● 比例雙光束，保證極好的穩(wěn)定性。● 超低的雜散光，優(yōu)異的波長精確度。● 高清晰度大屏幕LCD顯示，流暢的人機對話操作。● 長壽命石英涂膜光學(xué)部件。● 常規(guī)測量功能：光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。● 顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜，支持專用打印機。● 自動校正功能，確保每次測量數(shù)據(jù)準確。● 自動尋找燈源最佳位置，獨立燈室，燈源更換簡單方便。● 大樣品室，自動8聯(lián)樣品架。● 自診斷功能，隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。UV765PC紫外可見分光光度計主要技術(shù)參數(shù)：● 波長范圍：190nm～1100nm● 波長最大允許誤差：±0.5nm● 波長重復(fù)性：≤0.2nm● 光譜帶寬：2nm● 雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00(A)● 透射比最大允許誤差：±0.3%（τ）● 漂移：≤0.001A/h● 透射比重復(fù)性：0.15%（T）● 基線平直度：±0.002A● 噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%(T)● 掃描速度；快、中、慢
● 比例雙光束，保證極好的穩(wěn)定性。● 超低的雜散光，優(yōu)異的波長精確度。● 高清晰度大屏幕LCD顯示，流暢的人機對話操作。● 長壽命石英涂膜光學(xué)部件。● 常規(guī)測量功能：光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。● 顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜，支持專用打印機。● 自動校正功能，確保每次測量數(shù)據(jù)準確。● 自動尋找燈源最佳位置，獨立燈室，燈源更換簡單方便。● 大樣品室，自動8聯(lián)樣品架。● 自診斷功能，隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。UV765PC紫外可見分光光度計主要技術(shù)參數(shù)：● 波長范圍：190nm～1100nm● 波長最大允許誤差：±0.5nm● 波長重復(fù)性：≤0.2nm● 光譜帶寬：2nm● 雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00(A)● 透射比最大允許誤差：±0.3%（τ）● 漂移：≤0.001A/h● 透射比重復(fù)性：0.15%（T）● 基線平直度：±0.002A● 噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%(T)● 掃描速度；快、中、慢
● 比例雙光束，保證極好的穩(wěn)定性。● 超低的雜散光，優(yōu)異的波長精確度。● 高清晰度大屏幕LCD顯示，流暢的人機對話操作。● 長壽命石英涂膜光學(xué)部件。● 常規(guī)測量功能：光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。● 顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜，支持專用打印機。● 自動校正功能，確保每次測量數(shù)據(jù)準確。● 自動尋找燈源最佳位置，獨立燈室，燈源更換簡單方便。● 大樣品室，自動8聯(lián)樣品架。● 自診斷功能，隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。UV765PC紫外可見分光光度計主要技術(shù)參數(shù)：● 波長范圍：190nm～1100nm● 波長最大允許誤差：±0.5nm● 波長重復(fù)性：≤0.2nm● 光譜帶寬：2nm● 雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00(A)● 透射比最大允許誤差：±0.3%（τ）● 漂移：≤0.001A/h● 透射比重復(fù)性：0.15%（T）● 基線平直度：±0.002A● 噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%(T)● 掃描速度；快、中、慢
產(chǎn)品名稱：紫外可見分光光度計
產(chǎn)品型號：UV765PC
UV765PC紫外可見分光光度計主要特點：
比例雙光束，保證極好的穩(wěn)定性。
超低的雜散光，優(yōu)異的波長精確度。
高清晰度大屏幕LCD顯示，流暢的人機對話操作。
長壽命石英涂膜光學(xué)部件。
常規(guī)測量功能：光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。
顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜，支持專用打印機。
自動校正功能，確保每次測量數(shù)據(jù)準確。
自動尋找燈源最佳位置，獨立燈室，燈源更換簡單方便。
大樣品室，自動8聯(lián)樣品架。
自診斷功能，隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。
紫外可見分光光度計UV765PC技術(shù)指標：
波長范圍：190nm～1100nm
波長最大允許誤差：±0.5nm
波長重復(fù)性：≤0.2nm
光譜帶寬：2nm
雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，
在360nm處,以NaNO2測定）
透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% （T）
吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00（A）
透射比最大允許誤差：±0.3%（τ）
漂移：≤0.001A/h
透射比重復(fù)性：0.15%（T）
基線平直度：±0.002A
噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%（T）
掃描速度；快、中、慢 。
| 產(chǎn)品型號 | 技術(shù)參數(shù) |
| UV759 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190-1100nm，波長準確度：±0.5nm，光譜帶寬：2nm，雜散光≤0.05%T, 比例雙光束結(jié)構(gòu),全自動操作,LCD顯示（數(shù)據(jù)）,自動 調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯(lián)樣品架，不帶光譜掃描，有USB接口。配置軟件后可與PC通訊,由PC全面操作 |
| UV759S 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190nm-1100nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結(jié)構(gòu)；全自動操作；LCD顯示（數(shù)據(jù)、圖譜）；具有掃描功能；自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能,；自動8聯(lián)樣品架；可進行光譜掃描；有USB接口；配置軟件后可與PC通訊 |
| UV757CRT 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：200-1000nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；全自動操作；LCD顯示（數(shù)據(jù)）；自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能；具有RS232接口；由PC全面操作（附軟件）；自動8聯(lián)樣品架， |
| UV757CRT/PC 紫外可見分光光度計 | CRT附電腦、打印機；技術(shù)指標同UV757 |
| UV765 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190-1100nm；波長準確度±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結(jié)構(gòu)；全自動操作；LCD顯示（數(shù)據(jù)、圖譜）；具有掃描功能；自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯(lián)樣品架；有USB接口,；配置軟件后可可與PC通訊 |
| UV765CRT 紫外可見分光光度計 | 技術(shù)指標同UV765；帶反控軟件 |
| UV765PC 紫外可見分光光度計 | 技術(shù)指標同UV765；帶電腦（含打印機）、反控軟件、 |
| 760CRT雙光束 紫外可見分光光度計 | 雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)；波長范圍：190-900nm；波長準確度±0.3nm；光譜帶 寬：0.08～5nm連續(xù)可調(diào)；雜散光≤0.08%T；測光方式：具有波長掃描、時間掃描、定量分析、多波長測定；附品牌電腦、噴墨打印附件 |
UV765UV765CRTUV765PC紫外可見分光光度計
技術(shù)指標：● 波長范圍：190nm～1100nm● 波長最大允許誤差：±0.5nm● 波長重復(fù)性：≤0.2nm● 光譜帶寬：2nm● 雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% （T）● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00（A）● 透射比最大允許誤差：±0.3%（τ）● 漂移：≤0.001A/h● 透射比重復(fù)性：0.15%（T）● 基線平直度：±0.002A● 噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%（T）● 掃描速度；快、中、慢
主要特點：● 比例雙光束，保證極好的穩(wěn)定性！ 超低的雜散光，優(yōu)異的波長精確度。● 高清晰度大屏幕LCD顯示，流暢的人機對話操作！ 長壽命石英涂膜光學(xué)部件！ 常規(guī)測量功能：光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描！ 顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜，支持專用打印機！ 自動校正功能，確保每次測量數(shù)據(jù)準確。● 自動尋找燈源最佳位置，獨立燈室，燈源更換簡單方便！ 大樣品室，自動8聯(lián)樣品架！ 自診斷功能，隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。
技術(shù)指標：● 波長范圍：190nm～1100nm● 波長最大允許誤差：±0.5nm● 波長重復(fù)性：≤0.2nm● 光譜帶寬：2nm● 雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00(A)● 透射比最大允許誤差：±0.3%（τ）● 漂移：≤0.001A/h● 透射比重復(fù)性：0.15%（T）● 基線平直度：±0.002A● 噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%(T)● 掃描速度；快、中、慢