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      <tr id="dnf07"><dfn id="dnf07"></dfn></tr>
      <dl id="dnf07"><label id="dnf07"></label></dl>
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      SJ-301　表面粗度儀178系列SJ-301
      
                    
      
                        
      三豐編號
      規(guī)格
      178-954A
      X軸12.5mm  Z軸±150m
      標(biāo)準(zhǔn)配件：178-390      檢出器  12AAA686   連接線
                178-602      標(biāo)準(zhǔn)片  12AAA688   電池
                12AAA216   支持架   357651      Ac變壓器
                12AAA217   平面滑橈  270732     記錄線
                12AAA218   圓面滑橈       
       
      三豐編號
      規(guī)格
      178-033
      V型
       
      178-034
      滑動
      178-035
      內(nèi)徑
      178-245A
      SJ-201
       
      178-246A
      SJ-301
      12AAA210
      檢出器用延長桿
      12AAA303
      檢出器用延長線
      12AAA841
      記憶卡
      12AAA876
      高耐久記錄紙
      264-504A
      DP-1VR處理機
      936937
      1M
      信號線
      965014
      2M
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      SJ201表面粗度儀SJ201
      
                    
      
                        表面粗度儀SJ201 表面粗度儀SJ301 
      型 號
      SJ-201
      SJ-301
      貨 號:
      100VAC120VAC230VAC240VAC
      178-950K/178-948K＊
      178-953K/178-952K＊
      178-950A/178-948A＊
      178-953A/178-952A＊
      178-950D/178-948D＊
      178-953D/178-952D＊
      178-950E/178-948E＊
      178-953E/178-952E＊
      平移范圍
      12.5MM
      測量范圍
      300um(±150um)
      驅(qū)動／檢測元件
      探測儀:178-390/178-395＊
      測頭:金剛石(測頭半徑:5um/2um＊)
      測量力:4mN/0.75mN＊
      探測方式:徽感應(yīng)
      評定輪廓
      P,R
      P,R,DIN4776 profile,Motif
      估計參數(shù)
      Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,R3Z,mr
      Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,S,Pc,R3z,mr,δc,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,Lo,R,AR,Rx, A1,A2
      取樣長度
      0.25,0.8,2.5mm
      0.25,0.8,2.5,8mm
      顯示
      LCD
      LCD觸式面板
      打印機
      ——
      熱敏線型
      放大倍數(shù)
      ——
      自動
      數(shù)據(jù)輸出
      通過接口輸出
      自動
      電源
      通過適配器／電池可充電
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      SV-3100S4日本三豐SV-3100S4表面粗度儀
      
                    
      
                        
            
      • 測定範(fàn)圍: X軸: 100mm 
        •     
      • Z軸:800µm.80µm.8µm
        •     
      • 真直度:0.5µm/100mm    解析度: X軸: 0.1µm, 0.01µm/800µm    Z 軸: 0.001µm/80µm,0.0001µm/8µm
        •     
      • 測定力:0.75mN
        •     
      • 測針:觸針(鑽石): 圓錐90    尖端曲率半徑: 5µm     skid(超硬) 曲率半徑: 40mm
        •     
      • 測定速度:驅(qū)動速度: 0.02~2 mm/s(7階段)     後退速度:5mm/s    定位速度: 0.1~2 mm/s(搖桿操作時)手動
        •     
      • 驅(qū)動部移動範(fàn)圍: Z軸300mm
        •     
      • 數(shù)值輸出:RS-232C
        •     
      • 使用溫度範(fàn)圍: 15~25℃
        •     
      • 電源: AC100~240V
        •     
      • SURFPAK軟體
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      SV-3200S4三豐表面粗度儀
      
                    
      
                        
      技術(shù)參數(shù)X 軸　測量范圍: 100mm 或 200mm　分辨率: 0.05&micro;m　檢測方法: 線性編碼器　驅(qū)動速度: 0 - 80mm/s　測量速度: 0.02 - 5mm/s　 移動方向: 向后　直線度: （0.05+1L/1000）&micro;m*（0.5&micro;m/200mm: 測量范圍為200mm的型號）　傾角范圍: ±45&ordm;Z2 軸 （立柱）　垂直移動: 300mm 或 500mm、動力驅(qū)動　分辨率: 1&micro;m　檢測方法: ABSOLUTE 線性編碼器　驅(qū)動速度: 0 - 20mm/s檢測器　范圍／分辨率: 800&micro;m / 0.01&micro;m, 80&micro;m / 0.001&micro;m,8&micro;m / 0.0001&micro;m （使用測頭選件時，最大可達(dá)2400&micro;m）　檢測方法: 無軌／有軌測量　測力: 4mN 或 0.75mN （低測力型）　測針針尖: 金剛石、90&ordm; / 5&micro;mR（60&ordm; / 2&micro;mR: 低測力型）　導(dǎo)頭曲率半徑: 40mm　檢測方法: 差動電感式基座尺寸 （W x H）: 600 x 450mm 或 1000 x 450mm基座材料: 花崗巖尺寸 （W x D x H）: 756 x 482 x 966mm （S4 型）756 x 482 x 1166mm （H4 型）1156 x 482 x 1176mm （W4 型）766 x 482 x 966mm （S8 型）766 x 482 x 1166mm （H8 型）1166 x 482 x 1176mm （W8 型）重量 140kg （S4, S8 型）150kg （H4, H8 型）220kg （W4, W8 型）*L 為驅(qū)動長度 （mm）評估能力: SURFPAK-SV評估輪廓　P （主輪廓）, R （表面粗糙度輪廓）, WC, WCA, WE, WEA, 　　　DIN4776 輪廓、包絡(luò)殘余線、粗糙度 motif、波形 motif評估參數(shù)　Ra, Rq, Rz, Ry, Rz（JIS）, Ry（DIN）, Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,　Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc （Ppi）, Sm, HSC, mr, δc, plateau ratio,　mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Δa, Δq, λa, λq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1,　A2　粗糙度 motif 參數(shù): Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX, CPM　波形 motif 參數(shù): Wte, Wx, W, AW SW, SAW, NW分析圖表　ADC, BAC1, BAC2、功率譜圖、自相關(guān)圖、Walsh 功率譜圖、Walsh 自相關(guān)圖、 傾斜分布圖、局部峰值分布圖、參數(shù)分布圖濾波類型 2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% （相位校正）,　2CR-50% （相位校正）, 高斯-50%截止波長*　λc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm　fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm　fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm取樣長度 （L）*　0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm取樣長度　傾斜補償、R 平面 （曲面） 補償、橢圓補償、拋物線補償、　雙曲線補償、二次曲線自動補償、 多項式補償、　多項式自動補償* 可在0.025mm 至最大移動長度間指定任意長度。
       
      
                    
      
                                        
      
                        該公司產(chǎn)品分類：
                                                                        形狀類
                                                光學(xué)儀器
                                            
      
                                    
      
                            
      
            
        
      
        
      
            
            
      
                
      
                    
      最新產(chǎn)品
      
                
      
                      
            
      
        
      
    
      
    
      
    熱門儀器：
    液相色譜儀
    氣相色譜儀
    原子熒光光譜儀
    可見分光光度計
    液質(zhì)聯(lián)用儀
    壓力試驗機
    酸度計（PH計）
    離心機
    高速離心機
    冷凍離心機
    生物顯微鏡
    金相顯微鏡
    標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
    生物試劑

    


      

      
    

      

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