XLE-1型 大平臺金相檢測顯微鏡
物鏡 | 數(shù)值孔徑 | 有效工作距離(mm) | 介質 |
4× | 0.10 | 17.912 | 干 |
10× | 0.25 | 6.544 | 干 |
20× | 0.40 | 1.05 | 干 |
40× | 0.65 | 0.736 | 干 |
XLE-2型 大平臺金相檢測顯微鏡
物鏡 | 數(shù)值孔徑 | 有效工作距離(mm) | 介質 |
4× | 0.10 | 17.912 | 干 |
10× | 0.25 | 6.544 | 干 |
20× | 0.40 | 1.05 | 干 |
40× | 0.65 | 0.736 | 干 |
XLE-1型 大平臺金相檢測顯微鏡
物鏡 | 數(shù)值孔徑 | 有效工作距離(mm) | 介質 |
4× | 0.10 | 17.912 | 干 |
10× | 0.25 | 6.544 | 干 |
20× | 0.40 | 1.05 | 干 |
40× | 0.65 | 0.736 | 干 |
XLE-1型 大平臺金相檢測顯微鏡
物鏡 | 數(shù)值孔徑 | 有效工作距離(mm) | 介質 |
4× | 0.10 | 17.912 | 干 |
10× | 0.25 | 6.544 | 干 |
20× | 0.40 | 1.05 | 干 |
40× | 0.65 | 0.736 | 干 |
XDL45檢測顯微鏡,采用無限遠光學系統(tǒng),配備了長工作距離的平場復消色差Plan Apo物鏡和LED同軸照明,130萬、320萬、500萬像素CMOS攝像頭(信號輸出接口USB2.0,顯微圖像測量軟件)并可以接配各種數(shù)碼相機。
XDL45檢測顯微鏡的技術參數(shù):
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2X | | |
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XLE-2型 大平臺金相檢測顯微鏡
物鏡 | 數(shù)值孔徑 | 有效工作距離(mm) | 介質 |
4× | 0.10 | 17.912 | 干 |
10× | 0.25 | 6.544 | 干 |
20× | 0.40 | 1.05 | 干 |
40× | 0.65 | 0.736 | 干 |
N-403J倒置金相顯微鏡
本儀器可廣泛用于機械工業(yè)的金相組織觀察分析,地礦部門對礦物的分析研究,電子等方面的觀察測量,是工廠、高等院校、科研機構及電子工業(yè)的首先。穩(wěn)定、高品質的光學系統(tǒng)使成像更清晰,襯度更好,簡潔而新穎的外觀更符合現(xiàn)代潮流,人性化的設計,簡便的操作使您從繁重的工作壓力中解放出來。
IDL-100金相檢測顯微鏡
IDL-100金相檢測顯微鏡適用于對微細物體、IT晶園的顯微觀察。本儀器配置有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場消色差物鏡、大視野目鏡。圖象清晰,襯度好。配置偏光裝置,適用于礦物、金屬、精密工程學及IT、晶園等各微電子行業(yè)
技術參數(shù):
● 功能:明場,偏光,攝影
● 目 鏡 10×—視場直徑(18mm),12.5×—視場直徑(14mm)
● 物 鏡4×/0.10 W.D. 17.912
10×/0.25 W.D. 6.544
40×/0.65 W.D. 0.736
● 總放大倍數(shù) 40×---500×
● 載物臺面積 400mmX300mm,縱向移動范圍254mm,橫向移動范圍254mm
● 調焦機構:同軸粗微調機構,調焦范圍36mm,格值0.002mm
● 光 源:內藏式連續(xù)調光電源,鎢鹵素燈12V/50W。
● 四孔式物鏡轉換器
● 三目鏡筒
● 體 積:長560mm,寬530mm,高400mm
VME-2型 大平臺金相檢測顯微鏡
用途:
大平臺金相檢測顯微鏡是為IT行業(yè)大面積晶園質量檢測需求而設計制造的,同時也適用于材料、機械、冶金等領域的科研和檢驗。
技術參數(shù):
機械筒長 160mm
物鏡 | 數(shù)值孔徑 | 工作距離(mm) | 介質 |
4× | 0.10 | 17.912 | 干 |
10× | 0.25 | 6.544 | 干 |
20× | 0.40 | 1.05 | 干 |
40× | 0.65 | 0.736 | 干 |
目鏡 10×12.5×, 視場直徑(mm) 18mm
放大倍數(shù) 40×------500×
載物臺面積 350mmX255mm
縱向移動范圍---200mm
橫向移動范圍---200mm
粗微動調焦范圍 25mm,微調轉動一圈樣品升降0.2mm,格值0.002mm
光源: 鎢鹵素燈6V20W。內藏式連續(xù)調光電源
物鏡轉換器: 四孔式 (三孔式)
目鏡筒: 三目鏡 (雙目鏡)