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      XRF-2000韓國Micro Pioneer金屬鍍層測厚儀,膜厚儀
      
                    
      
                        
      韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
      可測元素范圍：
      鈦(Ti) – 鈾(U)
      可測量厚度范圍：
      原子序 22-25，0.1-0.8μm
      26-40，0.05-35μm
      43-52，0.1-100μm
      72-82，0.05-5μm
      X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
      高壓：0-50KV(程控)
      準(zhǔn)直器：
      固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
      自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
      電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
       
      綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
      鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
      鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
      定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
      光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
      統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).
       
      我們的經(jīng)營理念是:
      1．我們以公平的價(jià)格提供質(zhì)量的儀器。
      2．對顧客提供的服務(wù)和極好的最適合的設(shè)備。
      3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來的事務(wù)。
      4．我們的目標(biāo)和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立并且連續(xù)性的合作伙伴。
       
       
       
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      XRF-2000韓國Micro Pioneer金屬鍍層測厚儀,膜厚儀
      
                    
      
                        
      韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
      可測元素范圍：
      鈦(Ti) – 鈾(U)
      可測量厚度范圍：
      原子序 22-25，0.1-0.8μm
      26-40，0.05-35μm
      43-52，0.1-100μm
      72-82，0.05-5μm
      X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
      高壓：0-50KV(程控)
      準(zhǔn)直器：
      固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
      自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
      電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
       
      綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
      鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
      鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
      定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
      光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
      統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).
       
      我們的經(jīng)營理念是:
      1．我們以公平的價(jià)格提供質(zhì)量的儀器。
      2．對顧客提供的服務(wù)和極好的最適合的設(shè)備。
      3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來的事務(wù)。
      4．我們的目標(biāo)和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立并且連續(xù)性的合作伙伴。
       
       
       
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      X射線金屬鍍層測厚儀 價(jià)格
      
                    
      
                            Micron X射線金屬鍍層測厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測設(shè)備。 檢測區(qū)域?yàn)?0m~500um. 通過CCD 可放大圖像達(dá)300倍。通過高精密度樣品臺可提供元素面分布圖。 可對多達(dá)6層的涂層或鍍層進(jìn)行逐層厚度測量。 MicronX 利用X射線熒光的非接觸式的無損測試技術(shù)地應(yīng)用于微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲存工業(yè)中的金屬薄膜測量。 MicronX 可以同時(shí)測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成份，測量厚度可以從埃（?）至微米（um），它也能測量多至20個(gè)元素的塊狀合金成份。測定元素：Ti ～ U 。 其光束和探測器的巧妙結(jié)合加上的數(shù)字處理技術(shù)使得MicronX 能地解決您的應(yīng)用。在度和重現(xiàn)性上具有的性能。 測量更小、更快、更薄 MicronX 比現(xiàn)有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準(zhǔn)直器、探測器、信息處理器和計(jì)算機(jī)等部件在內(nèi)的一整套專利系統(tǒng)完成的。 更多詳細(xì)資料，歡迎來電索取。
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      XRF-2000韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀
      
                    
      
                        
      Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
      可測元素范圍：
      鈦(Ti) – 鈾(U)
      可測量厚度范圍：
      原子序22-25，0.1-0.8μm
      26-40，0.05-35μm
      43-52，0.1-100μm
      72-82，0.05-5μm
      X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
      高壓：0-50KV(程控)
      準(zhǔn)直器：
      固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
      自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
      電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
       
      綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
      鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
      鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
      定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
      光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
      統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì)
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      XRF-2000韓國Micr Pioneer 系列熒光金屬鍍層測厚儀
      
                    
      
                        
      可測元素范圍：
      鈦(Ti) – 鈾(U)
      可測量厚度范圍：
      原子序22-25，0.1-0.8μm
      26-40，0.05-35μm
      43-52，0.1-100μm
      72-82，0.05-5μm
      X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
      高壓：0-50KV(程控)
      準(zhǔn)直器：
      固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
      自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
      電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
       
      綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析
      鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
      鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
      定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
      光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
      統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).
       
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      CMI243CMI243（手持式金屬鍍層測厚儀）
      
                    
      
                        
      CMI243（手持式金屬鍍層測厚儀）
      產(chǎn)品簡介：    CMI243為專門針對量測磁性金屬上面的鍍層（如鋅Zn、鎳Ni、鉻Cr、銅Cu、鎘Cd）。CMI243為靈活便攜式
      及簡單上手的儀器，只要接上一支測試頭即可量測許多鐵上的鍍層厚度，測頭配置微小探頭即使對于小面
      積也可以量測。使用基于相位渦電流技術(shù)量測提供此儀器更佳的度及精度和更人性化的使用。
      CMI243降低了儀器成本，并排除了使用多種測試頭校正標(biāo)準(zhǔn)片。       適用行業(yè)：
      螺絲、緊固件、汽車零件、齒輪。       產(chǎn)品特色：
      －－手提式非破壞測量
      －－精度高、穩(wěn)定性好
      －－測量精度可與X-RAY媲美
      －－可測量微型零件
      －－RS-232連接阜，可將數(shù)據(jù)傳輸至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
      規(guī)格說明：
      －－量測范圍 0.08~1.5mils （2~38um）
      －－精確度 ±1%
      －－分辨率 0.01mils（0.1µm）
      －－最小底材厚度 12mils （0.35mm）
      －－最小測試面積直徑 2.286mm   －－最小曲率半徑 1.2mm（凸）；1.5mm（凹）
      －－校正方式 精密兩點(diǎn)校正
      －－顯示屏 3位液晶顯示屏，1/2英吋（1.27mm）高
      －－單位 以按鍵切換公制（um）及英制（mils）單位選擇
      －－連接阜 RS-232連接阜，用于將數(shù)據(jù)傳輸至計(jì)算機(jī)或打印機(jī)
      －－統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 量測點(diǎn)數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、值、值、由打印機(jī)可輸出直方圖或CPK圖
      －－儲存量 12400條讀數(shù)
      －－重量 9OZ（0.26Kg）含電池
      －－尺寸 149*794*302 mm
      －－電池 9伏干電池或可充電電池
      －－打印機(jī) 任意豎式熱感打印機(jī)
      －－按鍵 密封膜，增強(qiáng)-16鍵
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      XRF-2000韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀
      
                    
      
                        
      韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀
      Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
      可測元素范圍：
      鈦(Ti) – 鈾(U)
      可測量厚度范圍：
      原子序22-25，0.1-0.8μm
      26-40，0.05-35μm
      43-52，0.1-100μm
      72-82，0.05-5μm
      X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
      高壓：0-50KV(程控)
      準(zhǔn)直器：
      固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
      自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
      電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
       
      綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析
      鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
      鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
      定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
      光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
      統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).
      多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      XRF-2000熒光金屬鍍層測厚儀
      
                    
      
                        
      韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
       
      可選型號：
      Type H : 測量一般工件
      Type L :測量一般PCB/半導(dǎo)體產(chǎn)品
      Type PCB :開放式設(shè)計(jì)，特大PCB適用
       
      可測元素范圍：
       
      鈦(Ti) – 鈾(U)
       
      測量厚度范圍：
       
      原子序數(shù) 22-25， 0.1-0.8μm
      26-40， 0.05-35μm
      43-52， 0.1-100μm
      72-82， 0.05-5μm
       
      X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
       
      高壓：0-50KV(程控)
       
      準(zhǔn)直器：
       
      固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
       
      自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
       
      電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
       
      綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析
       
      鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
       
      鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
       
      定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
       
      光譜對比功能:可將樣品光譜和標(biāo)準(zhǔn)件光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
       
      統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì)
      
                    
      
                                        
      
                        該公司產(chǎn)品分類：
                                                                        超聲波測厚儀
                                            
      
                                    
      
                                
      
                    
      CMI243便攜金屬鍍層測厚儀
      
                    
      
                        CMI243便攜金屬鍍層測厚儀
      • 便攜式、無損測量各種金屬鍍層 
      • 精度高、穩(wěn)定性好， 
      • 測量精度可與X射線測厚儀媲美 
      • 可測量各種微型部件(φ2.5mm) 
      • 232接口，可連接打印機(jī)或電腦
      便攜金屬鍍層測厚儀應(yīng)用
      CMI243金屬鍍層測厚儀可無損、精確測量各種金屬鍍層厚度，如 鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc）。
      便攜金屬鍍層測厚儀行業(yè)
      緊固件、螺絲、汽車部件、齒輪、管件等表面電鍍層
      便攜金屬鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)
      誤差 ±5%分辨率 0.1um
      最小曲率半徑 1.2mm(凸)；1.5mm(凹)最小測量面積 φ2.5mm最小基體厚度 0.35mm顯示 3位LCD數(shù)顯測量單位 um-mils可選校準(zhǔn)方式 精密兩點(diǎn)校準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差S、讀數(shù)個(gè)數(shù)n(9,999個(gè))
      最大值max、最小值min 
      接口 232串口電源 1節(jié)9V電池儀器尺寸 150x80x30mm儀器重量 260g
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      CMI243便攜金屬鍍層測厚儀
      
                    
      
                        CMI243便攜金屬鍍層測厚儀
      • 便攜式、無損測量各種金屬鍍層 
      • 精度高、穩(wěn)定性好， 
      • 測量精度可與X射線測厚儀媲美 
      • 可測量各種微型部件(φ2.5mm) 
      • 232接口，可連接打印機(jī)或電腦
      應(yīng)用
      CMI243金屬鍍層測厚儀可無損、精確測量各種金屬鍍層厚度，如 鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc）。
      行業(yè)
      緊固件、螺絲、汽車部件、齒輪、管件等表面電鍍層
      技術(shù)參數(shù)
      誤差 ±5%分辨率 0.1um
      最小曲率半徑 1.2mm(凸)；1.5mm(凹)最小測量面積 φ2.5mm最小基體厚度 0.35mm顯示 3位LCD數(shù)顯測量單位 um-mils可選校準(zhǔn)方式 精密兩點(diǎn)校準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差S、讀數(shù)個(gè)數(shù)n(9,999個(gè))
      最大值max、最小值min 
      接口 232串口電源 1節(jié)9V電池儀器尺寸 150x80x30mm儀器重量 260g
      
                    
      
                                    
      
                            
      
            
        
      
        
      
            
            
      
                
      
                    
      最新產(chǎn)品
      
                
      
                
            
      
        
      
    
      
    
      
    熱門儀器：
    液相色譜儀
    氣相色譜儀
    原子熒光光譜儀
    可見分光光度計(jì)
    液質(zhì)聯(lián)用儀
    壓力試驗(yàn)機(jī)
    酸度計(jì)（PH計(jì)）
    離心機(jī)
    高速離心機(jī)
    冷凍離心機(jī)
    生物顯微鏡
    金相顯微鏡
    標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
    生物試劑

    


      

      
    

      

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