涂鍍層測(cè)厚儀positector 6000
產(chǎn)品名稱: 涂鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品型號(hào): positector 6000簡(jiǎn)單介紹涂鍍層測(cè)厚儀：即時(shí)測(cè)量,無(wú)需校準(zhǔn)兩鍵操作 雙色指示燈 重置功能可迅速將測(cè)厚儀還原為出廠狀態(tài)
涂鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)介紹
涂鍍層測(cè)厚儀
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Thick600X熒光鍍層測(cè)厚儀
lz系列涂層測(cè)厚儀
小巧靈瓏，使用方便，價(jià)格低廉電磁式：可測(cè)量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鐵或鋼）高周波式：可測(cè)量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鋁、銅和黃銅）雙制式：兼具以上兩種功能最小分辨率：0.1微米多年來(lái)，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠(chéng)的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！
FT9400日立FT9400膜厚分析儀，測(cè)厚儀，電鍍檢測(cè)儀
儀器簡(jiǎn)介：
在高功率X射線管和檢測(cè)器上配備有比例計(jì)數(shù)管和半導(dǎo)體檢測(cè)器？蓪(duì)應(yīng)薄膜/合金膜以及極微小部件的測(cè)量需求，同時(shí)支持針對(duì)異物進(jìn)行定性分析和材料的成分分析。
技術(shù)參數(shù)：
可測(cè)量元素：原子序數(shù)22(Ti)～83(Bi) X射線源：小型空氣冷卻型高功率X射線管球(Mo靶) 管電壓： 50kV 管電流： 1.5mA Be 窗 濾波器：一次濾波器：Mo 照射方式：上方垂直照射方式
檢測(cè)器：比例計(jì)數(shù)管+半導(dǎo)體檢測(cè)(無(wú)需液氮) 準(zhǔn)直器：圓形：Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm
安全性能：樣品室門自鎖功能、樣品防沖撞功能、自動(dòng)診斷功能
樣品圖像對(duì)焦方式：激光自動(dòng)對(duì)焦
樣品觀察：彩色CCD攝像頭 倍率光學(xué)器 鹵素?zé)粽彰?span> 樣品平臺(tái)大小及承重： FT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg FT9450:420mm(W) ×330mm(D) 5kg FT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg
重量：FT9400/SFT9450:125kg (不含電腦) FT9455:130kg(不含電腦) 修正功能：底材修正、已知樣品修正、人工輸入修正 測(cè)量報(bào)告書(shū)制作：配備MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自動(dòng)制作測(cè)量報(bào)告書(shū)) 測(cè)量能譜與樣品圖像保存功能
主要特點(diǎn)：
1. 搭載有高功率X射線管及雙檢測(cè)器(半導(dǎo)體檢測(cè)器+比例計(jì)數(shù)管) 可對(duì)應(yīng)組合復(fù)雜的應(yīng)用程序，特別是可識(shí)別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。 能夠?qū)?span>Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次濾波器的情況下進(jìn)行測(cè)量 對(duì)于含Br的電路板，可以不受Br的干擾對(duì)Au的鍍層厚度進(jìn)行高精度的測(cè)量 可測(cè)量0.01μm以下的超薄的Au鍍層厚度 2. 搭載塊體FP發(fā)軟件和薄膜FP法軟件 對(duì)應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運(yùn)用領(lǐng)域 3. 適用超微小面積的測(cè)量 標(biāo)準(zhǔn)配備的15μmΦ的準(zhǔn)直器，可對(duì)超微小面積進(jìn)行測(cè)量。 4. 搭載了可3段切換的變焦距光學(xué)系統(tǒng) 5. 搭載高精度樣品平臺(tái)，更可測(cè)量大型線路板(SFT9455) 6. 自動(dòng)對(duì)焦功能 配備激光自動(dòng)對(duì)焦功能，能夠準(zhǔn)確對(duì)焦，提高測(cè)量效率。 7. 搭載測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成軟件
CM8821涂層測(cè)厚儀漆膜測(cè)厚儀鍍鋅層測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào)：CM8821
KD－1KD－1型（渦流）涂層測(cè)厚儀
KD－1型（渦流）涂層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶，它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代國(guó)際同類儀器的水平。
KD－1（渦流）涂層型測(cè)厚儀器，是一種小型儀器，采用渦電流測(cè)量原理，可以方便無(wú)損地測(cè)量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽(yáng)極氧化膜厚度等。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油化工、 噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
1、 測(cè)量范圍 ：0－1200μm
2、 測(cè)量誤差：<3%+1μm
3、 最小示值：1μm
4、 顯示方式 ：4位液晶數(shù)字顯示
5、 主要功能：(1).測(cè)量：?jiǎn)翁筋^全量程測(cè)厚；(2).存儲(chǔ)：可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè)；(3).讀：讀出已存入測(cè)量數(shù)據(jù)；(4).校正：隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)試片校正；(5).打印：選配微型打印機(jī)
6、 電源：3.6v充電電池
7、 功耗：最大功耗10mw
8、 外形盡寸：50×95×24mm
9、 重量：90g
10、使用環(huán)境溫度：0°－40°C,相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體最小厚度：0.2mm
12、基體最小平面：7mm
13、最小曲率半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、 欠電壓指示： 左下角顯示＂欠＂
＊臨界厚度 ：工件鋁基厚度大于1mm時(shí),其涂 層厚度的測(cè)量不受鋁基厚度影響
SPI 2500A高精密三維錫膏測(cè)厚儀
| 檢測(cè)原理 | Optical Triangulation | 3維Viewer | 3D Open GL |
| Field of view(F.O.V)Area | 6.4*4.8mm | 檢測(cè)方式 | Manual,Automatic |
| 檢測(cè)速度 | 30profiles/sec | 電腦 | CPU 2.66 GHz 512MB |
| 空間分辨率 | 10μm | 高度精密度 | 3μm |
| 重復(fù)高度精密度 | 2μm | Motorized Stage Stroke | 20(Y)mm |
| 操作臺(tái)Manual Stroke | 315(X)mm | 電腦系統(tǒng) | MS Windows XP Home Edition |
| 操作臺(tái)大小 | 520(W)*400(D)mm | 品質(zhì)管理 | SPC包括的 |
| 檢測(cè)數(shù)據(jù) | Area，Height，Volume | 設(shè)備大小 | 520(W)*673(D)*363(H)mm |
| 檢測(cè)深度 | 500μm | 設(shè)備重量 | 36kg |
| Senor Translation(Z Axis) | Max.35mm | 電源 | AC 100-240V,50/60 Hz |
美國(guó)PosiTector100涂層測(cè)厚儀PosiTector100
| 本產(chǎn)品詳細(xì)說(shuō)明： | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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WKN-PD-T3超聲波測(cè)厚儀
l USB2.0 接口，可與PC機(jī)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸
l 可充電鋰電池，可用USB總線充電
l 液晶亮度、對(duì)比度可調(diào)
主要技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍：0.75-300mm（鋼）.
顯示精度：0.01mm
測(cè)量誤差：1 mm～10 mm :±0.05mm 10mm～200mm :（±0.5%H+0.1）mm
測(cè)量周期：1次/ 秒
測(cè)量頻率：5MHz
聲速范圍：1000-9999m/s
顯示： 128*64 LCD顯示，帶冷光源照明顯示
零位調(diào)整：探頭放在測(cè)厚儀試塊上按鍵自動(dòng)調(diào)零
報(bào)警功能：可設(shè)置限界，對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)蜂鳴報(bào)警
工作電壓：3.7V
自動(dòng)關(guān)機(jī)：連續(xù)2分鐘無(wú)動(dòng)作自動(dòng)關(guān)閉，有開(kāi)關(guān)按鈕
顯示內(nèi)容：厚度值、耦合狀態(tài)、電量狀態(tài)，可顯示CAL標(biāo)定狀態(tài)、聲速
外形尺寸：132 X 76.2 mm
整機(jī)重量：230g
涂層測(cè)厚儀廠家
涂層測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域；是材料保護(hù)必備的儀器。360度無(wú)死角的測(cè)量方式。分體的探頭，可以更方便的在工件上操作。比一體的涂層測(cè)厚儀使用起來(lái)更方便，有些一體的測(cè)不到的地方，分體的卻可以。滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T4956-1985 磁性方法；GB/T4957-1985 渦流方法；JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀；JJG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》；JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》。產(chǎn)品特點(diǎn)
采用了渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量：非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽(yáng)極氧化膜等)具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正具有存貯功能：可存貯500 個(gè)測(cè)量值可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析具有電源欠壓指示功能操作過(guò)程有蜂鳴聲提示具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示參數(shù)規(guī)格
測(cè)頭類型： N測(cè)量原理： 電渦流測(cè)量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)低限分辨力：0.1um探頭連接方式：分體示值誤差： N一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1]兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1.5]兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]測(cè)量條件：N最小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9基體最小面積的直徑(mm)：ф7最小臨界厚度(mm)：0.5最小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10基體最小面積的直徑(mm)：ф5最小臨界厚度(mm)：0.3溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH統(tǒng)計(jì)功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）上下限設(shè)置：有存儲(chǔ)能力：500個(gè)測(cè)量值關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)和自動(dòng)電源：二節(jié)AAA型（7號(hào)）1.5V電池外形尺寸：110×50×23mm重量：100gleeb210/leeb211涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
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| leeb211 |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | · leeb211主機(jī)； · 鐵基體或者鋁基體； · 標(biāo)準(zhǔn)片一套； · 使用說(shuō)明書(shū)； · 合格證書(shū)； · 包裝箱。 |
leeb210/leeb211涂層測(cè)厚儀可選配件
| leeb211 | |
| 可選配 | · 鐵基體和鋁基體； · 標(biāo)準(zhǔn)片； · TA230打印機(jī)。 |
涂層測(cè)厚儀其它說(shuō)明
涂層測(cè)厚儀·探頭參數(shù)表
| 探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |||||
| 測(cè)量范圍（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | 10-200 | ||
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | - | ||
| 測(cè)量條件 | 最小曲率半徑(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 |
| 基體最小面積的直徑(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |
| 最小臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無(wú)限制 | |
涂層測(cè)厚儀·探頭選擇參考表
| 基體與覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層 (如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) | |||
| 覆蓋層厚度 不超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 不超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 超過(guò)100µm | ||
| 磁性金屬 如 鐵、鋼 等 | 被測(cè)面積的直徑 大于30mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm F10 型測(cè)頭 0～10mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm F10 型測(cè)頭 0～10mm |
| 被測(cè)面積的直徑 小于30mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm | |
| 有色金屬 如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、錫等 | 被測(cè)面積的直徑 大于5mm | N1 型測(cè)頭 0～1250µm | 僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40µm | ||
| 非金屬基體 塑料、印刷線路 | 被測(cè)面積的直徑 大于7mm | - | - | CN02 型測(cè)頭10～200µm | |
