晶振測試儀/晶體阻抗計(jì)gds-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測量。它測量精度高,速度快;具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、ppm值、靜電容等參數(shù)測量,可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù),負(fù)載電容在2-20p范圍內(nèi)任意編程設(shè)置,從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試,智能運(yùn)算克服了市場上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩,讓晶振測試變得更輕松。
更新時(shí)間:2024-11-04