CMI900 是一款性價(jià)比極高的臺(tái)式 X 射線熒光光譜儀,應(yīng)用于涂鍍層厚度測(cè)量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析:正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和50瓦微焦X射線管,大大提高了靈敏度 簡(jiǎn)單的元素區(qū)分:二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優(yōu)化,測(cè)量元素范圍廣: 可預(yù)設(shè)參數(shù) CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法 杰出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性: 自動(dòng)熱補(bǔ)償測(cè)量?jī)x器溫度,糾正變化,提供穩(wěn)定的結(jié)果 簡(jiǎn)單快速的光譜校準(zhǔn),定期檢查儀器性能(如靈敏度),并提供必要的糾正 堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì) 可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作 堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì) 經(jīng)行業(yè)驗(yàn)證的技術(shù),在全球銷售量超過3000臺(tái)
品牌:OXFORD CMI(英國(guó)牛津) 簡(jiǎn)介:CMI900X射線熒光測(cè)厚儀,歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測(cè)厚儀的詳細(xì)信息!天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測(cè)厚儀不僅具有國(guó)內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和的解決方案 □適用范圍:CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等,涉及到其它儀器不能檢測(cè)的測(cè)試領(lǐng)域。 □服務(wù)優(yōu)勢(shì):具有最多的服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和強(qiáng)大的技術(shù)支持 □測(cè)量精度:1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □測(cè)量范圍:磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm);渦流0-60mils(0-1.52mm) 用途:廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍等表層厚度的測(cè)量
廣東正業(yè)科技有限公司http://www.zhengyee.com 聯(lián)系人:黎前華 電話:13712542526 http://www.hua.cpooo.com/product/2192094.html 廣東正業(yè)儀器儀表銷售有限公司專業(yè)供應(yīng)銷售CMI900X射線熒光測(cè)厚儀,歡迎您來電咨詢CMI900X射線熒光測(cè)厚儀的詳細(xì)信息!天津天巴儀器儀表銷售有限公司提供的CMI900X射線熒光測(cè)厚儀不僅具有國(guó)內(nèi)外領(lǐng)先的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和的解決方案。供應(yīng)CMI900X射線熒光測(cè)厚儀,CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀,廣東CMI900X射線熒光測(cè)厚儀, |
主要規(guī)格 規(guī)格描述 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí),最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) 在12.7mm聚焦距離時(shí),最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) 樣品室 CMI900 CMI950 -樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室 -最大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 300mm x 300mm -Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm XYZ程控時(shí),152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí),269.2mm -XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 -樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動(dòng)對(duì)焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 IBM計(jì)算機(jī) 惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī) 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺(tái) 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 -測(cè)厚范圍 可測(cè)定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。 -基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測(cè)元素范圍:Ti22 – U92 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測(cè),如Au karat評(píng)價(jià) 材料和合金元素分析, 材料鑒別和分類檢測(cè) 液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量 多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 元素光譜定性分析 -調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能,自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 -測(cè)量自動(dòng)化功能 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式:“Point and Shoot” 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式 測(cè)量位置預(yù)覽功能 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能 -樣品臺(tái)程控功能 設(shè)定測(cè)量點(diǎn) 連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量 測(cè)量位置預(yù)覽(圖表顯示) -統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能 任選軟件:統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書 -系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能 Z軸保護(hù)傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師
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STRATA960,980,CMI900,CMI700,CMI500,CMI900CMI900CMI165等各種型號(hào)鍍層測(cè)厚儀,并為客戶提供及時(shí),的售前/售后服務(wù)和技術(shù)支持13712542526CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀CMI900X射線熒光測(cè)厚儀
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利用X射線熒光(XRF)進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析,提高過程和質(zhì)量控制。
X-Strata鍍層測(cè)厚儀是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡(jiǎn)單、快速、無損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。
鍍層測(cè)厚儀X-Strata系列提供:
無損分析:無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性
操作簡(jiǎn)單,只需要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)
分析只需三步驟
杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
在鍍層測(cè)厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
鍍層測(cè)厚儀X-Strata系列使用功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量,保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/920主機(jī)的全面自動(dòng)化控制,
技術(shù)參數(shù):
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于測(cè)厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多5層、15 種元素。
B :精確度領(lǐng)先于世界C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ;
如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn),最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米樣品臺(tái)選擇:CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為: 一:手動(dòng)樣品臺(tái)1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
二:自動(dòng)樣品臺(tái)
1 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。 2 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。
CMI920系列采用開閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣,CMI920可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:1 全程控樣品臺(tái):XYZ 三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品最大高度為150mm,XY 軸程控移動(dòng)范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 2 Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為270mm。
3 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。