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    • 光學測量儀產(chǎn)品及廠家

      自動掃描薄膜測量儀器
      sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol,可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性,從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產(chǎn)的時間。
      更新時間:2024-11-27
      德國Sentech光伏測量儀
      senperc pv 是perc電池制造質量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此,可以優(yōu)化維護時間間隔。
      更新時間:2024-11-27
      德國Sentech光伏測量儀器
      德國sentech光伏測量儀器mdpspot,具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng),用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品?蛇x的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。
      更新時間:2024-11-27
      薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
      薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作為內部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機的數(shù)據(jù)通信。
      更新時間:2024-11-27
      ALD實時監(jiān)測儀
      sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
      更新時間:2024-11-27
      布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀
      布魯克bruker白光干涉光學輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
      更新時間:2024-11-27
      布魯克Bruker 三維光學輪廓儀
      布魯克bruker contourx-200 三維光學輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設備
      更新時間:2024-11-27
      布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
      布魯克 dektakxt 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率,垂直高度重復性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破,實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學域。
      更新時間:2024-11-27
      日本RION液體光學顆粒度儀
      日本rion液體光學顆粒度儀ks-41b,可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
      更新時間:2024-11-27
      日本RION液體光學顆粒度儀
      日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
      更新時間:2024-11-27
      臺式薄膜探針反射儀
      ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv,ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案,它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內進行測量,其精度低于0.3nm,膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作,該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。
      更新時間:2024-11-27
      綜合薄膜測量軟件
      ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件,光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析,這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中,使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
      更新時間:2024-11-27
      光伏測量儀器
      mdpinline 光伏測量儀器,一秒內完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的,它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設計,mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
      更新時間:2024-11-27
      光伏測量儀器
      mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設計的。對于一個面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉動,以便測量所有的四個側面。
      更新時間:2024-11-27
      在線壽命和電阻率逐行掃描儀
      mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設計的。對于一個面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉動,以便測量所有的四個側面。
      更新時間:2024-11-27
      美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
      美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000,根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質量為零時的太陽吸收率(空間應用)。它緊湊,輕巧,堅固耐用,符合人體工程學設計,便于在野外或實驗室中使用。
      更新時間:2024-11-27
      日本RION氣體粒子計數(shù)器
      日本rion氣體粒子計數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
      更新時間:2024-11-27
      日本RION 液體光學顆粒度儀
      日本rion 液體光學顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
      更新時間:2024-11-27
      日本RION 液體光學顆粒度儀
      日本rion 液體光學顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
      更新時間:2024-11-27
      日本理音RION液體光學顆粒度儀
      日本理音rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
      更新時間:2024-11-27
      日本RION粒子計數(shù)器
      日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體?蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
      更新時間:2024-11-27
      日本RION液體光學顆粒度儀
      日本rion液體光學顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個通道,出廠默認):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
      更新時間:2024-11-27
      日本RION液體光學顆粒度儀
      日本rion 液體光學顆粒度儀:ks-18f ( 光散射法)液體光學顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍,可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
      更新時間:2024-11-27
      日本RION液體光學顆粒度儀
      日本rion液體光學顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法),可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
      更新時間:2024-11-27
      日本RION液體光學顆粒度儀
      日本rion液體光學顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
      更新時間:2024-11-27
      日本RION液體光學顆粒度儀
      日本rion液體光學顆粒度儀ks-42c ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
      更新時間:2024-11-27
      日本理音RION粒子計數(shù)器
      日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f,檢測粒徑為0.02μm的顆粒,從0.02μm到0.08μm可達7個通道
      更新時間:2024-11-27
      日本理音RION粒子計數(shù)器
      日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
      更新時間:2024-11-27
      日本理音RION粒子計數(shù)器
      日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法),測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
      更新時間:2024-11-27

      最新產(chǎn)品

      熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑
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