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ET230FN涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048706 | 產(chǎn)品描述: 1、測(cè)量速度快.磁性/渦流可以自行轉(zhuǎn)換或者人工設(shè)定.2、精度高3、穩(wěn)定性好.1000個(gè)厚度的同一點(diǎn)上連續(xù)測(cè)量偏差為1vm4、保修3年5、平時(shí)使用無(wú)須校準(zhǔn).6、低價(jià)位功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文ET230FN涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器采用了 |
LEPTOSKOP2042FE統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048820 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)! EPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚! x器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
Pocket-LEPTOSKOP2018涂層測(cè)厚儀(非鐵基) 庫(kù)號(hào):RL048788 | 產(chǎn)品描述: 利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度,例如:鋁,銅,青銅等。KARL DEUTSCH 建立了Pocket-LEPTOSKOP 新標(biāo)準(zhǔn):易讀的大大拉伯?dāng)?shù)字顯示在高處測(cè)量時(shí),只需輕輕一彈按鍵,屏幕的顯示內(nèi)容就可旋轉(zhuǎn)過(guò)來(lái)精準(zhǔn)的測(cè)量值,即使在難以靠近的地方可自由選擇多種語(yǔ)言:德語(yǔ),英語(yǔ),法語(yǔ),西班牙語(yǔ),意大利語(yǔ),瑞典語(yǔ),葡萄牙語(yǔ),捷克語(yǔ),羅馬尼亞語(yǔ)。其他語(yǔ)言按需求配置。無(wú)需特殊的知識(shí)就可以輕松掌握 |
ET250FN涂鍍層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048799 | 產(chǎn)品描述: ET250FN涂鍍層測(cè)厚儀儀器特點(diǎn):獨(dú)特的溫度補(bǔ)償算法支持10點(diǎn)基本校準(zhǔn)、溫度校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)模式支持語(yǔ)音播報(bào)支持藍(lán)牙無(wú)線打印ET250FN涂鍍層測(cè)厚儀主要技術(shù)參數(shù):測(cè)量范圍:01250um分辨率:0.1um(050um),1um(50)測(cè)量誤差:3%H+1um(H為測(cè)量值)最小曲率半徑:1.5um(F型)、3um(N型)基體臨界厚度:0.5mm(F型)、0.3mm(N型)最小基體直徑:7 |
Pocket-LEPTOSKOP2026涂層測(cè)厚儀(兩用型) 庫(kù)號(hào):RL048798 | 產(chǎn)品描述: Pocket-LEPTOSKOP2026涂層測(cè)厚儀(兩用型)簡(jiǎn)介: 袖珍涂層測(cè)厚儀2026采用了鐵基和非鐵基兩種探頭,可以根據(jù)基體自動(dòng)識(shí)別探頭。 Pocket-LEPTOSKOP2026涂層測(cè)厚儀(兩用型)特點(diǎn): 易讀的大大拉伯?dāng)?shù)字顯示 在高處測(cè)量時(shí),只需輕輕一彈按鍵,屏幕的顯示內(nèi)容就可旋轉(zhuǎn)過(guò)來(lái) 精準(zhǔn)的測(cè)量值,即使在難以靠近的地方 可自由選擇多種語(yǔ)言:德語(yǔ),英語(yǔ),法語(yǔ),西班牙語(yǔ),意大利語(yǔ),瑞典語(yǔ),葡萄牙語(yǔ),捷克語(yǔ),羅馬尼亞語(yǔ)。 |
LEPTOSKOP2042FE統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048646 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)! EPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。 儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
LEPTOSKOP2042NFE統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048794 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。 LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚! x器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
LEPTOSKOP2042NFE統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048627 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)! EPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。 儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
Pocket-LEPTOSKOP2021涂層測(cè)厚儀(鐵基) 庫(kù)號(hào):RL048790 | 產(chǎn)品描述: Pocket-LEPTOSKOP2021涂層測(cè)厚儀四合一利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)確定鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度,例如:鋼,鐵。 KARL DEUTSCH 建立了Pocket-LEPTOSKOP2021涂層測(cè)厚儀新標(biāo)準(zhǔn): 易讀的大大拉伯?dāng)?shù)字顯示 在高處測(cè)量時(shí),只需輕輕一彈按鍵,屏幕的顯示內(nèi)容就可旋轉(zhuǎn)過(guò)來(lái) 精準(zhǔn)的測(cè)量值,即使在難以靠近的地方 可自由選擇多種語(yǔ)言:德語(yǔ),英語(yǔ),法語(yǔ),西班牙語(yǔ),意大利語(yǔ),瑞典語(yǔ),葡萄 |
LEPTOSKOP2042NFE統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048802 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。 LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。 儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
LEPTOSKOP2042FE/NFE統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048792 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)! EPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚! x器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
LEPTOSKOP2042NFE統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048810 | 產(chǎn)品描述: ◆ 數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB ◆ 電源:電池、充電電池、USB或外接電源 ◆ 測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭) ◆ 測(cè)量速度: 每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值 ◆ 存儲(chǔ): 最多 9999 個(gè)數(shù)值,140個(gè)文件 ◆ 誤差: 涂層厚度 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準(zhǔn)后) 涂層厚度 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um 涂層厚度 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um 涂層厚度 |
ET230FN涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048807 | 產(chǎn)品描述: 1、測(cè)量速度快.磁性/渦流可以自行轉(zhuǎn)換或者人工設(shè)定.2、精度高3、穩(wěn)定性好.1000個(gè)厚度的同一點(diǎn)上連續(xù)測(cè)量偏差為1vm4、保修3年5、平時(shí)使用無(wú)須校準(zhǔn).6、低價(jià)位功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文ET230FN涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器采用了 |
LEPTOSKOP2042FE統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048804 | 產(chǎn)品描述: ◆ 數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB ◆ 電源:電池、充電電池、USB或外接電源 ◆ 測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭) ◆ 測(cè)量速度: 每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值 ◆ 存儲(chǔ): 最多 9999 個(gè)數(shù)值,140個(gè)文件 ◆ 誤差: 涂層厚度 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準(zhǔn)后) 涂層厚度 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um 涂層厚度 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um 涂層厚度 |
LEPTOSKOP2042FE基本型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048814 | 產(chǎn)品描述: ◆ 數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB ◆ 電源:電池、充電電池、USB或外接電源 ◆ 測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭) ◆ 測(cè)量速度: 每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值 ◆ 存儲(chǔ): 最多 9999 個(gè)數(shù)值,140個(gè)文件 ◆ 誤差: 涂層厚度 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準(zhǔn)后) 涂層厚度 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um 涂層厚度 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/ |
LEPTOSKOP2042FE/NFE統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048796 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)! EPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚! x器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
LEPTOSKOP2042FE/NFE統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048817 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。 LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚! x器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
LEPTOSKOP2042FE/NFE統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048805 | 產(chǎn)品描述: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介: LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是萬(wàn)能的涂層測(cè)厚儀。通過(guò)解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)! EPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚! x器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS |
ET260FN涂層測(cè)厚儀 庫(kù)號(hào):RL048714 | 產(chǎn)品描述: ET260FN涂層測(cè)厚儀儀器特點(diǎn):獨(dú)特的溫度補(bǔ)償算法探頭自動(dòng)識(shí)別支持10點(diǎn)基本校準(zhǔn)、溫度校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)模式支持熱敏打印,即時(shí)報(bào)告輸出大屏幕顯示ET260FN涂層測(cè)厚儀主要技術(shù)參數(shù):測(cè)量范圍:01250um測(cè)量誤差:2%H+1um(H為測(cè)量范圍)最小曲率半徑:1.5um(F型)、3um(N型)基體臨界厚度:0.5mm(F型)、0.3mm(N型)最小基體直徑:7um(F型),5um(N型)探頭類(lèi)型:F型、N型分體 |
測(cè)頭類(lèi)型 | F | N | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 | |
測(cè)量范圍(m) | 0~1250 | 0~1250其中:銅上鍍鉻(0~40) | |
低限分辨力(m) | 0.1 | 0.1 | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | (3%H+1) | (3%H+1.5) |
二點(diǎn)校準(zhǔn)(m) | [(1~3)%H+1] | [(1~3)%H+1.5] | |
測(cè)試條件 | 最小曲率半徑(mm) | 凸 1.5 | 凸3 |
最小面積的直徑(mm) | 7 | 5 | |
基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 |