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    • 測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家

      X光鍍層儀器
      x光鍍層儀器鍍層儀器:thick800a測(cè)定步驟:步:新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步:確定測(cè)試時(shí)間:40s
      更新時(shí)間:2024-11-25
      X熒光測(cè)厚儀電鍍鍍層測(cè)厚儀xray
      二手gcms氣相液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀gc-ms 6800用于**物的,具有檢出限低,定性能力強(qiáng),定量結(jié)果準(zhǔn)確等特點(diǎn),可有效地應(yīng)用于rohs 2.0中**化合物的檢測(cè)。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      X射線金屬電鍍層測(cè)厚儀
      x射線金屬電鍍層測(cè)厚儀主要特點(diǎn):1.測(cè)量數(shù)據(jù)數(shù)字化存儲(chǔ)、圖形顯示,準(zhǔn)確、直觀,測(cè)量精度高。2.*過(guò)三十八種以上的可測(cè)量鍍層,以及所有導(dǎo)電性鍍層。絲狀線材和其它異形底材鍍層;3.實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示電位變化曲線、可識(shí)別和測(cè)量合金層或其它中間層;
      更新時(shí)間:2024-11-25
      xray鍍金層測(cè)厚儀
      xray鍍金層測(cè)厚儀主要特點(diǎn):1.測(cè)量數(shù)據(jù)數(shù)字化存儲(chǔ)、圖形顯示,準(zhǔn)確、直觀,測(cè)量精度高。2.*過(guò)三十八種以上的可測(cè)量鍍層,以及所有導(dǎo)電性鍍層。絲狀線材和其它異形底材鍍層;3.實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示電位變化曲線、可識(shí)別和測(cè)量合金層或其它中間層;
      更新時(shí)間:2024-11-25
      xray鍍層測(cè)厚儀器
      xray鍍層測(cè)厚儀器利用x射線穿透被測(cè)材料時(shí),x射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。針對(duì)檢測(cè)樣本的不同種類,可在下列3種型中進(jìn)行選擇。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      XRF鍍層分析儀
      xrf鍍層分析儀 應(yīng)用域電鍍行業(yè) 五金衛(wèi)浴 電子電器磁性材料 **新能源 汽車制造貴金屬鍍飾......
      更新時(shí)間:2024-11-25
      銅上鍍錫測(cè)厚儀
      銅上鍍錫測(cè)厚儀應(yīng)用域電鍍行業(yè)五金衛(wèi)浴電子電器磁性材料**新能源汽車制造貴金屬鍍飾......
      更新時(shí)間:2024-11-25
      測(cè)鍍銀厚度儀器
      軟件界面測(cè)鍍銀厚度儀器人性化的軟件界面,讓操作變得*加便捷。 曲線的中文備注,讓您的操作*易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,讓您的使用*加放心。電鍍光譜表面處理鍍層測(cè)厚儀*高硬件配置
      更新時(shí)間:2024-11-25
      自動(dòng)化鍍層厚度測(cè)試儀
      自動(dòng)化鍍層厚度測(cè)試儀人性化的軟件界面,讓操作變得*加便捷。 曲線的中文備注,讓您的操作*易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,讓您的使用*加放心。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍銀厚度測(cè)試儀
      鍍銀厚度測(cè)試儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù),門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)*加優(yōu)異,*能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      無(wú)損電鍍層測(cè)厚儀器
      無(wú)損電鍍層測(cè)厚儀器上照式設(shè)計(jì),可適應(yīng)更多異型微小樣品的測(cè)試。全新的光路,*短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號(hào)采集效率提升2倍以上。可變焦高精攝像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時(shí)也兼顧了臺(tái)階,深槽,沉孔樣品的測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      x射線熒光電鍍層厚度測(cè)試儀
      x射線熒光電鍍層厚度測(cè)試儀采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器,高達(dá)140ev分辨率,能**地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢(shì)**。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      能源電池鍍鎳厚度測(cè)試儀
      能源電池鍍鎳厚度測(cè)試儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)上照式設(shè)計(jì),可適應(yīng)更多異型微小樣品的測(cè)試。全新的光路,*短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號(hào)采集效率提升2倍以上。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      xrf熒光測(cè)厚儀
      edx 2000axrf熒光測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù),門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)較加優(yōu)異,較能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      PCB鍍層厚度測(cè)試儀
      pcb鍍層厚度測(cè)試儀采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢(shì)巨大。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鋁鍍硅膜厚檢測(cè)儀
      鋁鍍硅膜厚檢測(cè)儀采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢(shì)巨大。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      陶瓷鍍鉬錳測(cè)厚儀
      edx 2000a陶瓷鍍鉬錳測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù),門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備
      更新時(shí)間:2024-11-25
      金層測(cè)厚儀
      金層測(cè)厚儀進(jìn)口的高功率大高壓?jiǎn)卧钆溥M(jìn)口大功率x光管,能很好的**信號(hào)輸出與激發(fā)的穩(wěn)定性,同時(shí),故障率也*大的降低。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      國(guó)產(chǎn)X射線膜厚儀
      國(guó)產(chǎn)x射線膜厚儀進(jìn)口的高功率大高壓?jiǎn)卧钆溥M(jìn)口大功率x光管,能很好的**信號(hào)輸出與激發(fā)的穩(wěn)定性,同時(shí),故障率也*大的降低。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      達(dá)克羅表面處理測(cè)厚儀
      達(dá)克羅表面處理測(cè)厚儀可變焦高精攝像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時(shí)也兼顧了臺(tái)階,深槽,沉孔樣品的測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鋅鋁合金鍍層測(cè)厚儀
      達(dá)克羅表面處理測(cè)厚儀可變焦高精攝像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時(shí)也兼顧了臺(tái)階,深槽,沉孔樣品的測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      電泳漆行業(yè)鍍層測(cè)厚儀
      電泳漆行業(yè)鍍層測(cè)厚儀可編程多點(diǎn)測(cè)試,能自動(dòng)完成對(duì)多個(gè)樣品多個(gè)點(diǎn)的測(cè)試,大大提高測(cè)樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對(duì)系統(tǒng),讓您永遠(yuǎn)不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔(dān)心。*高硬件配置
      更新時(shí)間:2024-11-25
      電鍍光譜測(cè)厚儀器
      電鍍光譜測(cè)厚儀器edx2000a全新的光路,短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號(hào)采集效率提升2倍以上。可變焦高精攝像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時(shí)也兼顧了臺(tái)階,深槽,沉孔樣品的測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      半導(dǎo)體X-RAY膜厚測(cè)試儀
      半導(dǎo)體x-ray膜厚測(cè)試儀軟件界面人性化的軟件界面,讓操作變得較加便捷。 曲線的中文備注,讓您的操作較易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,讓您的使用較加放心。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      PCB線路板電鍍鍍層膜厚檢測(cè)儀
      pcb線路板電鍍鍍層膜厚檢測(cè)儀高硬件配置采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢(shì)巨大。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      PCB電鍍厚度檢測(cè)儀
      pcb電鍍厚度檢測(cè)儀采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢(shì)巨大。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      化學(xué)鍍金厚度膜厚儀
      edx 2000a化學(xué)鍍金厚度膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù),門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)較加優(yōu)異,較能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      表面鍍層檢測(cè)儀
      edx 2000a表面鍍層檢測(cè)儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù),門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)較加優(yōu)異,較能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      電鍍鍍層厚度檢測(cè)儀
      電鍍鍍層厚度檢測(cè)儀采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢(shì)巨大。上照式設(shè)計(jì),可適應(yīng)更多異型微小樣品的測(cè)試。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍錫層測(cè)厚儀
      鍍錫層測(cè)厚儀自帶數(shù)據(jù)校對(duì)系統(tǒng),讓您永遠(yuǎn)不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔(dān)心。**高硬件配置采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢(shì)巨大。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      銅鍍錫檢測(cè)儀
      銅鍍錫檢測(cè)儀應(yīng)用域電鍍行業(yè)五金衛(wèi)浴電子電器磁性材料**新能源汽車制造
      更新時(shí)間:2024-11-25
      線路板鍍金測(cè)厚儀
      線路板鍍金測(cè)厚儀每次開(kāi)機(jī)后,儀器都必須先預(yù)熱30分鐘,然后進(jìn)行初始化,方可進(jìn)行正常的檢測(cè)工作。測(cè)量不同類型的樣品時(shí),需從程序欄中選擇其對(duì)應(yīng)的選項(xiàng),才能保證的測(cè)量效果。為使儀器能長(zhǎng)期保持工作正常,需定期對(duì)儀器的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,并進(jìn)行調(diào)整。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍層膜厚儀
      edx 600 plus鍍層膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)?蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空**、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      塑料鍍銅鍍鎳測(cè)厚儀
      塑料鍍銅鍍鎳測(cè)厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須,大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      PCB鍍金測(cè)試儀
      edx 600 pluspcb鍍金測(cè)試儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)?蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空**、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍銀厚度無(wú)損測(cè)試儀
      鍍銀厚度無(wú)損測(cè)試儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí),動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí),要注意樣品的潔凈,不可使塵粒掉入其中,否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口,造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞;同時(shí),還要注意輕拿輕放(使用鑷子等器具取放樣品),以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。樣品蓋需要經(jīng)常用酒精棉球清潔。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍金檢測(cè)儀
      鍍金檢測(cè)儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須,大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試。搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍鋅量測(cè)厚儀
      鍍銀厚度無(wú)損測(cè)試儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí),動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí),要注意樣品的潔凈,不可使塵粒掉入其中,否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口,造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞;同時(shí),還要注意輕拿輕放(使用鑷子等器具取放樣品),以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。樣品蓋需要經(jīng)常用酒精棉球清潔。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      錫鉛鍍層pcb測(cè)厚儀
      錫鉛鍍層pcb測(cè)厚儀edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      金屬鍍層測(cè)厚儀器
      錫鉛鍍層pcb測(cè)厚儀edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍鎳測(cè)厚儀
      錫鉛鍍層pcb測(cè)厚儀edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍金測(cè)量?jī)x
      鍍金測(cè)量?jī)x搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍錫厚度測(cè)試儀
      鍍錫厚度測(cè)試儀硬件配置采用高分辨率的sdd探測(cè)器,分辨率高達(dá)140ev進(jìn)口的大功率高壓,讓ag,sn等鍍層的測(cè)量能較加穩(wěn)定。配備微聚焦的x光管,猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性較上層樓。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      螺絲鍍鋅測(cè)厚儀
      螺絲鍍鋅測(cè)厚儀每次開(kāi)機(jī)后,儀器都必須先預(yù)熱30分鐘,然后進(jìn)行初始化,方可進(jìn)行正常的檢測(cè)工作。測(cè)量不同類型的樣品時(shí),需從程序欄中選擇其對(duì)應(yīng)的選項(xiàng),才能保證的測(cè)量效果。為使儀器能長(zhǎng)期保持工作正常,需定期對(duì)儀器的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,并進(jìn)行調(diào)整。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      化學(xué)鍍鎳膜厚儀
      全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試;瘜W(xué)鍍鎳膜厚儀搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鐵鍍銅鍍金測(cè)厚儀
      全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試。鐵鍍銅鍍金測(cè)厚儀搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鐵鍍銅鍍金測(cè)厚儀器
      全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試。鐵鍍銅鍍金測(cè)厚儀搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      光譜鍍金厚度檢測(cè)儀
      光譜鍍金厚度檢測(cè)儀全新的光路,較短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號(hào)采集效率提升2倍以上。可變焦高精攝像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時(shí)也兼顧了臺(tái)階,深槽,沉孔樣品的測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      鍍銀鍍金鍍鈦膜厚儀
      鍍銀鍍金鍍鈦膜厚儀全新的光路,較短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號(hào)采集效率提升2倍以上?勺兘垢呔珨z像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時(shí)也兼顧了臺(tái)階,深槽,沉孔樣品的測(cè)試需求。
      更新時(shí)間:2024-11-25
      Pcb線路板鍍層檢測(cè)儀
      pcb線路板鍍層檢測(cè)儀應(yīng)用域電鍍行業(yè)五金衛(wèi)浴電子電器磁性材料
      更新時(shí)間:2024-11-25

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