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    • Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

      30多年來,Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒,早在1990年,納米顆粒分析儀器,NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的能譜概念,利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù),結(jié)合動態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型,取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法,將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展,Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器,快速分析高濃度的納米顆粒,生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí),成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。  應(yīng)用領(lǐng)域:  有機(jī)聚和物和高分子研究,納米金屬和其他納米無機(jī)物,結(jié)晶分析,表面活性劑膠束大小,蛋白質(zhì),甾體,DNA,RNA,極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

      主要特點(diǎn)

      ﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù),比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法,獲得顆粒散射信號的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級,提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method,能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜,確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),避免了多重散射現(xiàn)象,高濃度溶液中納米顆粒測 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng),精確聚焦藍(lán)寶石測量窗口,消除雜散光對檢測器的負(fù)面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT,F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method,迅速處理檢 測系統(tǒng)獲得的光譜,縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對米氏理論計(jì)算的校正因素,內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫,提 高顆粒粒度分布測試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標(biāo)準(zhǔn)-納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)

      技術(shù)參數(shù)

      粒度范圍:0.8納米- 6.5微米 Zeta 電位測量:+/- 5mv 電泳遷移:+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性:誤差小于1%(標(biāo)準(zhǔn)顆粒) 測量原理:動態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專利技術(shù):HDF,CRM,F(xiàn)FT,“Y”型光纖光路設(shè)計(jì),“非球形”顆粒校正選項(xiàng),微電場設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測角度:180º 濃度范圍:0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間:30-120 秒 光源:3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積:0.2ml 操作軟件:兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國際標(biāo)準(zhǔn):ISO 13321 環(huán)境溫度:10ºC to 35ºC 相對濕度:小于90%

       

      激光粒度儀及Zeta電位分析儀

         90Plus專門用于納米及亞微米顆粒的粒徑測量,操作方便、快捷,并可升級帶Zeta電位測量功能。ZetaPlus的升級產(chǎn)品為ZetaPALS。對于高濃度懸浮體系粒度的測量,BI-FOQELS為選擇。此外,對于需要研究體系聚集過程,或測量分子量的用戶,還可選擇添加BI-200SM以完成研究目的。主要特點(diǎn)   1.高功率的激光器了測量結(jié)果的精度。2.開放式樣品池和平板式電極的設(shè)計(jì),是具有革新性的專利技術(shù)。3.基本避免了電滲運(yùn)動和交叉污染的影響,從而提高測量的精度和速度。4.采用世界公認(rèn)功能的相關(guān)器BI-9000,儀器具有的性能。5.良好的升級前景,延長了儀器的使用壽命。  技術(shù)參數(shù)     1.粒度范圍:2nm-5um2.溫控范圍:6-75℃, ±0.1℃3.濃度范圍:0.01%-0.1%體積 (0.001%-40%選項(xiàng))4.pH范圍:2-125.激光器功率:30mW  

      酸堿、氧化-還原電位分析儀 型號:M294094

      酸堿、氧化-還原電位分析儀 型號:M294094  
      TW61M/PH/ORP-2002型酸堿、氧化-還原電位分析儀以操作簡便,運(yùn)行穩(wěn)定著稱,該品牌的酸堿、氧化-電位變送器具 有以下功能優(yōu)勢: 穩(wěn)定性好、低干擾 采用LCD顯示視界 采用電壓穩(wěn)定、抗干擾性強(qiáng)的線性電源 主要操作由一個(gè)鍵完成,操作非常簡單 可選擇4-20mA信號隔離輸出(通訊接口) 適用高輸入阻抗的電極 特別適用于廢水處理系統(tǒng)、純水系統(tǒng)等過程 電極護(hù)套管:可耐強(qiáng)酸、強(qiáng)堿、1-4米可以任意選擇尺寸 安裝支架:全不銹鋼設(shè)計(jì)、美觀、機(jī)械強(qiáng)度好 電極信號線:日本進(jìn)口同芯屏蔽電纜、5-200米可選 標(biāo)準(zhǔn)成套配備: 1、PH/ORP變送器 2、PH/ORP電極 3、電極護(hù)套管(1米,可選擇加長) 4、防水接線盒(1P65) 5、安裝支架(全不銹鋼設(shè)計(jì)) 6、電極信號線(20米,可選擇加長) 主要技術(shù)參數(shù): 測 量 范 圍 :0-14PH、-1000-1000mV 精 確 度: 0.01PH、1mV 操 作 溫 度: 0-60℃ 顯 示: 液晶顯示屏 信 號 輸 出: DC4-20mA Max. Load 1k 控 制 : ON/OFF 接 點(diǎn) 電 流 :220VAC Max. 3A 設(shè) 定 點(diǎn): 2 電 源:220VAC 50Hz 開 孔 尺 寸:92mm(H)-92mm(W)-110mm(D) 凈 重: 0.2Kg 電 極 選 擇 S-400-RT330-A10FF PH污水及管路安裝電極 S-400-RTPBO-A10FF PH污水及管路安裝電極S400-02-Y  PH/ORP經(jīng)濟(jì)型電極   產(chǎn)品圖片

      NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀

      NanoPlus是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀,它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術(shù)來分析納米粒度和zeta電位,并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測量技術(shù),可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求,濃度范圍由0.001%到40%,可檢測粒徑從0.6nm到10μm,濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

      該款儀器具有以下技術(shù)特點(diǎn):

      • 可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
      • 可測定固體zeta電位
      • 寬粒徑范圍(0.6nm~10μm),寬濃度范圍(粒徑測試:0.00001%~40%,zeta電位測試:0.001%~40%)
      • 可精確測量稀釋或濃縮的懸浮液
      • 用戶友好的軟件
      • 多種樣品池選擇
      • 可選擇一次性樣品池
      • 結(jié)合線性相關(guān)器和對數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對各種樣品進(jìn)行表征
      • 可選擇自動滴定裝置控制懸浮液PH值

       

      產(chǎn)品應(yīng)用:

       

      半導(dǎo)體

      研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

       

      醫(yī)藥和食品行業(yè)

      乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質(zhì)功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。

       

      陶瓷和顏料工業(yè)

      表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機(jī)溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。

       

      聚合物和化工領(lǐng)域

      乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究,控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究,紙漿添加劑研究。

      該公司產(chǎn)品分類: 反應(yīng)釜、反應(yīng)器 密度儀、密度計(jì) 壓汞儀 物理/化學(xué)吸附儀 比表面儀、比表面積、比表面及孔結(jié)構(gòu)分析儀 孔徑/隙度分析儀 蒸氣吸附儀 粒度儀、激光粒度儀、粒度分析儀 沉降粒度儀/顆粒沉降儀 顆粒計(jì)數(shù)器 Zeta電位儀/微電泳儀 固體(粉末)表面分析儀

      DDS-307A電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A/電導(dǎo)率儀/在線電導(dǎo)儀/雷磁電導(dǎo)儀/電位分析儀

      電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A/電導(dǎo)率儀/在線電導(dǎo)儀/雷磁電導(dǎo)儀/電位分析儀

      電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A

      售后保障     1、上海謙科售出的HWC-10B磁力攪拌恒溫循環(huán)水浴可享受7天包退,30天包換,1年免費(fèi)維修,終身保修的貼心服務(wù),讓您購買儀器更放心;2、您在上海謙科購買的磁力攪拌水浴鍋如在使用中有任何疑問,請直接與我公司工程師聯(lián)系(021-6051-5240   186-021-71157)我們將在24小時(shí)內(nèi)對您的疑問作出響應(yīng)并解答,讓您使用儀器更舒心;3、上海謙科將始終堅(jiān)守“誠信”“快速”“低價(jià)”“安全”的服務(wù),讓您買到質(zhì)優(yōu)價(jià)廉,服務(wù)周到的產(chǎn)品,為此我們不遺余力!

      數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A
      儀器特點(diǎn):
      儀器用于精確測量各種液體介質(zhì)的電導(dǎo)率,當(dāng)配以0.1、0.01規(guī)格常數(shù)的電導(dǎo)電極時(shí),可以精確測量高純水電導(dǎo)率。儀器廣泛適用于各領(lǐng)域的科研的生產(chǎn)。儀器特別設(shè)計(jì)(0~2×105)μS自動六檔量程測量,使測量誤差最小。
      ●采用高件能微機(jī)芯片,大屏幕液晶多參數(shù)顯示●電導(dǎo)率測量、電阻率測量、TDS測量、溫度測量●自動校準(zhǔn)、自動量程切換、自動溫度補(bǔ)償(0~100℃)
      可接0.01;0.1;1;10四種規(guī)格常數(shù)的電極技術(shù)指標(biāo):1.儀器級別:1.0級 2.測量范圍:      電導(dǎo)率:(0~1.999)μS;             (2.0~19.99)μS;            20.0199.9)μS            2001999)μS;            2.019.99mS               20.0199.9mS       溫度:-5105(℃)3.電子單元基本誤差:     電導(dǎo)率:±1.0FS       溫度:±0.5(℃)4.電子單元穩(wěn)定性:±0.5FS5.溫度補(bǔ)償系數(shù):2.0(%)6.溫度補(bǔ)償范圍:0100(℃)

      特約定制如果您沒有在本站找到適合您的恒溫水槽(。梢酝ㄟ^我們的定制專線與我們?nèi)〉寐?lián)系或者向我們提交您的定制需求,我們會將您的需求反饋給我們的技術(shù)工程師,同時(shí)在24小時(shí)內(nèi)與您取得聯(lián)系,給您提供詳細(xì)的解決方案!1、我要撥打定制專線定制需要產(chǎn)品:021-6051-5240   186-021-71157

      該公司產(chǎn)品分類: 其它設(shè)備 離心機(jī) 分光光度計(jì) 電子天平 馬弗爐 干燥箱 生化培養(yǎng)箱 振蕩器/搖床 低溫恒溫槽 恒溫水浴鍋 蒸餾水器 高壓滅菌器 潔凈采樣車 空氣自凈器 空氣凈化器 通風(fēng)柜/通風(fēng)廚 生物安全柜 凈化工作臺 其它實(shí)驗(yàn)室通用設(shè)備 恒溫加溫設(shè)備

      WAVE 2305多孔固體孔隙率和表面電位分析儀

      12.00Normal07.8 磅02falsefalsefalseEN-USZH-CNX-NONE

      多孔固體孔隙率和zeta電位分析儀主要特點(diǎn):

      1、測定多孔固體材料的兩種不同性質(zhì)的參數(shù):孔隙率和固體表面zeta電位,包括孔壁電荷

      2、探頭式測量孔隙率,快速、安全、無污染,對樣品無損傷

      3、探頭式測定zeta電位

      應(yīng)用領(lǐng)域:只要是孔徑在儀器測試范圍之內(nèi)、能被某種液體浸潤的材料均可進(jìn)行分析。

      典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:陶瓷、電池材料、建材、耐火材料、巖心、食品、制藥、色譜柱基質(zhì)等等

       

      美國康塔(Quantachrome)是的當(dāng)代顆粒技術(shù)開創(chuàng)者。四十年多來,康塔(Quantachrome)的科學(xué)家革新了測量技術(shù)并設(shè)計(jì)了相應(yīng)的儀器,使得粉體及多孔物質(zhì)的測量更加精確、精密,更加。這包括:比表面積分析儀,比表面積和孔徑分析儀,薄膜孔徑和孔隙度分析儀,超聲粒度及ZETA電位分析儀,圖像粒度儀,大孔孔徑分析壓汞儀,水吸附分析儀,高壓吸附儀,真密度計(jì),振實(shí)密度儀等。美國康塔公司不僅通過了ISO9001 及歐洲CE 認(rèn)證,也取得了美國FDA IQ/OQ認(rèn)證。

      更多信息請關(guān)注康塔官方網(wǎng)站,請點(diǎn)擊這里

      該公司產(chǎn)品分類: 比表面積和孔徑分析儀 真密度計(jì) 真密度分析儀 真密度測試儀 全自動真密度計(jì) 開孔、閉孔率分析儀 開孔、閉孔率測定儀 真密度分析儀 壓實(shí)密度測試儀 壓實(shí)密度分析儀 壓實(shí)密度儀 振實(shí)密度儀 振實(shí)密度測試儀 堆密度測試儀 振實(shí)密度計(jì) 薄膜孔隙率分析儀 薄膜孔徑測試儀 圖像法zeta電位儀 比表面儀 比表面積測定儀

      NICOMP 380納米粒徑與電位分析儀

      Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案基本信息

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      儀器型號:N3000 Basic 

      工作原理:動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

      檢測范圍: 0.3nm-10.0μm

            Nicomp 380 N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有獨(dú)特技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢。

       

      技術(shù)優(yōu)勢

       

      1、高靈敏度PMT檢測器;

      2、可搭配不同功率光源;

      3、精確度高,接近樣品真實(shí)值;

      4、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);

      5、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);

      6、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求;

      7、無需校準(zhǔn);

      8、復(fù)合型算法:

      (1)高斯(Gaussion)單峰算法與獨(dú)特的Nicomp多峰算法自由切換

      9、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級;

      (1)可自動稀釋模塊(選配);

      (2)自動進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);

      (3)搭配多角度檢測器(選配);

      Nicomp多峰分布概念

       

            基線調(diào)整自動補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨(dú)有的兩個(gè)主要特點(diǎn),Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布,這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符,因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論,大大提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。

      圖片2.jpg

       

      圖一:Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)

       

            如圖一:此數(shù)據(jù)為Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole親測其血液所得的真實(shí)案例。其檢測項(xiàng)目為:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由圖中可以看出,其血液中三個(gè)組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可見,Nicomp分布模式可以有效反應(yīng)多組分體系的粒徑分布。

       

       

      Nicomp多峰分布優(yōu)勢

             Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果,更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì),Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。

      圖片3.png圖片4.png 

       

      圖二:高斯分布及Nicomp多峰分布對比圖

            如圖二:此數(shù)據(jù)為檢測93nm和150nm的標(biāo)粒按照1:2的比例混合后所測得的數(shù)據(jù)。左邊為高斯分布(Gaussian)結(jié)果,右圖為Nicomp多峰分布算法結(jié)果,兩者都為光強(qiáng)徑數(shù)據(jù)。從高斯分布可以得到此混合標(biāo)粒的平均粒徑為110nm-120nm之間,卻無法得到實(shí)際的多組分體系結(jié)構(gòu)。從右側(cè)的Nicomp多峰分布可以得到結(jié)果為雙峰,即如數(shù)據(jù)呈現(xiàn),體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,這和實(shí)際情況相符。 

       

            為滿足不同客戶的實(shí)際檢測需求,我司的Nicomp 380 N3000會配備相應(yīng)的配置,旨在為客戶們在控制成本的基礎(chǔ)上,得到需求的解決方案,取得收益。

       

      產(chǎn)品優(yōu)勢 

       

      模塊化設(shè)計(jì)

            Nicomp 380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級和增加,Nicomp 380的功能體系越來越強(qiáng)大,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析。

       

      自動稀釋模塊

            帶有獨(dú)特的自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差,且不需要人工不斷試錯(cuò)來獲得合適的測試濃度,這大大縮短了測試者寶貴時(shí)間,且無需培訓(xùn),測試結(jié)果重現(xiàn)性好,誤差率<1%。

       

      380/HPLD大功率激光器

            美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中,考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測試條件中不同的需求,對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對小的粒子也能搜集到足夠的散射信號,使得儀器能夠得到小粒子的粒徑分布。同樣,大功率激光器在測試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助,比如在檢測右旋糖酐大分子時(shí),折射率的特性會引起光散射強(qiáng)度不足。                                    

            因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦,會彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減,測試微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒有色譜分離,Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。

       

      雪崩二極管 (APD) 探測器

            Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。

            APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度低的體系以及大分子基團(tuán),他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊,在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。

       

      380/MA多角度檢測器(選配)

            粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長0.7°的多角度測角器,從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測,改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。

      該公司產(chǎn)品分類: 均質(zhì)器 、均質(zhì)機(jī)、乳化機(jī) 顆粒計(jì)數(shù)器 Zeta電位儀/微電泳儀 激光粒度儀、納米粒度儀 雜質(zhì)粒度儀 AccuSizer 全自動計(jì)數(shù)粒徑檢測儀 在線計(jì)數(shù)粒徑檢測儀 online 系列 單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)儀器 研磨液檢測儀 脂肪乳檢測儀 磨料漿檢測儀 拋光液檢測儀 AccuSizer 780 APS 拋光液檢測儀 光阻法顆粒計(jì)數(shù)器 光阻法檢測儀 光阻法單顆粒分析儀 動態(tài)光散射粒度分析儀

      超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202

      超聲粒度及Zeta電位分析儀

      提供所有單臺儀器測量粒度分布, zeta電位和流變性質(zhì)(選件)的可能性 在一個(gè)樣品池中可以同時(shí)測量粒度分布和zeta電位 可以選擇附加各種探頭式測量傳感器, 包括溫度、pH值、電導(dǎo)率、和流變性質(zhì)測量,以及非水系統(tǒng)選項(xiàng)和軟件控制的自動滴定系統(tǒng) 所有探頭均可同時(shí)操作 統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理                                                      超聲粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品簡介:利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí),聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測量顆粒粒度及濃度,采用多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的Zeta電位。對于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,無需進(jìn)行樣品稀釋或處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測量。 傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理,既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò),而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問題。超聲探頭(Zeta Probe)能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位,允許樣品濃度高達(dá)50%(體積)。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進(jìn)行自動校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數(shù)規(guī)格: 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無需稀釋直接測定,測量固體含量范圍:1% ~ 50% 3. 樣品※大測量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500~3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動掃描18個(gè)gap或以上 7. 粒徑測量: 5nm ~ 1000um 8. 可測量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個(gè)別粒徑 9. 測量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計(jì)圖 - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90 - 數(shù)據(jù)庫可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個(gè)參數(shù)的散射圖 - 用戶定義自動選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動測量粒徑及Zeta電位對pH變化 13.可以及時(shí)分析/顯示Zeta電位與等電點(diǎn) 14.可及時(shí)測量/顯示樣品pH值,電導(dǎo)率,溫度 15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng): Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer

      超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產(chǎn)品特點(diǎn):1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系 4.可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量 7.樣品的※高濃度可達(dá)50%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量 8.具有自動電位滴定功能產(chǎn)品相冊: 

       

      該公司產(chǎn)品分類: 超聲粒度和Zeta電位分析儀 粒子界面特性評價(jià)裝置 介電常數(shù)測定儀 非水電導(dǎo)率測定儀 超聲流變儀 Zeta電位分析儀 超聲粒度分析儀 光學(xué)流變系統(tǒng) 混凝土流變儀 混凝土收縮測試儀 水泥/砂漿流變儀 砂漿干燥收縮測試儀 自動混凝土攪拌機(jī) 蛋白質(zhì)聚集體分析儀 表面特性分析儀 超聲粒度和Zeta電位分析儀 圖像法Zeta電位 納米粒度及Zeta電位分析儀 微區(qū)掃描電化學(xué)顯微鏡 真密度分析儀

      諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威

      產(chǎn)品簡介:工作原理:采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。    顆粒測試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對比較簡單,但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會存在偏差,從而有約束擬合計(jì)算出的測試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設(shè),通過光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測器設(shè)計(jì)和粒度分級,給設(shè)備本身提出很高的要求。采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級,從而能夠準(zhǔn)確地測量顆粒群的粒度分布。技術(shù)特點(diǎn):測試穩(wěn)定的基礎(chǔ):只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號,才能夠充分保證測試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2022型干濕兩用激光粒度分析儀選用He-Ne氣體激光光源,波長0.6328微米,波長短,線寬窄,穩(wěn)定性好,使用壽命大于25000小時(shí),能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號。數(shù)據(jù)可靠的保證:保證測試數(shù)據(jù)可靠首先是信號探測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理,被測樣品分散效果的優(yōu)劣和被測分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。探測器:光電探測系統(tǒng)設(shè)計(jì)獨(dú)特,靈敏度高,主檢測器一個(gè),輔助檢測器多個(gè),采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列,檢測角達(dá)到90度,充分保證了信號探測的全面性。光路:采用一個(gè)量程設(shè)計(jì),會聚光路獨(dú)特,減少了傅立葉透鏡組,使測量范圍更寬,分辨率更高,光路免調(diào)。功能強(qiáng)大的分析軟件:PADMAS顆粒粒度測量分析系統(tǒng)(Particle Diameter Measure & Analysis System)功能強(qiáng)大,測試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理,具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級、R-R分布、自定義分級、按目分級和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級130級,在量程范圍內(nèi),從1~130級可自定義分級。測試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表,有D10、D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù),有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù) 需要自行輸入,重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式1、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威熱門搜索:BT-9300S激光粒度分析儀激光粒度儀     激光粒度分析儀-WJL-628     便攜式高分辨激光粒度分析儀     CW300S-70清潔度掃描儀     激光粒度分析儀WJL-628     WJL-608激光粒度分析儀     【河北慧采科技開發(fā)有限公司】老百姓信得過產(chǎn)品★★消費(fèi)者放心滿意品牌★★邢臺十強(qiáng)企業(yè)★★中國質(zhì)量AAA級企業(yè)★★邢臺質(zhì)量.服務(wù).誠信AAA企業(yè)★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號2、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號圖片
      型號:RL134585激光粒度分析儀-WJL-628型號:RL134587CW300S-70清潔度掃描儀型號:RL134592激光粒度分析儀WJL-628
      【諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威一共有★★30★★多種型號以上只顯示1-3種型號,如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 河北慧采科技開發(fā)有限公司】3、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號內(nèi)容型號:RL134585激光粒度分析儀-WJL-628

      主要技術(shù)指標(biāo):

      1、測量范圍:濕法:0.02~1200微米

             干法:0.1~1200微米

      2、準(zhǔn)確性誤差:〈±1%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50)

      3、重復(fù)性偏差:〈±1%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50)

      4、電氣要求:交流220±10V,50Hz, 200W

      5、外觀尺寸:主機(jī)1000×330×300mm 

      干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

      濕法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

      6、重量:50KG

      工作原理:

      采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

          顆粒測試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對比較簡單,但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會存在偏差,從而有約束擬合計(jì)算出的測試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

      欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134585-pid-9502.html激光粒度分析儀-WJL-628型號:RL134587CW300S-70清潔度掃描儀

      CW300S-70清潔度掃描儀

      清潔度掃描儀用途:

            CW300S-70 清潔度掃描顯微鏡性能卓越,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。在模具制造、精密制造、電線電纜、數(shù)字化工程、鞋楦服飾等方面都有成功案例。

      清潔度掃描儀應(yīng)用范圍 :

            汽車零部件掃描、快速檢測、快速成型、汽車零件清潔度檢測、顆粒度分析、醫(yī)用針制造,電纜絕緣層檢測、科學(xué)研究、計(jì)算機(jī)視覺、先進(jìn)制造、數(shù)字文物、數(shù)字博物館、考古研究、顯微形貌

      清潔度掃描儀功能介紹:

      1.本掃描儀可以快速掃描樣品表面數(shù)據(jù),能掃描顆粒、空洞、溝槽,斷裂的表面。

      2.具有圖形編輯功能,可以去噪、標(biāo)準(zhǔn)化,去處不需要部分

      3.掃描速度可以無級調(diào)整,可以快速預(yù)覽掃描結(jié)果

      4.可以通過標(biāo)定自定位,進(jìn)行自動拼接,無需貼標(biāo)記點(diǎn);也可以手工輔助拼接。

      5.提供標(biāo)定功能,無需返廠即可進(jìn)行精度校正,標(biāo)定完成后,會自動分析標(biāo)定結(jié)果報(bào)告,保證標(biāo)定質(zhì)量

      6.提供多處理器優(yōu)化,使多核工作站能全速運(yùn)行,獲得實(shí)時(shí)性能

      7.可以生成多種數(shù)據(jù)格式,供其他軟件使用,包括sfl,ply等,可以轉(zhuǎn)換到AutoCAD,Geomagic Studio,Rapid Form中進(jìn)行高級處理 。

       掃描范圍及精度:

      產(chǎn)品型號:   CW300S-70

      單面掃描范圍(mm):   250×70

      單幅精度(mm):   0.005

      平均點(diǎn)距(mm):  0.04

      單面掃描速度(s) : <30s

      掃描方式:  非接觸/面掃描

      欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134587-pid-9502.htmlCW300S-70清潔度掃描儀型號:RL134592激光粒度分析儀WJL-628

      工作原理:

      采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

          顆粒測試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對比較簡單,但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會存在偏差,從而有約束擬合計(jì)算出的測試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。

      無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設(shè),通過光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測器設(shè)計(jì)和粒度分級,給設(shè)備本身提出很高的要求。

      采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級,從而能夠準(zhǔn)確地測量顆粒群的粒度分布。

      技術(shù)特點(diǎn):

      測試穩(wěn)定的基礎(chǔ):只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號,才能夠充分保證測試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2022型干濕兩用激光粒度分析儀選用He-Ne氣體激光光源,波長0.6328微米,波長短,線寬窄,穩(wěn)定性好,使用壽命大于25000小時(shí),能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號。

      數(shù)據(jù)可靠的保證:保證測試數(shù)據(jù)可靠首先是信號探測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理,被測樣品分散效果的優(yōu)劣和被測分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。

      探測器:光電探測系統(tǒng)設(shè)計(jì)獨(dú)特,靈敏度高,主檢測器一個(gè),輔助檢測器多個(gè),采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列,檢測角達(dá)到90度,充分保證了信號探測的全面性。

      光路:采用一個(gè)量程設(shè)計(jì),會聚光路獨(dú)特,減少了傅立葉透鏡組,使測量范圍更寬,分辨率更高,光路免調(diào)。

      功能強(qiáng)大的分析軟件:PADMAS顆粒粒度測量分析系統(tǒng)(Particle Diameter Measure & Analysis System)功能強(qiáng)大,測試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理,具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級、R-R分布、自定義分級、按目分級和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級130級,在量程范圍內(nèi),從1~130級可自定義分級。測試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表,有D10、D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù),有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù) 需要自行輸入,重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式測試報(bào)告打印,頁眉和頁腳可根據(jù)需要進(jìn)行修改,有打印預(yù)覽功能,能夠?qū)⒘6确植紙D形和粒度數(shù)據(jù)圖表存成圖片或PDF格式,便與WORD交互使用?筛鶕(jù)用戶需要增加其他處理功能。操作簡便:標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡單的操作能夠在短時(shí)間內(nèi)熟練掌握,測試數(shù)據(jù)過程在1分鐘內(nèi)完成。

      可視性強(qiáng):測試軟件界面友好,測試過程清晰可見,瞬時(shí)刷新,可視性強(qiáng),可隨時(shí)觀察儀器運(yùn)行狀況、測試數(shù)據(jù)波動清況,分析所測數(shù)據(jù)的真實(shí)性、可靠性。循環(huán)、超聲、攪拌和排液等操作鍵都在智能化觸摸式操作面板上,標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡單的操作,有效縮短了測試時(shí)間,降低了對操作人員的要求。

      設(shè)備維護(hù):全面的技術(shù)培訓(xùn)和內(nèi)容詳盡的使用操作說明書、軟件在線幫助使操作人員能準(zhǔn)確操作、解決疑問、排除故障。

      技術(shù)支持:根據(jù)樣品的密度、異性、脆性、磁性、毒性、流動性、團(tuán)聚性、溶解性和物理化學(xué)反應(yīng)等理化特性,我們總結(jié)出了一套科學(xué)、系統(tǒng)和完整的分散測試方案,隨著儀器提供給用戶。我們既銷售儀器,又提供分散測試方案。

      分散方法

       集合了WJL系列濕法激光粒度分析儀和干法激光粒度分析儀的分散方法,干樣干測,濕樣濕測。

      干法分散:

        在干法狀態(tài)下,樣品通過自動干粉進(jìn)樣器均勻輸送到高壓氣流中,在高壓氣流的帶動下連續(xù)高速噴射到分散器中,在到達(dá)分散器出口處樣品已經(jīng)被充分分散,穿過激光束之后樣品進(jìn)入收集器中,同時(shí)電腦立刻顯示出粒度分布信息。

      1.干法分散,不需要任何分散劑和溶劑。

      2. 采用靜音無油空氣壓縮機(jī),配以高效冷凝器,保證產(chǎn)生純凈壓縮空氣;

      3. 瞬時(shí)分散、瞬時(shí)測量,測試精度快,分析效率高,從進(jìn)樣到出結(jié)果一分鐘內(nèi)完成;

      濕法分散:

           超聲分散系統(tǒng)能夠?qū)Ρ粶y樣品進(jìn)行充分的分散。大功率超聲器(100W),超聲時(shí)間全自動操作和觸摸式按鍵連續(xù)調(diào)節(jié),設(shè)置時(shí)間數(shù)字顯示,超聲時(shí)間0~950秒連續(xù)可調(diào)可根據(jù)樣品分散的難易程度設(shè)置超聲時(shí)間,良好的屏蔽處理使超聲分散和樣品測試可同時(shí)進(jìn)行,即使具有超強(qiáng)團(tuán)聚性的顆粒也能夠充分分散以獲得真實(shí)的粒度分布數(shù)據(jù)。樣品分散池(400ml)與主機(jī)一體,不銹鋼材質(zhì),設(shè)計(jì)獨(dú)特,呈圓形,循環(huán)排液方便,不留塵垢,便于清洗。采用濕法分散,可用蒸餾水、純凈水和酒精等液體作分散介質(zhì)。

      分散液均化:分散液的均勻程度是向探測系統(tǒng)提供穩(wěn)定散射光信號的前提,本儀器采用連續(xù)可調(diào)的攪拌和循環(huán)充分保證了分散液的均勻度。

      攪拌系統(tǒng):根據(jù)被測樣品的特性選擇合適的攪拌速度,防止顆粒沉淀,使分散液混合均勻,攪拌轉(zhuǎn)速全自動操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào),設(shè)置速度數(shù)字顯示,攪拌轉(zhuǎn)速0~3000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào),測試過程中同時(shí)開啟超聲可避免因攪拌速度過快產(chǎn)生氣泡造成的測試誤差。

      循環(huán)系統(tǒng):根據(jù)被測樣品的特性選擇合適的循環(huán)泵速,防止循環(huán)管路中顆粒沉淀,循環(huán)泵速全自動操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào),設(shè)置速度數(shù)字顯示,循環(huán)泵速0~5000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào),測試過程中同時(shí)開啟超聲既可避免因循環(huán)速度過快產(chǎn)生氣泡造成的測試誤差,又能夠防止顆粒在循環(huán)過程中產(chǎn)生團(tuán)聚。

      主要技術(shù)指標(biāo):

      1、測量范圍:濕法:0.021200微米

             干法:0.11200微米

      2、準(zhǔn)確性誤差:〈±1%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50

      3、重復(fù)性偏差:〈±1%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50

      4、電氣要求:交流220±10V,50Hz, 200W

      5、外觀尺寸:主機(jī)1000×330×300mm 

      干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

      濕法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm

      6、重量:50KG

       

      欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134592-pid-9502.html激光粒度分析儀WJL-628溫馨提示:潤聯(lián)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息,您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料,聯(lián)系時(shí)請說明是在潤聯(lián)看到的,并告知型號
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