一、產(chǎn)品概述:
OU1500型超聲波測(cè)厚儀是我公司最新推出的小型數(shù)字化雙顯測(cè)厚儀,利用嵌入式高速單片機(jī)技術(shù)及優(yōu)質(zhì)進(jìn)口工業(yè)級(jí)電子元器件組裝調(diào)試而成。采用液晶顯示測(cè)量厚度值,并且同時(shí)顯示聲速,自動(dòng)校準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)了已知聲速測(cè)厚度及已知厚度測(cè)聲速兩大功能。 操作簡(jiǎn)便,穩(wěn)定可靠,是無(wú)損檢測(cè)工作者的理想檢測(cè)工具。 二、產(chǎn)品用途:OU1500型超聲波測(cè)厚儀是基本型,該儀器利用超聲波原理可以對(duì)任何超聲波良導(dǎo)體材料厚度進(jìn)行測(cè)量,如金屬類(lèi)、塑料類(lèi)、陶瓷類(lèi)、玻璃類(lèi)。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。二、主要技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | OU1500 |
測(cè)量范圍 | 1.0~220mm( 45#鋼) |
顯示分辨率 | 0.1mm |
聲速范圍 | 500-9999m/s |
工件表面溫度 | -10~+50℃ |
顯示 | 八位液晶顯示 |
背光 | 自動(dòng)感應(yīng) |
示值誤差 | ±(0.5%H+0.1)mm, H 為實(shí)際厚度值 |
管材測(cè)量下限 | Φ20mm×3.0mm(5PΦ10 探頭,鋼材) |
操作時(shí)間 | 可連續(xù)操作250 小時(shí) |
工作電源 | 2節(jié)5號(hào)電池 |
外形尺寸 | 130×65×22mm |
整機(jī)重量 | 160g(不包括電池) |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 手提箱-1只、主機(jī)-1臺(tái)、 5PΦ10探頭-1支、電池-2節(jié) 耦合劑-1瓶、隨機(jī)文件-1套 |
資料來(lái)源:滄州歐譜 測(cè)厚儀 http://www.oupu17.com
UTM系列超聲波測(cè)厚儀是在引進(jìn)國(guó)外技術(shù)的基礎(chǔ)上研制的一種高精度、低能耗、低下限的智能測(cè)量?jī)x器。與其它品牌的儀器相比,其穩(wěn)定性更加。
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符合 ISO 2808 , ASTM D 1212 , BS 3900:C5 標(biāo)準(zhǔn)。
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德國(guó)菲希爾FISCHER公司生產(chǎn)的經(jīng)得起考驗(yàn)的DUALSCOPE® MP0不只是最小的涂鍍層測(cè)厚儀之一,它亦是第一步具備:
詳細(xì)介紹
DUALSCOPE MP0袖珍兩用測(cè)厚儀
德國(guó)菲希爾FISCHER公司生產(chǎn)的經(jīng)得起考驗(yàn)的DUALSCOPE® MP0不只是最小的涂鍍層測(cè)厚儀之一,它亦是第一步具備:
測(cè)厚儀技術(shù)規(guī)格 測(cè)量 范圍: NF ISO/FE: 0—2000μm(80mils) ISO/NF:0—2000μm(80mils) 測(cè)量精度: 0…50μm(0…2mils;±1μm(0.04mils) 50…1000μm(2…40mils);±2% 1000…2000μm(40…80mils);最高3% 以Fischer標(biāo)準(zhǔn)片為準(zhǔn)則 通訊界面:無(wú)線電頻寬傳送 868MHz(歐洲)/915MHz(美國(guó)) 重量::60克(2.1安士)不包含電池 體積:WxDxH=64×30×85毫米 (2.5”×1.2’’×3.4”)O) 電池 :2×LR6.AA 防護(hù)標(biāo)準(zhǔn):IP52 |
德國(guó)EPK測(cè)厚儀
我公司銷(xiāo)售;德國(guó)EPK公司(Elektrophysik)一直于開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測(cè)量的涂層測(cè)厚儀。作為無(wú)損涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域的先驅(qū),EPK公司與各標(biāo)準(zhǔn)化組織和研究院一道,成功地推進(jìn)了涂層厚度檢測(cè)在世界范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)程。大量的專(zhuān)利技術(shù)與成果表明EPK公司是該涂層檢測(cè)的佼佼者。 德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MINITEST 720系列 ;MINITEST 600 涂鍍層測(cè)厚儀 ,德國(guó)EPK 4100涂層測(cè)厚儀 ,德國(guó)EPK Exacto FN涂層測(cè)厚儀 , 德國(guó)EPK Exacto N涂層測(cè)厚儀, 德國(guó)EPK Exacto F涂層測(cè)厚儀 ,德國(guó)EPK MikroTest涂層測(cè)厚儀 ,筆式測(cè)厚儀PenTest,德國(guó)EPK PenTest筆式測(cè)厚儀等。
SYL-D針式測(cè)厚儀是滄州智晟試驗(yàn)儀器廠根據(jù)用戶的要求自主研發(fā)的新一代產(chǎn)品,之前,礦物棉及其制品的厚度檢測(cè)都是用其他儀器代替,我公司的這一研發(fā)成果,填補(bǔ)了這一空白,是檢測(cè)數(shù)據(jù)更,操作起來(lái)更加方便和簡(jiǎn)單
SYL-D針式測(cè)厚儀根據(jù)GBT5480-2008《礦物棉及其制品試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的,適用于礦物棉及其制品的厚度測(cè)量。
SYL-D針式測(cè)厚儀主要參數(shù):
1、 測(cè)量范圍:0~140mm;
2、 壓板尺寸:200×200mm;
3、 壓板壓力:49KPa;
4、 測(cè)針直徑:¢3mm;
5、 分度值:1mm
ST8000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀是把UV-Vis光照在測(cè)量對(duì)象上,利用從測(cè)量對(duì)象中反射出來(lái)的光線測(cè)量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開(kāi)發(fā)或生產(chǎn)導(dǎo)電體薄膜現(xiàn)場(chǎng),特別在半導(dǎo)體及有關(guān)Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。ST8000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品特性
1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞,所以是非接觸式,非破壞式,不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測(cè)量迅速正確,且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4) 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品。
7)可測(cè)量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)用于特殊領(lǐng)域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a