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測(cè)試儀可對(duì)紡織品厚度及壓縮回復(fù)性能測(cè)試。本機(jī)具有通用的測(cè)試平臺(tái)，配置了多種系列的壓腳，滿足多指標(biāo)（厚度、壓縮回復(fù)性能）、多標(biāo)準(zhǔn)、多產(chǎn)品的測(cè)試，真正實(shí)現(xiàn)了一機(jī)多用。
【符合標(biāo)準(zhǔn)】：
GB/T 24442.1-2009 紡織品 壓縮性能測(cè)定 第1部分：恒定法
GB/T 24442.2-2009 紡織品 壓縮性能測(cè)定 第2部分：等速法
FZ/T 64017-2011、FZ/T 64020-2011、FZ/T 64003-2011、GB/T 22796-2009、GB/T 24252-2009
FZ/T 81005-2006、GB/T 3820-1997、GB/T 13761.1-2009、QB/T 1089-2001、QB/T 1092-2001
GB/T 24218.2、GB/T 8168-2008
【儀器特性】：
1、儀器采用等速伸長(zhǎng)（CRE）測(cè)試原理，雙立柱龍門(mén)結(jié)構(gòu)，鋁合金外殼外形美觀整潔。
2、傳動(dòng)機(jī)構(gòu)采用進(jìn)口滾珠絲桿組、同步帶、同步輪、交流伺服系統(tǒng)，運(yùn)行穩(wěn)定，噪音小。
3、采用進(jìn)口高精度測(cè)力傳感器，高速精密24 bits A/D，儀器采樣頻率為1000HZ，能及時(shí)準(zhǔn)確撲捉試驗(yàn)的受力變化。
4、位移采用高精度位移光柵尺測(cè)量，精度高并排除了傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和保護(hù)裝置產(chǎn)生的誤差。
5、采用32位cortex-m3微處理器，操控性強(qiáng)，數(shù)據(jù)處理速度快，儀器反應(yīng)靈敏，運(yùn)行穩(wěn)定可靠。
6、全計(jì)算機(jī)專業(yè)軟件操控，軟件系統(tǒng)：操作簡(jiǎn)單、易懂、功能強(qiáng)大。
【技術(shù)參數(shù)】：
1、速度調(diào)節(jié)范圍：0.1～200mm/ min
2、位移：250mm
3、位移誤差：0.01mm
4、測(cè)力范圍：滿量程的1%～100%
5、測(cè)力精度：0.2%FS
6、壓腳平行度：0.1%
7、工作電源：AC220V 50HZ 450W
8、外形尺寸：7252175cm
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46111-pid-5767.htmlTellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測(cè)試儀聯(lián)系方式:0319-8277762溫馨提示：潤(rùn)聯(lián)網(wǎng)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是在潤(rùn)聯(lián)網(wǎng)看到的，并告知型號(hào)凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x|的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: ES01是針對(duì)科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測(cè)量推出的高精度全自動(dòng)光譜橢偏儀，系列儀器的波長(zhǎng)范圍覆蓋紫外、可見(jiàn)到紅外。ES01系列光譜橢偏儀用于測(cè)量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k），也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。ES01系列光譜橢偏儀適合于對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測(cè)。特點(diǎn)： 原子層量級(jí)的檢測(cè)靈敏度 國(guó)際先進(jìn)的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的設(shè)計(jì)和制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了能夠測(cè)量原子層量級(jí)的納米薄膜，膜厚精度達(dá)到0.05nm。 秒級(jí)的快速測(cè)量 快速橢偏采樣方法、高信噪比的信號(hào)探測(cè)、自動(dòng)化的測(cè)量軟件，在保證高精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，10秒內(nèi)快速完成一次全光譜橢偏測(cè)量。 一鍵式儀器操作 對(duì)于常規(guī)操作，只需鼠標(biāo)點(diǎn)擊一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的測(cè)量、建模、擬合和分析過(guò)程，豐富的模型庫(kù)和材料庫(kù)也同時(shí)方便了用戶的高級(jí)操作需求。 應(yīng)用：ES01系列尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)。ES01系列多種光譜范圍可滿足不同應(yīng)用場(chǎng)合。比如： ES01V適合于測(cè)量電介質(zhì)材料、無(wú)定形半導(dǎo)體、聚合物等的實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測(cè)。 ES01U適合于很大范圍的材料種類，包括對(duì)介質(zhì)材料、聚合物、半導(dǎo)體、金屬等的實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測(cè)，光譜范圍覆蓋半導(dǎo)體的臨界點(diǎn)，這對(duì)于測(cè)量和控制合成的半導(dǎo)體合金成分非常有用。并且適合于較大的膜厚范圍（從次納米量級(jí)到10微米左右）。 ES01系列可用于測(cè)量光面基底上的單層和多層納米薄膜的厚度、折射率n及消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括：微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁介質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。典型應(yīng)用如： 半導(dǎo)體：如：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等）； 平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等； 功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學(xué)涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等； 生物和化學(xué)工程：有機(jī)薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等。凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x|的詳細(xì)介紹多種型號(hào)圖片
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【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細(xì)配置價(jià)格請(qǐng)致電咨詢！[河北潤(rùn)聯(lián)機(jī)械公司]——是集科研、開(kāi)發(fā)、制造、經(jīng)營(yíng)于一體，的工程試驗(yàn)儀器專業(yè)制造實(shí)體。公司主要經(jīng)營(yíng)砼混凝土儀器,水泥試驗(yàn)儀器,砂漿試驗(yàn)儀器,泥漿試驗(yàn)儀器,土工試驗(yàn)儀器,瀝青試驗(yàn)儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗(yàn)儀器,壓力試驗(yàn)機(jī)養(yǎng)護(hù)室儀器及實(shí)驗(yàn)室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)在強(qiáng)化自主開(kāi)發(fā)的同時(shí)，積極采用國(guó)內(nèi)外先進(jìn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，尋求推進(jìn)與大專院校，科研單位的協(xié)作互補(bǔ)，以實(shí)現(xiàn)新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的高起點(diǎn)，在交通部、建設(shè)部及科研所專家們的指導(dǎo)下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設(shè)，水電工程和機(jī)械，交通、石油、化工等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測(cè)。并同國(guó)內(nèi)外各試驗(yàn)儀器廠建立了長(zhǎng)期合作關(guān)系，嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)，價(jià)格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構(gòu)倉(cāng)庫(kù)4000多平方米，并配備業(yè)內(nèi)的裝備設(shè)施，車(chē)輛出入方便，倉(cāng)庫(kù)管理實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、高效化管理，確保儀器設(shè)備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗(yàn)儀器及測(cè)量、測(cè)繪電子廠家直供，國(guó)內(nèi)外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購(gòu)平臺(tái)的之地。全國(guó)服務(wù)隊(duì)伍專業(yè)快捷服務(wù)，完善的呼叫中心服務(wù)體系，咨詢熱線：[孫經(jīng)理0319-8738881]迅速解決客戶問(wèn)題，專業(yè)提供優(yōu)質(zhì)高效的售后服務(wù)。潤(rùn)聯(lián)為您提供詳細(xì)的產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是在潤(rùn)聯(lián)看到的，并告知型號(hào)【關(guān)于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠(chéng)實(shí)守信、服務(wù)熱情周到的服務(wù)宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質(zhì)和服務(wù)。因產(chǎn)品種類多 沒(méi)有一一上傳,如有需要,請(qǐng)聯(lián)系我們。【關(guān)于發(fā)貨】我們會(huì)在確認(rèn)合作方式以及合作達(dá)成時(shí)為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過(guò)請(qǐng)您放心，因?yàn)槲覀兊耐獾乜蛻舴浅Ｖ，基本上我們業(yè)務(wù)已經(jīng)覆蓋全國(guó)，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時(shí)間，還是價(jià)格都是滿意的，同時(shí)我們?cè)诮桓段锪鞴竞髮⒃跁r(shí)間告知客戶，并且我們會(huì)將物流費(fèi)用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴(yán)格檢查商品的質(zhì)量的，請(qǐng)放心購(gòu)買(mǎi)。熱門(mén)搜索:EMPro 型多入射角激光橢偏儀 EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀 EX2自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 ES01 快速攝譜式自動(dòng)變角度光譜橢偏儀 【凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x|的詳細(xì)介紹一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒(méi)有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 河北潤(rùn)聯(lián)機(jī)械公司】凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x|的詳細(xì)介紹多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):JX200096EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀![]()
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200096.htmlEM13 LD系列多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200090EX2自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀![]()
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凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x|的詳細(xì)介紹【河北潤(rùn)創(chuàng)科技開(kāi)發(fā)有限公司】河北誠(chéng)信民營(yíng)企業(yè)單位★★專業(yè)售后為您服務(wù)★★安全放心購(gòu)物企業(yè)★★機(jī)械行業(yè)品牌★★河北暢銷工業(yè)品品牌★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)，熱線：【孫經(jīng)理0319-8738881】【關(guān)于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠(chéng)實(shí)守信、服務(wù)熱情周到的服務(wù)宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質(zhì)和服務(wù)。因產(chǎn)品種類多 沒(méi)有一一上傳,如有需要,請(qǐng)聯(lián)系我們！娟P(guān)于發(fā)貨】我們會(huì)在確認(rèn)合作方式以及合作達(dá)成時(shí)為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過(guò)請(qǐng)您放心，因?yàn)槲覀兊耐獾乜蛻舴浅Ｖ，基本上我們業(yè)務(wù)已經(jīng)覆蓋全國(guó)，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時(shí)間，還是價(jià)格都是滿意的，同時(shí)我們?cè)诮桓段锪鞴竞髮⒃跁r(shí)間告知客戶，并且我們會(huì)將物流費(fèi)用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴(yán)格檢查商品的質(zhì)量的，請(qǐng)放心購(gòu)買(mǎi)。聯(lián)系方式:劉經(jīng)理電話:0319-8318708QQ:2851558308
| 型號(hào):JX200096EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀 | 型號(hào):JX200090EX2自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 | 型號(hào):JX200087ES01 快速攝譜式自動(dòng)變角度光譜橢偏儀 |
EM13LD 系列是采用量拓科技先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，針對(duì)普通精度需求的研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的多入射角激光橢偏儀。 EM13LD系列采用半導(dǎo)體激光器作為光源，可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量？捎糜跍y(cè)量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測(cè)量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長(zhǎng)中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的厚度測(cè)量。 EM13LD系列采用了量拓科技多項(xiàng)專利技術(shù)。特點(diǎn)：次納米的高靈敏度國(guó)際先進(jìn)的采樣方法、穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了能夠測(cè)量極薄納米薄膜，膜厚精度可達(dá)到0.5nm。3秒的快速測(cè)量國(guó)際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計(jì)，在保證精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在3秒內(nèi)快速完成一次測(cè)量，可對(duì)納米膜層生長(zhǎng)過(guò)程進(jìn)行測(cè)量。簡(jiǎn)單方便的儀器操作用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過(guò)程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫(kù)、材料庫(kù)方便用戶進(jìn)行高級(jí)測(cè)量設(shè)置。應(yīng)用：EM13LD系列適合于普通精度要求的科研和工業(yè)環(huán)境中的新品研發(fā)或質(zhì)量控制。EM13LD系列可用于測(cè)量單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k；可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；可用于實(shí)時(shí)測(cè)量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。EM13LD可應(yīng)用的納米薄膜領(lǐng)域包括：微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。可應(yīng)用的塊狀材料領(lǐng)域包括：固體（金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等），或液體（純凈物或混合物）。技術(shù)指標(biāo):
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。 性能保證:穩(wěn)定性的半導(dǎo)體激光光源、先進(jìn)的采樣方法，保證了穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對(duì)準(zhǔn)穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對(duì)準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù)，保證了快速、穩(wěn)定測(cè)量分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測(cè)量一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫(kù)和材料數(shù)據(jù)庫(kù)，方便用戶使用 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 樣品池
EX2自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。EX2儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX2儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn)經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理 儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理，易于理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過(guò)程。方便安全的樣品水平放置方式 采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu) 集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀器外形通過(guò)USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便使用。高準(zhǔn)確性的激光光源 采用激光作為探測(cè)光波，測(cè)量波長(zhǎng)準(zhǔn)確度高。豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能 可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率；塊狀材料的復(fù)折射率、樣品反射率、樣品透過(guò)率。便捷的自動(dòng)化操作 儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量，并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理 軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U(kuò)展的儀器功能 利用本儀器，可通過(guò)適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。應(yīng)用EX2適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量，也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX2可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo)
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證專業(yè)的橢偏測(cè)量原理課程 專業(yè)的儀器使用培訓(xùn)
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EX2 |
| 測(cè)量方式 | 自動(dòng)測(cè)量 |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | He-Ne激光器，波長(zhǎng)632.8nm |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性* | 0.5nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 膜厚范圍 | 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 折射率范圍 | 1.3 – 10 |
| 探測(cè)光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°，精度0.05° |
| 偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0-360° |
| 偏振器步進(jìn)角 | 0.014° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié)：16mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° |
| 允許樣品尺寸 | 樣品直徑可達(dá)Φ160mm |
| 配套軟件 | * 用戶權(quán)限設(shè)置 * 多種測(cè)量模式選擇 * 多個(gè)測(cè)量項(xiàng)目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出 |
| 外形尺寸 | 約400*400*250mm |
| 儀器重量（凈重） | 約20Kg |
| 選配件 | * 半導(dǎo)體激光器 |
ES01是針對(duì)科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測(cè)量推出的高精度全自動(dòng)光譜橢偏儀，系列儀器的波長(zhǎng)范圍覆蓋紫外、可見(jiàn)到紅外。
ES01系列光譜橢偏儀用于測(cè)量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k），也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。
ES01系列光譜橢偏儀適合于對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測(cè)。
特點(diǎn)：- 原子層量級(jí)的檢測(cè)靈敏度 國(guó)際先進(jìn)的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的設(shè)計(jì)和制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了能夠測(cè)量原子層量級(jí)的納米薄膜，膜厚精度達(dá)到0.05nm。
- 秒級(jí)的快速測(cè)量 快速橢偏采樣方法、高信噪比的信號(hào)探測(cè)、自動(dòng)化的測(cè)量軟件，在保證高精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，10秒內(nèi)快速完成一次全光譜橢偏測(cè)量。
- 一鍵式儀器操作 對(duì)于常規(guī)操作，只需鼠標(biāo)點(diǎn)擊一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的測(cè)量、建模、擬合和分析過(guò)程，豐富的模型庫(kù)和材料庫(kù)也同時(shí)方便了用戶的高級(jí)操作需求。
ES01系列尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)。
ES01系列多種光譜范圍可滿足不同應(yīng)用場(chǎng)合。比如：
- ES01V適合于測(cè)量電介質(zhì)材料、無(wú)定形半導(dǎo)體、聚合物等的實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測(cè)。
- ES01U適合于很大范圍的材料種類，包括對(duì)介質(zhì)材料、聚合物、半導(dǎo)體、金屬等的實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測(cè)，光譜范圍覆蓋半導(dǎo)體的臨界點(diǎn)，這對(duì)于測(cè)量和控制合成的半導(dǎo)體合金成分非常有用。并且適合于較大的膜厚范圍（從次納米量級(jí)到10微米左右）。
ES01系列可用于測(cè)量光面基底上的單層和多層納米薄膜的厚度、折射率n及消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括：微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁介質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。典型應(yīng)用如：
- 半導(dǎo)體：如：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等）；
- 平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等；
- 功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學(xué)涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等；
- 生物和化學(xué)工程：有機(jī)薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等。
ES01系列也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括：固體（金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等），或液體（純凈物或混合物）。典型應(yīng)用包括：
- 玻璃新品研發(fā)和質(zhì)量控制等。
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 光譜范圍 | ES01V：370-1000nm ES01U：245-1000nm |
| 光譜分辨率 | 1.5nm |
| 單次測(cè)量時(shí)間 | 典型10s,取決于測(cè)量模式 |
| 準(zhǔn)確度 | δ(Psi): 0.02 ° ,δ(Delta): 0.04° （透射模式測(cè)空氣時(shí)） |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性（1） | 0.05nm (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率精度（1） | 1x10-3 (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 入射角度 | 40°-90°自動(dòng)調(diào)節(jié)，重復(fù)性0.02° |
| 光學(xué)結(jié)構(gòu) | PSCA（Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度） |
| 樣品臺(tái)尺寸 | 可放置樣品尺寸：直徑170 mm |
| 樣品方位調(diào)整 | 高度調(diào)節(jié)范圍：0-10mm |
| 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° | |
| 樣品對(duì)準(zhǔn) | 光學(xué)自準(zhǔn)直顯微和望遠(yuǎn)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng) |
| 軟件 | •多語(yǔ)言界面切換 |
| •預(yù)設(shè)項(xiàng)目供快捷操作使用 | |
| •安全的權(quán)限管理模式（管理員、操作員） | |
| •方便的材料數(shù)據(jù)庫(kù)以及多種色散模型庫(kù) | |
| •豐富的模型數(shù)據(jù)庫(kù) | |
| 選配件 | 自動(dòng)掃描樣品臺(tái) 聚焦透鏡 |
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。
可選配件：
- NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片
- NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片
- VP01真空吸附泵
- VP02真空吸附泵
- 樣品池
臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX3儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理，易于理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過(guò)程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀器外形通過(guò)USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為探測(cè)光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。便捷的自動(dòng)化操作儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量，并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U(kuò)展的儀器功能利用本儀器，可通過(guò)適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。應(yīng)用領(lǐng)域:EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量，也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo): 項(xiàng)目 技術(shù)指標(biāo) 儀器型號(hào) EX3 測(cè)量方式 自動(dòng)測(cè)量 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號(hào)圖片
【臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒(méi)有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司】臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200094.htmlEM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）型號(hào):JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200097.htmlEM01-RD 多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200091EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀
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熱門(mén)搜索:EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） VP02 真空吸附泵 EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 EX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展【河北潤(rùn)聯(lián)科技開(kāi)發(fā)有限公司】創(chuàng)新科技先鋒品牌★★誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)企業(yè)★★電子商務(wù)企業(yè)獎(jiǎng)★★工業(yè)產(chǎn)品推薦★★機(jī)械行業(yè)品牌★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)，熱線：【牛經(jīng)理400-076-1255】【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細(xì)配置價(jià)格請(qǐng)致電咨詢！[河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司]——是集科研、開(kāi)發(fā)、制造、經(jīng)營(yíng)于一體，的工程試驗(yàn)儀器專業(yè)制造實(shí)體。公司主要經(jīng)營(yíng)砼混凝土儀器,水泥試驗(yàn)儀器,砂漿試驗(yàn)儀器,泥漿試驗(yàn)儀器,土工試驗(yàn)儀器,瀝青試驗(yàn)儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗(yàn)儀器,壓力試驗(yàn)機(jī)養(yǎng)護(hù)室儀器及實(shí)驗(yàn)室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)在強(qiáng)化自主開(kāi)發(fā)的同時(shí)，積極采用國(guó)內(nèi)外先進(jìn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，尋求推進(jìn)與大專院校，科研單位的協(xié)作互補(bǔ)，以實(shí)現(xiàn)新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的高起點(diǎn)，在交通部、建設(shè)部及科研所專家們的指導(dǎo)下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設(shè)，水電工程和機(jī)械，交通、石油、化工等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測(cè)。并同國(guó)內(nèi)外各試驗(yàn)儀器廠建立了長(zhǎng)期合作關(guān)系，嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)，價(jià)格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構(gòu)倉(cāng)庫(kù)4000多平方米，并配備業(yè)內(nèi)的裝備設(shè)施，車(chē)輛出入方便，倉(cāng)庫(kù)管理實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、高效化管理，確保儀器設(shè)備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗(yàn)儀器及測(cè)量、測(cè)繪電子廠家直供，國(guó)內(nèi)外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購(gòu)平臺(tái)的之地。全國(guó)服務(wù)隊(duì)伍專業(yè)快捷服務(wù)，完善的呼叫中心服務(wù)體系，咨詢熱線：[牛經(jīng)理400-076-1255]迅速解決客戶問(wèn)題，專業(yè)提供優(yōu)質(zhì)高效的售后服務(wù)。潤(rùn)聯(lián)為您提供詳細(xì)的產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是在潤(rùn)聯(lián)看到的，并告知型號(hào)【關(guān)于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠(chéng)實(shí)守信、服務(wù)熱情周到的服務(wù)宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質(zhì)和服務(wù)。因產(chǎn)品種類多 沒(méi)有一一上傳,如有需要,請(qǐng)聯(lián)系我們！娟P(guān)于發(fā)貨】我們會(huì)在確認(rèn)合作方式以及合作達(dá)成時(shí)為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過(guò)請(qǐng)您放心，因?yàn)槲覀兊耐獾乜蛻舴浅Ｖ啵旧衔覀儤I(yè)務(wù)已經(jīng)覆蓋全國(guó)，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時(shí)間，還是價(jià)格都是滿意的，同時(shí)我們?cè)诮桓段锪鞴竞髮⒃跁r(shí)間告知客戶，并且我們會(huì)將物流費(fèi)用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴(yán)格檢查商品的質(zhì)量的，請(qǐng)放心購(gòu)買(mǎi)。聯(lián)系方式:電話:400-076-1255
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| 型號(hào):JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） | 型號(hào):JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 | 型號(hào):JX200091EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 |
【臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒(méi)有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司】臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）EM12-PV是采用量拓科技先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，針對(duì)中端精度需求的光伏太陽(yáng)能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。EM12-PV用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測(cè)量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。EM12-PV融合多項(xiàng)量拓科技專利技術(shù)，采用一體化樣品臺(tái)技術(shù)，兼容測(cè)量單晶和多晶太陽(yáng)電池樣品。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡(jiǎn)單安全。特點(diǎn)：粗糙絨面納米薄膜的測(cè)量先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽(yáng)電池表面納米鍍層的檢測(cè)。次納米量級(jí)的高靈敏度和準(zhǔn)確度國(guó)際先進(jìn)的采樣方法、穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了高準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性，測(cè)量絨面減反膜的厚度精度優(yōu)于0.2nm。1.6秒的快速測(cè)量國(guó)際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計(jì)，在保證極高精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在1.6秒內(nèi)快速完成一次測(cè)量，可滿足快速多點(diǎn)檢測(cè)和批量檢測(cè)需求。簡(jiǎn)單方便安全的儀器操作一鍵式操作設(shè)計(jì)，用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過(guò)程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出，豐富的模型庫(kù)和材料庫(kù)也同時(shí)方便了用戶的高級(jí)操作需求。應(yīng)用：EM12-PV適合于光伏領(lǐng)域中端精度要求的工藝研發(fā)和現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量控制。EM12-PV可用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面上單層減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n，典型納米膜層包括SiNx，ITO，TiO2，SiO2，A12O3，HfO2等，應(yīng)用領(lǐng)域包括晶體硅太陽(yáng)電池、薄膜太陽(yáng)電池等。EM12-PV也可用于測(cè)量光滑平面基底上的單層或雙層納米薄膜，包括膜層的厚度，以及在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。也可用于測(cè)量塊狀材料（包括，液體、金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等）在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括半導(dǎo)體、微電子、平板顯示等。
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量25次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證：穩(wěn)定的He-Ne激光光源、先進(jìn)的采樣方法以及低噪聲探測(cè)技術(shù)，保證了穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度一體化樣品臺(tái)技術(shù)，兼容單晶和多晶硅太陽(yáng)電池樣品,輕松變換可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測(cè)量高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直顯微和望遠(yuǎn)系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對(duì)準(zhǔn)新型樣品調(diào)節(jié)技術(shù)，有效提高樣品定位精度，并節(jié)省操作時(shí)間新型光電增強(qiáng)技術(shù)和獨(dú)特的噪聲處理方法，顯著降低現(xiàn)場(chǎng)噪聲的影響一體化集成式儀器整體設(shè)計(jì)，保證了系統(tǒng)穩(wěn)定性，并節(jié)省空間分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測(cè)量一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫(kù)和材料數(shù)據(jù)庫(kù)，方便用戶使用可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片 VP01真空吸附泵 VP02 真空吸附泵
技術(shù)指標(biāo)：
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EM12-PV |
| 激光波長(zhǎng) | 632.8nm (He-Ne Laser) |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性（1） | 0.2nm (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 0.2nm (對(duì)于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層) | |
| 折射率精度（1） | 2x10-3 (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 2x10-3 (對(duì)于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層) | |
| 單次測(cè)量時(shí)間 | 與測(cè)量設(shè)置相關(guān)，典型1.6s |
| 光學(xué)結(jié)構(gòu) | PSCA（Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度） |
| 激光光束直徑 | 1-2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動(dòng)調(diào)節(jié)，步進(jìn)5° |
| 樣品方位調(diào)整 | 一體化樣品臺(tái)輕松變換可測(cè)量單晶或多晶樣品 |
| 可測(cè)量156*156mm電池樣品上每個(gè)點(diǎn) | |
| Z軸高度調(diào)節(jié)：±6.5mm | |
| 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° | |
| 樣品對(duì)準(zhǔn)：光學(xué)自準(zhǔn)直顯微和望遠(yuǎn)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng) | |
| 樣品臺(tái)尺寸 | 平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm |
| 兼容125*125mm和156*156mm的太陽(yáng)能電池樣品 | |
| 的膜層厚度范圍 | 粗糙表面樣品：與絨面物理結(jié)構(gòu)及材料性質(zhì)相關(guān) |
| 光滑平面樣品：透明薄膜可達(dá)4um，吸收薄膜與材料性質(zhì)相關(guān) | |
| 外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時(shí)) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺(tái) |
| 真空吸附泵 | |
| 軟件 | ETEM軟件： |
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特別聲明：EM01-RD多入射角激光橢偏儀（研發(fā)級(jí)）已升級(jí)至EMPro31 型多入射角激光橢偏儀，主要升級(jí)內(nèi)容包括：?jiǎn)未螠y(cè)量速度提高3倍;新的儀器外形;整體穩(wěn)定性增強(qiáng). 納米薄膜高端研發(fā)領(lǐng)域?qū)Ｓ玫亩嗳肷浣羌す鈾E偏儀，用于納米薄膜的厚度、折射率n、消光系數(shù)k等參數(shù)的測(cè)量。適用于光面或絨面納米薄膜測(cè)量、塊狀固體參數(shù)測(cè)量、快速變化的納米薄膜實(shí)時(shí)測(cè)量等不同的應(yīng)用場(chǎng)合。采用量拓科技多項(xiàng)專利技術(shù)，儀器操作具有個(gè)性化定制功能，方便使用。特點(diǎn)：高精度、高穩(wěn)定性 一體化集成設(shè)計(jì)快速、高精度樣品方位對(duì)準(zhǔn)多入射角度測(cè)量快速反應(yīng)過(guò)程的實(shí)時(shí)測(cè)量操作簡(jiǎn)單豐富的材料庫(kù)及物理模型強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和管理 應(yīng)用領(lǐng)域：可對(duì)納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k進(jìn)行快速、高精度、高準(zhǔn)確度的測(cè)量，尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)可用于表征單層納米薄膜、多層納米層構(gòu)膜系，以及塊狀材料（基底）。應(yīng)用領(lǐng)域涉及納米薄膜的幾乎所有領(lǐng)域，如微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、電化學(xué)、磁介質(zhì)存儲(chǔ)、聚合物及金屬表面處理等。性能保證：高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測(cè)技術(shù)，保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度.高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直望遠(yuǎn)系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對(duì)準(zhǔn)穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對(duì)準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù)，保證了快速、穩(wěn)定測(cè)量分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測(cè)量一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間專用軟件方便納米薄膜樣品的測(cè)試和建模。 技術(shù)指標(biāo)：
| 激光波長(zhǎng) | 632.8nm (He-Ne laser) |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性 | 0.01nm (對(duì)于Si基底上110nm的SiO2膜層) |
| 折射率精度 | 1x10-4 (對(duì)于Si基底上110nm的SiO2膜層) |
| 光學(xué)結(jié)構(gòu) | PSCA |
| 激光光束直徑 | <1mm |
| 入射角度 | 40°-90°可選，步進(jìn)5° |
| 樣品方位調(diào)整 | 三維平移調(diào)節(jié) 二維俯仰調(diào)節(jié) 光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)對(duì)準(zhǔn) |
| 樣品臺(tái)尺寸 | Φ170mm |
| 單次測(cè)量時(shí)間 | 0.2s |
| 推薦測(cè)量范圍 | 0-6000nm |
| 外形尺寸(長(zhǎng)x寬x高) | 887 x 332 x 552mm (入射角為70º時(shí)) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
可選配件：NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片VP01真空吸附泵VP02真空吸附泵樣品池
EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX3儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理，易于理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過(guò)程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀器外形通過(guò)USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為探測(cè)光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。便捷的自動(dòng)化操作儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量，并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U(kuò)展的儀器功能利用本儀器，可通過(guò)適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。應(yīng)用領(lǐng)域:EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量，也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo):
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證:ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證專業(yè)的儀器使用培訓(xùn)專業(yè)的橢偏測(cè)量原理課程
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EX3 |
| 測(cè)量方式 | 自動(dòng)測(cè)量 |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | 半導(dǎo)體激光器，波長(zhǎng)635nm |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性* | 0.5nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 膜厚范圍 | 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 折射率范圍 | 1.3 – 10 |
| 探測(cè)光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°，精度0.05° |
| 偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0-360° |
| 偏振器步進(jìn)角 | 0.014° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié)：16mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° |
| 允許樣品尺寸 | 圓形樣品直徑Φ120mm，矩形樣品可達(dá)120mm x 160mm |
| 配套軟件 | * 用戶權(quán)限設(shè)置 * 多種測(cè)量模式選擇 * 多個(gè)測(cè)量項(xiàng)目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出 |
| 外形尺寸 | （入射角度70°時(shí)）450*375*260mm |
| 儀器重量（凈重） | 15Kg |
熱門(mén)搜索:EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） VP02 真空吸附泵 EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 EX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展【河北潤(rùn)聯(lián)科技開(kāi)發(fā)有限公司】創(chuàng)新科技先鋒品牌★★誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)企業(yè)★★電子商務(wù)企業(yè)獎(jiǎng)★★工業(yè)產(chǎn)品推薦★★機(jī)械行業(yè)品牌★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)，熱線：【牛經(jīng)理400-076-1255】【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細(xì)配置價(jià)格請(qǐng)致電咨詢！[河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司]——是集科研、開(kāi)發(fā)、制造、經(jīng)營(yíng)于一體，的工程試驗(yàn)儀器專業(yè)制造實(shí)體。公司主要經(jīng)營(yíng)砼混凝土儀器,水泥試驗(yàn)儀器,砂漿試驗(yàn)儀器,泥漿試驗(yàn)儀器,土工試驗(yàn)儀器,瀝青試驗(yàn)儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗(yàn)儀器,壓力試驗(yàn)機(jī)養(yǎng)護(hù)室儀器及實(shí)驗(yàn)室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)在強(qiáng)化自主開(kāi)發(fā)的同時(shí)，積極采用國(guó)內(nèi)外先進(jìn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，尋求推進(jìn)與大專院校，科研單位的協(xié)作互補(bǔ)，以實(shí)現(xiàn)新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的高起點(diǎn)，在交通部、建設(shè)部及科研所專家們的指導(dǎo)下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設(shè)，水電工程和機(jī)械，交通、石油、化工等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測(cè)。并同國(guó)內(nèi)外各試驗(yàn)儀器廠建立了長(zhǎng)期合作關(guān)系，嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)，價(jià)格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構(gòu)倉(cāng)庫(kù)4000多平方米，并配備業(yè)內(nèi)的裝備設(shè)施，車(chē)輛出入方便，倉(cāng)庫(kù)管理實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、高效化管理，確保儀器設(shè)備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗(yàn)儀器及測(cè)量、測(cè)繪電子廠家直供，國(guó)內(nèi)外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購(gòu)平臺(tái)的之地。全國(guó)服務(wù)隊(duì)伍專業(yè)快捷服務(wù)，完善的呼叫中心服務(wù)體系，咨詢熱線：[牛經(jīng)理400-076-1255]迅速解決客戶問(wèn)題，專業(yè)提供優(yōu)質(zhì)高效的售后服務(wù)。潤(rùn)聯(lián)為您提供詳細(xì)的產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是在潤(rùn)聯(lián)看到的，并告知型號(hào)【關(guān)于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠(chéng)實(shí)守信、服務(wù)熱情周到的服務(wù)宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質(zhì)和服務(wù)。因產(chǎn)品種類多 沒(méi)有一一上傳,如有需要,請(qǐng)聯(lián)系我們！娟P(guān)于發(fā)貨】我們會(huì)在確認(rèn)合作方式以及合作達(dá)成時(shí)為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過(guò)請(qǐng)您放心，因?yàn)槲覀兊耐獾乜蛻舴浅Ｖ啵旧衔覀儤I(yè)務(wù)已經(jīng)覆蓋全國(guó)，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時(shí)間，還是價(jià)格都是滿意的，同時(shí)我們?cè)诮桓段锪鞴竞髮⒃跁r(shí)間告知客戶，并且我們會(huì)將物流費(fèi)用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴(yán)格檢查商品的質(zhì)量的，請(qǐng)放心購(gòu)買(mǎi)。聯(lián)系方式:電話:400-076-1255
F20薄膜厚度測(cè)量?jī)x
薄膜厚度測(cè)量范圍： 3nm～450um，精度為0.1nm。 光源及探測(cè)器的波長(zhǎng)從紫外220nm至近紅外1700nm。
產(chǎn)品特性：
1、操作簡(jiǎn)單、使用方便；
2、測(cè)量快速、；
3、體積小、重量輕；
4、價(jià)格便宜；
產(chǎn)品應(yīng)用：
1、半導(dǎo)體行業(yè):光刻膠、氧化物、氮化物；
2、LCD行業(yè):液晶盒間隙厚度、ITO、Polyimides；
3、光電鍍膜應(yīng)用:硬化膜、抗反射膜、濾波片；
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
該公司產(chǎn)品分類：
水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀
其它基礎(chǔ)儀表
其它測(cè)量/計(jì)量?jī)x器
生物顯微鏡
激光拉曼光譜(RAMAN)
表面阻抗
蠕動(dòng)泵
電化學(xué)工作站、恒電位儀
液體處理工作站(移液工作站)
在線測(cè)厚儀
生物芯片、芯片掃描儀、芯片點(diǎn)樣儀、芯片檢測(cè)儀
微波、電、磁學(xué)量的測(cè)量?jī)x表
微流控芯片
等離子體表面處理儀
橢偏儀
鎖相放大器
其它動(dòng)物實(shí)驗(yàn)儀器
白光干涉測(cè)厚儀
掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM）
紫外、紫外分光光度計(jì)、紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)、UV
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
ST2000薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
山東聊城光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x鍍鋅層厚度測(cè)量?jī)x生產(chǎn)廠家
我廠專業(yè)生產(chǎn)鍍鋅層厚度測(cè)量?jī)x；擁有100多名的售后服務(wù)隊(duì)伍，完善的售后保證，保證每個(gè)客戶問(wèn)題及時(shí)反饋和處理；本廠常年保存充足的鍍鋅層厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品備件，滿足用戶隨時(shí)的維護(hù)和維修需求！ ∥覐S生產(chǎn)的各種產(chǎn)品具有鑄造，加工、組裝，一次性完成的能力，保證每臺(tái)出廠產(chǎn)品的質(zhì)量，擁有大型機(jī)加車(chē)間、機(jī)加設(shè)備及配套的相關(guān)技術(shù)工人，可根據(jù)用戶的需要，為用戶設(shè)計(jì)各種鍍鋅層厚度測(cè)量?jī)x專用設(shè)備，可以滿足，建筑，鐵道，水電，交通，礦山等單位不同工程實(shí)際情況；除此外，我廠擁有一支具備專業(yè)能力的隊(duì)伍，可以對(duì)外承攬技術(shù)咨詢服務(wù)。 1.我們將在北京、石家莊、邢臺(tái)、廣東、成都等地提供送貨上門(mén)服務(wù). 2.鍍鋅層厚度測(cè)量?jī)x根據(jù)配置不同價(jià)格不同，此價(jià)格為參考價(jià)格，具體價(jià)格以合同為準(zhǔn). 3.鍍鋅層厚度測(cè)量?jī)x發(fā)貨周期為正常周期，根據(jù)產(chǎn)品不同型號(hào)不同貨期也有所不同，具體發(fā)貨時(shí)間以合同為準(zhǔn).山東聊城光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x鍍鋅層厚度測(cè)量?jī)x生產(chǎn)廠家光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x高精度超聲波測(cè)厚儀[導(dǎo)讀]TT110超聲波測(cè)厚儀 詳細(xì)參數(shù) 原理：超聲波測(cè)量厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。時(shí)代超聲波測(cè)量厚儀系列是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測(cè)量技術(shù)于一體的、先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)儀器，采用微電腦對(duì)數(shù)據(jù)時(shí)行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測(cè)量電路，具有測(cè)量精度高、范圍寬、操作簡(jiǎn)便、工作穩(wěn)定可靠等特點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。 TT110超聲波測(cè)厚儀聲速固定為5900m/s(鋼材聲速)，可以對(duì)各種鋼鐵類板材和加工零件作精確測(cè)量1、自動(dòng)校對(duì)零點(diǎn)：可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；2、耦合提示、低電壓提示；3、關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)關(guān)機(jī)（無(wú)操作三分鐘后）；4、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：可以存儲(chǔ)10個(gè)厚度值；5、聲速固定：5900m/s適合測(cè)量鋼鐵材料厚度 性能TT110測(cè)量范圍0.
 DR86型超聲波測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào)：RL023676 | DR86型超聲波測(cè)厚儀采用超聲波測(cè)量原理,適用于能使用超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測(cè)量DR86高精度超聲波測(cè)厚儀（高溫型），適用于各種材料的高精度厚度測(cè)量需求，可應(yīng)用于鋼、鑄鐵、鋁、銅、鋅、石英、玻璃、聚、PVC，灰口鑄鐵、球墨鑄鐵等材質(zhì)的被測(cè)物體厚度測(cè)量。 只需要將探頭放置于被測(cè)物體一側(cè)的接觸面上，既可以迅速準(zhǔn)確測(cè)量出被測(cè)物體厚度。這款高溫型適用于，生產(chǎn)用品是的高溫材料，耐用無(wú)損，高溫金屬超聲波測(cè)厚儀 高溫塑料厚度測(cè)量?jī)x 高溫玻璃測(cè)厚儀技 |
 TT110超聲波測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào)：RL023677 | 原理：超聲波測(cè)量厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。時(shí)代超聲波測(cè)量厚儀系列是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測(cè)量技術(shù)于一體的、先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)儀器，采用微電腦對(duì)數(shù)據(jù)時(shí)行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測(cè)量電路，具有測(cè)量精度高、范圍寬、操作簡(jiǎn)便、工作穩(wěn)定可靠等特點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。 TT110超聲波測(cè)厚儀聲速固定為5900m/ |
 HCH-2000D型超聲波測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào)：RL023678 | HCH-2000D型超聲波測(cè)厚儀的0.65-350mm，顯示精度：0.01mm，內(nèi)部電路均采用最新數(shù)字電子技術(shù)，具有體積小、功耗低、穿透力強(qiáng)、抗摔打、抗振動(dòng)、示值穩(wěn)定、觸摸按鍵、檢測(cè)精度高、可存儲(chǔ)測(cè)量值、帶公英制轉(zhuǎn)換、全漢顯中文菜單、液晶顯示、可連接微機(jī)、打印機(jī)等特點(diǎn)，是您在實(shí)際應(yīng)用中首選的儀器。超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。它可以對(duì)各種材料的板 |
 高精度超聲波測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào)：RL023680 | 產(chǎn)品簡(jiǎn)介應(yīng)用：石油、造船、電站、機(jī)器制造業(yè)及壓力容器、化工設(shè)備鍋爐、儲(chǔ)油罐等厚度測(cè)量和腐蝕測(cè)量。型號(hào):LH-8812測(cè)量范圍（公/英制）:1.2-220 0.05-8inch可測(cè)量的材料：可測(cè)任何硬材料，如：鋼，鑄鋼，鋁，紫銅，黃銅，鋅，石英玻璃，聚，聚氯，灰鑄鐵，球墨鑄鐵，陶瓷，塑料及其他任何超聲波的良導(dǎo)體厚度。傳感器: 超聲波管材測(cè)量下限：由傳感器確定電池電壓指示：低電壓提示聲速范圍：500-9000m/s管材測(cè)量下限：Ф15X2.0mm,Ф20X3.0mm由探頭確定使用環(huán)境：溫度： |
HCH-2000D型超聲波測(cè)厚儀的0.65-350mm，顯示精度：0.01mm，內(nèi)部電路均采用最新數(shù)字電子技術(shù)，具有體積小、功耗低、穿透力強(qiáng)、抗摔打、抗振動(dòng)、示值穩(wěn)定、觸摸按鍵、檢測(cè)精度高、可存儲(chǔ)測(cè)量值、帶公英制轉(zhuǎn)換、全漢顯中文菜單、液晶顯示、可連接微機(jī)、打印機(jī)等特點(diǎn)，是您在實(shí)際應(yīng)用中首選的儀器。超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。它可以對(duì)各種材料的板材和加工零件作精確測(cè)量；可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，檢測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。也可以在不去除所涂油漆層的情況下，準(zhǔn)確的測(cè)量板材厚度。
應(yīng)用范圍：用于測(cè)量硬質(zhì)材料的厚度，如：鋼鐵、不銹鋼、鋁、銅、鉻合金等金屬材料，及塑料、橡膠、陶瓷、玻璃等非金屬。該儀器廣泛應(yīng)用于石油、化工、電力、鍋爐、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。
二、產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍：0.65-350mm(45＃鋼)
2、顯示精度：0.01mm
3、測(cè)量誤差：1% x厚度值0.05mm
4、測(cè)量方式：手動(dòng)存儲(chǔ)測(cè)量
5、存儲(chǔ)容量：600個(gè)測(cè)量點(diǎn)
6、探頭頻率：5MHz
7、聲速范圍：1000-9990M/S
8、電源范圍：1.2-1.5V堿性電池或充電電池
9、外型尺寸：50mmx124mmx24mm
10、使用環(huán)境：溫度-10C ~ 60C 相對(duì)濕度小于90%
11、自動(dòng)斷電：本儀器待機(jī)五分鐘將自動(dòng)關(guān)機(jī)
三、HCH-2000D型超聲波測(cè)厚儀配置單
1、HCH-2000D型主機(jī) 1臺(tái)
2、探頭( 8 ) 1支
3、耦合劑 1瓶
4、七號(hào)電池 2節(jié)
5、使用說(shuō)明書(shū) 1份
6、保修卡、合格證 1份
7、手提箱 1只
選配件1、打印機(jī)及通訊打印連線 1套
2、微機(jī)通訊軟件 1盤(pán)
3、高溫、鑄鐵、小管徑探頭
該公司產(chǎn)品分類：
儀表儀器
潤(rùn)聯(lián)機(jī)械
測(cè)量聚合物薄膜薄膜厚度測(cè)量?jī)x價(jià)格
光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x在傳統(tǒng)薄膜測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上添加了加熱/制冷的溫度控制單元，使用白光反射光譜技術(shù)（WLRS），實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和折射率，并通過(guò)專業(yè)軟件記錄下這些數(shù)據(jù)。這款薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x用于測(cè)量聚合物薄膜和光致抗蝕劑薄膜在加熱或制冷情況下薄 膜厚度和光學(xué)常量（n, k）的變化。為了這種特色的測(cè)量，我們特意研發(fā)了專業(yè)的軟件和算法，使得該聚合物薄膜測(cè)厚儀能夠給出薄膜的物理化學(xué)指標(biāo)：例如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度 glass transition temperature （Tg）, ，熱分解溫度thermal degradation temperature （Td） ，薄膜的厚度測(cè)量范圍也高達(dá)10nm－－100微米。
詳情瀏覽： http://www.f-lab.cn/surface-residue/coating-mapping.html這 套薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x能夠快速實(shí)時(shí)給出薄膜厚度和薄膜光學(xué)常量等物理化學(xué)性能數(shù)據(jù)，并且能夠控制薄膜加熱和 制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。所使用的軟件也適合薄膜的其他熱性能研究，例如：薄膜的熱消融/熱剝蝕thermal ablation研究，薄膜光學(xué)性質(zhì)隨溫度的變化，薄膜預(yù)烘烤Post Apply Bake，光刻過(guò)程后烘烤 Post Exposure Bake對(duì)薄膜厚度的損失等諸多研究。對(duì)于薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x要求薄膜襯底是透明的，背面是不反射的。它能夠處理最高4層薄膜的膜堆layer stacks，給出兩個(gè)參數(shù)：例如兩個(gè)薄膜的厚度或一個(gè)薄膜的厚度和光學(xué)常量。這套薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x已經(jīng)成功應(yīng)用于測(cè)量不同聚合物薄膜的熱性能，光刻薄膜的熱處理影響分析，Si晶圓wafer上的光致抗蝕劑薄膜分析等。標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)可測(cè)膜厚： 5nm-150微米；波長(zhǎng)范圍：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm測(cè)量點(diǎn)光斑大。0.5mm可測(cè)樣品大。10-100mm計(jì)算機(jī)要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg電力要求：110/230VAC薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x應(yīng)用聚合物薄膜測(cè)量光致抗蝕劑薄膜測(cè)量化學(xué)和生物薄膜測(cè)量，傳感測(cè)量光電子薄膜結(jié)構(gòu)測(cè)量半導(dǎo)體制造在線測(cè)量光學(xué)鍍膜測(cè)量中國(guó)最大的進(jìn)口精密光學(xué)器件和科學(xué)儀器供應(yīng)商。
Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn （激光光學(xué)精密儀器網(wǎng)） www.felles.cc （綜合性尖端測(cè)試儀器網(wǎng)） www.f-lab.cn （綜合性實(shí)驗(yàn)室儀器網(wǎng)）最新產(chǎn)品
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