能量色散X射線熒光光譜儀-SPECTRO PHOENIX II |
SPECTRO PHOENIX II是德國斯派克分析儀器公司推出的臺式能量色散X射線熒光光譜儀,儀器結構緊湊,操作簡便、經濟實用,適合對固體、液體、糊狀、漿狀或粉末狀樣品的元素成分進行定量和定性分析,測量范圍從Mg - U。 | 它廣泛應用于生產過程、質量控制現場以及實驗室。內置式PC采用Windows操作系統和簡便的交互式觸屏顯示,即使是未經過專門培訓的人員還是經驗豐富的操作者均可方便地使用。 |
型號:RL130620Innov-X便攜式合金分析儀 | 型號:RL130627ROHS檢測儀器光譜分析儀 | 型號:RL130630X熒光光譜儀NAU1000 |
主要技術參數
型號 | ES730 | ES760 | ES790 |
測試范圍 | RoHS | RoHS/EN71 | RoHS/EN71/鹵素(CL) |
探測范圍 | Na(11)~U(92)之廣泛范圍內的元素含量分析 | ||
檢出下限 | 一般元素檢出下限為2.0ppm,合金成份5ppm | ||
X射線管 | Ti或Rh或W陽極靶,140micro Be窗,風冷 | ||
X-Ray發(fā)生器 | 管壓4~50KV(調整間距:0.1KV,管流0~100μA,調整間距:0.2μA),5W | ||
穩(wěn)定性 | 8小時變化量小于0.1% | ||
探測器 | Si-PIN,電子扇冷卻 | ||
解析度 | 140eV—175eV | ||
準直器 | 2,3,5mm | ||
探測窗 | Be,12μm | ||
系統尺寸 | 標準型:43cm X 34cm X 20cm 加大型:50cm X 50cm X 38cm | ||
系統電源 | 110VAC/60HZ 或 220VAC/50HZ | ||
系統功率 | 50W | ||
模數轉換 | 4096通道,連續(xù)逼近,滑行刻度 | ||
獲取時間 | 10—240秒 | ||
選擇配置 | 8微型樣品腔自動切換功能,樣品定位相機 | ||
操作軟體 | ElvaX控制套裝軟體,運行于Windows 98,2000,XP or NT(中/英文) | ||
控制專案 | X---ray 輸出,測試參數設定,樣品及濾光片選擇 | ||
光譜處理 | 自動頂點搜索,頂點消除,背景消除,自動元素識別 | ||
定量分析運演算法則 | 基本參數,二次方程式衰減,手動光譜對比 |
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/9304.htmlx熒光光譜儀來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-130627-pid-9304.htmlROHS檢測儀器光譜分析儀型號:RL130630X熒光光譜儀NAU1000
技術特點
1.配置專利技術“樣品免拆分”檢測模式:采用專利技術的光路結構,小照射光斑直徑可達到1mm,輔以的光斑定位系統,從而可以實現對復雜樣品進行免拆分直接測量的要求
2.配置符合中國國家標準的樣品混測功能:方形4mmⅩ4mm光斑設計,配合1mm光斑配合使用,能夠對電路板等復雜樣品實現“免拆分”區(qū)域掃描測量功能;從而顯著節(jié)省測量時間,大幅度提高檢測效率
3.配置On-Line實時在線技術支持系統(選配):實時解決用戶在使用過程中的疑難技術問題,同時對用戶操作人員進行培訓
4.配置十二組復合濾光片:NaU1000型配置了12組復合型濾光片,是業(yè)界配置全、數目多的配置之一;12組濾光片的配置,極大的保證了XRF分析儀針對各種復雜樣品檢測的適應性
5.內置標準工作曲線:儀器內置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產品認證要求的基礎材料的工作曲線,方便用戶直接使用;并與國家指定的認證檢測實驗室保持一致
6.具備開放的工作曲線技術平臺:基于開放的工作曲線技術平臺,電子企業(yè)可以建立針對自己工廠特定物料的工作曲線,確保XRF分析儀檢測結果的可靠性和準確性
7.分析軟件操作系統分級管理:儀器系統軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單,便于工廠有序管理;操作員菜單簡單直觀,避免儀器重要參數的誤修改;工程師菜單功能強大,儀器的各種參數設置權限全部開放給用戶
8.采用經典的迷宮式輻射防護結構:采用了經典的迷宮式輻射防護結構,在保持儀器外形美觀操作方便的同時,徹底杜絕低能散射X射線的泄露
9.可選配專利技術“影響權系數法”多層鍍層測厚功能:納優(yōu)科技獨創(chuàng)的“影響權系數法”多層鍍層測厚技術,顯著提高鍍層厚度測量的準確度;可測量鍍層數量為9層;徹底解決了常規(guī)XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術難題
1.外觀設計實用美觀:符合人體工程學的儀器外形設計,操作人員測量過程方便舒適
分析方法及系統軟件
分析方法配置:
1.基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法
2.經驗系數法
3.理論α系數法
軟件功能描述:
4. RoHS指令、無鹵指令等環(huán)保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
5.各種金屬材料、無機非金屬材料(不包括聚合物材料)的材質分析(S~U元素)
6. 聚合物等有機材料中硫(S)~鈾(U)元素的含量分析
7.分析報告的自主定制與輸出打印
8.分析結果的保存、查詢及統計
9.On-Line實時在線技術支持與技術服務功能(選配)
10 多層鍍層厚度測量功能(選配)
主要配置
1.Si-PIN電制冷半導體探測器
2.側窗鉬(Mo)靶管
3.標配12組復合濾光片
4.配置了Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器
5.具備符合中國國家標準的樣品混側功能
6.內置標準工作曲線
7.具備開放工作曲線技術平臺
8.分析軟件操作系統分級管理
產品參數
名稱:X熒光光譜儀
型號:NaU1000
輸入電壓:220±5V/50Hz
消耗功率:≤500W
環(huán)境溫度:15-30℃
環(huán)境濕度:≤80%(不結露)
主機外形(mm):長*寬*高=820*500*425
樣品倉(mm):長*寬*高=430*380*105
主機重量:約55公斤
技術指標
元素種類:元素周期表中硫(S)~鈾(U)之間元素
測量時間:
對聚合物材料,典型測量時間為300秒
對銅基體材料,典型測量時間為600秒
檢出限指標(LOD):
對聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
對銅基體材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
精密度指標,以連續(xù)測量7次的標準偏差σ表征:
對聚合物(塑膠)材料:LOD(Pb)≤15mg/Kg;LOD(Hg)≤15mg/Kg;LOD(TCr)≤15mg/Kg;LO(TBr)≤15mg/Kg;LOD(Cd)≤7mg/Kg
對銅基體材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg
準確度指標,以系統偏差δ進行表征
對聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg
對銅基體材料:δ(Pb)≤150mg/Kg
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/9304.htmlx熒光光譜儀來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-130630-pid-9304.htmlX熒光光譜儀NAU1000溫馨提示:潤聯為您提供產品的詳細產品價格、產品圖片等產品介紹信息,您可以直接聯系廠家獲取產品的具體資料,聯系時請說明是在潤聯看到的,并告知型號ED2000能量色散X射線熒光光譜儀
ED2000采用全數字化電子線路設計,其緊密耦合的X射線光學系統和Pentafet探測器專利技術實現了的計數率、的分辨率和的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時,檢出下限可達0.5ppm。
Pentafet專利技術克服了能量色散技術中,元素分辨能力隨計數率增高而下降的缺點,即使在較高計數情況下,仍可以得到優(yōu)良的元素分辨率。ED2000數字化電路技術提高了信號處理速度,縮短了分析時間。ED2000的最大計數率高于50,000cps;在17,000cps計數率的情況下,分辨率優(yōu)于140eV。請點擊左邊相關標題,下載關于該產品的PDF格式文件。
應用廣泛只需輕輕一按,MiniPal 4 即刻為您執(zhí)行無損定量元素分析,覆蓋從鈉到鈾的元素,包含從 100% 至 ppm 級的濃度范圍。具備此種過人能力,再輔以 XRF 執(zhí)行定性、定量測量,MiniPal 4 無疑是適合塑料和聚合物、石化、采礦、玻璃、循環(huán)回收、食品、藥品和化妝品等諸多行業(yè)的工具。它適合于任何方面 – 過程或質量控制、回收、來料檢驗或鑒定未知樣品 – 并且它還嚴格遵守著 RoHS、WEEE、ELV 及其它相關的行業(yè)標準。
性能MiniPal 4 可以在其分析范圍內提供最且可再現的分析結果,檢出限可低至 ppm級。適合于檢測石油產品中含量很低的硫元素,例如,MiniPal 4 在 300 秒之內便達到約 2 ppm 的低檢出限 (LLD)。
與其它技術相比,XRF 幾乎不要求樣品制備。常規(guī)形狀和大小的樣品幾乎都可以使用光譜儀進行分析。固體、粉末、粉末壓片、液體、油類、粘漿、顆粒、薄膜和鍍層都不需精確稱重和濕式化學方法處理便可直接進行分析。這使樣品制備變得更快、更簡單和更便宜。并且,它有利于保護環(huán)境和人身安全,對實驗室的人員不會造成任何健康影響。配備了可自旋并在 12 個位置移動的進樣條方便了自動化的成批樣品處理,中間無需操作員的介入。測量時,被測樣品的自旋可以盡量避免單個樣品內部質地不均,或者表面不規(guī)則而造成的錯誤影響。
粉末或顆粒樣品 – 可直接用匙舀取到樣品杯中液體或超細粉末 – 可倒入一次性塑料杯中,密封并放入樣品杯固體樣品或粉末壓片 – 可直接放入樣品杯中裝入樣品后,可將樣品杯放在 12 個位置可移動的進樣條上,隨后自動樣品交換器會將樣品裝入儀器,準備分析
技術參數:
SPECTRO iQ II它采用低能量X射線管和開發(fā)的C-Force 偏振光學系統,確保了對樣品中元素的激發(fā)。使用Pd準直器,SPECTRO iQ II具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在僅僅幾百秒的分析時間內,即可測定油中的超低硫含量。因此,開發(fā)出的SPECTRO iQ II具有的分析輕元素的能力。
主要特點:
在許多情況下,SPECTRO iQ II 在測定主要成分的精度及重要痕量元素的靈敏度可以同價格昂貴的波長色散型X熒光光譜儀相媲美。以往只能用波長色散型X熒光光譜儀完成的分析任務,現在通過SPECTRO 獨特的偏振能量色散型儀器即可地完成。
儀器介紹 | [下載樣本] |
德國斯派克分析儀器推出的 SPECTRO MIDEX M 多功能X射線熒光光譜儀 (XRMF)適合于微小樣品及微小區(qū)域的元素分析,分析樣品的形態(tài)可以為 固體或液體,分析過程對樣品沒有損害。儀器的樣品臺采用XYZ三軸步進 馬達驅動,可對大到250*250mm(10*10"樣品的表面進行線性掃描和元素 分布分析。專門設計的樣品室,可適用于超大尺寸的樣品分析,可在三個 不同的方向觀測樣品。樣品臺可以整體拉出,便于調節(jié)樣品位置。 儀器內設有大倍率變焦雙攝像系統,可地確定測量位置。 儀器可以鎖定樣品的某個點或表面某個區(qū)域,然后進行掃描分析。 SPECTRO MIDEX M配有獨特的軟件可評估測量點,并將所選定樣品 區(qū)域內的元素成分以圖表形式顯示出來。
儀器簡介
WDX-400型多道X射線熒光光譜儀可配置10個固定分光道,同時分析10種元素。根據用戶的應用要求可配置為從Na到U 任意十種元素。標準配置為Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti(可選)十種元素,是大中型企業(yè)質量控制的理想選擇。
性能特點
粉體樣品或塊樣品快速,非破損分析?煽焖俜治龇勰〾浩,玻璃熔片和塊狀物料。采用多路數字MCA實時檢測,大大提高元素檢測效率譜峰,不僅便于儀器調試和故障診斷,并可進一步提高儀器的分析精度和穩(wěn)定性。配置充氦裝置后可以分析液體樣品或易揮發(fā)性固體樣品。與順序型大功率儀器相比較有如下優(yōu)點:a、在較小功率和測定時間基本相當的情況下即可達到足夠的分析精度。b、延長X光管使用壽命。c、減少高壓電源故障。d、降低整機維修成本。e、采用固定通道,無測角儀磨損問題。
技術指標
高壓電源:400W(50kv/8mA)。X射線管:Varian公司生產的400W薄鈹窗端窗X射線管,Rh靶(Pd靶可選)。管壓管流12小時穩(wěn)定度:優(yōu)于0.05%。分析元素種類:從Na到U的任意十種元素。:流氣正比+封閉正比,10路1024道獨立脈沖高度分析器。真空系統:獨立泵站結構,易于維護。測量室最高真空度:低于5Pa。流氣系統:高精度流氣密度穩(wěn)定裝置,壓力穩(wěn)定度達到0.003KPa。前主放:高速前主放電路,大大提高儀器的探測效率,提高儀器的測量精度。MCA多道:采用數字MCA多道幅度采集器,大大提高檢測效率。交流220V供電設備:1KVA交流凈化穩(wěn)壓電流。分析精度:n-1(24小時,百分比含量)0.05%。單個樣品測量時間:(含換樣抽真空時間)3~5分鐘。恒溫室溫度控制精度:設定值0.1℃。
應用領域
建材(水泥、玻璃、陶瓷等) 鋼鐵 有色金屬 礦業(yè) 地質 化工 石油 質量檢驗 商品檢驗
ROHS檢測儀X熒光光譜儀庫號:RL130132 | WDX-400型多道X射線熒光光譜儀庫號:RL130129 |
X射線熒光光譜儀XRF庫號:RL130144 | ROHS檢測儀手持式X射線熒光元素分析儀庫號:RL130134 |
X射線熒光光譜儀庫號:RL130141 |
技術參數 元素分析范圍:Na-U 元素含量范圍:ppm-100% 樣品類型:固體、粉末、液體 X射線管:Rh靶(Cr或Mo靶供選擇),低功率,側窗 探測器:SDD(硅漂移,電制冷) 分辨率:<145ev 濾光片:5個 自動進樣器:12位 樣品自旋轉系統 | ||
主要特點 1、具有世界上無需液氮冷卻能量分辨率的探測器—硅漂移探測器(SDD)(分辨率為145ev),分析度高; 2、最大計數率達到90kcps,最大線性計數率達到60kcps。具有非常的檢出限; 3、樣品自旋轉系統,大大提高樣品分析的度; 4、12個樣品自動進樣系統,節(jié)省人力和時間,適合企業(yè)大批量樣品分析; 5、儀器漂移校正由儀器本身帶的Cu/Al標樣每間隔1小時自動校正1次,無需標樣再校正; 6、儀器擁有遠程診斷功能,方便儀器維護,大大縮短維護時間和節(jié)約維護費用。 | ||
帕納科(PANalytical,原飛利浦分析儀器Philips Analytical。)是世界上最大的X-射線熒光光譜儀、X-射線衍射儀設備和軟件的供應商。全球員工近800多人,總部位于荷蘭的Almelo,并分別在中國、日本、美國以及荷蘭設立了設備齊全的應用實驗室。公司在全球及中國開展業(yè)務已超過50年的歷史。這些儀器系統主要用于科學的研究和發(fā)展、環(huán)境保護、工業(yè)過程控制以及半導體材料的物性測量領域。公司已通過了ISO9001和ISO14001認證。 為應對歐盟RoHS & WEEE指令,帕納科公司生產的MiniPal4型能量色散X射線熒光儀,具有世界上無需液氮冷卻能量分辨率的探測器—硅漂移探測器(SDD)(分辨率為145ev),針對RoHS指令;最大計數率達到90kcps,最大線性計數率達到60kcps。具有非常的檢出限;樣品自旋轉系統,大大提高樣品分析的度;12個樣品自動進樣系統,節(jié)省人力和時間,適合企業(yè)大批量RoHS樣品分析;儀器擁有遠程診斷功能,方便儀器維護,大大縮短維護時間和節(jié)約維護費用。 帕納科還為客戶提供RoHS全套解決方案,免費提供各類塑料、金屬及焊錫國際標樣給客戶使用,免費為客戶建立RoHS分析方法,免費現場培訓客戶儀器操作使用方法。 在化妝品檢測方面,可快速分析有毒重金屬元素如Pb、Cd、Hg等。 為應對歐盟EN71-3及美國ASTM963-03玩具安全標準, 荷蘭帕納科公司生產的MiniPal4型能量色散X射線熒光儀,具有世界上無需液氮冷卻能量分辨率的探測器—硅漂移探測器(SDD)(分辨率為145ev),針對RoHS指令;最大計數率達到90kcps,最大線性計數率達到60kcps。具有非常的檢出限;樣品自旋轉系統,大大提高樣品分析的度;可對固體、液體、油漆類樣品直接進行分析,12個樣品自動進樣系統,節(jié)省人力和時間,適合企業(yè)大批量樣品分析;儀器擁有遠程診斷功能,方便儀器維護,大大縮短維護時間和節(jié)約維護費用。 帕納科還為客戶提供玩具檢測全套解決方案,免費提供各類油漆材料國際標樣給客戶使用,免費為客戶建立分析方法,免費現場培訓客戶儀器操作使用方法。 帕納科在國內有超過900個用戶,知名的用戶如寶鋼、海螺、上海大眾、賽科、北大、清華、海關等等。每年在國內儀器的銷售量超過100臺。目前國內知名用戶:上海SGS、香港SGS、天津SGS、深圳ITS、中龍檢驗認證(香港)有限公司、上海施樂復印機有限公司、廈門利勝電光源有限公司、中國計量科學研究院、上海市電子儀表標準計量測試所、廣州廣電計量測試技術有限公司、青島海信集團、美的集團、東莞新能源(ATL)、深圳比亞迪股份有限公司、廣東省出入境檢驗檢疫局、廣東省順德市出入境檢驗檢疫局、廣東省汕頭市出入境檢驗檢疫局、浙江省寧波市出入境檢驗檢疫局、浙江省臺州市出入境檢驗檢疫局、浙江省紹興市出入境檢驗檢疫局、浙江省湖州市出入境檢驗檢疫局、天津海關等等。 |
技術參數:
SPECTRO iQ II它采用低能量X射線管和最新開發(fā)的C-Force 偏振光學系統,確保了對樣品中元素的最佳激發(fā)。使用Pd準直器,SPECTRO iQ II具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在僅僅幾百秒的分析時間內,即可測定油中的超低硫含量。因此,最新開發(fā)出的SPECTRO iQ II具有極佳的分析輕元素的能力。
主要特點:
在許多情況下,SPECTRO iQ II 在測定主要成分的精度及重要痕量元素的靈敏度可以同價格昂貴的波長色散型X熒光光譜儀相媲美。以往只能用波長色散型X熒光光譜儀完成的分析任務,現在通過SPECTRO 獨特的偏振能量色散型儀器即可出色地完成。