型號 | HG2515B 多路電阻掃描測試儀價格直銷爆款 | |||
基本精度 | 0.05% | |||
顯示范圍 | 0.01mΩ-20.000MΩ | 清零功能 | 短路 | |
分辨率 | 10μΩ | 測試端 | 5端 | |
顯示方式 | 直讀、Δ% | 量程方式 | 手動、自動、量程保持 | |
量程 | 200 mΩ-2MΩ 共9個量程 | 分選功能 | 上超、下超、合格 | |
觸發(fā)方式 | 單次、連續(xù) | 觸發(fā)延時范圍 | 0-9999mS | |
單路速度 | 最快: 約30次/秒 快速: 約20次/秒 中速: 約13次/秒 慢速: 約7次/秒 精測: 約4次/秒 | |||
接口 | 帶HANDLER接口,選配RS232接口 | |||
環(huán)境溫濕度 | 10~35℃、≤85%RH | 電源 | 220V±10 %、50Hz±5 % |
產(chǎn)品簡述:
JK2515B-16S多路電阻掃描測試儀(16路)采用240*128的點陣液晶屏顯示,能對變壓器、電機、開關、繼電器等各類多路電阻進行同步測試,儀器測量范圍0.0001Ω~19.999kΩ,儀器產(chǎn)生高精度恒流經(jīng)被測件進行四端點測量,有效地扣除了引線誤差,適合用戶作高精度測量;由于使用直流測試及最多十組的快速掃描測試,對各類變壓器及電感的銅阻測量尤為適合;用戶可進行兩種方式分選,即電阻直接顯示值的上/下限分選和Δ%分選。此外,單點或掃描兩種清零校準方式;測試速度(快速、慢速)的改變;全狀態(tài)、全設置數(shù)值的斷電保護等功能也極大的方便了用戶對產(chǎn)品的測試。性能特點: 人性化操作界面,操作及維護方便
單臺最多可掃描24路 每路均有一個分選設置 帶HANDLER接口、選配RS-232C接口 基本精度 0.05% 讀數(shù)1個字 測量范圍: 0.01 mΩ — 2 MΩ (定制) 0.01 mΩ — 2 kΩ 最高分辨率: 10uΩ 單路速度:6次/秒、12次/秒量程方式:手動、自動、量程保持 清零功能:短路測試端:5端 顯示方式:直讀、Δ%分選功能:上超、下超、合格接口(選配):帶HANDLER接口、選配RS232接口分選方式(Sort):1>.直讀分選(Dire)2>.相對偏差分選(Δ%)報警方式(Alarm):1>.關閉報警(Clo)2>.相應分選檔報警3>.合格報警(Pas) 4>.不合格報警(Fai)-注:上超或下超都為不合格 清零校準模式選擇(Clear mode):1>.單負載清零(Point)2>.掃描負載清零(Scan)-注:僅在掃描測試起作用量程選擇(Range):1>.自動(Auto)2>.保持(Hold)
多路掃描分信號選方式:A: 全部掃完出結果、以16通道為例:16通道全部只能在一樣的上限和一樣的下限,設定上下限數(shù)值范圍(只能在同一量程)超出范圍 判定合格或者不合格輸出信號(高電平、低電平) B: 依次掃描出結果、以16通道為例:每個通道設定上下限數(shù)值范圍(只能在同一量程)并且可以分檔判定合格或者不合格輸出信號(高電平、低電平) 后再進入下個通道測試出結果。C: 全部掃完出結果、以16通道為例:設定每個通道不同的上下限數(shù)值范圍(只能在同一量程),16通道全部掃描后出結果,判定合格或者不合格信號(高電平、低電平) 多路掃描測試時根據(jù)不同測試范圍和測試精度切換板可以采樣如下圖:(測試范圍100u歐姆~2k歐姆,最大24路,繼電器開關切換)(1)大電阻(200歐姆~2K歐姆):單開關切換,測試精度一般可以達到1歐姆左右;(2)小電阻(2歐姆~200歐姆):雙開關切換,測試精度一般可以達到0.2歐姆左右;(3)微電阻(100u歐姆~2歐姆):四開關切換,測試精度一般可以達到0.001歐姆左右; 名稱:多路電阻測試儀詳細介紹 JK2515B 是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制內部采用嵌入式的電阻測試儀。專為工業(yè)控制設計的電阻測試儀,定制量程,從10μΩ~200kΩ,受益于金艾聯(lián)尖端的電阻測量技術,使得測試速度高達20次/秒。 JK2515B 是迄今最小型的電阻測試儀,內部為獨立的6組電阻測試儀 ,上下極限設置,具備PLC觸發(fā)接口PASS/FAIL輸出。 特點:1:測試速度快 高達30次/秒。2:精度高,量程寬。特別適用于小電阻測試。3:抗干擾強,數(shù)據(jù)穩(wěn)定 。4:可以同時測試6個不同量程的電阻值 5:量程、電流直觀顯示、直接選擇。6: 6路內部獨立 相當于6臺低電阻測試儀 技術規(guī)格● 多路測試:任意路數(shù)組合● 外形尺寸:48mmx96mm,● 基本準確度:0.1%● 量程,從10μΩ ~ 200kΩ! 顯示:3999讀數(shù)! 高速測試:20次/秒 性能特征● 校正功能:短路清零功能 ! 比較器(分選)功能:內置比較器,PASS/FAIL分選結果顯示和IO輸出! 四端測試● 內置Handler接口。 應用● 測量各種高、中、低值電阻器● 各種開關接觸電阻● 漆包線電阻● 接插件接觸電阻● 繼電器線包和觸點電阻● 變壓器、電感器、電機、偏轉線圈繞線電阻● 焊點接觸電阻● 導線電阻● 車、船、飛機的金屬鉚接電阻● 印制版線條和孔化電阻● 表征機電元件的低阻特性● 金屬探傷等。
產(chǎn)品簡述:
JK2515B-8D多路電阻測試儀是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制內部采用嵌入式的電阻測試儀。專為工業(yè)控制設計的電阻測試儀,定制量程,從10μΩ~200kΩ,受益于金艾聯(lián)尖端的電阻測量技術,使得測試速度高達20次/秒。 JK2515B 是迄今最小型的電阻測試儀,內部為獨立的8組電阻測試儀 ,上下極限設置,具備PLC觸發(fā)接口PASS/FAIL輸出。 特點:1:測試速度快 高達20次/秒。2:精度高,量程寬。特別適用于小電阻測試。3:抗干擾強,數(shù)據(jù)穩(wěn)定 。4:可以同時測試8個不同量程的電阻值 5:量程、電流直觀顯示、直接選擇。6: 8路內部獨立 相當于8臺低電阻測試儀
技術規(guī)格● 多路測試:任意路數(shù)組合● 外形尺寸:48mmx96mm,● 基本準確度:0.1%● 量程,從10μΩ ~ 200kΩ。● 顯示:3999讀數(shù)! 高速測試:20次/秒性能特征
● 校正功能:短路清零功能 ! 比較器(分選)功能:內置比較器,PASS/FAIL分選結果顯示和IO輸出! 四端測試● 內置Handler接口。
應用:
● 測量各種高、中、低值電阻器● 各種開關接觸電阻● 漆包線電阻● 接插件接觸電阻● 繼電器線包和觸點電阻● 變壓器、電感器、電機、偏轉線圈繞線電阻● 焊點接觸電阻● 導線電阻● 車、船、飛機的金屬鉚接電阻● 印制版線條和孔化電阻● 表征機電元件的低阻特性● 金屬探傷等。
匯高儀器
銷售熱線:15219521196 13066199520 QQ聯(lián)系:2821290738
專業(yè)銷售、計量、維修各種檢測儀器儀表
HG2515B多路電阻掃描測試儀
性能特點: 240*128大屏幕LCD點陣圖形顯示
人性化操作界面,操作及維護方便
單臺最多可掃描24路,可多臺級聯(lián)掃描
每路均有一個分選設置
帶HANDLER接口、選配RS-232C接口
基本精度 0.05% 讀數(shù)1個字
測量范圍 0.01 mΩ — 200 KΩ
最高分辨率: 10uΩ
單路速度:4次/秒 8次/秒 12次/秒 20次/秒
量程方式:手動、自動、量程保持
清零功能:短路
測試端:5端
顯示方式:直讀、Δ%
分選功能:上超、下超、合格
接口(選配):HANDLER接口、RS232接口
鐘先生 電話 13728666139 13066199520 QQ 2821290738
日本日置IM3533 LCR測試儀 IM3533-01分析掃描測試儀 | ||
IM3533 | IM3533-01 | |
測量模式 | LCR,變壓器測試(N,M,△L), 連續(xù)測試(LCR模式) | LCR,變壓器測試(N,M,△L), 分析儀(掃描測試),連續(xù)測試(LCR/分析模式) |
測量參數(shù) | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T | |
測量量程 | 100mΩ~100MΩ,10個量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義) | |
可顯示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位] ~9.999999G [單位]) 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999) Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%) | |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° | |
測量頻率 | 1mHz ~200kHz (1mHz ~10Hz步進) | |
測量信號電平 | [輸出阻抗] V模式,CV模式:5mV~5Vrms,1mVrms CC模式:10μA~50mArms,10μArms [低阻抗高精度模式] V模式,CV模式:5mV~2.5Vrms,1mVrms CC模式:10μA~100mArms,10μArms | |
輸出阻抗 | 正常模式:100Ω,低阻抗高精度模式:25Ω | |
顯示 | 5.7英寸觸摸屏,彩色TFT,顯示可設置ON/OFF | |
測量時間 | 2ms(1kHz,FAST,顯示OFF,代表值) | |
功能 | DC偏壓測量、直流電阻溫度補償 (標準溫度換算顯示),比較器、BIN測量(分類功能),面板讀取/保存、存儲功能 | |
接口 | EXT I/O(處理器),USB通信(高速),USB存儲 選件:RS-232C,GP-IB,LAN任選一 | |
電源 | 100~240V AC,50/60Hz,最大50VA | |
尺寸及重量 | 330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg | |
附件 | 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 |
法國Tem邊界掃描測試儀針對電路板的這四個階段,或者說這四個不同的部門,提供了適應其各自特點的工作平臺。ENG平臺 針對電路板的實驗調試階段或部門的應用;IND平臺 針對制定測試工藝和編制測試程序階段或部門的應用;PRO平臺 針對生產(chǎn)制造階段或部門的實際測試應用;(需要IND的編程支持)REP 平臺 針對維修階段或部門的故障診斷修理應用;(需要IND的編程支持)這四個系列的產(chǎn)品每個都分為三個級別:C級是基本級,支持1-3個TAP端口;E級是擴展級,支持1-6個TAP端口;P級是完整級,支持1-無限個TAP端口IND-P 是功能最全,級別最高的產(chǎn)品。法國Tem邊界掃描測試儀必選的選件:TEM1 JTAG 控制器,具備1個TAP 接口,帶一條電纜TEM4 JTAG 控制器,具備4個TAP 接口,帶一條電纜(以上兩個要選一項)CAB 電纜法國Tem邊界掃描測試儀其他選件:ISP Flash 板上編程軟件PCB PCB 圖像軟件IO320 320點I/O接插件擴展IO60 60點I/O接插件擴展法國Tem邊界掃描測試儀使工程師可以利用JTAG標準下的邊界掃描全部功能,確認調試和測試電路板。這個平臺包含了所有的功能:定義測試對象,檢查BSDL,檢查掃描鏈路,執(zhí)行互連測試,用TCL生成功能測試,對信號和網(wǎng)點做診斷,所有工作不超過2天就可以完成。一個重要的好處是,可以在設計調試階段分析測試覆蓋率和可測試性,利用網(wǎng)點導航可以方便的調整設計以提高可測試性和測試覆蓋率,使DFT進一步優(yōu)化。使您的工作很靈活,多功能,易擴展,更快速!法國Tem邊界掃描測試儀設計調試平臺技術要點測試覆蓋率和可測試性分析BSDL器件檢查基本結構檢查(掃描鏈路完整性檢查)面向互連,區(qū)間,存儲器的ATPG自動測試程序發(fā)生器交互性調試支持90種以上網(wǎng)絡表格式使用TCL語言開發(fā)用戶測試程序用波形圖或狀態(tài)表顯示結果交互式故障診斷電路板或器件交互式控制和觀察寄存器,總線,引腳上的數(shù)字信號對FLASH和PLD板上編程SVF文件格式輸出PCI和USB接口控制器法國Tem邊界掃描測試儀設計調試平臺包括軟件模塊系統(tǒng)構建 :定義元器件,區(qū)域,板,系統(tǒng),網(wǎng)絡表導入工具箱 :先進的調試功能,獨立確認TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號BSDL檢查 :檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范交互式調試 :隔離故障,便于調試診斷ATPG1基礎 :檢查掃描鏈路,與設計性能保持一致ATPG2互連 :自動測試可測試引腳之間的互連ATPG3存儲區(qū)域 :自動測試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH, SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連測試擴展 :TCL測試擴展用于測試用戶自定義的其他進一步測試程序裝載 :可以在調試和測試同時對FPGA和CPLD裝載程序Flash編程(option) :可以對任何形式的Flash存儲器編程網(wǎng)表合并(option) :自動生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡表,針對拼板測試生成網(wǎng)點導航 :生成交互式參考表,顯示網(wǎng)點,引腳,JTAG單元,可以按名字,引腳,單元搜索Run time生成 :輸出所有的數(shù)據(jù)庫到其他的相關平臺API 服務器(option) :可以提供應用程序接口,以和用戶使用的通用軟件平臺例如Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測試一體化法國Tem邊界掃描測試儀IND編程測試平臺 針對制定測試工藝和編制測試程序階段或部門的應用;本平臺自己可以執(zhí)行完整的測試,還將測試準備好,完整的提交給下一個生產(chǎn)測試平臺,使得生產(chǎn)測試平臺可以簡便完整的運行測試。法國Tem邊界掃描測試儀編程測試平臺技術要點測試覆蓋率和可測試性分析BSDL器件檢查基本結構檢查(掃描鏈路完整性檢查)面向互連,區(qū)間,存儲器的ATPG自動測試程序發(fā)生器交互性調試支持90種以上網(wǎng)絡表格式使用TCL語言開發(fā)用戶測試程序用波形圖或狀態(tài)表顯示結果交互式故障診斷電路板或器件交互式控制和觀察寄存器,總線,引腳上的數(shù)字信號對FLASH和PLD板上編程SVF文件格式輸出PCI和USB接口控制器組織管理測試數(shù)據(jù)根據(jù)實際需要運行完整的測試程序調整或簡化測試方案輸出測試程序給生產(chǎn)平臺法國Tem邊界掃描測試儀編程測試平臺包括軟件模塊系統(tǒng)構建 :定義元器件,區(qū)域,板,系統(tǒng),網(wǎng)絡表導入工具箱 :先進的調試功能,獨立確認TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號BSDL檢查 :檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范交互式調試 :隔離故障,便于調試診斷ATPG1基礎 :檢查掃描鏈路,與設計性能保持一致ATPG2互連 :自動測試可測試引腳之間的互連ATPG3存儲區(qū)域 :自動測試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH, SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連測試擴展 :TCL測試擴展用于測試用戶自定義的其他進一步測試程序裝載 :可以在調試和測試同時對FPGA和CPLD裝載程序Flash編程(option) :可以對任何形式的Flash存儲器編程網(wǎng)表合并(option) :自動生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡表,針對拼板測試生成網(wǎng)點導航 :生成交互式參考表,顯示網(wǎng)點,引腳,JTAG單元,可以按名字,引腳,單元搜索Run time生成 :輸出所有的數(shù)據(jù)庫到其他的相關平臺API 服務器(option) :可以提供應用程序接口,以和用戶使用的通用軟件平臺例如Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測試一體化測試管理 :根據(jù)需要選擇調整測試方案策略測試報告編輯 :根據(jù)使用要求編輯任何形式的報告格式生產(chǎn)測試準備 :本平臺自己可以執(zhí)行完整的測試,還將測試準備好,完整的提交給下一個生產(chǎn)測試平臺,使得生產(chǎn)測試平臺可以簡便完整的運行測試。法國Tem邊界掃描測試儀PRO生產(chǎn)測試平臺 針對生產(chǎn)制造階段或部門的實際測試應用;法國Tem邊界掃描測試儀使測試成為很簡便的一鍵式操作,只需選擇測試編程平臺傳遞下來的測試程序。管理員可以選擇測試順序和測試程序。生產(chǎn)測試平臺技術要點調入測試編程平臺的程序執(zhí)行自動測試和板上編程管理員和操作員分級打印測試報告生產(chǎn)測試平臺包括軟件模塊程序裝載 :可以在測試同時對FPGA和CPLD裝載程序Flash編程(option) :可以對任何形式的Flash存儲器編程測試報告編輯 :根據(jù)使用要求編輯任何形式的報告格式執(zhí)行生產(chǎn)測試 :完整的執(zhí)行測試編程平臺傳遞過來的測試任務。測試掃描鏈路;確認器件的ID碼ATPG1,2,3的測試擴展的功能測試FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載FLASH編程條碼讀出 :對UUT識別方便操作員面板 :操作員只需根據(jù)板子類型選擇測試程序,運行測試,讀測試報告,無需專門培訓。管理員面板 :管理員在生產(chǎn)測試之前可以調整測試順序,確定JTAK連接電纜,信號確認
REP 診斷維修平臺 針對維修階段或部門的故障診斷修理應用針對返修的板子,使用本平臺可以方便快速的診斷故障進行修理。利用生產(chǎn)平臺傳遞的信息和圖形化的電路圖可以方便的看到故障位置。利用網(wǎng)點導航可以把故障定位在網(wǎng)點上。結合探針可以很快的確定和排除故障。診斷維修平臺技術要點觀看電路圖圖形 圖形上標識出故障點故障點定位執(zhí)行測試程序輸出統(tǒng)計數(shù)據(jù)針對故障診斷需求編寫特殊測試法國Tem邊界掃描測試儀故障平臺包括軟件模塊工具箱 :先進的調試功能,獨立確認TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號交互式調試 :隔離故障,便于調試診斷測試擴展 :TCL測試擴展用于測試用戶自定義的其他進一步測試程序裝載 :可以在調試和測試同時對FPGA和CPLD裝載程序Flash編程(option) :可以對任何形式的Flash存儲器編程測試報告編輯 :根據(jù)使用要求編輯任何形式的報告格式網(wǎng)點導航 :生成交互式參考表,顯示網(wǎng)點,引腳,JTAG單元,可以按名字,引腳,單元搜索PCB 視圖(option) :利用圖形化顯示的電路圖可以方便的看到測試顯示的故障位置執(zhí)行生產(chǎn)測試 :完整的執(zhí)行測試編程平臺傳遞過來的測試任務。測試掃描鏈路;確認器件的ID碼ATPG1,2,3的測試擴展的功能測試FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載FLASH編程
多路電阻掃描測試儀 HG2515B
HG2515B多路電阻掃描測試儀250622 250422 230622 230422 250620 230620 250420 230420 230621 250421 230421 K34R6-8D K34R6-8 K23R5-15 K23R5-10 K23R5-8 K23R5-6 K25R5-15 K25R5-10 K25R5-8 K25R5-6 HV400-04 HV400-03 HV400-02 4M410-15 4R110-06
多路電阻掃描測試儀 HG2512C
HG2512C多路電阻掃描測試儀 K23R5-6 K25R5-15 K25R5-10 K25R5-8 K25R5-6 HV400-04 HV400-03 HV400-02 4M410-15 4R110-06 3R410-15 XQ250422 XQ230422 XQ250622 XQ230622 ST403A