T-SCAN 300 & 300DL 測厚儀 |
T-SCAN 300 & 300DL測厚儀 手持超聲測厚儀——同時檢測出基體材料&涂層的厚度。! 不同于其他的測厚儀,英銀翼公司的測厚儀——T-scan 300 能夠同時檢測涂層及基體材料的厚度。 測厚儀的軟件使得檢測結果以兩種模式顯示:直接數(shù)字顯示;檢測部位的B掃描圖像顯示。 T-scan 300DL除具有與The T-scan 300相同的功能之外,還具有存儲功能,32MB內(nèi)存可以存儲210,000個測試數(shù)據(jù)(柵格顯示或連續(xù)顯示),或存儲16,000組B掃描圖像(包括圖像的設置)。 特征: · 測量模式 · 脈沖回波 · 脈沖回波及溫度補償 · 脈沖回波及涂層 · 回波-回波 · 涂層 自動: · 探頭歸零 · 探頭識別 · 溫度補償 · 增益控制 · 高低門檻的聲光報警 · 材料橫截面積的B掃描圖像 · 可存儲210 000組數(shù)據(jù) · 包含Windows PC軟件 幾何參數(shù): · 重量:13.5 盎司 / 383 克 · 尺寸: 2.5 W x 6.5 H x 1.24 D inches 63.5 W x 165 H x 31.5 D mm · 操作溫度: 14 to 140F (-10 to 60C) · 外殼: 鋁金屬外殼,鍍鎳層 · 鍵盤: 12個觸摸鍵盤 · 數(shù)據(jù)導出: 雙向RS232串口,Windows® PC界面 · 顯示: 1/8in VGA灰度顯示(240 x 160 pixels) 可視區(qū)域: 2.4 x 1.8in (62 x 45.7mm) 可背光顯示 ※ 超聲規(guī)格 · 測量模式: Coating Off: 脈沖回波 (P-E) Coating On: 脈沖回波涂層 (PECT) Temp Comp: 脈沖回波溫度補償(PETP) · 穿透涂層: Echo-Echo (E-E) · 涂層模式: Coating (CT) · 脈沖發(fā)生器: 雙方波脈沖發(fā)生器 · 接收器: 雙接收器 – 110dB范圍內(nèi)的手動或AGC增益控制 ※ 電源 3節(jié)1.5V鉛酸電池或1.2V鎳鎘AA電池 使用時間:鉛酸電池 150小時 鎳鎘AA電池 100小時 閑置5分鐘后自動關機 電池狀態(tài)顯示 ※ 檢測 范圍: 脈沖回波模式(P-E) - (Pit & Flaw Detection) ,測量范圍0.025 to 19.999 inches (0.63 to 508 mm) 脈沖回波涂層模式(PECT) –(材料,涂層,凹坑&腐蝕檢測):材料: 0.025 to 19.999 in (0.63 to 508mm). 涂層: 0.001 to 0.100 in (0.01 to 2.54mm) 脈沖回波溫度補償模式(PETP)- (凹坑&腐蝕檢測): 自動溫度補償,量程0.025 to 19.999in (0.63 to 508mm) 回波-回波模式(E-E)-(穿過涂層) 測量范圍0.100 to 4.0in (2.54 to 102mm),量程根據(jù)涂層有不同。 涂層模式(CT)-(涂層厚度) 測量范圍0.0005 to 0.100in (0.0127 to 2.54mm),量程根據(jù)涂層有不同。 精度: +/- 0.001in (0.01mm) 聲速: 0.0492 to 0.5510in/ms 1250 to 13995 meters/second · 基體材料&涂層單點/雙點標定選項 · 基體材料的選擇 · 單位: 英制 & 公制 ※ 測量 大數(shù)字顯示—標準厚度視圖;數(shù)字高度:0.700 inches (17.78 millimeters),B-Scan—時基橫截面視圖,每屏顯示速度15secs,掃描條厚度-每秒6次。B-Scan及大數(shù)字顯示模式下可見。 條形圖的可重復性—條形圖顯示讀數(shù)的穩(wěn)定性 特征狀態(tài)欄— 顯示激活的狀態(tài) 數(shù)據(jù)記錄功能:T-scan 300DL 記錄模式: 柵格 (數(shù)字編號) 連續(xù) (自動標示) 儲存量: Graphics On: 16,000 個結果,為每次讀數(shù)B掃描圖像&標尺設置 Graphics Off: 210,000 個結果(涂層, 基體材料, min & max) OBSTRUCT: 顯示達不到的區(qū)域 內(nèi)存: 32 M內(nèi)存 探頭: 探頭類型: 雙晶 (1 to 10 MHz) 快速連接的LEMO接頭 標配4M長電纜線 可根據(jù)特定需要定制探頭和探頭線 標定:廠家標定,滿足際標準 |
產(chǎn)品說明 | |
測量對象: 單金屬鍍層:(Cu Zn、Ni、Ag、Sn、Cr等) 合金鍍層(Pb-Sn、Cr-Zn、Zn-Ni、Ni-P等); 復合鍍層(Cu+Ni+Cr/Fe等); 多線鍍層(需配用電位記錄儀,如與PC電腦連接則不需記錄儀); 顯著特點: 一機多用!ZD-B智能電解厚儀+PC電腦=ZD-B智能電解測厚儀+ZD-B型多線鍍層度-電位測定儀。 |
SM-112測厚儀
原理:在一定的面積與一定荷重下,測量出的物件厚度。指針式測厚規(guī)可以作為物品檢測時的基礎測量。
技術參數(shù):
指式方式:指針式
測量范圍:0-10mm
最小讀數(shù):0.01mm
測量深度:26mm
體積大。(W*D*H)87*23*105mm
重量:150g
儀器介紹
Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護
技術指標
型號:Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。 一次可同時分析最多24個元素,五層鍍層。分析檢出限可達2ppm,最薄可測試0.005μm。分析含量一般為2ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序多次測量重復性可達0.1%工作穩(wěn)定性可達0.1%度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg
標準配置
開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
應用領域金屬鍍層的厚度測量
電鍍液和鍍層含量的測定
Leeb332
測量范圍 0.75~300mm(鋼,由探頭決定)
顯示分辨率 0.01mm
聲速范圍 1000~9999m/s
表面溫度 -10~60℃
示值誤差 ±(1%H+0.1)mm,H為被測物實際厚度
電源 AA型堿性電池(2節(jié))
外殼 金屬外殼
操作時間 約200小時
外形尺寸 130×70×25mm
重量 約0.2kg(主機)
標準配置 主機、L51探頭、AA型堿性電池、耦合劑
可選配 探頭、耦合劑
產(chǎn)品特點:可進行零點校準及二點校準?蓪y頭進行基本校準。設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO)、標準偏差(S.DEV)?纱尜A和統(tǒng)計計算15個測量值。具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。具有自動關機功能。刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量。 操作過程有蜂鳴聲提示。有欠壓指示功能。有背光選擇。
儀器簡介:德國QNix4200和QNix4500這兩種型號涂層測厚儀一體化/分體化設計,只需調(diào)零,無需校準,使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀,可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層;QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀,不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體,還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛。
在傳統(tǒng)QNix® 4500基礎上,為了滿足客戶不同的需要,特推出QNix® 4500(分體式)機,探頭和主機之間通過一根探頭線連接起來,可以滿足特定測量環(huán)境(比如狹小空間)的需要,測量更方便,使用更人性化,性價比更高!
為了迎合用戶需要,還推出QNix® 4500(大量程)機,使在鐵基測量模式下量程可擴大到5mm。
產(chǎn)品優(yōu)點:◆只需調(diào)零,無需校準◆體積小巧,操作方便◆一機雙用,自動識別基體◆精度高◆價格便宜
QNix® 4500(分體式)介紹:◆簡單快速測量◆不需要校準◆自動開關機◆大量程FE:0-5000um NFE:0-3000um◆雙用探頭,性價比高◆霍爾傳感器讓測量更穩(wěn)定◆測量時聲音同步◆紅寶石耐磨頭,壽命長◆背光LED顯示,讀數(shù)更加清晰◆自動識別測量基體◆分體式探頭,滿足不同的測量環(huán)境
技術參數(shù) | |
磁性基體(Fe模式) | QNix4200/4500均有此功能 |
非磁性基體(NFe模式) | QNix4500有此功能 |
測量范圍 | QN4200:Fe:0-3000um |
QNIX4500:Fe:0-3000um;NFe:0-3000um QNIX4500(5mm型):Fe:0-5000um;NFe:0-3000um QNIX4500(分體型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um | |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) | |
1000-3000um≤±3%讀數(shù) | |
最小接觸面 | 10×10mm/QNix4500 |
最小曲率半徑 | 凸面:3mm;凹面:25mm |
最小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
工作原理 | 磁感應 | 渦流 |
測量范圍 | 0~1250um | 0~1250um |
0~49.21mil | 0~49.21mils | |
誤差 | 0~850 um (+/- 3%+1um) | 0~850 um(+/- 3%+1.5um) |
(相對當前讀數(shù)) | 850um~1250um (+/- 5%) | 850um~1250 um (+/- 5%) |
0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils) | 0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils) | |
33.46um~49.21mils (+/- 5%) | 33.46um~49.21mils (+/- 5%) | |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) | |
850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) | |
0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) | |
1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | |
33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
HQT-IA 微電腦多功能電解測厚儀 特性表 | |||||||
|