高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析:正比計數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管,大大提高了靈敏度 簡單的元素區(qū)分:二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優(yōu)化,測量元素范圍廣: 可預設參數(shù) CMI900 提供800多種預設應用參數(shù)/方法 的穩(wěn)定性: 自動熱補償測量儀器溫度,糾正變化,提供穩(wěn)定的結果 簡單快速的光譜校準,定期檢查儀器性能(如靈敏度),并提供必要的糾正 堅固耐用的設計 可以在實驗室或生產線上操作 堅固的工業(yè)設計 經(jīng)行業(yè)驗證的技術,在全球銷售量超過3000臺
測量范圍:0~1250um (標準量程) | 分辨率:0.1/1 |
小曲率半徑: 凸 5mm/ 凹 5mm | 小測量面積:10x10mm |
薄基底:0.4mm | 使用環(huán)境:溫度:0-40℃濕度:10-85%RH |
準確度:±(1.5+3%h)或±2um | 公制/英制:可轉換 |
電源:2節(jié)5號電池 重量:99g(含電池) | 機身尺寸:102mm×66mm×24mm |
* 僅限于標準型和高級型系列
Elcometer 456藍牙(Bluetooth)整體式測厚儀
ELCOMETER 456 整體式--規(guī)格和部件編號 | ||||
公制 | 英制(mils) | 零件號 | ||
基本 | 鐵基基本整體式量程1 | 0-1500μm | 0-60 | A456FBI1 |
鐵基基本整體式量程2 | 0-5mm | 0-200 | A456FBI2 | |
鐵基基本整體式量程12*-高分辨率 | 0-5mm | 0-200 | A456FBI12 | |
鐵基基本整體式量程3 | 0-13mm | 0-500 | A456FBI3 | |
非鐵基基本整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456NBI1 | |
鐵基及非鐵基(FNF)兩用基本整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456FNFBI1 | |
標準 | 鐵基標準整體式量程1 | 0-1500μm | 0-60 | A456FSI1 |
鐵基標準整體式量程2 | 0-5mm | 0-200 | A456FSI2 | |
鐵基標準整體式量程12*-高分辨率 | 0-5mm | 0-200 | A456FBSI12 | |
鐵基標準整體式量程3 | 0-13mm | 0-500 | A456FSI3 | |
非鐵基標準整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456NSI1 | |
鐵基及非鐵基(FNF)兩用標準整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456FNFSI1 | |
高級 | 鐵基高級整體式量程1 | 0-1500μm | 0-60 | A456FTI1 |
鐵基高級整體式量程2 | 0-5mm | 0-200 | A456FTI2 | |
鐵基高級整體式量程12*-高分辨率 | 0-5 mm | 0-200 | A456FBTI12 | |
鐵基高級整體式量程3 | 0-13mm | 0-500 | A456FTI3 | |
非鐵基高級整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456NTI1 | |
鐵基及非鐵基(FNF)兩用高級整體式 | 0-1500μm | 0-60 | A456FNFTI1 | |
在同一探頭,F(xiàn)12量程結合了F1 和F2的量程(英國專利號 GB2367135B)。用戶可選擇合適的量程(和分辨率)。 |
一、超高精度薄膜測厚儀配置
Mahr Millitron高精度薄膜測厚儀1240 包含:
1.高精度型顯示器1240(分辨率:0.01um)
2.高精度型電感測頭1340
3.腳踏提升器1340/1F
4.Mahr 小型比較儀座820N
5.Mahr Millimar 薄膜測厚儀專用統(tǒng)計分析軟件
二、超高精度薄膜測厚儀應用范圍
薄膜測厚儀主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片等各種材料的厚度精確測量。廣泛應用于薄膜生產企業(yè)、質檢機構、研究院校等對薄膜厚度有嚴格要求的領域。
高精度型顯示器1240與傳感器1340配合使用,可以實現(xiàn)4000μm量程范圍內的高精度測量。
測量分辨率可達0.01μm,可實現(xiàn)超高的測量精度。
測量結果可通過數(shù)字顯示也可以在刻盤上以指針顯示,滿足不同的讀數(shù)要求。
Millimar 1240可連接計算機,通過在計算機中安裝我司開發(fā)的MarCom薄膜測厚儀專用統(tǒng)計分析軟件,可實現(xiàn)測量數(shù)據(jù)手動或自動采集,實時統(tǒng)計分析最大值,最小值,平均值,偏差值等,可實現(xiàn)高頻率測量。
三、高精度型顯示器1240產品特性
• 對測量值進行高精度處理
• 可在測量范圍內的任意點置零
• 按一下按鈕, 即可獲得標準的實際值
• 具有對1個特征統(tǒng)計x-bar、s、r、和n的功能
• 公差顯示(可以調節(jié)滯后性)
• 公差帶可在整個范圍內設置
• 可進行常規(guī)分級
• 長時間穩(wěn)定的存儲極值
• 2個Mahr兼容的電感測頭輸入口,用于單個、疊加、比較測量
• RS232C接口用于連接打印機/電腦/數(shù)據(jù)記錄器
• 模擬輸出用于連接記錄器
• 所有功能均可通過RS232C口進行控制
• 標準配置:操作說明書和電源連接
• 標準配置:操作說明書和電源連接
四、高精度型顯示器Millimar 1240技術參數(shù)
型號 | Millimar 1240顯示設備 | ||
顯示方式 | 指針/數(shù)字 | ||
指針顯示(量程可選) | 數(shù)字顯示 | ||
量程(μm) | 分辨率(μm) | 量程(μm) | 分辨率(μm) |
±1 | 0.02 | ±200 | 0.01 |
±3 | 0.1 | ±2000 | 0.1 |
±10 | 0.2 | 在測量范圍內的誤差分布 | |
±30 | 1 | 模擬顯示 | ≤1.5 % |
±100 | 2 | 數(shù)字顯示 | ≤0.01% |
±300 | 10 | 模擬輸出 | ≤1 % |
±1000 | 20 | 響應時間 | 15 ms |
±3000 | 100 | 耗電量 | 約30 VA |
±10000 | 200 | 模擬輸出電壓 | ± 5 V |
數(shù)據(jù)輸出 | RS 232 C | 信號燈 | 3 |
極限開關量 | 2 | 控制輸出 | 3 |
零位調節(jié) | 在任意位置置零 | 輸出類型 | TTL |
外形尺寸(W x H x D) | 156x 195 x 120 mm | 重量 | 2.3 kg / 5.07 lbs |
單個/組合測頭測量 | +A, -A , +B, -B, A+B, +A-B, -A+B, -A-B | ||
動態(tài)測量功能 | Max, Min, Max-Min,(Max+Min)/2, mean | ||
工作溫度范圍 | +10 . . . +40°C / + 50. . . + 104° F | ||
電源要求 | 230 V~ /115 V~ ± 10%, 50–60 Hz (可切換) | ||
統(tǒng)計功能 | n, xn, x, s, R | ||
防護等級 | 依據(jù)DIN IP40 |
五、電感測頭Millimar 1340詳細介紹
型號 | Millimar(馬爾) 1340電感側頭 | ||
測量范圍 | ±2mm | 提升/回退 | 真空提升 |
上限位 | -2.2mm | 重復性誤差fw | ≤0.08μm |
下限位 | ﹢3.0mm | 滯后性誤差fu | 0.08μm |
電子零點處的測力 | 0.75N±0.15N | 靈敏度經(jīng)過修正后的線性誤差 | |
靈敏度誤差 | 0.3% | 在±0.3量程內 | — |
測力增量 | 0.08N/mm | 在±0.5量程內 | — |
纜線長度 | 1.5m(可提供加長線) | 在±1.0量程內 | 0.15μm |
防護等級 | IP64 | 在±2.0量程內 | 0.4μm |
兼容類型—Mahr | 僅使用于Millimar(馬爾)1240 |
六、Mahr Millimar 薄膜測厚儀專用統(tǒng)計分析軟件MarCom
3D SPI-7500錫膏測厚儀的產品詳細介紹
一、 產品功能
快速編程,友善的編程界面
u 多種測量方式
u 真正一鍵式測量
u 八方運動按鈕,一鍵聚焦
u 掃描間距可調
u 錫膏3D模擬功能
u 強大的SPC功能
u MARK偏差自動修正
u 一鍵回屏幕中心功能
二、產品特色
自 動 識 別 目 標
本全自動3D錫膏厚度測試儀能通過自動XY平臺的移動/Z軸圖像自動聚焦及激光的掃描錫膏獲得每個點的3D數(shù)據(jù),也可用來量測整個焊盤錫膏的平均厚度,使錫膏印刷過程良好受控。
[特點]
1、可編程測量若干個區(qū)域,在不同測試點自動聚焦,克服變形造成的誤差2、通過PCB MARK自動尋找檢查位置并矯正偏移;
3、測量方式:全自動,自動移動手動測量,手動移動手動測量4、 錫膏3D模擬圖,再現(xiàn)錫膏真實形貌;5、采用3軸自動移動、對焦,自動補償修正基板翹曲變形,獲取準確錫膏高度;6、 高速高分辨率相機,精度高,強大SPC數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析;7、SIGMA自動判異功能,使您的操作員具備實時判別錫膏印刷過程品質的能力;
8、自動生成CPK、X-BAR、R-CHART、SIGMA柱形圖、趨勢圖、管制圖 等
9、 2D輔助測量,兩點間距離,面積大小等;
10、 測量結果數(shù)據(jù)列表自動保存,生成SPC報表
三、產品參數(shù)
1、 應用范圍:錫膏.紅膠.BGA.FPC.CSP 2、 測量項目:厚度.面積.體積.3D形狀.平面距離 3 、測量原理:激光3角函數(shù)法測量 4、軟體語言:中文/英文 5、 照明光源:白色高亮LED 6、 測量光源:紅色激光模組 7 X/Y移動范圍:標準350mm*340mm(較大移動尺寸可特殊制)
8、 測量方式:自動全屏測量.框選自動測量.框選手動測量 9、 視野范圍:5mm*7mm10、 相機像素:300萬/視場11、 最高分辨率:0.1um12、 掃描間距:4 um /8 um /10 um /12 um13、 重復測量精度:高度小于1um,面積<1%,體積<1%14、 放大倍數(shù):50X15、 最大可測量高度:5 mm16、 最高測量速度:250Profiles/s17、 3D模式:渲染.面.線.點3種不同的3D模擬圖,可縮放.旋轉18、 SPC軟件:產線資料,印刷資料,錫膏資料,鋼網(wǎng)資料,測量結果分別獨立分析,X-Bar&R圖分析,直方圖分析&Ca/Cp/Cpk輸出,Sigma自動判斷19、 操作系統(tǒng):Windows720、 計算機系統(tǒng):雙核P4,2G內存,20寸LCD21、 電源:220V 50/60Hz22、 最大消耗功率:500W23、 重量:約85KG24、 外形尺寸:L*W*H(700 mm *800 mm *400 mm)
時代TT110手持式超聲波測厚儀技術參數(shù):
時代超聲波測量厚儀系列是集當代科技電子技術和測量技術于一體的、的無損檢測儀器,采用微電腦對數(shù)據(jù)時行分析、處理、顯示,采用高度優(yōu)化的測量電路,具有測量精度高、范圍寬、操作簡便、工作穩(wěn)定等特點?蓪Ω鞣N板材和加工零件作精確測量,廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。時代TT110手持式超聲波測厚儀基本原理: 探頭發(fā)射的超聲波脈 沖到達被測物體并在物體中傳播,到達材料分界面時被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。 時代TT110手持式超聲波測厚儀主要功能: 自動校對零點,可對系統(tǒng)誤差進行修正; 非線性自動補償,利用計算機軟件對探頭非線性誤差進行修正,以提高測量度; 設有耦合狀態(tài)提示、低電壓提示、自動關機等功能。時代TT110手持式超聲波測厚儀適用范圍: TT100適合測量金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超波的良導體的厚度! ★@示最小單位:0.1mm 聲速調節(jié)范圍:1000-9999m/s 可利用已知厚度試塊測量聲速 TT110適合測量鋼鐵材料的厚度,固定聲速5900m/s,顯示最小單位:0.1mm。 TT120在TT110的基礎上增加了高溫測量功能,被測物體溫度可達300℃! T130測量厚度小于100mm時,顯示分辯率為0.01mm,其它功能與TT100相同。時代TT110手持式超聲波測厚儀性能指標: 測量范圍:1.2mm~225.0mm(鋼) 顯示方式:四位數(shù)字液晶顯示 管材測量下限:Φ20mm×3.0mm 測量誤差:±(1%H+0.1)mm,H為被測物實際厚度 被測物表面溫度:-10℃~60℃ 操作時間:250小時 電源:2節(jié)AA型1.5伏堿性電池 外形尺寸:126mm×68mm×23mm 重量:170g