激光二極管 | 635 nm, < 1 mW |
測量范圍 | 0,05 - 70 m |
激光級(jí)別 | 2 |
測量精度 | 1.5 |
電源 | 2 x 1.5 V LR03 (AAA) |
重量 (大約) | 0,12 kg |
寬度 | 53 mm |
配件裝置:GLM 70 主機(jī)、 保護(hù)袋 、 2 x 1.5 伏電池 、制造合格證、說明書。
管道涂層劃痕深度測量儀
LZ-650磁通門磁強(qiáng)計(jì)是采用磁通門原理制成的,特別適合于微弱磁場的檢測:如地磁場測量、軟磁材料殘磁測量等。 具有磁場極性判斷功能。 |
主要特點(diǎn) |
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全新原裝 中國輻射研究院產(chǎn)品 FJ1200環(huán)境級(jí)x γ輻射測量儀輻射報(bào)警儀
濟(jì)寧魯科總代理:FY-II 、FJ2000和FJ3200等型號(hào)個(gè)人劑量輻射儀銷售
直讀式粉塵濃度測量儀以β射線吸收法為原理設(shè)計(jì),克服了其它方法測塵性受粉塵材質(zhì)、形態(tài)和空氣、水分干擾的弊端。采用低能β射線源,無需防護(hù)裝置,輕巧便攜,便于現(xiàn)場測塵作業(yè)。它集探測系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、采樣系統(tǒng)、單片機(jī)系統(tǒng)為一體,裝有的射流數(shù)字流量傳感器和目前進(jìn)的在線編程式單片機(jī),把采樣和測量一起完成,可以在現(xiàn)場快速測定粉塵濃度,直接讀數(shù)。該儀器有通用型儀表和本安防爆型儀表兩種,已經(jīng)取得計(jì)量器具生產(chǎn)許可證資格和煤炭安全標(biāo)志準(zhǔn)用資格,適合于煤礦井下、其它礦山、車間作業(yè)場所等任何場合的測塵需要。本儀器還可以根據(jù)用戶的特殊需要,將采樣頭進(jìn)氣方向由水平方向改為垂直方向即可用于環(huán)保部門進(jìn)行大氣粉塵監(jiān)測。本儀器體積小,重量輕,精度高,測量,操作簡單,安全,是目前國內(nèi)外進(jìn)的粉塵濃度測量儀之一。主要技術(shù)指標(biāo):1、測量范圍: 本儀器的采樣過程類似于普通粉塵采樣器,其量 程范圍可以通過調(diào)整采樣時(shí)間任意擴(kuò)展,典型粉塵濃度測量范圍0.1~1000 mg/m3。ZGZ1GH100可以測量全塵和呼吸性粉塵。2、塵濃度測量相對(duì)誤差符合現(xiàn)行國標(biāo)。3、測量系統(tǒng)穩(wěn)定性相對(duì)誤差:2.5%。4、采樣流量:15L/min5、采樣流量誤差:≦2.5%6、采樣時(shí)間誤差:采樣時(shí)間等于1min時(shí),誤差不大于2%,采樣時(shí)間大于1min時(shí),誤差不大于3s。7、呼吸性粉塵采樣效能符合“BMRC”采樣效能曲線,其誤差≤±2.5%。8、儀器能在-10℃~40℃溫度和相對(duì)濕度不大于96%的環(huán)境條件下正常工作。9、充電時(shí)間:4小時(shí)。10、在測量和校正過程中,能夠在顯示器上顯示出當(dāng)前電量。11、儀器連續(xù)使用時(shí)間≥80分鐘。
desc-ription | 超聲波空化測量儀 |
includes | 16英寸不銹鋼探頭和吊筐 |
dimensions | 3-1/2英寸帶玻璃窗的模擬式空化測量儀 |
max temperature | 探頭:負(fù)400華氏度至1000 華氏度,空化測量儀:負(fù)40 華氏度至 149華氏度 |
range | 水溶液:0 至1000 絕對(duì)溫度, 溶劑:0 至1000絕對(duì)溫度 |
翹曲度測量儀是特別為半導(dǎo)體晶圓(wafer)和太陽能電池(solar cell)的翹曲度(warp) 和彎曲度(bow)以及表面形貌(topography)的測量而設(shè)計(jì),可以測量晶圓翹曲度(wafer warpage) 和晶圓表面形貌, 晶圓應(yīng)力,硅片張力,太陽能電池量子效率.是全球范圍內(nèi)功能強(qiáng)大的儀器,一套儀器可以測量:熱沉,晶圓(wafer),太陽能電池和玻璃的 翹曲度,應(yīng)力以及表面形貌。適合光伏電池翹曲度測量,太陽能電池翹曲度,晶圓翹曲度測量,硅片翹曲度測量,晶片翹曲度測量。詳情瀏覽:http://www.felles.cn/jingyuanceshi/qiaoquduceshi.html這套翹曲度測量儀,翹曲度檢測儀,翹曲度測試儀既適合科研單位使用,也適合工業(yè)客戶大產(chǎn)品、高效率的晶圓翹曲度和表面形貌的檢測的需要。我們還根據(jù)不同晶圓類型提供如下兩種硅片翹曲度測量儀:1. 非反射型:適合晶圓表面覆蓋晶圓保護(hù)膜/膠帶(wafer tape),圖案化晶圓 /圖樣化晶圓(patterned wafer),粗糙的晶圓的應(yīng)用;2. 高反射型: 適合晶圓表面光滑 / 鏡反射的應(yīng)用。主要特點(diǎn):× 適合不同尺寸的晶圓檢測,從0.5’‘到12''的直徑;* 標(biāo)準(zhǔn)檢測能力為: 每小時(shí)可檢測2000個(gè)晶圓或更多太陽能電池;× 同時(shí)測量多個(gè)晶圓或太陽能電池;× 測量鍍膜后的晶圓或solar cell;* 分析太陽能電池或晶圓應(yīng)力和張力;* 對(duì)晶圓表面進(jìn)行圖像分析;* 測量圖案化晶圓或非圖案化的晶圓;* 具有太陽能電池的量子效率測量選項(xiàng)供選擇主要參數(shù):× 翹曲度測量范圍:1-20微米;* 重復(fù)精度: 百分之0.5 (1 sigma);* 給出結(jié)果:曲率半徑,晶圓彎曲高度,翹曲度,測量日期和時(shí)間;* RMS粗糙度mapping: 0.5-20A (可選項(xiàng));*光源:根據(jù)用戶的應(yīng)用而配備不同光源;* 探測器:高分辨率探測器陣列并配備亞像素軟件;更多翹曲度測量測試儀器網(wǎng):http://www.felles.cn/jingyuanceshi.htmlEmail: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn (激光光學(xué)精密儀器網(wǎng)) www.felles.cc (綜合性尖端測試儀器網(wǎng)) www.f-lab.cn (綜合性實(shí)驗(yàn)室儀器網(wǎng))