威爾推出的RC150系列輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀,是代替進口輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀的理想產品。RC150系列輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀所配的RC測量軟件擁有極強的修正功能、先進的算法,所配備的測量基準為高剛性閉式氣浮導軌,再加之配備了高精度采集控制系統(tǒng),使RC150系列輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀無論是測量精度上,還是測量功能上,均以接近進口的輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀,在國內行業(yè)內處于領先。
一、RC150C型輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀技術特點
u高精度直線導軌
u國內領先的高精度采集控制系統(tǒng)u雙導軌及雙傳感器結構保證高精度大量程輪廓測量及高精度粗糙度測量
u與CAD無縫結合,標注、操作方式與CAD一致
u模塊化設計使用戶維護成本降至最低
u具有針對性、專業(yè)性的系統(tǒng)保證測量的實時性及系統(tǒng)的穩(wěn)定性
u獨立的粗糙度測量模塊,實現(xiàn)粗糙度各項參數(shù)的測量。
二、RC150C型輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀測量能力
2.1 評價項目
各種類型表面的線要素,點要素、點與點的距離、線與線的距離、各要素的位置度包括距離、角度、槽深、槽寬、半徑
分析能力
波紋度分析、缺口/毛刺自動剔除、直線度分析、凸度分析、溝形偏差分析
針對軸承行業(yè)的功能
桃形溝測量、溝邊距、溝心距、溝開偏差、凸度、對數(shù)曲線、直線度等
粗糙度功能
Ra、Rz、Rt、Rp、Rpm、Rz、Rv、R3z、RS、RSm、RSk、Rk
2.2測量范圍:有效行程:150mm:
三、RC150C型輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀技術指標
導軌精度:0.13μm/50mm
X向有效測量長度:150mm
X向分辨率:0.1μm
Z向量程:12mm
Z向分辨率:0.1μm
測量速度:0.1mm/s,0.2mm/s,0.5mm/s,0.8mm/s,2mm/s,自定義
一、RC150H型輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀技術特點
u高精度直線導軌
u國內領先的高精度采集控制系統(tǒng)u雙導軌及雙傳感器結構保證高精度大量程輪廓測量及高精度粗糙度測量
u與CAD無縫結合,標注、操作方式與CAD一致
u模塊化設計使用戶維護成本降至最低
u具有針對性、專業(yè)性的系統(tǒng)保證測量的實時性及系統(tǒng)的穩(wěn)定性
u獨立的粗糙度測量模塊,實現(xiàn)粗糙度各項參數(shù)的測量。
二、RC150H型輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀測量能力
2.1 評價項目
各種類型表面的線要素,點要素、點與點的距離、線與線的距離、各要素的位置度包括距離、角度、槽深、槽寬、半徑
分析能力
波紋度分析、缺口/毛刺自動剔除、直線度分析、凸度分析、溝形偏差分析
針對軸承行業(yè)的功能
桃形溝測量、溝邊距、溝心距、溝開偏差、凸度、對數(shù)曲線、直線度等
粗糙度功能
Ra、Rz、Rt、Rp、Rpm、Rz、Rv、R3z、RS、RSm、RSk、Rk
2.2測量范圍:有效行程:150mm
三、RC150H型輪廓儀、輪廓測量儀、粗糙度輪廓儀、表面輪廓測量儀、表面粗糙度輪廓儀技術指標
導軌精度:0.12μm/50mm
X向有效測量長度:150mm
X向分辨率:0.1μm
Z向量程:12mm
Z向分辨率:0.1μm
測量速度:0.1mm/s,0.2mm/s,0.5mm/s,0.8mm/s,2mm/s,自定義
MarSurf XC 20 為 Mahr的頂級輪廓測量儀. 本系統(tǒng)為您提供了最佳性能表現(xiàn)的理想測量儀器. MarSurf XC 20 控制驅動器單元 PCV 和測量立柱 ST 500 或 ST 750. MarSurf 測量工作站為杰出測量機構與專利測量技術的完美結合. 表面輪廓測量儀PCV 200 驅動單元 · 優(yōu)越的通用性 · 堅固、簡潔以及輕便設計便于車間使用 · 測量長度達200 mm ( in),測量范圍達50 mm ( in) Special features of the PCV 200 drive unit PCV 200 驅動單元的特點 · 測量臂可編程控速自動升降 · 測量力可調,范圍從 2 mN 至120 mN (.556 mozf to mozf) · 快速定位 · 專利測量臂固定設計可實現(xiàn)測量臂的快速更換而不需要額外的工具, · 碰撞防護設計 · 堅固的設計和獨特的材料提供良好的動力學結構 · 可編程設定測量臂的下降、上升和定位,以及自定義測量速度 · 驅動單元完全由MarSurf XC 20控制 |
應用表面輪廓測量儀 |
適用于各行各業(yè),如: · 汽車行業(yè) · 滾球承軸 電話: 82054996 手機:13826118158 地址:廣州市天河區(qū)珠村東橫三路8號廣橋工業(yè)園C棟310 郵箱:tu_junjie@ OICQ:12246599· 同步環(huán) |
P4-400定制系統(tǒng),可以配備H3,H4,H6三種不同相機
主要技術指標: 1、測量原理:觸針法,電感傳感器 2、驅動箱水平滑行范圍:100mm; 3、驅動箱滑行速度:0.1,0.2,0.5,0.8,1mm/s; 4、傳感器返回形式:手動,自動; 5、基準導軌的直線性:1μm/任意40mm; 6、驅動箱升降:滾動絲杠升降系統(tǒng),機動升降,自動對準零位; 7、立柱垂直測量高度: 粗糙度系統(tǒng):300mm; 形狀系統(tǒng):240mm; 8、工作臺結構:500mm×620mm大理石平臺,雙T形槽; 9、形狀測量系統(tǒng): 1) 測量范圍:垂直4/20mm,水平100mm; 2) 測量精度:垂直0.3%,水平0.03%; 3) 垂直分辨力:0.25μm/4mm,1.25μm/20mm; 4) 水平分辨力:1μm ; 5) 測量參數(shù):垂直距離,水平距離,兩直線夾角,圓弧半徑,倒角寬度,圓心-端面、圓心-圓心、直線交點-直線交點、點-直線距離; 6) 水平放大倍率:2,5,10,20,50,100,200,500; 7) 垂直放大倍率:10,20,50,100,200,500,1000,2000; 8) 傳感器測桿長:150mm; 9) 測針長度:22mm; 10) 針尖角度:11°; 11) 針尖半徑:25μm; 12) 測力:0.02-0.06N; 13) 傳感器滑行角度:上升角≤77°,下降角≤88°。 10、粗糙度測量系統(tǒng) 1) 量程:16/160μm; 2) 示值精度:≤±5%; 3) 小分辨力:0.001μm; 4) 取樣長度:0.08,0.25,0.8,2.5,8mm; 5) 評定長度:N倍取樣長度,N=1,2,3,4,5; 6) 數(shù)字濾波器:國標、相位校正、不濾波、高斯; 7) 測量參數(shù):Ra,Ry,Rp,Rv,Rz,Rq,Rtm,Rt,Rpm,Rvm, Sm,S,D,Sk,Rku,Δq,Δa,λq,R3y,R3z,NR1,NR2,tp; 8) 圖像分析功能:輪廓曲線-NR,輪廓曲線-支承率,幅度分布-支承率, 支承率-圖表等; 9) 輪廓圖形的垂直放大倍率:100,200,500,1000,2000, 5000,10000,20000,50000,100000,200000; 10) 輪廓圖形的水平放大倍率:2,5,10,20,50,100,200,500, 1000,2000,5000; 11) 傳感器測針:金剛石圓錐,錐角90°,針尖半徑5μm; 11. 直接輪廓測量系統(tǒng) 1) 量程:16/160μm; 2) 測量參數(shù):P a,Pp,Pv,Pz,Pq, Pt,Psk,Pku,PΔq,Psm; 3) 圖像分析功能:曲線-NR,曲線-支承率等。 、基本配置: ●立柱 ●驅動箱 ●粗糙度傳感器(標準、剛性) ●形狀傳感器 ●電箱 ●微機、打印機 ●V型工作臺 ●調斜工作臺 ●夾持器 2、可選附件(價格另議) ●粗糙度圓弧傳感器 ●粗糙度深槽傳感器 ●粗糙度齒面?zhèn)鞲衅?nbsp;●萬向工作臺 ●微調工作臺 ●多功能V型塊 ●平口鉗 ●輪廓儀底臺 儀器的外形尺寸與重量: ●儀器凈重:260kg; ●儀器毛重:360kg; ●儀器外型尺寸:1720mm×450mm×740mm ●包裝外形尺寸:1590mm×1150mm×1065mm
Park NX10是非接觸式原子力顯微鏡,在延長探針使用壽命的同時,還能良好地保護您的樣品不受損壞?蓮澢牧 XY 掃描儀和Z掃描儀可帶來良好的分辨率。
Park 原子力顯微鏡具有綜合性的掃描模式,因此您可以有效地收集各種數(shù)據(jù)類型。從使用上的真非接觸模式用來保持探針的尖銳度和樣品的完整性,到先進的磁力顯微鏡, Park 在原子力顯微鏡域為您提供創(chuàng)新模式.
產品特點
1)Smartscan智能掃描模式,“1,2,3”點擊即可實現(xiàn)成像
2)Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式,更優(yōu)越的力學形貌成像及各種電學測試
3)強大的內置集成軟件系統(tǒng),自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式 基本技術特點
a)掃描范圍是 50μm x 50μm的 2D 掃描器,驅動 XY 軸樣品臺
b)高速Z軸掃描器,掃描范圍 15μm
c)低噪聲 XYZ 位置傳感器(低噪聲XY閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的 0.15% 以下)
d)自動步進掃描,滑動嵌入 SLD 鏡頭的自主固定方式,
e)垂直調節(jié)驅動 Z 平臺和聚焦平臺
選項/模式
標準成像 | 化學性能 | 介電/壓電性能 |
實際非接觸式 接觸式 側向摩擦力顯微技術(LFM) 相位模式,輕敲模式 Pinpoint成像 | 功能化探針的化學力顯微鏡 電化學顯微鏡(EC-STM和EC-AFM) | (EFM)靜電力顯微鏡 動態(tài)接觸式電子顯微鏡(EFM-DC) (PFM)壓電力顯微鏡 高電壓PFM |
力測量 | 磁性能 | 熱性能 |
力-距離(F-D)光譜 力譜成像 | 磁力顯微鏡 可調AFM | 掃描熱顯微鏡(SThM) |
電性能 |
| 機械性能 |
Pinpoint 導電AFM(CP-AFM) I-V譜線 掃描開爾文探針顯微鏡(KPFM) QuickStep掃描電容顯微鏡(SCM) 掃描電阻顯微鏡(SSRM) | 掃描隧道顯微鏡(STM) 掃描隧道光譜(STS) 光電流測繪(PCM) SICMcurrent-distance(I/d)Spectroscopy | Pinpoint模式 力調制顯微鏡(FMM) 壓痕,納米刻蝕 高壓納米刻蝕 納米操縱 |