德國(guó)QuaNix4500膜厚儀代理
4500測(cè)厚儀，德國(guó)QuaNix4500膜厚儀
| QuaNix4200/4500: 1.只需調(diào)零、無(wú)需校準(zhǔn) 2.Fe/NFe兩用探頭 3.一體化設(shè)計(jì) 4.自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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菲希爾XDL系列膜厚儀
菲希爾XDL系列膜厚儀，是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X－RAY光譜膜厚儀XDL-B系列，其非破壞式的測(cè)量，特別適合金屬鍍層厚度，如一些五金零件、電路板及測(cè)量電鍍槽中的金離子的含量檢測(cè)。其采用了高次數(shù)率的比例接收器，可以在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下，對(duì)金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測(cè)量，另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下，可測(cè)量多至24元素，這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL系列膜厚儀的長(zhǎng)期穩(wěn)定性是十分高的，這使儀器減少校正所需要的時(shí)間及次數(shù)，便于管理儀器，并提高生產(chǎn)效率.應(yīng)用范圍廣泛，包括了測(cè)量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層（如：裝飾性鉻的鍍層）、在電子及半導(dǎo)體行業(yè)中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測(cè)量、電鍍槽中的藥水成份分析。
LZ-990膜厚儀
1.本儀器是KETT品牌最新款雙用一體機(jī),,機(jī)型小巧,方便攜帶,性能穩(wěn)定,功能廣泛的實(shí)用型機(jī).有較高的性?xún)r(jià)比.
2．對(duì)磁性和渦流的測(cè)定方式有自動(dòng)識(shí)別轉(zhuǎn)換功能,無(wú)需人工調(diào)整.有4種語(yǔ)言顯示及儲(chǔ)存功能等.
3.探頭上配有曲面器可測(cè)圓型,管型及弧型工件,此曲面器也可輕松拔下,還可測(cè)量平面及小面積的工件.
技術(shù)參數(shù):
型號(hào) LZ-990J
測(cè)定方法 電磁和渦流兩用型
測(cè)定對(duì)象 磁性金屬上的非磁性涂鍍層和非磁性金屬上的絕緣層
測(cè)量范圍 0~3000μm或0~120.0mils
測(cè)量精度 ﹤50μm時(shí)，±1μm ＞50μm﹤1000μm時(shí)，±2% ＞1000μm≦3000μm時(shí)，±3%
分辨率 ＜100μm時(shí)，0.1μm ＞100μm時(shí),1μm
最小測(cè)試面積 ≥5*5mm
數(shù)據(jù)輸出接口 USB接口或連接打印機(jī)（可選）
顯示方式 數(shù)顯式LCD
統(tǒng)計(jì)功能 測(cè)試數(shù)/最大值/最小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差,可存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 有成組儲(chǔ)存（電磁式和渦流式各8組）,共計(jì)16組
功能設(shè)定 各種設(shè)定共15種
測(cè)量單位 um和mils互換
測(cè)量方式 單次測(cè)量/連續(xù)測(cè)量
語(yǔ)言顯示 中文/英文/日文/韓語(yǔ)
工作方式 直接方式/成組方式 統(tǒng)計(jì)功能
測(cè)試次數(shù)/最大值/最小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差
存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 1000個(gè)
其它 可連接VZ-330型打印機(jī),可與PC機(jī)通訊上下限界數(shù)據(jù),
外形 尺寸:82（W）*99.5（D）*32（H）mm
重量:160g
可選配件 工作臺(tái),打印機(jī),打印機(jī)連接線,電腦通訊線
膜厚儀
為了實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的高品質(zhì)要求，在我們的企業(yè)內(nèi)部擁有極為高效的縱向生產(chǎn)機(jī)制。在我們的生產(chǎn)車(chē)間內(nèi)，高素質(zhì)的員工使用最現(xiàn)代化的機(jī)器認(rèn)真、敬業(yè)地完成每一道生產(chǎn)步驟。我們非常希望客戶(hù)能從我們的產(chǎn)品中獲得最大的收益，因此我們樂(lè)于將我們知道的應(yīng)用技巧和專(zhuān)業(yè)知識(shí)進(jìn)行推廣宣傳。我們會(huì)按客戶(hù)的使用程度舉辦“測(cè)量基礎(chǔ)技術(shù)培訓(xùn)班”、 “設(shè)備最佳使用研討會(huì)”和“針對(duì)特別應(yīng)用的座談會(huì)”。特點(diǎn)：配備了半導(dǎo)體探測(cè)器，由于有更好的信噪比，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn)，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu) 底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)典型應(yīng)用領(lǐng)域鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）來(lái)料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控研究和開(kāi)發(fā)電子工業(yè)接插件和觸點(diǎn)黃金、珠寶和鐘表工業(yè)可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層痕量元素分析在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量硬質(zhì)鍍層分析
技術(shù)指標(biāo)：
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。一次可同時(shí)分析最多24個(gè)元素，五層鍍層。分析檢出限可達(dá)2ppm，最薄可測(cè)試0.005μm。分析含量一般為2ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
PIG多用途干膜儀（破壞式膜厚儀）
德國(guó)BYK PG-3432 破壞式涂層測(cè)厚儀 破壞式膜厚儀
德國(guó)BYK PG-3432 破壞式涂層測(cè)厚儀 破壞式膜厚儀
BYK3432 破壞式膜厚儀 用途:1、在各種底材上（鐵，非磁性金屬，塑料，木材等）測(cè)量涂層厚度（測(cè)量范圍2-2000 µm）；2、通過(guò)顯微鏡可觀察，陷坑，裂痕，氣泡，鱗片，層間附著力以及底材預(yù)處理的質(zhì)量控制；3、可用十字劃格刀進(jìn)行附著力的測(cè)試符合標(biāo)準(zhǔn)ASTM D 3359，DIN 53 151，以及壓痕硬度測(cè)試符合標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 2815；訂購(gòu)信息：型號(hào) 名稱(chēng) 燈泡 電池 顯微鏡 尺寸PG-3430 多用途干膜檢驗(yàn)儀 帶刀頭 白色LED 1.5V 50倍 110×80×75mmPG-3432 多用途干膜檢驗(yàn)儀 不帶刀頭 白色LED 1.5V 50倍 110×80×75mm基本配置如下：多用途干膜檢驗(yàn)儀；旋轉(zhuǎn)頭附3個(gè)膜厚刀頭（#1－3）；內(nèi)置式顯微鏡（標(biāo)尺0－2mm）；發(fā)光二極管（LED）；電池；操作說(shuō)明書(shū)；注意：1、訂購(gòu)PG-3432時(shí)，膜厚刀頭必須另外訂購(gòu)；2、附著力刀頭和壓痕硬度刀頭必須另外訂購(gòu)；
刀頭選件:編號(hào) 名稱(chēng) 漆膜厚度A3419 特殊刀頭 0-100umA3420 特殊刀頭 0-3000umA3421 1號(hào)刀頭 20-2000umA3422 2號(hào)刀頭 10-1000umA3423 3號(hào)刀頭 2-200um
膜厚儀，哪家磁性渦流兩用型膜厚儀好用，首選DR280鐵基鋁基雙功能涂層測(cè)厚儀
分體兩用型膜厚儀，鐵基鋁基涂膜測(cè)厚儀-DR280磁性渦流兩用涂層測(cè)厚儀。 . 雙功能技術(shù)的測(cè)厚儀，完成磁感應(yīng)和電渦流測(cè)量自動(dòng)轉(zhuǎn)換應(yīng)用雙功能測(cè)量技術(shù)，能夠自動(dòng)識(shí)別磁性或非磁性底材，然后采用相應(yīng)的測(cè)試方法，適用于各種測(cè)量環(huán)
境？蓽y(cè)量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
東儒DR280兩用型膜厚儀應(yīng)用了磁性和渦流兩種測(cè)量方法，測(cè)量金屬表面的覆層厚度。 磁性測(cè)厚方法，可以快速無(wú)損檢測(cè)磁性金屬鋼、鐵材料的涂層，鍍層，鋅層，鉻層，油漆，塑料，粉末，干膜，搪瓷等覆層的厚度。 渦流測(cè)厚方法，可以快速無(wú)損檢測(cè)非磁性金屬鋁，銅，不銹鋼 材料表面上的涂料，油漆，塑料，粉末，干膜，塑料等覆層厚度的都可以測(cè)量。 涂層測(cè)厚儀DR280型號(hào)是一款兩用型涂層測(cè)厚儀，中國(guó) 廣東出產(chǎn)的涂層測(cè)厚儀，最好用，涂層測(cè)厚儀首選東儒測(cè)厚儀280涂層測(cè)厚儀；涂層測(cè)厚儀也叫覆層測(cè)厚儀，油漆測(cè)厚儀，磁性渦流兩用測(cè)厚儀，專(zhuān)業(yè)檢測(cè)金屬表面涂層厚度由中國(guó)。廣州東儒儀器公司制造提供。
***操作簡(jiǎn)單，測(cè)試速度快，靈敏度好，測(cè)量精度高***具有兩種測(cè)試方式：連續(xù)（CONT INUE）和單次（SINGLE）測(cè)量方式***連接電腦進(jìn)行通信,讀出存貯數(shù)據(jù)進(jìn)行保存或打。ㄟm用U型主機(jī)）***公英制轉(zhuǎn)換μm/Mil***設(shè)有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、測(cè)量次數(shù)（No）***大容量存儲(chǔ)，可存貯800多個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)*** 背光顯示模式，低電壓指示***手動(dòng)/自動(dòng)關(guān)機(jī)功能l 可采用兩種校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)***操作過(guò)程有蜂鳴聲標(biāo)示（單次測(cè)量方式）***自動(dòng)識(shí)別鐵基和非鐵基底材
二、DR280涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)A、測(cè)量范圍：0-1250/3000μm（超過(guò)1250μm要提前告知廠家另行定制）B、使用環(huán)境：溫度：0℃-50℃,濕度：20%RH—90%RH,無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下使用C、最薄基體：0.4mmD、測(cè)量精度：±（1%-3%）+1.5μmE、分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm）F、最小基體面積10*10mmG、最小曲率：凸5mm;凹5mmH、基體臨界厚度：0.5mmI、外形尺寸：130mm*70mm*24mmJ、重量：100gK、電源：三節(jié)（7號(hào)）堿性電池
三、DR280涂層測(cè)厚儀儀器標(biāo)配：儀器箱：一個(gè)主機(jī)：一臺(tái);標(biāo)準(zhǔn)片：4片基體：2塊（鐵基、鋁基）電池：2節(jié)清潔布：1塊說(shuō)明書(shū)：1份（內(nèi)附保修卡）合格證：1份
選配：U型主機(jī)，數(shù)據(jù)連接線、光盤(pán)軟件
東儒DR280涂層測(cè)厚儀廣泛用于在防腐施工，制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
四、 儀器免費(fèi)保修一年，七天包換；
廣州東儒科技公司是一家專(zhuān)業(yè)研發(fā)生產(chǎn)測(cè)厚儀的廠家，采用進(jìn)口工業(yè)級(jí)元件，穩(wěn)定性好，可靠性高，測(cè)量誤差小，操作簡(jiǎn)單，外觀精美，功能強(qiáng)大，本公司全國(guó)誠(chéng)征代理商，歡迎來(lái)電合作。
SurfixProS專(zhuān)業(yè)級(jí)測(cè)厚儀膜厚儀 德國(guó)菲尼克斯Surfix Pro S
專(zhuān)業(yè)級(jí)測(cè)厚儀膜厚儀 德國(guó)菲尼克斯Surfix Pro S
2.同屏顯示各統(tǒng)計(jì)值，配合7種測(cè)頭
UHZ-111 UHZ-111/D UHZ-111/C UHZ-111/S UGD UHZ-58 UHZ-58/W UHZ-58/F UHZ-58/D UHZ-58/C UHZ-58/S UHZ UGD/HG5 KEY FYKG FYK RF-3001 UQZ-71LX UHZ-111/S UHZ-111/C UHZ-111/D UHZ-111 UHZ-111/F UHZ-58
3.可測(cè)鐵基體和有色金屬基體上的鍍層和絕緣涂層
4.量程：0~10mm 精度：0.1μm，見(jiàn)測(cè)頭參數(shù)
5.帶RS-232接口,背景光 .可連小打印機(jī) 6.探頭需另選購(gòu)
LZ-990日本KETTlz-990膜厚計(jì)
| ●仕様 | LZ-990「エスカル」 |
|---|---|
| 測(cè)定方式 | 電磁・渦電流式兼用（自動(dòng)判別機(jī)能付き） |
| 測(cè)定対象 | 磁性金屬上の非磁性被膜、および非磁性金屬上の 絶縁被膜 |
| 測(cè)定範(fàn)囲 | 0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils |
| 測(cè)定精度 | 50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2％ 1000μm以上2000μm未満±3％ |
| 適合規(guī)格 | 電磁誘導(dǎo)式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376 |
| 分解能 | 100μm未満0.1μm100μm以上1μm |
| 表示方法 | デジタル（バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm） |
| データメモリ | 約1000點(diǎn) |
| アプリケーション メモリ | 電磁式・渦電流式各8種 計(jì)16本の検量線を記憶 |
| 電源 | 電池1.5V （単4 アルカリ）× 2 |
| 消費(fèi)電力 | 40mW（バックライト非點(diǎn)燈時(shí)） |
| 使用溫度範(fàn)囲 | 0 ～ 40℃ |
| 機(jī)能 | 検量線メモリ（アプリケーション・メモリ）、測(cè)定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット區(qū)分、自動(dòng)電源ON/OFF、機(jī)能、時(shí)計(jì)機(jī)能、上下限設(shè)定、統(tǒng)計(jì)計(jì)算、バックライト機(jī)能、単位設(shè)定、等の各種機(jī)能15 種 |
| 外部出力 | パソコン（USB）、プリンタ（RS-232C）に出力可能 |
| 寸法・質(zhì)量 | 82（W）× 99.5（D）× 32（H）mm、約160g |
| 付屬品 | ゼロ板ホルダ（鉄素地、アルミ素地）、標(biāo)準(zhǔn)板（50、100、1000μm）、キャリングポーチ、電池1.5V（単4アルカリ）×2、リストストラップ |
| オプション | 標(biāo)準(zhǔn)板（付屬品以外の厚さ）、測(cè)定スタンドLW-990、プリンタVZ-330、プリンタケーブル、USBパソコンケーブル、透明保護(hù)カバー、データ管理ソフト：「データロガー LDL-01」 |
XRF-2000韓國(guó)MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀
韓國(guó)MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀
產(chǎn)品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來(lái)分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。
XRF-2000 系列分為以下三種： 1. H-Type :密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測(cè)量 樣品較小，高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開(kāi)放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè) 。 應(yīng)用 : 測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測(cè)元素的范圍： Ti（22）~U（92 ）。 行業(yè) : 五金類(lèi)、螺絲類(lèi)、 PCB 類(lèi)、連接器端子類(lèi)行業(yè)、電鍍類(lèi)等。 特色 : 非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。 可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層 （五層厚度 + 底材 ） 并可同時(shí)分析多種元素。 相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報(bào)告 。 全系列獨(dú)特設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。 標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。 準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來(lái)選擇準(zhǔn)值器的口徑。 移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差 。 獨(dú)特2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析。 雷射對(duì)焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專(zhuān)業(yè)報(bào)告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告 。
光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對(duì)位。
單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。 優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的最佳優(yōu)勢(shì)。 儀器正常使用保固期一年，強(qiáng)大的專(zhuān)業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。 測(cè)試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韓國(guó)Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測(cè)厚兩用的XRF-2000R型號(hào)
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測(cè)厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測(cè)的功能，
其物點(diǎn)為：高分辨率，固態(tài)探測(cè)器; 可分析超薄樣品
分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;
可測(cè)量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；
電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>
定性分析超過(guò)30種元素,能夠測(cè)量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；
貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；
自動(dòng)過(guò)濾器，多準(zhǔn)直儀（五個(gè)準(zhǔn)直器，從0.1mm-3.0mm）和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺(tái)；
性?xún)r(jià)比超強(qiáng)的元素分析及鍍層測(cè)厚雙功能分析儀器
儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg （net）
可測(cè)量樣器大小：W550mm D550mm H30mm
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