一.簡介:
ST-50型沖擊試樣缺口投影儀,是根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94«金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法»中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種檢察夏比V 型和U 型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投影到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V 或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣樣板圖對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便,檢查對比真觀,效率高。
該儀器還可用于機(jī)械零件的外形輪廓,防治物纖維,生物切片分析,工量刀具檢驗(yàn),儀表元件和半導(dǎo)體器件的投影檢測,操作簡便,檢查對比直觀、效率高;
二.主要參數(shù)
1. 投影屏直徑:180mm
2. 工作臺尺寸: 方工作臺尺寸:110*125mm
園工作臺直徑:90mm
工作臺玻璃直徑:70mm
3. 工作臺行程:
縱向:±10mm
橫向:±10mm
升降: ±12mm
4. 工作臺轉(zhuǎn)動范圍:0~360º
5. 儀器放大倍率:50X
物鏡放大倍率:2.5X
投影物鏡放大倍率:20X
6. 光源(鹵鎢燈):12V
7. 電源:220V 50HZ
8. 外形尺寸:515*224*603mm
9. 重量:18kg
一、概述 XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是濟(jì)南時(shí)光試驗(yàn)儀器有限公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比,以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便,對比直觀。 二、工作原理: XT-50沖擊試樣缺口投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體,再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。 根據(jù)需要,本儀器為單一投射照明,光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上,再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致。 三、濟(jì)南沖擊試樣缺口投影儀XT-50主要參數(shù): 投影屏直徑: 180mm 方工作臺尺寸: 110×125mm 圓工作臺直徑: 90mm 工作臺玻璃直徑: 70mm 縱向: ±10mm 橫向: ±10mm 升降: ±12mm(無刻度) 工作臺轉(zhuǎn)動范圍: 0-360°(無刻度) 儀器放大倍率: 50X 物鏡放大倍率: 2.5X 投影物鏡放大倍率: 20X 光源(鹵鎢燈): 12V 100W 外形尺寸: 515×224×603mm(長×寬×高) 重量: 約18Kg
一、產(chǎn)品簡介:
CTS-50型沖擊試樣缺口投影儀是根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和國標(biāo)中對沖擊試樣的要求而設(shè)
計(jì),開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和型
缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,一確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高,
是理化試驗(yàn)室的必備專用設(shè)備。該產(chǎn)品滿足GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》的要
求,可同時(shí)滿足ASTM E23-02a等國際標(biāo)準(zhǔn)。
二、主要技術(shù)參數(shù):
1、投影屏直徑: 180mm
2、工作臺轉(zhuǎn)動范圍:0-360°
3、工作臺尺寸:方工作臺尺寸:110×125mm,
方工作臺直徑:90mm,工作臺玻璃直徑:70mm
4、工作臺行程:縱向:±10mm,橫向:±10mm,升降:±12mm
5、放大倍數(shù): 50X
6、光源:12V 100W(鹵鎢燈)
7、電源:220V 50Hz 150W
8、外型尺寸: 515×224×603mm
9、重量:18Kg
XT-50沖擊試樣缺口投影儀
一、 用途與特點(diǎn):
該機(jī)是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,操作簡便,檢查對比直觀、效率高,是目前切實(shí)可行、并能檢查質(zhì)量的方法,是相關(guān)理化試驗(yàn)室的必備儀器。
二、 主要技術(shù)參數(shù):
1. 放大倍數(shù):50×;
2. 投影屏尺寸:ф200mm;
3. 工作臺位移:縱向±10mm,橫向±10mm,升降±12mm(無刻度);
4. 工作臺轉(zhuǎn)動范圍:0~360о(無刻度);
5. 光源:鹵鎢燈12V 100W;
6. 電源:220V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸:515×224×603mm;
8. 重量: 約18kg。
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主要技術(shù)指標(biāo)
沖擊試樣缺口投影儀 型號M191487 | 貨號: |
產(chǎn)品說明: JK21-CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用光學(xué)儀器,與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進(jìn)行對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高。是理化試驗(yàn)室的必備專用設(shè)備。 技術(shù)參數(shù): 投影屏: 200×200mm 放大倍數(shù): 50X 光源: 12V 100W(鹵鎢燈) 電源: 220V 50Hz 150W 外型尺寸: 515×224×603mm 重量: 約18Kg | 產(chǎn)品圖片 |
設(shè)備簡介:CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,...
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。主要技術(shù)指標(biāo)1、投影屏直徑 :180mm2、工作臺尺寸 :方工作臺尺寸:110×125mm 工作臺直徑:90mm 工作臺玻璃直徑:70mm3、工作臺行程 :縱向:±10mm 橫向:±10mm 升降:±12mm4、工作臺轉(zhuǎn)動范圍: 0~360°5、儀器放大倍率:50X 物鏡放大倍率: 2.5X 投影物鏡放大倍率:20x6、光源(鹵鎢燈):12V 100W7、電源: 220V 50Hz8、外形尺寸:515×224×603mm9、重量: 30kg