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    • 原子力顯微鏡(AFM)產(chǎn)品及廠家

      日本RIBM 超高速視頻級(jí)原子力顯微鏡
      日本ribm hs-afm超高速視頻級(jí)原子力顯微鏡,突破了 “掃描成像速慢”的限制,掃描速度最高可達(dá) 20 frame/s,并且有 4 種掃描臺(tái)可供選擇。樣品無(wú)需特殊固定染色,不影響生物分子的活性,尤其適用于生物大分子互作動(dòng)態(tài)觀測(cè)。液體環(huán)境下直接檢測(cè),超快速動(dòng)態(tài)成像,分辨率為納米水平。
      更新時(shí)間:2024-11-21
      百及納米ParcanNano原子力顯微鏡(快捷型)
      百及納米parcannano 高速原子力顯微鏡afm(快捷型),是公司開發(fā)的一款顛覆性的新型afm系統(tǒng)。它使用主動(dòng)式智能針尖,集傳感器、驅(qū)動(dòng)器和可功能化的針尖于一身,實(shí)現(xiàn)自激發(fā)和自傳感,無(wú)需復(fù)雜的激光校準(zhǔn),是取代現(xiàn)有afm激光傳感的巨大改進(jìn)。該系統(tǒng)可在大氣、液態(tài)及真空環(huán)境下實(shí)現(xiàn)對(duì)微納米結(jié)構(gòu)的高速、高效表征,成像精度達(dá)到0.2納米的限精度。
      更新時(shí)間:2024-11-21
      散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
      s-snom技術(shù)使用金屬鍍層的原子力(afm)探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來(lái)增強(qiáng)樣品的納米尺度區(qū)域的散射,散射信號(hào)可以在遠(yuǎn)場(chǎng)被檢測(cè)到。而這些散射信號(hào)攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言,這些散射光的信息包括光的振幅和相位,通過適當(dāng)?shù)哪P停@些測(cè)量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學(xué)常數(shù)(n,k)。在某些情況下,光學(xué)相位與波長(zhǎng)還提供了個(gè)與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息
      更新時(shí)間:2024-11-08
      多功能原子力顯微鏡
      工作模式:接觸模式、非接觸模式、敲擊模式標(biāo)準(zhǔn)模塊:相位、橫向力(摩擦)、力曲線、力調(diào)制、靜電力和磁力模塊選配模塊:導(dǎo)電力模式,表面電勢(shì)模塊
      更新時(shí)間:2024-11-08
      日立5300E環(huán)境多功能原子力顯微鏡
      afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡,它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。afm5300e還具有高低溫控制功能,可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響。
      更新時(shí)間:2024-10-25
      日立5100N通用多功能原子力顯微鏡
      afm5100n除了激光檢測(cè)方式之外,全新的「自檢測(cè)懸臂」,在保證高分辨表面形貌觀察的同時(shí),大大簡(jiǎn)化了afm懸臂操作。
      更新時(shí)間:2024-10-25
      日立5100N通用多功能原子力顯微鏡
      通常的懸臂是非常渺小而且很難操作,內(nèi)部裝有傳感器的「自檢測(cè)懸臂」比普通的afm探針要大得多,容易拿取,安裝非常簡(jiǎn)單方便。
      更新時(shí)間:2024-10-25
      日立5300E環(huán)境多功能原子力顯微鏡
      afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡,它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。afm5300e還具有高低溫控制功能,可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響
      更新時(shí)間:2024-10-25
      日立5500M全自動(dòng)型原子力顯微鏡
      afm5500m是操作性和測(cè)量精度大幅提高,配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對(duì)中,測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測(cè)量精度大幅提高。并且,通過sem-afm共享坐標(biāo)樣品臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
      更新時(shí)間:2024-10-25
      SPM-9700HT型原子力顯微鏡
      spm-9700ht作為一種全新的換代產(chǎn)品,通過新開發(fā)的可快速響應(yīng)的ht掃描器以及軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)的優(yōu)化,成功實(shí)現(xiàn)以傳統(tǒng)設(shè)備5倍以上的速度獲取圖像數(shù)據(jù)。spm-9700ht在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測(cè)量功能,具備了卓越的信號(hào)處理能力,加上先進(jìn)的vbdf功能,數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%,可得到更高分辨率、更高質(zhì)量的觀察圖像。
      更新時(shí)間:2024-10-21
      NT-MDT 原子力顯微鏡Prima
      更新時(shí)間:2024-10-21
      布魯克 InSight AFP原子力顯微鏡
      更新時(shí)間:2024-10-21
      布魯克 Dimension FastScan Bio 原子力顯微鏡
      dimension fastscan bio 原子力顯微鏡 (afm) 可實(shí)現(xiàn)生物動(dòng)力學(xué)的高分辨率研究,實(shí)時(shí)樣品觀測(cè)的時(shí)間分辨率高達(dá)每 3 幀。更重要的是,它同時(shí)使afm比以往更容易使用。dimension fastscan bio afm 以先進(jìn)的大
      更新時(shí)間:2024-10-21
      安東帕 Tosca 200原子力顯微鏡
      更新時(shí)間:2024-10-21
      原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡出租
      原子力顯微鏡(atomic force microscopy)是種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ),通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描,探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光,后接受信號(hào)經(jīng)過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
      更新時(shí)間:2024-10-18
      上海彥祥電子1000型原子力顯微鏡
      1000型原子力顯微鏡應(yīng)用:其應(yīng)用范圍十分廣泛,利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等?蓽y(cè)樣品有:薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè):高校(理工類)實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、公安刑偵和工業(yè)檢測(cè)部門。
      更新時(shí)間:2024-10-10
      透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1
      lumina at1可以在4分鐘內(nèi)完成150毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2-EFEM
      lumina at2-efem可以在2分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2
      lumina at2可以在3分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      KLA探針式表面輪廓儀
      kla是全球半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)大的供應(yīng)商,在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、mems、 太陽(yáng)能、光電子以及其他域中有著高的市占率。alpha-step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2d及3d(d-600)輪廓掃描,以及翹曲度和應(yīng)力的2d測(cè)量。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      Film sense薄膜厚度橢偏儀
      film sense 多波長(zhǎng)橢偏儀通過簡(jiǎn)單的 1 測(cè)量,可以以高的精度和精度測(cè)定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對(duì)許多樣品進(jìn)行光學(xué)常數(shù) n&k 等薄膜性質(zhì)的測(cè)量。多波長(zhǎng)橢偏儀提供了強(qiáng)大的薄膜測(cè)量功能售價(jià)只是單一波長(zhǎng)橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。film sense 偏儀非常適合在研究實(shí)驗(yàn)室教室,現(xiàn)場(chǎng)處理室,工業(yè)質(zhì)量控制等等。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      KLA探針式表面輪廓儀P-7
      kla是全球半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)的供應(yīng)商,在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、mems、太陽(yáng)能、光電子以及其他域中有著高的市占率。p-7是kla公司的第八代探針式臺(tái)階儀系統(tǒng),歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新,集合眾多技術(shù)優(yōu)勢(shì)。p-7建立在市場(chǎng)先的p-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了p-17技術(shù)的卓越測(cè)量性能,并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了高的性價(jià)比。p-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)
      更新時(shí)間:2024-09-23
      Zygo ZeGage ProHR桌面式光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x
      zygo zegage pro光學(xué)輪廓儀是用于3d形貌定量測(cè)試,和精密機(jī)械表面粗糙度檢測(cè)的理想非接觸式檢測(cè)工具。它工業(yè)化的設(shè)計(jì)提供快速,精確的測(cè)量方案,并且外形緊湊、性價(jià)比高,能夠放在生產(chǎn)車間工作,而不需要振動(dòng)隔離和特殊的隔離裝置。同時(shí)交互式的控制軟件mx 提供了簡(jiǎn)單而精細(xì)的圖形圖像來(lái)幫助你的加工處理。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      Zygo NewView  9000 3D 光學(xué)輪廓儀
      zygo newview 9000 3d 光學(xué)輪廓儀提供了強(qiáng)大的非接觸式光學(xué)表面分析的多功能性。它可以容易和快速地測(cè)量各種表面類型,包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測(cè)量都是無(wú)損、快速、無(wú)需樣品制備的。系統(tǒng)的核心是 zygo 相干掃描干涉技術(shù)(csi),提供了所有放大倍數(shù)下亞納米的精度,并且能夠快速測(cè)試各種樣品表面。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      Filmetrics F20 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
      不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,f20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過usb連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于某模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn),f20適用于各種應(yīng)用。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      F50薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x
      依靠f50先進(jìn)的光譜測(cè)量系統(tǒng),可以很簡(jiǎn)單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以非?焖俚亩ㄎ凰铚y(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度,測(cè)試非常快速,大約每能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。f50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái),確保能夠做成千上萬(wàn)次測(cè)量。
      更新時(shí)間:2024-09-23
      Dimension系列大樣品臺(tái)原子力顯微鏡
      bruker dimension® icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米域的研究者帶來(lái)了全新的afm應(yīng)用體驗(yàn),其測(cè)試功能強(qiáng)大,操作簡(jiǎn)便易行。仍然以上應(yīng)用廣泛的af
      更新時(shí)間:2024-09-23
      verifire激光干涉儀
      zygo致力于保護(hù)您在verifire干涉儀的長(zhǎng)壽命期間的投資。 在全球安裝了數(shù)千套系統(tǒng),沒有其他計(jì)量公司接近zygo的產(chǎn)品質(zhì)量和客戶滿意度記錄。質(zhì)量多功能性和生產(chǎn)力大化您的投資zygo公司:光學(xué)計(jì)量的導(dǎo)者•我們保證verifire系統(tǒng)和組件作為完整解決方案的一部分,符合我們的iso 9001注冊(cè)設(shè)施
      更新時(shí)間:2024-09-23
      上海彥祥電子6800原子力顯微鏡
      原子力顯微鏡應(yīng)用:其應(yīng)用范圍十分廣泛,利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等。可測(cè)樣品有:薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè):高校(理工類)實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、工業(yè)檢測(cè)部門。
      更新時(shí)間:2024-09-19
      5500M  日立全自動(dòng)型原子力顯微鏡
      日立5500m全自動(dòng)型原子力顯微鏡afm5500m是操作性和測(cè)量精度大幅提高,配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對(duì)中,測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開發(fā)的高精
      更新時(shí)間:2024-09-04
      5300E  日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡
       環(huán)境多功能原子力顯微鏡afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡,它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。afm5300e還具有高低溫控制功能,可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品
      更新時(shí)間:2024-09-04
      AFM100 Plus/AFM100  多功能掃描探針顯微鏡系統(tǒng)
      多功能掃描探針顯微鏡afm100 plus/afm100系統(tǒng)afm100 plus/afm100系統(tǒng)是以在研發(fā)、生產(chǎn)、教育等各種場(chǎng)合普及afm應(yīng)用為目的,并追求操作性、性及率觀察的通用型高分辨掃描探針
      更新時(shí)間:2024-09-04
      日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡
      日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡通過采用『綜合型holder flange開合功能』,樣品和掃描器更換更為方便的同時(shí),免去了以往環(huán)境型spm的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整。 也省去測(cè)試模式切換時(shí)的支架更換環(huán)節(jié)。3. 卓越的高性能采用了『swing cancel功能』,減輕了樣品的浮動(dòng),降低了漂移。提高了納米分析性能,提升了可信度。 漂移量:0.015nm/
      更新時(shí)間:2024-09-04
      日立全自動(dòng)型原子力顯微鏡
      afm5500m是操作性和測(cè)量精度大幅提高,配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對(duì)中,測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測(cè)量精度大幅提高。并且,通過sem-afm共享坐標(biāo)樣品臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
      更新時(shí)間:2024-09-04
      原子力顯微鏡
      bruker原子力顯微鏡-dimension fastscan
      更新時(shí)間:2024-08-26
      原子力顯微鏡
      bruker原子力顯微鏡dimension edge
      更新時(shí)間:2024-08-26
      原子力顯微鏡
      bruker原子力顯微鏡dimension
      更新時(shí)間:2024-08-26
      原子力顯微鏡
      bruker原子力顯微鏡-dimension icon
      更新時(shí)間:2024-08-26
      Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Edge
      dimension edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術(shù),達(dá)到了同類產(chǎn)品的zui高水平,為納米尺度的科學(xué)研究提供了高效率、高性價(jià)比的強(qiáng)大工具。
      更新時(shí)間:2024-08-26
      Bruker原子力顯微鏡-- Dimension FastScan
      dimension fastscantm 原子力顯微鏡(atomic force microscope,afm),在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,zui大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了afm成像速度慢的難題,大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)的時(shí)間,是世界上掃描速度zui快的原子力顯微鏡。
      更新時(shí)間:2024-08-26
      Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon
      dimension icon 系列作為布魯克公司(bruker axs)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品,凝聚了多項(xiàng)行業(yè)ling先的zhuan li技術(shù),是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。
      更新時(shí)間:2024-08-26
      輕敲模式常用探針TESPA-V2
      一包10根高質(zhì)量硅蝕刻探針,用于tappingmode™和其他非接觸模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探針的改進(jìn)版本。 布魯克的新系列tesp高品質(zhì)優(yōu)質(zhì)蝕刻硅探針為tappingmode™和空氣中的非接觸模式設(shè)定了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
      更新時(shí)間:2024-07-17
      布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針輕敲模式OLTESPA-R3
      更易定位,更適合如按樣品。此型號(hào)為布魯克貼標(biāo)產(chǎn)品,同型號(hào)奧林巴斯omcl-ac240ts-r3 探針。懸臂共振頻率:70(50~90) khz(空氣中),彈性系數(shù):2 n/m。針尖曲率半徑:7nm(典型值)al涂層。
      更新時(shí)間:2024-07-17
      布魯克Bruker(原veeco)性能AFm—Icon
      dimension icon是dimension系列產(chǎn)品中的新款設(shè)備,它基于上應(yīng)用廣泛的afm平臺(tái),集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)先的應(yīng)用定制及客戶反饋等于一身。這個(gè)系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設(shè)計(jì),在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
      更新時(shí)間:2024-07-17
      布魯克Bruker(原veeco)最高端AFm—Fastscan
      dimension fastscantm原子力顯微鏡(atomic force microscope,afm),在不損失dimension  icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了afm成像速度慢的難題,大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。
      更新時(shí)間:2024-07-17
      布魯克Bruker(原veeco)高分辨率SPM-MultiMode8
      multimode8-高分辨率spm,納米材料、高分子材料得力的科研助手1. 上高的分辨率2. 出眾的掃描能力3. 優(yōu)異的可操作性4. 非凡的靈活性與功能性5. 無(wú)限的應(yīng)用擴(kuò)展性
      更新時(shí)間:2024-07-17
      布魯克Bruker(原veeco)生物AFm—Resolve
      布魯克公司的bioscope resolve™生物原子力顯微鏡與倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)了高分辨的原子力顯微鏡成像和完整的細(xì)胞力學(xué)性質(zhì)測(cè)量。
      更新時(shí)間:2024-07-17

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