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詳細說明 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
行業(yè) CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點,在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。 應(yīng)用 用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器等多個行業(yè)。 |
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基于25年涂鍍層測量經(jīng)驗,在CMI900系列測厚儀的堅實基礎(chǔ)上,引進的設(shè)計:
l 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的X射線管。提高30%測量精度,同時減少50%測量時間
l 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器,可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置,同時提供更高精度的Y軸控制。
l 距離獨立測量(DIM) - 更靈活地特殊形狀樣品,可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm(0.5-3.5inch)對樣品表面進行測量,Z軸可控制范圍為230mm(9inch)?赏ㄟ^手動調(diào)整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準。
l 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離,改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
l 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),開槽式設(shè)計可容納超大尺寸的樣品?蓮母鱾方向簡便的裝載和觀察樣品。
l 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制(250x250mm或10x10英寸)/固定樣品臺;標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
l 內(nèi)置PC用戶界面
技術(shù)參數(shù)
l X射線激發(fā)和檢測
牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管
高分辨封氣(Xe)正比計數(shù)器可獲取的計數(shù)靈敏度,配合二次濾光器機構(gòu)實現(xiàn)的檢出效果
l 數(shù)字脈沖處理
4096通道數(shù)字多道分析器,數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號采集(每秒計數(shù)量),從而的測量統(tǒng)計結(jié)果
l 手動或自動透鏡控制
手動透鏡控制:通過手動調(diào)整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
自動透鏡控制:激光束自動尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
l 自由距離測定
簡化系統(tǒng)設(shè)置和維護
在聚焦距離范圍內(nèi)僅需要一個校正
對不規(guī)則樣品更靈活的測量
在12.7mm-88.9mm的自由距離內(nèi),可測量樣品表面的任何一點
通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能,可快速、的確定聚焦距離
l 附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦
獨特的、自動樣品擺放系統(tǒng)
激光掃描單鍵啟動
消除樣品碰擊Z軸的機會
改善DIM的聚焦過程
l 標準激光聚焦
標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上,自動尋找正確的Z軸位置,提高分析再現(xiàn)性,結(jié)果不受人為操作的影響
Z軸聚焦掃描單鍵啟動
改善DIM和常規(guī)固定焦距測量時的聚焦過程
l 微小準直器
儀器至少裝備一個客戶指定規(guī)格的準直器以化測量,并提高測量效率
備有各種規(guī)格準直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用
多準直器程序交換系統(tǒng)可同時安裝4個準直器
l 大樣品室設(shè)計
方便超大樣品的推拉式平臺:如大面積PCB板、較長的管材樣品
大型開發(fā)式樣品室:方便于從各方向進樣和觀察樣品
三種樣品臺備選:可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺
標準配置自動化Z軸:最大高度230mm
l 集成化計算機
工作站式設(shè)計:改善人機工程學(xué)、方便使用
簡化設(shè)備安裝:僅需要接入主電源線,沒有其他電纜
減少整機占用空間
USB和Ethernet接口:打印機、刻錄機、局域網(wǎng)和遠程在線支持功能
l 其他硬件特點
CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能,可實現(xiàn)對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測
溫度補償功能監(jiān)測系統(tǒng)溫度,并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移,的儀器穩(wěn)定性
光譜校準、單擊鼠標執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
堅實耐用的儀器設(shè)計適用于各種工業(yè)環(huán)境
一體化工作站設(shè)計實現(xiàn)的人機工程學(xué)
CMI900 X熒光鍍層測厚儀
產(chǎn)品特點:
u 精度高、穩(wěn)定性好
u 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
u 測量范圍寬
u NIST認證的標準片
u 全球服務(wù)及支持
技術(shù)參數(shù)
主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | ||
X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | ||
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | |||
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 | |||
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選 | |||
裝備有安全防射線光閘 | |||
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
準直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器 | ||
多種規(guī)格尺寸準直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | |||
測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) | ||
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) | |||
樣品室 | CMI900 | CMI950 | |
-樣品室結(jié)構(gòu) | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 | |
-最大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-XY軸程控移動范圍 | 標準:152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 | 300mm x 300mm | |
-Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時,152.4mm XY軸手動時,269.2mm | |
-XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 | ||
-樣品觀察系統(tǒng) | 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 | ||
激光自動對焦功能 | |||
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | |||
計算機系統(tǒng)配置 | IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 | ||
分析應(yīng)用軟件 | 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 | ||
-測厚范圍 | 可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。 | ||
-基本分析功能 | 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標準樣品。 | ||
樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) | |||
可檢測元素范圍:Ti22 – U92 | |||
| 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 | ||
貴金屬檢測,如Au karat評價 | |||
| 材料和合金元素分析, | ||
材料鑒別和分類檢測 | |||
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量 | |||
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 | |||
元素光譜定性分析 | |||
-調(diào)整和校正功能 | 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移 | ||
-測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式:“PointShoot” | ||
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式 | |||
測量位置預(yù)覽功能 | |||
激光對焦和自動對焦功能 | |||
-樣品臺程控功能 | 設(shè)定測量點 | ||
連續(xù)多點測量 | |||
測量位置預(yù)覽(圖表顯示) | |||
-統(tǒng)計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||
數(shù)據(jù)庫存儲功能 | |||
任選軟件:統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |||
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 | Z軸保護傳感器 | ||
樣品室門開閉傳感器 | |||
操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師 | |||
行業(yè):
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點,在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。
應(yīng)用:
用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器等多個行業(yè)。
應(yīng)用
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點的
情況下進行表面鍍層厚度的測量 ,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
行業(yè)
用于電子元器件,半導(dǎo)體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量。
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
多種規(guī)格尺寸準直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室
-樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
-最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
-XY軸程控移動范圍 標準:152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選
-Z軸程控移動高度 43.18mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍。
(50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。)激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類: 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92?赏瑫r測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價
材料和合金元素分析,材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析
-調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移
-測量自動化功能 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot”多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測量模式,測量位置預(yù)覽功能,激光對焦和自動對焦功能
-樣品臺程控功能 設(shè)定測量點,連續(xù)多點測量,測量位置預(yù)覽
-統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖,數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器,樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
●測量范圍寬
●NIST認證的標準片
●全球服務(wù)及支持
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
多種規(guī)格尺寸準直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室
-樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
-最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
-XY軸程控移動范圍 標準:152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選
-Z軸程控移動高度 43.18mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍。
(50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。)激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類: 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92?赏瑫r測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價
材料和合金元素分析,材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析
-調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移
-測量自動化功能 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot”多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測量模式,測量位置預(yù)覽功能,激光對焦和自動對焦功能
-樣品臺程控功能 設(shè)定測量點,連續(xù)多點測量,測量位置預(yù)覽
-統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖,數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器,樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
●測量范圍寬
●NIST認證的標準片
●全球服務(wù)及支持
CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀,應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析:正比計數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管,大大提高了靈敏度 簡單的元素區(qū)分:二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優(yōu)化,測量元素范圍廣: 可預(yù)設(shè)參數(shù) CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法 杰出的長期穩(wěn)定性: 自動熱補償測量儀器溫度,糾正變化,提供穩(wěn)定的結(jié)果 簡單快速的光譜校準,定期檢查儀器性能(如靈敏度),并提供必要的糾正 堅固耐用的設(shè)計 可以在實驗室或生產(chǎn)線上操作 堅固的工業(yè)設(shè)計 經(jīng)行業(yè)驗證的技術(shù),在全球銷售量超過3000臺