Agilent 8753D|HP-8753D | HP8753D 3G|6G射頻矢量網(wǎng)絡分析儀300kHz-3G/6GHz
*頻率范圍:30kHz~3或6GHz
*帶有固態(tài)轉(zhuǎn)換的集成化S參數(shù)測試裝置
*達110dB的動態(tài)范圍
*快的測量速度和數(shù)據(jù)傳遞速率
*大屏幕LCD顯示器加上供外部監(jiān)視器用的VGA輸出
*同時顯示所有4個S參數(shù)
*將儀器狀態(tài)和數(shù)據(jù)存儲/調(diào)用到內(nèi)置軟盤驅(qū)動器
*可選用的時域測量和掃描諧波測量
Agilent 8753D|HP-8753D | HP8753D 3G|6G射頻矢量網(wǎng)絡分析儀300kHz-3G/6GHz聯(lián)系人:謝小姐 135105 69439 0755-83589 391-811 QQ:2271687075 *頻率范圍:30kHz~3或6GHz*帶有固態(tài)轉(zhuǎn)換的集成化S參數(shù)測試裝置*達110dB的動態(tài)范圍*快的測量速度和數(shù)據(jù)傳遞速率*大屏幕LCD顯示器加上供外部監(jiān)視器用的VGA輸出*同時顯示所有4個S參數(shù)*將儀器狀態(tài)和數(shù)據(jù)存儲/調(diào)用到內(nèi)置軟盤驅(qū)動器*可選用的時域測量和掃描諧波測量HP 8753D射頻網(wǎng)絡分析儀為滿足研制實驗室或生產(chǎn)制造的測試需求,在速度、性能和方便使用上提供了無與倫比的結合。8753D以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達110dB的動態(tài)范圍以及頻率掃描和功率掃描,為表征有源或無源網(wǎng)絡、元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了圓滿的解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數(shù)據(jù)傳遞速率比以往的型號快達7倍之多。 網(wǎng)絡分析儀的特點是有2個獨立的測量通道,可同時測量和顯示所有4個S參數(shù)。
Agilent 8753D|HP-8753D | HP8753D 3G|6G射頻矢量網(wǎng)絡分析儀300kHz-3G/6GHz*聯(lián)系人:謝小姐 135105 69439 0755-83589 391-811 QQ:2271687075 頻率范圍:30kHz~3或6GHz*帶有固態(tài)轉(zhuǎn)換的集成化S參數(shù)測試裝置*達110dB的動態(tài)范圍*快的測量速度和數(shù)據(jù)傳遞速率*大屏幕LCD顯示器加上供外部監(jiān)視器用的VGA輸出*同時顯示所有4個S參數(shù)*將儀器狀態(tài)和數(shù)據(jù)存儲/調(diào)用到內(nèi)置軟盤驅(qū)動器*可選用的時域測量和掃描諧波測量HP 8753D射頻網(wǎng)絡分析儀為滿足研制實驗室或生產(chǎn)制造的測試需求,在速度、性能和方便使用上提供了無與倫比的結合。8753D以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達110dB的動態(tài)范圍以及頻率掃描和功率掃描,為表征有源或無源網(wǎng)絡、元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了圓滿的解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數(shù)據(jù)傳遞速率比以往的型號快達7倍之多。 網(wǎng)絡分析儀的特點是有2個獨立的測量通道,可同時測量和顯示所有4個S參數(shù)。可以選擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐標、駐波比或時域格式來顯示反射和傳輸參數(shù)的任意組合。便于使用的專用功能鍵能迅速訪問各個測量功能?梢岳眠_4個刻度格子在高分辯率的LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結果。為了驅(qū)動更大的外部監(jiān)視器,以便于觀察,增加了與VGA兼容的輸出。較好的通用性和性能 一個集成化的合成源提供了達10mW的輸出功率(用選件011可達100mW),1Hz的頻率分辯率和線性頻率,對數(shù)頻率,列表頻率,CW和功率掃描功能。三個調(diào)諧接收機可以在6GHz(帶有選件006頻率擴展)處105dB或3GHz(標準)110dB的寬動態(tài)范圍內(nèi)進行獨立的功率測量或同時比值測量。集成化的測試裝置可以在不使用倍頻器的情況下,測量達6GHz裝置的傳輸和反射特性。為了在非同軸系統(tǒng)中進行方便而精確的測量,特提供了TRL*/LRM*1校準。利用內(nèi)置適配器移去校準技術,還能實現(xiàn)對非插入式器件的高精度測量。高穩(wěn)定度的頻率基準(選件1D5)提高了對高Q器件,如表面聲波(SAW)器件、晶體諧振器或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測量精度。為了提高配置的靈活性,選件011取消了內(nèi)置測試裝置,以便能選擇自己所需的測試裝置。