<legend id="dnf07"></legend>
    

      • 

      <tr id="dnf07"><dfn id="dnf07"></dfn></tr>
      <dl id="dnf07"><label id="dnf07"></label></dl>
      • 
    
      
    

          
      
        
      
            
      
                                
      
                    
      MP10渦流法涂鍍層測(cè)厚儀
      
                    
      
                        價(jià)格便宜的ISOSCOPE® MP10儀器適合于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，評(píng)估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。     ISOSCOPE® MP10配備有一個(gè)獨(dú)特的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)， 2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。     ISOSCOPE® MP10 采用根據(jù)DIN EN ISO 2360, ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法，適用于測(cè)量：l        非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上 l        鋁的陽極氧化層（非鐵基材）
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀
      
                    
      
                        
      韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀
      Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.
      可測(cè)元素范圍：
      鈦(Ti) – 鈾(U)
      可測(cè)量厚度范圍：
      原子序22-25，0.1-0.8μm
      26-40，0.05-35μm
      43-52，0.1-100μm
      72-82，0.05-5μm
      X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦
      高壓：0-50KV(程控)
      準(zhǔn)直器：
      固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
      自動(dòng)種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
      電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
       
      綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析
      鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
      鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
      定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
      光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
      統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).
       
      多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！欲了解產(chǎn)品詳情，請(qǐng)與我們聯(lián)系或訪問http://eastco.18show.com.cn
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      Thick 800A鍍層測(cè)厚儀
      
                    
      
                        
      儀器介紹
             Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
      性能特點(diǎn)
      滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
      技術(shù)指標(biāo)
      型號(hào)：Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg
      標(biāo)準(zhǔn)配置
      開放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測(cè)器。信號(hào)檢測(cè)電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
      應(yīng)用領(lǐng)域
      黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
      
                    
      
                                        
      
                        該公司產(chǎn)品分類：
                                                                        ROHS2.0測(cè)試儀
                                                等離子體發(fā)射光譜儀ICP
                                                手持式光譜儀
                                                光電直讀光譜儀
                                                波長色散X熒光光譜儀
                                                能量色散X熒光光譜儀
                                            
      
                                    
      
                                
      
                    
      涂層鍍層測(cè)厚儀
      
                    
      
                        
      一、德國Elwktro physik涂層鍍層測(cè)厚儀1、 MIKROTEST自動(dòng)型覆層測(cè)厚儀   適用于鋼、鐵上點(diǎn)鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層   自動(dòng)測(cè)量不會(huì)發(fā)生誤操作   不用校準(zhǔn)，設(shè)定，檢閱簡便   不需要電池或其他電源   抗機(jī)械沖擊，耐酸及溶劑腐蝕   平衡裝置消除地心引力影響，可在任意方向和管內(nèi)測(cè)量 型號(hào) 測(cè)量范圍（um） 讀數(shù)精度 最小測(cè)量區(qū)直徑（mm） 最小半徑（mm） 基體最小厚度（mm） 凸 凹 MIKROTEST 6G 0-100 1um或5%度數(shù) 20 5 25 0.5 MIKROTEST 6F 0-1000 3um或5%讀數(shù) 30 8 25 0.5  2、 Minitest 電子型涂鍍層測(cè)厚儀   小巧、實(shí)用，用于無損、快速、精確地測(cè)量涂層、鍍層厚度   F型用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層   N型用于有色金屬上的所有絕緣涂層   讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可以打。ㄟx配）   尤其適用于防腐工業(yè)及建筑型材料，制造工業(yè)的防腐涂鍍層測(cè)量Minitest 600,600B電子型涂層測(cè)厚儀技術(shù)規(guī)格：測(cè)量范圍：F型    0-3000um          N型    0-2000um          FN型   0-3000um（F）,0-2000um（N）允許誤差：±2um或±2-4%最小曲率半徑：5mm（凸），25mm（凹）最小測(cè)量面積：φ20mm最小基本厚度：0.5mm（F型），50mm（N型）顯示：4位數(shù)字校準(zhǔn)方式：標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)，一點(diǎn)校準(zhǔn)，二點(diǎn)校準(zhǔn)接口：RS-232（不適用于B型） 二、德國BYK多用途干膜檢驗(yàn)儀（PIG）   在各種底材上（鐵，非磁性金屬，塑料，木材）測(cè)量涂層厚度   測(cè)量范圍：0-2000um/2um   用十字劃格刀進(jìn)行附著力的測(cè)試符合ASTM D3359，DIN53 151   通過顯微鏡可觀察針孔、陷坑、裂痕、氣泡、鱗片層間附著力以及底材預(yù)處理的質(zhì)量控制   加硬刀頭可進(jìn)行布氏壓痕硬度試驗(yàn) 三、德國BYK濕膜測(cè)厚儀  具有多種規(guī)格可供選擇：測(cè)量范圍               外徑尺寸1、25-2000um                90mm2、5-150um                  58mm3、1-80mils                  90mm4、0-6mis                   58mm  
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      DT-156涂鍍層測(cè)厚儀
      
                    
      
                        
        產(chǎn)品系列DT-156涂鍍層測(cè)厚儀探頭可以工作在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下。在自動(dòng)模式（AUTO）下，兩種原理可視測(cè)量的基體自動(dòng)轉(zhuǎn)換，或可通過菜單進(jìn)行自動(dòng)模式和非自動(dòng)模式轉(zhuǎn)換。 特性 1、可測(cè)量涂鍍層：①磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度2、豐富的操作菜單3、連續(xù)和單次測(cè)量方式4、直接工作模式和組工作模式5、可統(tǒng)計(jì)并顯示：平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計(jì)數(shù)6、可進(jìn)行一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)7、可保存400個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)8、USB連接并將數(shù)據(jù)傳輸至電腦9、實(shí)時(shí)刪除測(cè)量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)10、紅寶石探頭11、低電和錯(cuò)誤提示12、可設(shè)置的自動(dòng)關(guān)機(jī)功能 技術(shù)指標(biāo)
                  
                  傳感器探頭            鐵磁性            非鐵磁性        
              
                  工作原理            磁感應(yīng)            渦流        
              
                  測(cè)量范圍            0~1250μm            0~1250μm        
              
                  精確度            ±3%+1μm            ±3%+1.5μm        
              
                  分辨率            0.1μm            0.1μm        
              
                  最小曲率半徑            1.5mm            3mm        
              
                  最小測(cè)量面積（直徑）            7mm             5mm         
              
                  可測(cè)量基體最小厚度            0.5mm            0.3mm        
          
      尺寸：113.5*54*27mm重量：110g
      
                    
      
                                        
      
                        該公司產(chǎn)品分類：
                                                                        數(shù)據(jù)記錄儀
                                                數(shù)字萬用表
                                                電力測(cè)試儀
                                                環(huán)境測(cè)試儀
                                                汽車類儀表
                                                工業(yè)紅外熱像儀
                                                涂層測(cè)厚儀
                                                紅外線測(cè)溫儀
                                                數(shù)字鉗形表
                                            
      
                                    
      
                                
      
                    
      QNix4500鍍層測(cè)厚儀
      
                    
      
                         4500鍍層測(cè)厚儀
      品牌：德國尼克斯
      型號(hào)：QNix4500
       
      QNix4500涂鍍層測(cè)厚儀，我公司大量現(xiàn)貨供應(yīng)，提供送貨上門服務(wù)，可開具增值稅專用發(fā)票；產(chǎn)品保證為原廠原裝，假一罰十萬現(xiàn)金；歡迎來電咨詢我們，謝謝。
       
      一、4500鍍層測(cè)厚儀簡介
      QNix4200和QNix4500這兩種型號(hào)一體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測(cè)厚儀，可以用來測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的非磁性涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測(cè)厚儀，不僅可以用來測(cè)量鋼鐵等磁性基體上的非磁性涂鍍層，還可以用來測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的非導(dǎo)電涂層，如油漆層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個(gè)型號(hào)操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。 
       
      二、測(cè)量
      將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面，儀器將自動(dòng)開機(jī)并測(cè)得數(shù)據(jù)。注意：測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面、并壓實(shí)，每測(cè)量一次后將儀器拿起，離開被測(cè)物10cm以上，再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。
       
      三、調(diào)零 
      儀器在測(cè)量前，為減少測(cè)量誤差，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面調(diào)零，因?yàn)椴牧现g磁性和導(dǎo)電性不同，會(huì)造成一定誤差。若沒有未噴涂的工件可以用附送的調(diào)零板調(diào)零。用儀器測(cè)量基體，如顯示0，表明已是零位，不需要再調(diào)零。如不顯示0，則需要調(diào)零。將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，聽到響聲液晶顯示一組數(shù)后，拿開儀器，再次聽到響聲后，液晶顯示0，調(diào)零完畢。 注意：由于工件表面粗糙度的原因，調(diào)零后，再測(cè)時(shí)不一定是絕對(duì)的零位，這是正，F(xiàn)象。
       
      四、Fe/NFe探頭轉(zhuǎn)換
      QNix4500為兩用探頭，當(dāng)測(cè)量不同的基體時(shí)，需要對(duì)磁性模式（Fe）與非磁性模式（NFe）進(jìn)行轉(zhuǎn)換。在開機(jī)狀態(tài)下，按紅鍵進(jìn)入菜單選項(xiàng)，繼續(xù)按紅鍵選擇Fe或者Nfe；選項(xiàng)短暫停留后，就已選擇相應(yīng)的測(cè)量模式，也可以選擇Fe/Nfe選項(xiàng)，短暫停留后就進(jìn)入自動(dòng)識(shí)別基體模式（推薦使用）！
       菜單中Averaging為平均值選項(xiàng)，在Averaging選項(xiàng)短暫停留后出現(xiàn)ON和OFF兩個(gè)選項(xiàng)，在ON選項(xiàng)下短暫停留后進(jìn)入平均值測(cè)量模式，測(cè)量時(shí)所顯示讀數(shù)為最后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量），在OFF選項(xiàng)下短暫停留后退出平均值測(cè)量模式。
       
      五、顯示
      Fe：測(cè)量鐵磁性基體模式
      NFe：測(cè)量非磁性基體模式
      Err：操作失誤 
      INFI：探頭模式與被測(cè)基體不符（見第八項(xiàng)，第二點(diǎn)）
      BAT：電量不足，需換電池
       
      六、4500鍍層測(cè)厚儀維護(hù)和維修
      QNix4200/4500測(cè)厚儀采用最先進(jìn)的電子技術(shù),能滿足各種不同的測(cè)量要求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測(cè)量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴露在強(qiáng)烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對(duì)大多數(shù)溶劑具有抵抗性,但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,這時(shí)處理的方法僅僅是用一塊潮濕,柔軟的布擦洗儀器。只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時(shí), 為避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時(shí),請(qǐng)不要自行修理,我們的維修部門隨時(shí)竭誠為您服務(wù)。
       
      七、技術(shù)參數(shù) 
      磁性基體：Fe探頭（4200/4500）
      非磁性基體：NFe探頭（4500） 
      測(cè)量范圍：Fe:0-3000μm/NFe:0-3000μm
      精度：
      0-50μm:≤±1μm；50-1000μm:≤±1.5%讀數(shù)；1000-3000μm:≤±3%讀數(shù)
      最小接觸面：10×10mm
      最小曲率半徑： 凸面：3mm 凹面：25mm 
      最小機(jī)體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05μm
      溫度補(bǔ)償范圍：-10℃-60℃
      測(cè)量范圍：0℃-50℃
      顯示：LCD液晶
      探頭：紅寶石固定式
      電源：2×1.5V干電池
      尺寸：100×60×27mm
      重量：105g 
       
      八、4500鍍層測(cè)厚儀注意事項(xiàng)和常見問題     
      1.測(cè)量應(yīng)為點(diǎn)接觸，嚴(yán)禁將探頭置于被測(cè)物表面滑動(dòng)。 
      2.出現(xiàn)INFI時(shí)，有可能是由于測(cè)量基體選擇錯(cuò)誤造成的，請(qǐng)按照第四項(xiàng)選擇測(cè)量基體FE、NFE或自動(dòng)識(shí)別FE/NFE，如未能解決，請(qǐng)執(zhí)行第三項(xiàng)調(diào)零過程即可。     
      3.因國家地區(qū)所用厚度單位不同，在中國銷售的Qnix4500/4200型使用的是μm，因此屏蔽了英制單位mil，有時(shí)因操作不當(dāng)激活mil單位，此時(shí)用戶只需復(fù)位即可，復(fù)位過程為先把電池取下，然后按住紅鍵裝上電池，復(fù)位完成后松開紅鍵即可。
       
      4500鍍層測(cè)厚儀的任何有關(guān)信息，都可以咨詢我們；還可以獲得更多的圖片，技術(shù)參數(shù)，規(guī)格型號(hào)，用途說明，使用操作說明書，使用注意事項(xiàng)；具體操作方法等；歡迎致電我們，我們將提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和完善的服務(wù)。
      
                    
      
                                        
      
                        該公司產(chǎn)品分類：
                                                                        霧度儀
                                                美能達(dá)光澤度儀維修
                                                BYK光澤度儀維修
                                                光澤度儀維修
                                                日本孔雀
                                                日本得樂
                                                量具量儀
                                                BYK色差儀維修
                                                綜合測(cè)試卡
                                                色彩還原測(cè)試卡
                                                精密色差儀
                                                其它測(cè)試卡
                                                畸變測(cè)試卡
                                                灰階測(cè)試卡
                                                膚色卡
                                                分辨率測(cè)試卡
                                                動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試卡
                                                白平衡測(cè)試卡
                                                SFR/MTF測(cè)試卡
                                                圖像分析軟件
                                            
      
                                    
      
                                
      
                    
      CMI900CMI900鍍層測(cè)厚儀及X射線熒光測(cè)厚儀
      
                    
      
                        
      X射線熒光測(cè)厚儀CMI900
      CMI900鍍層測(cè)厚儀及X射線熒光測(cè)厚儀CMI900介紹
      CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個(gè)行業(yè)。
      CMI900鍍層測(cè)厚儀及X射線熒光測(cè)厚儀CMI900主要特點(diǎn)
      樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素 精度高、穩(wěn)定性好 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能 測(cè)量范圍寬 NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片 全球服務(wù)及支持
      CMI900鍍層測(cè)厚儀及X射線熒光測(cè)厚儀CMI900技術(shù)參數(shù)
      主要規(guī)格 規(guī)格描述 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室 －最大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 300mm x 300mm －Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 －樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動(dòng)對(duì)焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 IBM計(jì)算機(jī) 惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī) 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái) 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 －測(cè)厚范圍 可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。 －基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià) 材料和合金元素分析， 材料鑒別和分類檢測(cè) 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 元素光譜定性分析 －調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 －測(cè)量自動(dòng)化功能 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“PointShoot” 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式 測(cè)量位置預(yù)覽功能 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能 －樣品臺(tái)程控功能 設(shè)定測(cè)量點(diǎn) 連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量 測(cè)量位置預(yù)覽(圖表顯示) －統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能 任選軟件：統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書 －系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能 Z軸保護(hù)傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師
       
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      CMI900CMI900涂鍍層測(cè)厚儀
      
                    
      
                        
      CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument 
      CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定？赏瑫r(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 
      CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。 
      
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      
                    
      
                        
                    
      
                                    
      
                                
      
                    
      COMPACT ECOX射線鍍層測(cè)厚儀
      
                    
      
                          COMPACT ECO測(cè)厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能。不單性能、而且價(jià)錢超值。分析鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行，只需幾秒鐘，便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。
                    
      
                                    
      
                            
      
            
        
      
        
      
            
            
      
                
      
                    
      最新產(chǎn)品
      
                
      
                
            
      
        
      
    
      
    
      
    熱門儀器：
    液相色譜儀
    氣相色譜儀
    原子熒光光譜儀
    可見分光光度計(jì)
    液質(zhì)聯(lián)用儀
    壓力試驗(yàn)機(jī)
    酸度計(jì)（PH計(jì)）
    離心機(jī)
    高速離心機(jī)
    冷凍離心機(jī)
    生物顯微鏡
    金相顯微鏡
    標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
    生物試劑

    


      

      
    

      

亚洲阿v天堂在线观看2019,97免费人妻视在线视频,成人网站不卡在线观看,亚洲成av人电影在线无码


      <legend id="dnf07"></legend>
        

          • 

          <tr id="dnf07"><dfn id="dnf07"></dfn></tr>
          <dl id="dnf07"><label id="dnf07"></label></dl>
          •