掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2024-11-21
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2024-11-21
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2024-11-21
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時間:2024-11-21
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2024-11-21
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2024-11-21
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2024-11-21
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時間:2024-11-21
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2024-11-21
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2024-11-21
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2024-11-21
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2024-11-21
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2024-11-19
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2024-11-19
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2024-11-19
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2024-11-19
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2024-11-19
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn)： 1. 新型
更新時間:2024-11-19
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動化功能，操作更簡易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2024-11-19
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺可以傾
更新時間:2024-11-19
本儀器具有較高的測量精度，適用于長度和角度的精密測量；同時由于配備有多種附件，使其使用范圍得到充分的擴(kuò)大。應(yīng)用計算機(jī)輔助測量，能解決各種復(fù)雜的二維測量問題，主要的測量對象有：刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時間:2024-11-14
臺`chung ta`宗大機(jī)器廠` paper cutting machine裁切機(jī) 、裁紙機(jī)smc136配件micro computer high-speed paper-cutting-machine裁切刀 總長1117.6mm
更新時間:2024-11-14
產(chǎn)品說明： kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計算機(jī)系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進(jìn)行了改進(jìn)。主要特點(diǎn)是穩(wěn)定可靠、結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便、維護(hù)簡單，是一款性價比較高的經(jīng)濟(jì)型電鏡。
更新時間:2024-11-08
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數(shù) n/a 物鏡放大倍數(shù) n/a 儀器放大倍數(shù) 1.5-300000x 加工定制 否
更新時間:2024-11-08
產(chǎn)品說明： kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學(xué)院在幾十年的掃描電鏡研究和生產(chǎn)基礎(chǔ)上，引用現(xiàn)代最新計算機(jī)及數(shù)字圖像技術(shù)， 開發(fā)出的高性能產(chǎn)品。該產(chǎn)品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外，新增加了各種計算機(jī)自動控制及調(diào)節(jié)功能，尤其是采用了專用圖像處理器進(jìn)行圖像分析處理，使掃描電鏡與圖像分析得到完美結(jié)合。在window
更新時間:2024-11-08
cv1000采用了雙nipkow轉(zhuǎn)盤共聚焦掃描器，它可以將活細(xì)胞成像實驗中的光毒性和光漂白性降到低。在整個實驗期間，該系統(tǒng)的培養(yǎng)平臺可以保持實驗樣本（如柔弱的胚胎、ips/es細(xì)胞以及其它類型的細(xì)胞）的活性和溫度的恒定。
更新時間:2024-11-08
phenom(飛納) g2 pure（飛納臺式掃描電鏡 標(biāo)準(zhǔn)版） 款性能和價格介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟(jì)型臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米尺寸的樣品。phenom g2 pure 適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時間:2024-11-08
phenom prox （飛納臺式掃描電鏡 能譜版）是phenom第三代產(chǎn)品，結(jié)合了表面成像功能和元素分析能譜eds功能，能譜儀 eds的可以準(zhǔn)確的進(jìn)行樣品表面元素的定性和定量分析。
更新時間:2024-11-08
nanoanalysis系統(tǒng)由evex mini-sem，mini-sem，qdd先進(jìn)的探測器技術(shù)和nanoanalysis軟件組成。mini-sem是具有高清度，高放大率，高性能的臺式掃描電子顯微鏡。mini-sem結(jié)合了傳統(tǒng)sem的性能，但在大小，price和易操作方面超越了臺式顯微鏡。
更新時間:2024-11-08
可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，提供5軸共心樣品臺（電動或手動）的臺式sem，中心傾斜對于3d重構(gòu)功能至關(guān)重要。高分辨率，與傳統(tǒng)sem一樣優(yōu)異；高空間利用率和便攜性，易于移動，可安裝在任何地方；無需等待：抽氣90/排氣10；高度可靠的高壓組件；無需對準(zhǔn)電子槍。
更新時間:2024-11-06
最新產(chǎn)品
- 上海外墻維修 高空作業(yè) 曲臂車登高 2024/11/22 20:17:47
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- 上海希而科——beck品牌984,985系列壓力變送器，打造高效工業(yè)自動化解決方案 2024/11/22 19:15:10
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- 磨床磨削中心架巴氏合金拖瓦 2024/11/22 18:15:32
- ALMEMO® 2690-8A多功能數(shù)據(jù)采集器原裝進(jìn)口 2024/11/22 18:06:03
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- 優(yōu)勢供應(yīng)#歐洲原廠進(jìn)口#FEIN備件62908014000 2024/11/22 17:57:50
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- 德國安福EFFEFF陰極鎖76-14 美標(biāo)門禁電鎖 2024/11/22 17:50:28
- 安福EFFEFF陰極鎖76-14 美標(biāo)電鎖口 木門鎖 2024/11/22 17:44:03
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- 科技6FC5851-1XG46-1YA0西門子SIEMENS軟件 2024/11/22 17:28:35
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