薄膜測(cè)厚儀
光干涉薄膜測(cè)厚儀
ST8000-MAP薄膜測(cè)厚儀（涂層）
- 技術(shù)參數(shù)
活動(dòng)范圍 ：370mm x 470 mm~ 測(cè)量范圍 ：100Å~ 2.5㎛ at Sub-micron size 光斑尺寸 ：~ 0.2㎛ x 0.2㎛ 測(cè)量速度 ：14sec./Area 應(yīng)用領(lǐng)域 ：半色調(diào)測(cè)量并具有ST6000/7000的所有功能
- 主要特點(diǎn)
1.具有ST6000的所有功能 2.精確圖案測(cè)量 3.自動(dòng)調(diào)焦 4.電荷耦合器件照相機(jī) 5.模式識(shí)別 6.通訊接口模塊傳達(dá)方式
膜厚儀，漆膜測(cè)厚儀，薄膜測(cè)厚儀
QUANIX4200涂鍍層測(cè)厚儀 型號(hào)：QuaNix4200 品牌：德國(guó)尼克斯產(chǎn)地:德國(guó)QuaNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù) 零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是測(cè)量的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保測(cè)量QuaNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以不同溫度下的測(cè)量精度。紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。獨(dú)特的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無(wú)可比擬的和提高。詳細(xì)描述：測(cè)量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等；鋼鐵基材: 用于QUANIX4200涂鍍層測(cè)厚儀型測(cè)量范圍: 0-3000um測(cè)量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100.最小測(cè)量面積: 10x10mm最小曲率: 凸半徑 5mm凹半徑 25mm最小基材厚度:0.2mm 溫度范圍: 0-60度顯示: LCD供電形式: 2個(gè)1.5V電池體積: 100X60X27mm重量: 約110克（涂層測(cè)厚儀,鍍層測(cè)厚儀,漆膜測(cè)厚儀,薄膜測(cè)厚儀,磁性測(cè)厚儀,渦流測(cè)厚儀,油漆測(cè)厚儀,粉末涂層測(cè)厚儀）
Surfix SX-N1.5涂層測(cè)厚儀 德國(guó)phynix漆膜儀
德國(guó)菲尼克斯PHYNIX Surfix SX涂層測(cè)厚儀
德國(guó)菲尼克斯PHYNIX Surfix SX-N1.5 分體涂層測(cè)厚儀
N型渦流原理：測(cè)量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層，如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。
這款德國(guó)PHYNIX涂層測(cè)厚儀配有彩色顯示屏，更好的內(nèi)容顯示，并包含多種語(yǔ)言。目前的版本含有英語(yǔ)，德語(yǔ)，法語(yǔ)，意大利語(yǔ)，西班牙語(yǔ)，土耳其語(yǔ)，捷克語(yǔ)以及中文。
相對(duì)于Surfix系列，此系列的內(nèi)存也提高了很多，可以存儲(chǔ)多達(dá)2.000的測(cè)量值。與電腦的鏈接非常簡(jiǎn)單，是通過(guò) USB2.0. PHYNIX.connect 實(shí)現(xiàn)的。這是一個(gè)數(shù)據(jù)傳輸程序，和所有Windows系統(tǒng)兼容, 可以使數(shù)據(jù)方便地輸進(jìn)Excel。此系列有兩種產(chǎn)品: Surfix® SX 可以連接所有PHYNIX探頭，使得儀器可以滿足很多測(cè)量任務(wù)。Surfix® EX 帶有固定標(biāo)準(zhǔn)探頭，適合任務(wù)明確的測(cè)量。和Surfix® SX 配有可拔插探頭相比，它易操作，更經(jīng)濟(jì)。
我們的Surfix®X測(cè)量?jī)x用于以下領(lǐng)域：
電鍍行業(yè)，噴涂行業(yè)，汽車行業(yè)，化學(xué)工業(yè)，航空航天工程，造船業(yè)，研究實(shí)驗(yàn)室和大學(xué)，車間，顧問(wèn)和評(píng)估員
我們的所有測(cè)量探頭均配備碳化鎢硬質(zhì)合金耐磨測(cè)芯，提高了探頭耐磨性和使用壽命。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
創(chuàng)新且用戶友好的測(cè)量技術(shù)
高分辨率彩色圖形顯示
USB接口
自動(dòng)識(shí)別基材
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，最多2,000個(gè)測(cè)量值
在線統(tǒng)計(jì)
直觀的菜單指導(dǎo)
在高達(dá)150°C或300°C的高溫表面上進(jìn)行測(cè)量（選購(gòu)）
制造商的測(cè)試證書
規(guī)格參數(shù)
| 測(cè)量原理 | 電渦流 |
| 功能 | 測(cè)量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層，如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。 |
| 測(cè)量范圍 | 0~1500μm |
| 誤差范圍 | ±(1μm+1％) |
| 分辨率 | 0.1μm |
| 探頭 | N1.5 |
| 探頭尺寸 | Ø14mm x 83 mm |
| 探頭重量 | 70g |
| 校準(zhǔn)模式 | 工作校準(zhǔn)，零校準(zhǔn)，單箔校準(zhǔn); 零偏移 |
| 統(tǒng)計(jì)功能 | 測(cè)量值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，最小值，最大值 |
| 數(shù)據(jù)接口 | USB2.0 |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 2000個(gè)測(cè)量值 |
| 滿足標(biāo)準(zhǔn) | DIN，ISO，ASTM，BS |
| 系統(tǒng)語(yǔ)言 | 英語(yǔ)，德語(yǔ)，法語(yǔ)，意大利語(yǔ)，西班牙語(yǔ)，土耳其語(yǔ)，捷克語(yǔ)以及中文 |
| 顯示屏幕 | 高分辨率彩色顯示屏 |
| 工作溫度 | 0~50℃ |
| 防護(hù)等級(jí) | IP52 |
| 整機(jī)尺寸 | 137*66*23mm |
包裝清單
| 名稱 | 型號(hào) | 清單 |
| 涂層測(cè)厚儀 | Surfix SX-N1.5 | 主機(jī)、N1.5探頭、橡膠防護(hù)套、校準(zhǔn)膜、零標(biāo)準(zhǔn)片、2 節(jié)AA電池、PHYNIX.connect 傳輸軟件、使用手冊(cè)、制造商證書、包裝箱 |
供應(yīng) 蘭泰薄膜測(cè)厚儀 TM-8810
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
CX-1000薄膜測(cè)厚儀和紙張測(cè)厚儀CX-1000 美國(guó)Oakland
| 美國(guó)Oakland公司生產(chǎn)的薄膜測(cè)厚儀CX-1000基于電容法則，使用被測(cè)樣品作為不導(dǎo)電介質(zhì)。當(dāng)被測(cè)樣品被傳送通過(guò)傳感器時(shí)，儀器能測(cè)出細(xì)微的厚度變化并記錄下來(lái)，兼具良好的精度和重復(fù)性。 優(yōu)點(diǎn)一覽： ■的穩(wěn)定性 擁有專利技術(shù)的傳感器和電子設(shè)計(jì)能降低溫度和濕度波動(dòng)導(dǎo)致的測(cè)量值漂移。 ■良好的精度和重復(fù)性 的機(jī)械和電子設(shè)計(jì)確保了儀器的精度。 ■簡(jiǎn)單易用 直觀的鍵盤和數(shù)字顯示，減少了誤操作的可能。 ■豐富的擴(kuò)展功能 可選配圖表記錄儀，打印機(jī)，電腦和專門的軟件以對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行打印，統(tǒng)計(jì)和圖表分析。 儀器特性： ■可選擇功能擴(kuò)展 ■直觀的鍵盤式數(shù)據(jù)輸入和數(shù)字顯示 ■校準(zhǔn)簡(jiǎn)單 ■英制或公制顯示 ■可設(shè)置參數(shù)包括厚度單位，傳送速度，長(zhǎng)度單位和目標(biāo) ■數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和恢復(fù)校準(zhǔn)/參數(shù)設(shè)置功能 ■可顯示平均厚度，標(biāo)準(zhǔn)方差，高/低測(cè)量值和位置，測(cè)量范圍和樣品長(zhǎng)度 ■客戶定制的測(cè)試報(bào)告 ■可調(diào)樣品傳送速度 ■可設(shè)置參數(shù)包括防止折皺，上/下限和重要參數(shù)顯示 ■可顯示百分比/偏差/百分比-偏差，用以表示高/低測(cè)量值/范圍/平均值與目標(biāo)值的比較 ■模擬輸出端口，用于連接圖表記錄儀 ■并口輸出，用于連接打印機(jī) ■RS-232端口，用于連接電腦
薄膜測(cè)厚儀CX-1000技術(shù)參數(shù)和規(guī)格
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| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字： CX-1000 | ||||||||||||||||||||||||
MC-3000A漆膜測(cè)厚儀MC-3000A涂層測(cè)厚儀MC-3000A薄膜測(cè)厚儀MC-3000A特價(jià)專賣
MC-3000A涂層測(cè)厚儀可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。
該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
主要性能:
基本測(cè)量模式：常規(guī)模式，最小值模式，統(tǒng)計(jì)模式。
監(jiān)控測(cè)量模式：可進(jìn)行差值設(shè)置，上下限報(bào)警設(shè)置。
可選擇刪除單個(gè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，或者某一組數(shù)據(jù)或者清除全部數(shù)據(jù)。
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)。
可設(shè)置關(guān)機(jī)方式，背光開(kāi)或閉，恢復(fù)出廠狀態(tài)。
可打印存儲(chǔ)值，也可打印統(tǒng)計(jì)值。
分組存儲(chǔ)數(shù)據(jù)共6組，每組存99個(gè)測(cè)量點(diǎn)。
可分組查看存儲(chǔ)測(cè)量值。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍：MC-3000A 0~1200um
顯示精度：0.1 um
欠電壓顯示：左上角顯示＂欠＂
顯示方式：3位液晶數(shù)字顯示*
尺寸/重量：146*81*30mm 260克
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、探頭、標(biāo)準(zhǔn)樣片、說(shuō)明書、保修卡、合格證、五號(hào)電池、手提箱。
可選附件：打印機(jī)及通訊打印連線、微機(jī)通訊軟件、內(nèi)防腐探頭
供應(yīng)F20-XT經(jīng)濟(jì)型高級(jí)膜厚測(cè)試儀、薄膜測(cè)厚儀，膜厚儀
F20-XT經(jīng)濟(jì)型高級(jí)膜厚測(cè)試儀 主要用于測(cè)試各種透明半透明的膜厚.
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
1 是在F20-NIR的基礎(chǔ)上專為測(cè)試厚膜而設(shè)計(jì)的，波長(zhǎng)范圍從1200nm到1450nm，在NIR波長(zhǎng)分辨率為 0.5nm； 2 薄膜厚度的測(cè)量范圍是：0.2～ 450um（低光學(xué)參數(shù)薄膜），0.1～160um（Si及其它半導(dǎo)體），精度都好于0.4%。
應(yīng)用領(lǐng)域 :
1 微機(jī)電系統(tǒng)MEMS； 2 絕緣體上硅SOI； 3 倒裝芯片F(xiàn)lip Chips； 4 厚聚合物
目前，我司已與一些著名的生產(chǎn)和研究單位建立了良好的業(yè)務(wù)關(guān)系；同時(shí)，也已與歐、美等地區(qū)的半導(dǎo)體生產(chǎn)廠商及有關(guān)機(jī)構(gòu)也建立起了良好的合作伙伴關(guān)系。
聯(lián)系人: 馮先生手機(jī):139-1145-7960Email:bf711@befirst-tech.comWebSite:www.befirst-tech.com
如果有任何關(guān)于設(shè)備或者技術(shù)的疑問(wèn)歡迎電話或Email給我，合作愉快！
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