[主要測(cè)試參數(shù)]1 電源電流+Icc1、-Icc1、Icc22 內(nèi)部參考電壓Vref3 失調(diào)電壓Zero4 增益誤差Gain5 線性誤差Linearity6 微分線性誤差Differential7 電源電壓靈敏度dFSV1+、dFSV1-、dFSV2+8 管腳參數(shù)Iil、Iih、Voh、Vol[主要技術(shù)指標(biāo)]1)測(cè)壓指標(biāo):測(cè)量量程 精度±(5.0V~10.2V) ±(0.025%Rdg+472uV)±(2.5V~5.0V) ±(0.025%Rdg+236uV)±(<2.5V) ±(0.025%Rdg+196uV)2)測(cè)流指標(biāo)(2.5mA~5.1mA)FSR ±(0.05%Rdg+236nA)(1.25mA~2.5mA)FSR ±(0.05%Rdg+118 nA)(<1.25mA)FSR ±(0.05%Rdg+98 nA)
產(chǎn)品特點(diǎn): |
· 器件好壞判別:當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí),儀器可判斷其好壞。 · 器件型號(hào)判別:當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí),儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷 其型號(hào)。 · 器件老化測(cè)試:當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí),儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 · 器件代換查詢:儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致,引腳排列一致的器件型號(hào)。 · 電壓調(diào)節(jié)選擇:3V、5V、9V、15V。 · 內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改:ICT-33C可從鍵盤(pán)對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。 · EPROM、EEPROM器件讀入:ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器 件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。 · EPROM、EEPROM器件寫(xiě)入:ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到64K 以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。 · 新增RS232接口,與PC通訊,互送資料。 |
技術(shù)規(guī)格:(可測(cè)1300種) |
|
型號(hào):RL196991ZXMDSF6密度繼電器校驗(yàn)儀 | 型號(hào):RL196992Sverker760單相繼電保護(hù)測(cè)試儀 | 型號(hào):RL197016BYFH-I互感器二次負(fù)荷在線測(cè)試儀 |
范圍 A | 空載電壓(V) | 滿載電壓(V) | 滿載電流(A) | 帶載/恢復(fù)時(shí)間(分鐘) |
0-10 | 90 | 75 | 10 | 2/15 |
0-40 | 25 | 20 | 40 | 1/15 |
0-100 | 10 | 8 | 100 | 1/15 |
0-100 | 10 | -- | 250 | 1秒/15分鐘 |
范圍 | 空載電壓(V) | 滿載電壓(V) | 滿載電流(A) | 帶載/恢復(fù)時(shí)間(分鐘) |
0-250V AC | 290 | 250 | 3 | 10/45 |
0-300V AC | 320 | 250 | 2 | 10/45 |
電壓范圍(V) | 空載電壓(V) | 滿載電壓(V) | 滿載電流(A) |
0-60VAC | 70V | 60V | 0.25A |
60-120VAC | 130V | 120V | O.25A |
20-130VDC | 130V | O.4A | |
130-220VDC | 220V | O.4A |
專業(yè)生產(chǎn)銷(xiāo)售電路板故障測(cè)試儀;電路在線測(cè)試儀;IC測(cè)試儀;電路板故障測(cè)試儀;線路板維修儀;電路板維修儀;線路板維修測(cè)試儀;集成電路維修測(cè)試儀;變頻器維修測(cè)試儀;紡織電路板維修測(cè)試儀;工控電路板維修測(cè)試儀;電路在線維修測(cè)試儀
已有多年的電路維修測(cè)試儀研制生產(chǎn)、銷(xiāo)售服務(wù)、推廣應(yīng)用的歷史。電路在線維修測(cè)試儀是一種通用的電路板故障測(cè)試儀,可以的幫助維修工程師快速在線檢測(cè)出各種損壞型電路板的故障,將故障定位到集成電路、元件或電路結(jié)點(diǎn)或端口上. 專注于電路在線維修測(cè)試儀的研發(fā)、生產(chǎn)、推廣應(yīng)用的專業(yè)化企業(yè)。自上世紀(jì)九十年代初推出國(guó)內(nèi)最早的電路在線維修測(cè)試儀以來(lái),產(chǎn)品已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域的電路板維修。尤其在進(jìn)口大型自動(dòng)化設(shè)備的電子電路板的維修中,起到了其它維修檢測(cè)儀器無(wú)法替代的作用。 電路維修測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,集成電路測(cè)試儀,電路板維修測(cè)試儀,電路板測(cè)試儀電路板故障測(cè)試儀,電路在線測(cè)試儀,IC測(cè)試儀,電路板故障測(cè)試儀,線路板維修儀,電路板維修儀,線路板維修測(cè)試儀,集成電路維修測(cè)試儀,變頻器維修測(cè)試儀,紡織電路板維修測(cè)試儀,工控電路板維修測(cè)試儀,電路在線維修測(cè)試儀
電路在線維修測(cè)試儀是一種通用的電路板故障檢測(cè)設(shè)備,能夠的幫助我們?cè)诰檢測(cè)各種類型的電路板;并將故障定位到集成電路、元件、端口或電路結(jié)點(diǎn)上;系統(tǒng)集成了通用器件的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù),直接輸入器件型號(hào)即可進(jìn)行器件功能以及性能測(cè)試。借助了電路在線維修測(cè)試儀,可以大大改善工作效率,提高故障檢出率,讓維修工作真正做到更、更快捷、更。 于工業(yè)電路板測(cè)試與維修領(lǐng)域,已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于航天電力、軍事裝備、通信醫(yī)療、鐵路造船、冶金石化、紡織印刷等行業(yè)的電路板維修業(yè)務(wù)中,已經(jīng)成為維修電路板最的檢測(cè)儀器。對(duì)于解決在電路板故障檢測(cè)中遇到的各種問(wèn)題,都起到了傳統(tǒng)維修工具無(wú)法替代的作用。電路板故障在線檢測(cè)儀----維修電路板最理想的測(cè)試工具......
產(chǎn)品名稱 | 數(shù)字集成電路測(cè)試儀 |
產(chǎn)品型號(hào) | YB3116A |
相似型號(hào) | |
商 標(biāo) | 綠揚(yáng) |
技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) | |
認(rèn)證種類 | |
價(jià) 格 | 4600元 |
交貨方式 | |
生產(chǎn)廠商 | 江蘇綠揚(yáng)電子儀器集團(tuán)有限公司 |
產(chǎn)品說(shuō)明 | 可測(cè)試TTL54/74,55/75,4000,45系列,常用RAM,EPROM/CPU接口電路/光電耦合器件等 |
備 注 |
匯能HN2600MX/C 是一款高性能的線路板測(cè)試儀,支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng),使用主流USB通信接口,可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能測(cè)試,數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測(cè)試,模擬特征分析測(cè)試等等。
一、主要技術(shù)指標(biāo): 1.操作系統(tǒng):支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。 2.通訊接口:主流的USB接口。 3.?dāng)?shù)字測(cè)試通道:40通道,支持驅(qū)動(dòng)電平 ±(1~15)V。 4.模擬測(cè)試通道:160路。 5.總線隔離專用數(shù)字通道:8通道。 6.后驅(qū)動(dòng)電流:≥300 mA。 7.?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度: (1~610 Ktv/S)8檔可選。 8.在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài):13種。 9.?dāng)?shù)字器件的閾值電平:TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié);自定義調(diào)節(jié)。 10.程控外供電源(自動(dòng)控制、自保護(hù)功能):3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。 11.電源加電延遲時(shí)間:(0.5~7)秒 6檔可選。 12.測(cè)試探棒:2組8個(gè)測(cè)試口。 13.模擬信號(hào)掃描電壓幅度: ±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。 14.VI分辨率:8~128點(diǎn)/周期。 15.輸出阻抗匹配:100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。 16.模擬通道最大測(cè)試頻率: 2.6KHZ。 17.脈沖發(fā)生器脈沖幅度:±1V~±28V。 18.電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值:25Ω±5Ω。 19.腳踏開(kāi)關(guān):支持。 二、 主要測(cè)試功能: 1.數(shù)字邏輯器件性能(直流參數(shù))測(cè)試:維修實(shí)踐發(fā)現(xiàn),有些器件的原有功能尚能實(shí)現(xiàn),但參數(shù)卻發(fā)生了變化,元 件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定,設(shè)備或電路板仍然不能正常工作,為此天惠公司開(kāi)發(fā)了針對(duì)集成電路直流參數(shù)的測(cè)試功能,支持對(duì)數(shù)字集成電路的輸入漏電流和輸出驅(qū)動(dòng)電流等直流參數(shù)測(cè)試。如輸入漏電流(Iih,IiL,Vih,ViL);輸出驅(qū)動(dòng)電流(IOL,IOh,VOL,VOh)。 2. 數(shù)字邏輯器件在/離線功能測(cè)試:能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試;測(cè)試器件庫(kù)龐大,僅邏輯數(shù)字器件就1 萬(wàn)多種;測(cè)試范圍廣:TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、ECL、接口器件、俄羅斯器件、西門(mén)子器件庫(kù)。 3.ASA(VI)模擬特征分析測(cè)試:ASA測(cè)試通過(guò)比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障,可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn)。ASA測(cè)試不涉及器件功能,無(wú)論何種元器件,模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測(cè);ASA測(cè)試是逐管腳進(jìn)行的,基本上不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試。 ASA測(cè)試無(wú)需給電路板加電,使用較為安全。 4.單/多端口VI曲線分析比較測(cè)試:對(duì)器件采取單端口或多端口的VI曲線測(cè)試方式;單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線,而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。 5.ASA 曲線雙棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試:使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試;當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí),此種方法最有效。 6.ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能:當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí),如果超差,儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音,引起使用者注意,該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬(wàn)用表Beep的效果,提高了檢測(cè)效率,也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。 7.ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào):當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí),如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化,曲線就變化明顯,反映故障的觀察靈敏度就越精確,曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān),適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線,有效的提高了故障檢出率。 8.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù):可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要,給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù),可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;大大提高了測(cè)試的靈活性。 9.ASA 曲線故障快速定位/查找功能:當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí),測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng),使用戶觀察曲線更方便、直觀。 10. 對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別:增強(qiáng)了對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別的判斷水平,降低了誤判率,進(jìn)一步提高了測(cè)試準(zhǔn)確度。 11. VI曲線參數(shù)值量化功能:即從被測(cè)電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試值并保存,且能夠用寫(xiě)字板或OFFICE工具軟件直接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。 12.求取平均曲線的測(cè)試功能:用戶可以先測(cè)試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線文件,然后利用該功能把多個(gè)曲線文件平均成一個(gè)曲線文件,作為以后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。 13.VI曲線雙板直接對(duì)比測(cè)試:使用雙路測(cè)試夾對(duì)兩塊相同電路板(一塊好板和一塊壞板)上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線提取、存儲(chǔ)和比較測(cè)試,測(cè)試效率極高。14.三端器件測(cè)試:完成對(duì)三端(含輸入/輸出)分立元件的動(dòng)態(tài)測(cè)試功能,如三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、繼電器等元件測(cè)試。 15.ASA 曲線多種排列/顯示方式:可按比較誤差降序排列顯示曲線,比較誤差升序排列顯示曲線,還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點(diǎn)”或“畫(huà)線”來(lái)顯示曲線,單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。 16.電容、電感定量測(cè)試:可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測(cè)試電容的容量及漏電阻,并展現(xiàn)出電容在充放電過(guò)程中不同的阻值的過(guò)程;能夠測(cè)試出電感的電感量及串聯(lián)電阻; 17. 電路板圖象建庫(kù)測(cè)試:通過(guò)數(shù)碼相機(jī)或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計(jì)算機(jī)內(nèi),在屏幕上就可以對(duì)該板上各個(gè)集成電路芯片進(jìn)行編號(hào),以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對(duì)每一個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行邏輯功能在線測(cè)試及VI曲線掃描測(cè)試,從而建立起整板的測(cè)試庫(kù),當(dāng)需要維修時(shí),只需將該板從計(jì)算機(jī)軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對(duì)其進(jìn)行故障診斷,適用于批量電路板的維修。 18.?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試:能夠提取13種復(fù)雜的電路在線狀態(tài),如開(kāi)路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài),對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)。 19.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng),確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等),可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。 20.IC型號(hào)識(shí)別:針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。 21. LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試:可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。 22.讀寫(xiě)存儲(chǔ)器功能測(cè)試:直接檢測(cè)存儲(chǔ)器SRAM / DRAM芯片的好壞,該測(cè)試無(wú)需事先學(xué)習(xí),有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù),可采用在線、離線測(cè)試方式。 23.只讀存儲(chǔ)器功能測(cè)試:可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái),保存到計(jì)算機(jī)上,再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試;測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上,并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。 24.元器件循環(huán)測(cè)試功能:該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試,直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止,易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。 25.?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能:閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門(mén)檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外,還可選自定義。此時(shí)高閾值可輸入為不大于12V,低閾值可輸入為不小于-12V的電平值。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平,能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。 26.加電延遲可選功能:當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此功能。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后,需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。 27.測(cè)試夾接觸檢查功能:主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良(如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等)時(shí),造成的測(cè)試誤判。 28.運(yùn)算放大器在線功能測(cè)試:使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性,測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明專利,有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù),包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。 29. 電壓比較器測(cè)試:模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異,通過(guò)本測(cè)試儀可以很容易實(shí)現(xiàn)。 30.光電耦合器在線功能測(cè)試:由于光耦是電流控制器件,采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試,方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn),準(zhǔn)確度高;有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù),達(dá)500多種 31.光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試:可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)(如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等)進(jìn)行測(cè)試,解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象,提高了故障檢出率; 32.UDT自定義測(cè)試平臺(tái):把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶,由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào),然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào),類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。 33. UDT下AD、DA類器件功能測(cè)試:用戶通過(guò)UDT控制匯能測(cè)試儀,向被測(cè)試器件(AD/DA)或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào),從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào),通過(guò)比較相同激勵(lì)信號(hào)下,器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)與預(yù)期(標(biāo)準(zhǔn))響應(yīng)信號(hào)的符合程度,實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。 34. AFT電路故障追蹤:AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào),并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng),關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中——建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù),用于對(duì)故障板的測(cè)試;也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上,直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。 35.電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系,測(cè)試時(shí)無(wú)須加電,通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。 36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試:可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小,以及均勻程度,直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū):截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況?捎糜诰w管的篩選,尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。 37.填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù):以填表的方式定義模擬器件的各個(gè)管腳狀態(tài):如:正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳,以及其他狀態(tài)等。 38.以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù):采用HNDDL語(yǔ)言,自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶,由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。 39.元器件速查手冊(cè)(電子詞典):元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種,供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。 40.維修日記:供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì),發(fā)生的重要事情等,長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn),會(huì)大大提高維修水平和技能。 41.后臺(tái)操作記錄:測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。
型號(hào):RL197001BYFD-5蓄電池容量放電測(cè)試儀 | 型號(hào):RL197018PAM360E相位角測(cè)量?jī)x | 型號(hào):RL197030BK602電池容量分析儀 |
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The PAM360E Digital Phase Angle Meter is specifically designed for measurements on electrical power systems. It is commonly used for phasing out circuits, checking poly-phase metering installations, testing and calibrating protective relays, checking differential relay schemes, and verifying the polarity of current and potential transformers. |