紫外可見分光光度計UV765/UV765(PC)大屏幕掃描型
通過簡單的參數(shù)設(shè)定,方便地進行光度分析、定量分析、動力學(xué)分析、光譜掃描、多波長測試、DNA/蛋白質(zhì)分析。
儀器特點:
1.采用新的ARM系統(tǒng),內(nèi)置中英文雙操作系統(tǒng),可通過USB接口存儲轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)。
2.功能強大,主機可獨立完成光度測量、定量測量、光譜掃描、動力學(xué)、DNA/蛋白質(zhì)測試,多波長測試及數(shù)據(jù)打印等功能。
3.儀器采用320*240點陣高亮6液晶顯示器,直接顯示掃描圖譜,屏幕界面簡單,方便使用。
4.設(shè)計獨特的光學(xué)系統(tǒng),高性能1200條/mm光柵和進口接收器確保儀器有優(yōu)良的性能指標(biāo)。
5.插座式氘燈和鎢燈設(shè)計,換燈后免光學(xué)調(diào)試。
6.4位高速、高精度A/D轉(zhuǎn)換,儀器精度高,反應(yīng)速度快。
7.寬大的樣品室,可容納5-100mm各種規(guī)格的比色皿。
8.可直接連接打印機,打印圖譜和實驗數(shù)據(jù)。
9.內(nèi)置中英文雙語操作系統(tǒng),使用方便。
10.通過佑科掃描軟件可直接聯(lián)機操作。
11.儀器可選配獲得國家的圓盤旋轉(zhuǎn)式自動八連樣品架,可靠性好,光斑居中(相比雙排自動八聯(lián)架),從而儀器測光精度高。(號:ZL 2010 2 0562307.8)
技術(shù)指標(biāo):
型號 | UV765 | UV765PC |
波長范圍 | 190-1100nm | 190-1100nm |
光譜帶寬 | 1.8nm | 1.8nm(含軟件) |
波長準確度 | ±0. lnm (D2 656. 1nm),±0.3nm全區(qū)域 | |
波長重復(fù)性 | ≤0.2nm | |
光度準確度 | ±0.002A(0-0.5A),±0.004A(0.5-1A),±0.3 %T (0~100 %T) | |
光度重復(fù)性 | ±0.001A(0-0.5A),±0.002A(0.5-1A),±0.1 %T (0~100 %T) | |
雜散光 | ≤0.05%T | |
穩(wěn)定性 | ±0.0005A/h (500nm處) | |
基線平直度 | ±0.0015A | |
工作方式 | T, A, C, E | |
波長驅(qū)動 | 自動 | |
數(shù)據(jù)輸出 | USB接口 | |
打印輸出 | 并行口 | |
顯示系統(tǒng) | 320*240位高亮6”大屏幕LCD | |
光源 | 進口長壽命鎢燈、氘燈 | |
檢測器 | 進口硅光二及管 | |
重量 | 15kg | 18kg |
● 比例雙光束,保證極好的穩(wěn)定性。● 超低的雜散光,優(yōu)異的波長精確度。● 高清晰度大屏幕LCD顯示,流暢的人機對話操作。● 長壽命石英涂膜光學(xué)部件。● 常規(guī)測量功能:光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。● 顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜,支持專用打印機。● 自動校正功能,確保每次測量數(shù)據(jù)準確。● 自動尋找燈源最佳位置,獨立燈室,燈源更換簡單方便。● 大樣品室,自動8聯(lián)樣品架。● 自診斷功能,隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。UV765CRT紫外可見分光光度計主要技術(shù)參數(shù):● 波長范圍:190nm~1100nm● 波長最大允許誤差:±0.5nm● 波長重復(fù)性:≤0.2nm● 光譜帶寬:2nm● 雜散光:≤0.05%(τ)(在220nm處,以NaI測定,在360nm處,以NaNO2測定)● 透射比測量范圍:0.0%(T)~200.0% (T)● 吸光度測量范圍:-0.301(A)~3.00(A)● 透射比最大允許誤差:±0.3%(τ)● 漂移:≤0.001A/h● 透射比重復(fù)性:0.15%(T)● 基線平直度:±0.002A● 噪聲:100%噪聲≤0.15%(T) 0%噪聲≤0.10%(T)● 掃描速度;快、中、慢
● 比例雙光束,保證極好的穩(wěn)定性。● 超低的雜散光,優(yōu)異的波長精確度。● 高清晰度大屏幕LCD顯示,流暢的人機對話操作。● 長壽命石英涂膜光學(xué)部件。● 常規(guī)測量功能:光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。● 顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜,支持專用打印機。● 自動校正功能,確保每次測量數(shù)據(jù)準確。● 自動尋找燈源最佳位置,獨立燈室,燈源更換簡單方便。● 大樣品室,自動8聯(lián)樣品架。● 自診斷功能,隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。UV765PC紫外可見分光光度計主要技術(shù)參數(shù):● 波長范圍:190nm~1100nm● 波長最大允許誤差:±0.5nm● 波長重復(fù)性:≤0.2nm● 光譜帶寬:2nm● 雜散光:≤0.05%(τ)(在220nm處,以NaI測定,在360nm處,以NaNO2測定)● 透射比測量范圍:0.0%(T)~200.0% (T)● 吸光度測量范圍:-0.301(A)~3.00(A)● 透射比最大允許誤差:±0.3%(τ)● 漂移:≤0.001A/h● 透射比重復(fù)性:0.15%(T)● 基線平直度:±0.002A● 噪聲:100%噪聲≤0.15%(T) 0%噪聲≤0.10%(T)● 掃描速度;快、中、慢
UV765紫外可見分光光度計主要特點:
● 比例雙光束,保證極好的穩(wěn)定性。● 超低的雜散光,優(yōu)異的波長精確度。● 高清晰度大屏幕LCD顯示,流暢的人機對話操作。● 長壽命石英涂膜光學(xué)部件。● 常規(guī)測量功能:光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。● 顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜,支持專用打印機。● 自動校正功能,確保每次測量數(shù)據(jù)準確。● 自動尋找燈源最佳位置,獨立燈室,燈源更換簡單方便。● 大樣品室,自動8聯(lián)樣品架。● 自診斷功能,隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。UV765紫外可見分光光度計主要技術(shù)參數(shù):● 波長范圍:190nm~1100nm● 波長最大允許誤差:±0.5nm● 波長重復(fù)性:≤0.2nm● 光譜帶寬:2nm● 雜散光:≤0.05%(τ)(在220nm處,以NaI測定,在360nm處,以NaNO2測定)● 透射比測量范圍:0.0%(T)~200.0% (T)● 吸光度測量范圍:-0.301(A)~3.00(A)● 透射比最大允許誤差:±0.3%(τ)● 漂移:≤0.001A/h● 透射比重復(fù)性:0.15%(T)● 基線平直度:±0.002A● 噪聲:100%噪聲≤0.15%(T) 0%噪聲≤0.10%(T)● 掃描速度;快、中、慢