當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s,然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時,所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,此稱為俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應,所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的,與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收,而是以輻射形式放出,便產生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。
K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充,從而可產生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層,此時就有能量ΔE釋放出來,且ΔE=EK-EL,這個能量是以X射線形式釋放,產生的就是Kα 射線,同樣還可以產生Kβ射線 ,L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關系如下:
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律,式中K和S是常數,因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。
(二)XR-306能量色散X熒光光譜儀特點
1.無需制樣即可直接測量.
2. 所有元素可以同時測量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應付大批量待測樣品.
3. 檢出限低,可以滿足WEEE和ROHS指令要求.
4. 無損分析. 分析樣品不被破壞,分析快速,,便于自動化。
5. 沒有人為誤差,誰操作都得到一樣的結果.
6. 操作簡單,可以單鍵完成操作.
7.分析的元素范圍廣,從Na到U均可測定;
8.熒光X射線譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡便;
9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級,
10、連續(xù)測試重復性極強,測試數據穩(wěn)定
(三)能量色散光譜分析儀與波長色散光譜分析儀的區(qū)別
能量色散分析儀只有一個探測器,它對測量X射線能量范圍是不受限制的,而且這個探測器能同時測量到所有能量的X射線。也就是說只要激發(fā)樣品的X射線的能量和強度能滿足激發(fā)所測樣品的條件,對一組分析的元素都能同時測量出來。一般有以下三種基本類型的探測器可用于測量X射線:密封式或流氣式充氣探測器、閃爍探測器、半導體探測器。
能量色散的條件是當樣品被激發(fā)后產生的X射線通過窗口進入探測器探測器把X射線能量轉換成電荷脈沖,每個X射線光子在探測器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉換成電壓脈沖,當這些電壓脈沖經充分放大后,被送入脈沖處理器,脈沖處理器把這些代表著各個元素的模擬信號再轉換成為數字信號,由計算機進行分類,分別存入多道分析器(MCA)的相應通道內,一般使用1024-2048道MCA。這些通道覆蓋了分析的整個能量范圍。
波長色散分析儀是用多個衍射晶體分開待測樣品中各元素的波長,由此對元素進行測量。晶體被安裝在適當位置,以滿足布拉格定律的要求。 X射線熒光分析和其它光譜分析一樣,也是一種相對分析。這就是說,要有一套參考標樣,這些參考標樣能夠在可能感興趣的范圍內覆蓋所測元素。首先對這些標樣進行測量,記錄欲分析元素的強度,建立濃度(含量)、強度(CPS)校準曲線,存入處理數據的計算機,供以后分析同一類型未知樣品時使用。 最簡單的校準線是直線,強度與濃度的依賴關系反映儀器的靈敏度。
另外由于校準線要在很長一段時間內使用,所以應對儀器的漂移作出調整,盡管這種漂移不大,但它確實存在。這可以通過對每個分析元素選用高、低兩個參考點來實現。制備若干被稱作SUS(調整樣)的特殊樣品,它們含有適量的分析元素,有很好的穩(wěn)定性。利用它們可以求出高、低強度值。
產品規(guī)格:
名 稱 | X熒光光譜儀 |
型 號 | XR-306 |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析元素 | Na ~U任意元素, 鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、六價鉻(Cr6+)、多溴聯苯(PBB)和多溴聯苯醚(PBDE)中的溴。 |
技術指標 | 檢出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 樣品形狀:任意大小,任意不規(guī)則形狀 樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線管:靶材/Mo 管電壓/5~50 kV 管電流/最大1~1000 μA 照射直徑:2、5、8mm 探測器:Si(PIN)半導體高靈敏度探測器 濾光片:八種新型濾光片自動選擇 樣品定位:微動載物平臺(選配) 樣品觀察:30倍彩色CCD攝像機 微區(qū)分析:X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)(選配)軟件 定量分析:理論Alpha系數法(NBS-GSC法) 數據處理:IMB PC/AT/內存/256 MB 以上/硬盤/40 GB 以上 系統(tǒng):Windows XP正版 功率:1.1kW 重量:40Kg 外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm |
標準配置 | 標準配置:Si(PIN)半導體高靈敏度探測器(<150eV) X光光管(壽命>15000小時) 高壓電源(RSD<0.25%) 大樣品倉 高精密攝像機(130萬像素) Alpha系數法(NBS-GSC法)定量軟件 計算機(P4品牌機) 打印機(愛普生彩色噴墨打印機) 測試用樣品杯2個,測試用塑料薄膜數張 標 樣:歐盟EC681一片、銀校正標樣一片。 1KVA UPS不間斷電源 儀器工作臺 |
工作條件 | 工作溫度:10-30℃ 相對濕度:≤70% 電源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
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技術參數 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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要特點
塑料模式: 可測塑料樣品中13種標準元素;鈦、鉻、鐵、銅、鋅、硒、溴、鎘、錫、銻、汞和鉛? 應對RoHS指令,無需樣品前處理過程? 同時檢測并顯示出Cd/Cr/Pb/Hg/Br等十幾種元素的ppm含量? 檢測時間0-300秒? 合金模式: 可測合金、焊料以及金屬制品中的25種標準元素;鈦、釩、鉻、錳、鐵、鎳、銅、鋅、硒、鋯、鈮、鉬、鉿、鉭、鎢、錸、鉛、鉍、鈀、銀、錫、鎘、金和鉑? 用于合金鑒別、成分分析(百分比含量,可精確到0.01%即100ppm)? 無損樣品,檢測時間0-60秒? 同時檢測及顯示多達25種標準元素含量,可定做特殊元素? 適用于焊錫、不銹鋼、黃銅及其他金屬制品中鉛含量的檢測?
專門為RoHS檢測推出的新款儀器 在EDX3000B的基礎上,增加了準直器和濾光片自動切換功能,使儀器更具智能化,人性化
技術指標 分析元素:從硫到鈾 分析精度:1ppm-99.99%,ROHS規(guī)定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)檢測限達1ppm。 能量分辨率:155±5V 高 壓:5-50kv 管 流:50-1000μA 適用溫度:15-30℃
自動濾光片選擇 多種準直器自動自由切換 加強金屬元素感度分析器 三維自由度超大的樣品腔設計,樣品腔尺寸:1000*1000*100mm 三重安全保護模式 相互獨立的基體效應校正模型 多變量非線性回歸程序 任意多個可選擇的分析和識別模型 一次可同時分析24個元素 電 源:交流220v±5v |
X-Strata980(X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀)
1、主要技術參數: ◇分析方法:光電比色分析法 ◇量程范圍:吸光度值0~1.999A 濃度值0~99.99% ◇測量精度:符合GB223.3~5-88標準 ◇電源電壓:220V±10% 50Hz 2、主要特點: ◇采用“智能動態(tài)跟蹤”和“標準曲線的非線性回歸”技術,結果數顯直讀百分含量,自動打印 ◇可儲存曲線數由原來的9條增加到15條,分析范圍更廣; ◇零點、滿度自動跟蹤,無需精確調整; ◇輕觸32鍵音響提示,減少組合操作,性更高、操作更簡單; ◇可輸入日期和爐號,自動打印結果; ◇調整波長、變更比色皿、改變稱樣量及合理利用曲線,可擴大測量元素的品種及含量范圍 ◇采用了的冷光源技術,使測量數據更加穩(wěn)定。
一、KDS-3C金屬元素分析儀主要技術參數: KDS-3C型金屬元素分析儀包含KDS-3A、3B型分析儀的所有功能并在原來九條工作曲線的基礎上增加至十五條工作曲線,大大拓寬了測量元素的種類. 零點、滿度均自動跟蹤,無需精確調整. 采用觸摸鍵盤,32鍵音響提示,多種快捷功能鍵,操作更為簡便. 可輸入日期和爐號,并可自動打印記錄. 采用了的冷光源技術使數據更加穩(wěn)定。
二、KDS-3C金屬元素分析儀技術參數: 1、波長范圍:400-750nm(濾光片) 2、吸光度范圍:0-2A 3、濃度范圍:0.000-9.999% 10.00-99.99%自動換檔顯示 4、數據存貯:EPROM,斷電數據可保持數年 5、電 源:交流220V±10% 6、耗 電 量:≤50W