檢測儀器名稱：EDX3000B（開放式）
樣品室尺寸：1000＊1000＊300mm
工作電源：220U±5U
高壓：15～50KV
管流：50～100MA
計數(shù)率：1300-8000Cps
有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的檢出限高達1PPM
電致冷硅針半導體探測器
加強金屬元素感度分析
測量時間為：60～300秒
無損樣品，前處理簡單
能分析出塑料中含有的1PPM的鎘
直觀的軟件操格界面
簡便的儀器操作方式
自動編制附帶合格與否判定結果的檢測報告
全分析結果報告
當能量高于原子內(nèi)層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時，驅(qū)逐一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空穴，使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。
K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可產(chǎn)生一系列的譜線，稱為K系譜線：由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層，此時就有能量ΔE釋放出來，且ΔE=EK-EL，這個能量是以X射線形式釋放，產(chǎn)生的就是Kα 射線，同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線 ，L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關，其數(shù)學關系如下：
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據(jù)此，可以進行元素定量分析。
（二）XR-306能量色散X熒光光譜儀特點
1.無需制樣即可直接測量.
2. 所有元素可以同時測量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應付大批量待測樣品.
3. 檢出限低,可以滿足WEEE和ROHS指令要求.
4. 無損分析. 分析樣品不被破壞，分析快速，，便于自動化。
5. 沒有人為誤差,誰操作都得到一樣的結果.
6. 操作簡單,可以單鍵完成操作.
7.分析的元素范圍廣，從Na到U均可測定；
8.熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；
9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級，
10、連續(xù)測試重復性極強，測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定
（三）能量色散光譜分析儀與波長色散光譜分析儀的區(qū)別
能量色散分析儀只有一個探測器，它對測量Ｘ射線能量范圍是不受限制的，而且這個探測器能同時測量到所有能量的Ｘ射線。也就是說只要激發(fā)樣品的Ｘ射線的能量和強度能滿足激發(fā)所測樣品的條件，對一組分析的元素都能同時測量出來。一般有以下三種基本類型的探測器可用于測量Ｘ射線：密封式或流氣式充氣探測器、閃爍探測器、半導體探測器。
能量色散的條件是當樣品被激發(fā)后產(chǎn)生的Ｘ射線通過窗口進入探測器探測器把Ｘ射線能量轉(zhuǎn)換成電荷脈沖，每個Ｘ射線光子在探測器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉(zhuǎn)換成電壓脈沖，當這些電壓脈沖經(jīng)充分放大后，被送入脈沖處理器，脈沖處理器把這些代表著各個元素的模擬信號再轉(zhuǎn)換成為數(shù)字信號，由計算機進行分類，分別存入多道分析器（ＭＣＡ）的相應通道內(nèi)，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。這些通道覆蓋了分析的整個能量范圍。
波長色散分析儀是用多個衍射晶體分開待測樣品中各元素的波長，由此對元素進行測量。晶體被安裝在適當位置，以滿足布拉格定律的要求。 Ｘ射線熒光分析和其它光譜分析一樣，也是一種相對分析。這就是說，要有一套參考標樣，這些參考標樣能夠在可能感興趣的范圍內(nèi)覆蓋所測元素。首先對這些標樣進行測量，記錄欲分析元素的強度，建立濃度（含量）、強度（ＣＰＳ）校準曲線，存入處理數(shù)據(jù)的計算機，供以后分析同一類型未知樣品時使用。 最簡單的校準線是直線，強度與濃度的依賴關系反映儀器的靈敏度。
另外由于校準線要在很長一段時間內(nèi)使用，所以應對儀器的漂移作出調(diào)整，盡管這種漂移不大，但它確實存在。這可以通過對每個分析元素選用高、低兩個參考點來實現(xiàn)。制備若干被稱作ＳＵＳ（調(diào)整樣）的特殊樣品，它們含有適量的分析元素，有很好的穩(wěn)定性。利用它們可以求出高、低強度值。
產(chǎn)品規(guī)格：
名 稱 | X熒光光譜儀 |
型 號 | XR-306 |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析元素 | Na ～U任意元素, 鉛（Pb）、鎘(Cd)、汞（Hg）、六價鉻（Cr6+）、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴聯(lián)苯醚（PBDE）中的溴。 |
技術指標 | 檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀 樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線管：靶材/Mo 管電壓/5～50 kV 管電流/最大1～1000 μA 照射直徑：2、5、8mm 探測器：Si(PIN)半導體高靈敏度探測器 濾光片：八種新型濾光片自動選擇 樣品定位：微動載物平臺（選配） 樣品觀察：30倍彩色CCD攝像機 微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件 定量分析：理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法) 數(shù)據(jù)處理：IMB PC/AT/內(nèi)存/256 MB 以上/硬盤/40 GB 以上 系統(tǒng)：Windows XP正版 功率：1.1kW 重量：40Kg 外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm |
標準配置 | 標準配置：Si(PIN)半導體高靈敏度探測器(<150eV) X光光管(壽命>15000小時) 高壓電源（RSD<0.25%） 大樣品倉 高精密攝像機(130萬像素) Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)定量軟件 計算機(P4品牌機) 打印機（愛普生彩色噴墨打印機） 測試用樣品杯2個，測試用塑料薄膜數(shù)張 標 樣：歐盟EC681一片、銀校正標樣一片。 1KVA UPS不間斷電源 儀器工作臺 |
工作條件 | 工作溫度：10-30℃ 相對濕度：≤70% 電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
技術指標: 分析范圍 :30%---99.99% 測量時間 :60---300 秒 測量精度 :0.1% 測量范圍 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt重 量 :30KG 尺 寸 :350＊500＊400mm X射線源 :X射線光管。 探測器 :正比計數(shù)管
儀 器 配置：
單樣品腔正比計數(shù)器放大電路 高低壓電源 X光管
·測定元素：原子序號13（鋁）至92(鈾）；
·X-ray工作站：筆記本電腦或臺式電腦；
·樣品狀態(tài)：固體、液體、粉末；
·X光源：小型空冷式X光管（W、Mo、Ag等靶材可選）；
·定性分析功能：能譜測定、自動辨別、比較表示；
·定量分析功能：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法、NBS-GSC法；
·報告制作：MS-Word；
·管電壓：50kV管電流：1mA；
·探測器：電制冷SiPIN半導體探測器；
·多道分析器：2048道；
·電源：AC200～240V；
·設置尺寸：520mm×600mm×270mm
·重量：42Kg.
Beethor，百學儀器，是世界上最大的便攜式分析儀器制造商。作為手持式X射線熒光（XRF）分析儀器制造行業(yè)的，百學儀器一直被業(yè)界公認為工業(yè)現(xiàn)場合金、礦物、土壤、考古、RoHS、消費品等領域的材料分析標準，在地質(zhì)勘探、礦山開采、礦產(chǎn)貿(mào)易、金屬冶煉、環(huán)境保護、航空航天、石油化工、機械制造、電力、特檢機構、電子電器、物資回收等領域有廣泛的應用。
儀器介紹 手持式X熒光光譜儀，是百學儀器公司為野外、現(xiàn)場X熒光分析應用專門開發(fā)的儀器類型。具有體積小、重量輕、普通人可手持測量的特點。它包括有害元素分析儀，合號分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀和礦石分析儀等一系列專業(yè)型號，其中手持式能量色散礦石分析儀已廣泛應用于各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究中。檢測樣品包括從硫至鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
性能特點
●采用小功率端窗一體化微型光管，功耗小、激發(fā)效率高，結合使用大面積鈹窗電致冷Si-PIN探測器，使該手持式儀器具有與臺式機相近的地質(zhì)礦樣測試性能！耋w積小、便攜，方便野外工作。隨時隨地，隨心所欲的現(xiàn)場分析和原位分析。●采用高分辨率（640*480）PDA作主機，結合無線藍牙通訊的微型多道分析器專利技術，儀器使用方便靈活●儀器既可手持進行快速測試，也能使用座立式對樣品進行較長時間的精細測試。●儀器防水防塵，可在高溫高濕環(huán)境下連續(xù)使用，其保護箱采用高強度軍工用品設計，有良好的防潮防震防壓三防功能！駥I(yè)軟件，針對地質(zhì)礦樣元素檢測的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、操作簡易，對操作人員限制很小的特點。●礦樣類別的快速識別，多元素自動定性定量分析以及多種礦樣模式選擇和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差！褚粔K電池可使用4小時，二塊原裝電池裝配，隨時隨地進行測試。
技術指標
型號：手持式能量色散分析儀探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器激發(fā)源：50KV/200uA-W靶端窗一體化微型X光管檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試）檢測對象：固體、液體、粉末檢測范圍：硫（S）到鈾（U）之間所有元素可同時分析元素：多至26個元素元素檢出限：0.001%～0.01%校正方式： 銀（Ag）安全性：自帶密碼管理員模式，非授權人員無法使用Data使用性：可在PDA內(nèi)進行編輯，可導入PC機進行 保存打印，配備海量存儲卡電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時儀器重量：1.35 Kg 環(huán)境溫度：-20℃－＋50℃；環(huán)境濕度：不高于85％
本公司是專業(yè)從事各種環(huán)境實驗設備、測試儀器、品質(zhì)檢測、生產(chǎn)過程、校驗校準等儀器設備，以及高科技企業(yè)開發(fā)生產(chǎn)、維修所必需的焊接等配套工具的開發(fā)、生產(chǎn)、銷售及后服務，對外承接非標工程，非標產(chǎn)品的訂做、必制、維修等業(yè)務。現(xiàn)將部分介紹如下，如有需求，歡迎來電來涵查詢。
一、拉力強度：萬能材料試驗機設備
微機控制萬能材料試驗機、經(jīng)濟型萬能材料試驗機、智能電子拉力試機、微電腦拉力試驗機、桌上型（雙桿）電動拉力機等多種材料拉力試驗機。
二、環(huán)境試驗設備：
換氣式老化試驗機、可程式恒溫恒濕試驗箱、高溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱（三槽式設置）、臭氧老化箱、紫外燈耐候試驗機、鹽水噴霧試驗機、淋雨試驗箱、氙燈耐氣候試驗機、砂塵試驗箱、標準光源箱等各種環(huán)保試驗設備。
三、紙箱、包裝、家私試驗機系列。
電腦紙箱抗壓試驗機、破裂強度試驗機（有指針式、電子式），單臂跌落試驗臺、雙臂跌落試驗臺（專門測試產(chǎn)品包裝后墜落受到損害情況）、機械振動試驗機，微電腦振動試驗臺，電磁式振動試驗機，模擬汽車運輸振動度過臺，辦公椅系列試驗機，等各種包裝運輸檢測設備。
四、電腦、手機試驗機系列、電工器材試驗系列。
轉(zhuǎn)軸壽命試驗機、微電腦轉(zhuǎn)軸壽命試驗機、手機翻蓋壽命試驗機、按鍵壽命試驗機、耐磨擦試驗機、全自動扭力試驗機、手機跌落試驗臺、紙帶耐磨試驗機、各種插頭、插座試驗機等一系列電工器材試驗設備。
五、橡膠、塑膠、膠帶試驗系列橡膠膠磨試驗機、磨耗試驗機、耐磨試驗機、耐折試驗機、泡棉壓縮應力試驗機、發(fā)泡塑反復壓縮試驗機、試料磨平機、塑膠熔融指數(shù)測定機、沖擊試驗機、加熱變形溫度試驗機、落球沖擊試驗機、硬質(zhì)塑膠落錘沖擊試驗機、塑膠膜落錘沖擊試驗機、高溫灰化爐、恒溫膠帶保持力試驗機、膠帶保持力試驗機、膠帶初粘性滾球試驗機、色差儀、工業(yè)投影儀、三座標測量儀。
六、基礎電子測試儀器。
七、力光學、量具、儀表、衡器、靜電系列。
注：凡屬于本公司所售之儀器，在非人為損害情況下，保修一年，終身維護7200型X熒光光譜測金儀技術參數(shù)
13186002252 聯(lián)系 http://dwolves.b2b.hc360.com 獨有特點： 全自動觸摸屏樣品腔開關；儀器硬件參數(shù)液晶顯示屏幕。 操作人員可隨時觀察到設備電壓﹑電流﹑溫度﹑氣壓等重要參數(shù)。 儀器配置： 激 發(fā) 源：mo靶的x光管 風冷 (無輻射） 測量點尺寸：1～2mm 樣 品 室：長400 mm×寬: 500mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統(tǒng) 軟 件：菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計算 檢 測 器：固定式半導體封氣正比計數(shù)器微處理器控制的檢測器和讀出電路 其它規(guī)格： 電 壓: 100～127或200～240v,50/60 hz 最大功率: 120w 最大尺寸: 500mm＊ 450mm ＊ 150mm 重 量: 28kg 技術指標： 分析范圍：0.3%～99.99% 測量時間：3秒鐘內(nèi)可對金銀飾品進行定性識別,30秒～60秒自動計算出首飾的精確含量 測量精度： ± 0.1% 分析元素：黃金Au（包括K金），鉑金Pt，銀Ag，鈀Pd，銠Rh，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni X射線源：X射線光管 (非放射源)，對人和環(huán)境均無損害 主要優(yōu)勢： 1．對樣品無需任何物理和化學處理，即無損檢測金銀飾品 2．具有溫濕度自動補償功能 ，配置固定樣品用多軸向夾具 3．符合最嚴格的輻射防護標準，具備簡易的樣品放置和耗材更換模式（采用滑蓋設計） 4．探頭指標高，性能好，壽命長；32位軟硬件系統(tǒng)，工作，效率高 5．全球?qū)⒌臄z像定位技術引入珠寶檢測領域。該攝像定位系統(tǒng)除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標位置外，還可以將首飾被檢測到的精確位置的照片對應于檢測結果，連同計算報告一起打印出來。 售后服務： 產(chǎn)品實行國家儀器儀表"三包",一年保修,終生維護 應用范圍： 金銀首飾生產(chǎn)與加工，金銀回收與提純，首飾鑒別(典當行和調(diào)劑行)，檢測部門監(jiān)控等
的檢測性能指標
多種準直器和濾光機制可供選擇
XYZ三維移動樣品臺，鐳射對焦，操作簡單
人性化軟件界面設計，易學易懂，更方便人員操作
可以同時檢測RoHS有害元素和鍍層厚度，一機多用
探測器采用的電制冷方式，無需液氮制冷，增加安全性
無需復雜的前處理過程，可以原樣放入，檢測度和精密度高，檢測限達到2PPM