1.雙通道輸入可做串級控制,遠程SP設(shè)定,位置比例控制2.取樣周期僅0.05秒,精度±0.1%,5位數(shù)顯示3.多達23種各式熱電偶PT100Ω,PT-1000Ω, PT-100Ω (4線),電流,電壓輸入4.可選用SD卡作各種量測值的記錄5.可做多達6點的輸出(主出力2點,輔助出力4點)6.具時間繼電器功能,可控控制一定時間后開始或停止7.可直接顯示實際值和設(shè)定時間之誤差8.具RS-485,RS-232 TOHO protocal 或 MODBUS通信功能9.可選用優(yōu)先畫面,大量減低操作的不便
可測范圍0.00μΩ(測試電流1A)~1200MΩ
基本精度0.006%,最小分辨率0.01μΩ,最大測量電流1A
RM3545微歐計支持超高精度,多通道,4端子20ch
使用多路轉(zhuǎn)接器單元Z3003(選件)可進行多點測量(4端子20ch)
可綜合判斷的多路轉(zhuǎn)接器功能(僅限RM3545-02)
開路端口電壓20mV以下的低功率電阻測量
高速支持自動化判別,從測量開始到判斷輸出最快2.2ms
WWW.TESTEB.COM格信達科技代理商價格優(yōu)惠交貨快,電話18823303057,QQ:2104028976
日置HIOKI RM3545高精度微歐計規(guī)格參數(shù)電阻測量量程 | 量程10 mΩ (最大顯示12.00000 mΩ, 分辨率 10 nΩ)~ 1000 MΩ (最大顯示1200.0 MΩ, 分辨率 100 kΩ), 12檔切換 [LP ON時] 量程1000 mΩ (最大顯示1200.00 mΩ, 分辨率 10 μΩ)~ 1000 Ω(最大顯示1200.00 Ω, 分辨率 10 mΩ), 4檔切換 hioki rm3545高精度微歐計基本精度: ±0.006 % rdg. ±0.001 % f.s. |
測量電流 | DC 1 A~1 μA以下 [LP ON時] 1 mA~5 μA |
開路端口電壓 | DC 20V (量程10 kΩ~), 最大5.5 V (量程~1000Ω) [LP ON時]最大 DC 20 mV |
溫度測量 | -10.0~99.9 °C, 基本精度: ±0.50 °C (和溫度探頭Z2001的組合精度), -99.9~999.9 °C (模擬輸入) |
測量速度 | FAST (2.2 ms), MED (50 Hz: 21 ms, 60 Hz: 18 ms), SLOW1 (102 ms), SLOW2 (202 ms) |
功能 | 溫度補償, 溫度換算, 截止電壓補償 (OVC), 比較器 (ABS/REF%), BIN, 鎖鍵 (OFF/菜單鎖定/整體鎖定), 選擇位數(shù)顯示功能 (7位/6位/5位), 電源頻率設(shè)置 (AUTO/50Hz/60Hz), 縮放, 判斷音設(shè)置, 自動保持, 平均值, 統(tǒng)計運算, 面板保存/讀取, D/A輸出 |
多路轉(zhuǎn)接器 | [僅限RM3545-02]支持單元:Z3003(最多2個單元) |
通訊接口 | 從GP-IB (僅限RM3545-01數(shù)字微歐計)/ RS-232C/ PRINTER (RS-232C)/ USB 中選擇其一 遠程功能/ 通訊監(jiān)視功能/ 數(shù)據(jù)輸出功能/ 存儲 (50個) |
電源 | AC100~240 V, 50/60 Hz, 額定功率: 40 VA |
體積及重量 | 215W × 80H × 306.5D mm, [RM3545微電阻計, RM3545-01] 2.5 kg, [RM3545-02] 3.2 kg |
附件 | 電源線 ×1 夾型測試線L2101 ×1 溫度探頭Z2001 ×1 EXT I/O用公頭連接器 ×1 使用說明書 ×1 應(yīng)用軟件光盤 ×1 USB連接線 (A - B 型) ×1 備用保險絲 ×1 |
日本日置hioki rm3545說明書:http://www.testeb.com/download/201510/hioki_rm3545.pdf
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
〖關(guān)閉窗口〗 〖打印頁面〗 〖返回首頁〗 |
美國G&G電子天平
T系列 電子天平:
最大秤量 200g-5000g
分辨率 0.1g/0.5g/1g
DT系列
最大秤量 100g-5000g
分辨率 0.1g/0.2g/0.5g/1g/2g
JJ系列
最大秤量 110g-6000g
分辨率 0.01g/0.02g/0.1g
TC系列
最大秤量 3kg-300kg
分辨率 0.1g//1g/5g/10g/20g/50g/
供電 AC220V±10% 3VA
使用溫度 0-40℃
使用濕度 ≤80%R.H
歡迎訪問我司網(wǎng)站:www.lianman.com
www.lianmansy.com高精度智能變送器 | |
|
德國sartorius
德國沙多利斯的各種精密天平性能,廣泛應(yīng)用于工廠企業(yè)和科研院所,我司提供各種型號的沙多利斯天平以及配件等等。
bs系列精密電子天平(0.01g)
技術(shù)參數(shù):
型 號 bs2000s bs4000s讀數(shù)精度mg 10 10稱重范圍g 2010 4010稱盤尺寸mm φ150 φ150 |
主要特點: 擁有賽多利斯產(chǎn)品慣有的高精度、高可*性,價格卻是同類中的 采用smt技術(shù),使得線路部分體積更小,集成度更高 采用賽多利斯專用的高速mci處理器,測量結(jié)果更快、更 采用四級防震,使示值讀數(shù)更穩(wěn)定可* 內(nèi)置rs-232標準接口,符合glp標準 配備多種應(yīng)用程序,滿足實際稱量要求
國產(chǎn)精密電子天平
國產(chǎn)百分之一,千分之一,萬分之一等各種精密電子天平,價格經(jīng)濟,用于教學實驗等各種常規(guī)領(lǐng)域。
瑞士presica電子天平
高精度智能變送器 | |
|
品簡介
KUBO-X1000是款針對于微孔領(lǐng)域的高性能物理吸附分析儀;擁有先進的技術(shù)、卓越的品質(zhì)、更全面的理論模型及優(yōu)良的測試精度,滿足科研、學術(shù)探討等多方面應(yīng)用需求;
■儀器性能優(yōu)勢 :
1. 分析性能優(yōu)越
2. 斷電數(shù)據(jù)保護功能 3. 主機嵌入超強穩(wěn)定的windowsCE觸控系統(tǒng),擁有雙控制系統(tǒng) 4. 的壓力測試B-ST技術(shù)
5. 領(lǐng)先的氣路結(jié)構(gòu)設(shè)計,實現(xiàn)了物理吸附分析技術(shù)的完美超越
6. 配置先進的分子泵組為微孔測試提供硬件保障
■技術(shù)參數(shù)
1、分析方法:真空靜態(tài)容量法
2、測試數(shù)據(jù):比表面積下限優(yōu)于0.0005M2/g至無已知上線
微孔分析 0.35-2nm
介孔分析2-50nm
大孔分析50-500nm
3、分析精度:重復性誤差小于±1%
4、分析站數(shù)量:1個樣品分析站、1個飽和蒸汽壓測試站
5、杜瓦瓶體積:配置3.5L超大容量杜瓦瓶,72小時無人員介入
6、樣品管體積:10ml
7、吸附氣體:氮氣 、氫氣、氪氣、氧化碳、二氧化碳、甲烷等
8、分析溫度:適用于多種冷卻介質(zhì)
9、樣品前處理:獨立8站式樣品制備站(脫氣站),擁有獨立控溫系統(tǒng)及真空系統(tǒng),溫度上限600℃,配置德原廠機械泵,處理器由計算機控制
硬件系統(tǒng)控制:
1. 壓力檢測系統(tǒng):進口多壓力傳感器進行分段測量,以保證P/P0下限測試精度,為微孔的精確分析提供保障,壓力測試范圍為0-1Torr、0-10Torr、0-1000Torr,并配置獨立壓力傳感器對飽和蒸汽壓(P0)進行實時探測。
2. 壓力檢測精度:讀數(shù)精度的0.15%
3. 氣路控制系統(tǒng):應(yīng)用真空抽氣動態(tài)調(diào)速技術(shù)(I-PID)及鎖閉式高真空模塊
4. 分壓范圍:P/P0 3×10-8-0.995(渦輪分子泵組及雙極旋片機械泵)
5. 真空系統(tǒng): 極限真空為1×10-6Pa(渦輪分子泵組)
6. 儀器控制系統(tǒng):雙控制系統(tǒng),主機嵌入windows CE 觸控系統(tǒng),可與計算機系統(tǒng)共同控制儀器運行,并實時顯示儀器運行狀態(tài),在無計算機情況下也可獨立運行
7. 液位控制系統(tǒng):自動用于不同溫度的冷卻劑,以保證整個分析過程冷卻劑液面位置相對于被測樣品始終不變,并引入溫差校準補償技術(shù) 8. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng):高精度24位模數(shù)轉(zhuǎn)換系統(tǒng),擁有儀器意外斷電數(shù)據(jù)存儲功能 9. 樣品篩選功能:可在測試進行中導出數(shù)據(jù)
10. 雙分析模式:用戶可選擇兩種分析技術(shù),可進行免用氦氣方式以降低分析成本,也可使用經(jīng)典的氦氣定量技術(shù)以保證分析精度
數(shù)據(jù)處理:BET比表面積/吸附及脫附等溫線/BJH孔體積分析/孔面積分析/總孔容積/總孔面積/t-plot圖法/MP法微孔分析/HK微孔孔徑分布/FS微孔孔徑分布/DR/Langmuir法比表面積分析