ZM2355LCR測(cè)試儀
XJ2811C/XJ2812C型LCR數(shù)字電橋
TH2821 VC6243 ELC-131D 等多種類型手持LCR測(cè)試
HP4286A電橋LCR表
RF LCR表 HP 4286A Agilent 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。 生產(chǎn)率高，質(zhì)量 4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非常快。此外，在小測(cè)試電流(100μA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程非常短。 系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單 測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。 便于使用 8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過(guò)程更為方便且無(wú)差錯(cuò)。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)分析功能可以提供監(jiān)視測(cè)試質(zhì)量和效率的過(guò)程？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測(cè)試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無(wú)需制作專用夾具。 技術(shù)指標(biāo) 的技術(shù)指標(biāo)參見數(shù)據(jù)資料表 測(cè)量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時(shí)顯示4種測(cè)量參數(shù)）。 測(cè)試頻率：1MHz～3GHz 頻率分辨力：100KHz 測(cè)試信號(hào)： V:4.47mV～502mV(f≤1GHz); 4.47mV～447mV(f>1GHz) I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz) 電平監(jiān)視功能：電壓，電流 基本的Z精度：±1.0% 測(cè)量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%) 測(cè)量時(shí)間：每點(diǎn)9ms（速） Rdc測(cè)量：可用于觸點(diǎn)檢查 校準(zhǔn)：開路/短路/負(fù)載/低損耗電容量 補(bǔ)償：開路/短路,電長(zhǎng)度 大容量存儲(chǔ)功能：30MB固態(tài)大容量存儲(chǔ)或2 GB硬盤（選擇選件） 接口：GPIB,LAN(10Base-T/100Base-Tx自動(dòng)選擇)，處理器接口 顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器 一般指標(biāo) 電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax， 工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對(duì)濕度20%～80% 尺寸：234mm高×425mm寬×445mm深（主機(jī)） 重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機(jī)/測(cè)試頭） 主要技術(shù)資料 4287A射頻LCR測(cè)試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E 4287A技術(shù)指標(biāo)：p/n 5968-5758E LCR測(cè)試儀，阻抗分析儀和測(cè)試夾具選購(gòu)指南，p/n 5952-1430E 選件 選件001刪去16195B校準(zhǔn)工具箱 選件002刪去測(cè)試夾具座 選件003刪去3.5mm～7mm適配器 選件004增加工作標(biāo)準(zhǔn)套件 選件010硬盤驅(qū)動(dòng)大容量存儲(chǔ)器 選件011 固態(tài)大容量存儲(chǔ)器 選件020 增加電纜延伸套件 可提供的附件 16190B性能測(cè)試配件 16195B 7mm校準(zhǔn)工具箱 16191A側(cè)面電極SMD夾具 16192A平行電極SMD夾具 16193A小側(cè)面電極SMD夾具 16194A高溫測(cè)試夾具 16196A用于1608(mm)的平行電極SMD夾具 16196B用于1005(mm)的平行電極SMD夾具 16196C用于0603(mm)的平行電極SMD夾具 19197A底面電極SMD夾具
CS7600全數(shù)字精密寬頻LCR電橋
產(chǎn)地:國(guó)產(chǎn) 廠商:南京長(zhǎng)盛
測(cè)試附件 | |
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該元件參數(shù)分析儀是我公司自主研發(fā),具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)及技術(shù)核心,多項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)已申報(bào)國(guó)家發(fā)明專利，正向設(shè)計(jì),采用進(jìn)的大規(guī)模集成器件、軟件無(wú)線電和微弱信號(hào)處理技術(shù)，采用了ARM9 + DSP + FPGA + DDS等進(jìn)數(shù)字技術(shù)，,實(shí)現(xiàn)了在20Hz~2MHz(系列化產(chǎn)品20Hz-200kHz、300kHz、500kHz、1MHz、2MHz)連續(xù)任意范圍內(nèi)對(duì)被測(cè)元件十余種參數(shù)進(jìn)行測(cè)量分析功能，其頻率分辨率高達(dá)1mHz，測(cè)量精度優(yōu)于0.1%-0.05%。本儀器無(wú)論技術(shù)性還是技術(shù)性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)際同等儀器的水平，具有同類型儀器的性價(jià)比，可替代國(guó)際同類型儀器產(chǎn)品。 測(cè)量參數(shù)：│Z│ 、Y、C、L、X、B、R、G、D、Q、θ 測(cè)量范圍：R、│Z│ ：0.01Ω-100MΩ C：0.1pF-10F L：0.1nH-1000H 測(cè)試頻率：20Hz-2MHz (連續(xù)) CS7620 20Hz-1MHz (連續(xù)) CS7610 20Hz-500kHz(連續(xù)) CS7605 20Hz-300kHz(連續(xù)) CS7603 20Hz-200kHz(連續(xù)) CS7602 頻率分辨率：1mHz, 頻率失真度：0.01% 測(cè)試電平：5mV-2Vrms 輸出阻抗：30Ω、100Ω 基本測(cè)量精度：0.1%-0.05% 校準(zhǔn)：開路/短路/負(fù)載 頻響分析：任意頻率范圍的元件頻率響應(yīng)分析 外觀尺寸:285mm×95mm×410mm | |
LCR表: HP4275A HP4276A HP4277ALCR表: HP4275A HP4276A HP4277A
二手LCR表: HP4275A HP4276A HP4277A
HP4262A 120HZ-10KHZ 7臺(tái)
HP4276A 100HZ-20KHZ 2臺(tái)
HP4277A 10K-1MHZ 1臺(tái)
HP4274A 100HZ-100KHZ 3臺(tái)
HP4275A 10KHZ-10MHZ 5臺(tái)
HP4263A/B 100 Hz-100 kHz 2臺(tái)
(100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz和100 kHz)
HP4284A 20HZ-1MHZ 1臺(tái)
HP4284L 20HZ-500KHZ 1臺(tái)
HP4191A 1-1000MHZ 3臺(tái)
HP4192A 5HZ-10MHZ 2臺(tái)
HP4291A 1MHZ-1.8GHZ 1臺(tái)
HP4193A 400KHZ-110MHZ 1臺(tái)
HP4285A 75KHZ-30MHZ 3臺(tái)
HP4286A 1MHz-1GHz 4臺(tái)
HP4287A 1MHz～3GHz 1臺(tái)(訂貨)
AG-4311 100Hz - 100KHz 2臺(tái)
HP4278A 1KHZ/1MHZ 7臺(tái)(電容表)
HP4338A/B (訂購(gòu))
HP4339A/B 高阻表 2臺(tái)
LCR 1061A (全華) 1臺(tái)
LCR 1062A (全華) 4臺(tái)
LCR 102 (全華) 2臺(tái)
LCR 100 (全華) 7臺(tái)
全華:3200 變壓器測(cè)試儀 4臺(tái)
HP4261A 120HZ/1KHZ 2臺(tái)
FLUKE PM6306 50HZ-1MHZ 1臺(tái)
FLUKE PM6304 50HZ-100KHZ 1臺(tái)
KIOKI 3532-50 42HZ-5MHZ 1臺(tái)
本公司現(xiàn)金收購(gòu):音頻儀器,視頻儀器,高頻儀器(如網(wǎng)絡(luò)分析儀,
頻譜分析儀高頻信號(hào)源,無(wú)線電綜合測(cè)試儀等高頻儀器,并高頻承接儀器維修)
頻譜分析儀: HP8594E R3131 R3131A
1,HP8594E 9K-2.9GHZ 2臺(tái)
2,R3131 9K-3GHZ 3臺(tái)
3,R3131A 9K-3GHZ 2臺(tái)
4, R3131A 9K-2.7GHZ 2臺(tái)
5,IFR 2398 9K-2.7GHZ 1臺(tái)
6, IFR 2398 9K-1.5GHZ 2臺(tái)
7,HP8591A/B 9K-1.5GHZ 1臺(tái)
8,HP8560A 10HZ-2.9GHZ 3臺(tái)
9,HP8560B/E 9K-6.5GHZ 2臺(tái)
10,HP8595E 9K-6.5GHZ 2臺(tái)
11,R4131 A/B/C/D 9K-3.5GHZ 5臺(tái)
12,MS 2601A 10K-2.2GHZ 7臺(tái)
13, MS 2601A 9K-2.6GHZ 4臺(tái)
14,R3361 A/B/C/D 9K-3.6GHZ 5臺(tái)
15,TEK 2710, 9K-1.8GHZ 2臺(tái)
16,TEK 2712 9K-1.8GHZ 3臺(tái)
17TEK 2715 9K-1.8GHZ 1臺(tái)
18,R3265 /A 100HZ-8GHZ 2臺(tái)
19,R3465 100HZ-8GHZ 3臺(tái)
20,ESA-1500 9K-1.5GHZ 1臺(tái)
21,HP8590A/B/D 9K-1.5GHZ 3臺(tái)
22,E4401B 9K-1.5GHZ 1臺(tái)
23,HP8592A/B 9K-22GHZ 1臺(tái)
24,HP8560E 30HZ-2.9GHZ 2臺(tái)
25,HP8563E 9K-26.5GHZ 1臺(tái)
26,HP8564E 9K-40GHZ 1臺(tái)
27,HP8562A 9K-22GHZ 1臺(tái)
28,LG SA-930 9K-3GHZ 3臺(tái)
29,LG SA-920 9K-3GHZ 2臺(tái)
30,U4191 9K-2.2GHZ 2臺(tái)
31,MS2663B 9K-8GHZ 4臺(tái)
32,R3267 9K-13.2GHZ 1臺(tái)
33,HP8596E 9K-12.8GHZ 1臺(tái)
34,TEK 2712 9K-1.8GHZ 2臺(tái)
35, TR4172 400KHZ-1.8GHZ 1臺(tái)
36 HM-5005 500MHZ 1臺(tái)
37,HM-5010 1GHZ 2臺(tái)
38,HM-5011 1GHZ 2臺(tái)
39,MS8604A 9K-8GHZ 3臺(tái)
40,MS8602 9K-8GHZ 2臺(tái)
41,E4403B 9K-3GHZ 1臺(tái)
42,HP3588A 10Hz - 150 MHz 2臺(tái)
43,HP3585A 20HZ-40MHZ 1臺(tái)
44,TR4120 9K-30MHZ 2臺(tái)
45,MS2665 100KHZ-3GHZ 1臺(tái)
46,HP8567A/B 100HZ-1.5GHZ 2臺(tái)
47,HP8568A/B 100HZ-1.5GHZ 2臺(tái)
48,TEK3026 9K-3GHZ 1臺(tái)
49,HP8593E 9K-22GHZ 1臺(tái)
50,HP8562A 9K-22GHZ 1臺(tái)
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LCR數(shù)字電橋
4284A精密LCR測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 | ||||
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過(guò)提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合最通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無(wú)論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。 | ||||
優(yōu)點(diǎn) | ||||
l 20Hz-1MHz具有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率 l 0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率 l 恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平 l 20Vrms電平選件（選件001） l 用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc l 具有列表掃描測(cè)量功能 | ||||
技術(shù)指標(biāo)： | ||||
被測(cè)參數(shù) | |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差 | |||
測(cè)量電路模式 | 串聯(lián)和并聯(lián) | |||
量程轉(zhuǎn)換 | 自動(dòng)和手動(dòng) | |||
觸發(fā) | 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB） | |||
延遲時(shí)間 | 0-60.00s以1ms步進(jìn) | |||
測(cè)量終端 | 四端對(duì) | |||
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 | 標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m | |||
積分時(shí)間： | 短、中等和長(zhǎng) | |||
取平均： | 1-256可程控 | |||
測(cè)試信號(hào)： | 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率 | |||
測(cè)試信號(hào)方式： | 電平 | 標(biāo)準(zhǔn) | 恒定 | |
4284A | 5mV~2V,50μA-20mA | 10mV-1V,100μA-10mA | ||
選件001 | 5mV~2V,50μA-200mA | 10mV-10V,100μA-100mA | ||
標(biāo)準(zhǔn)： | 分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程 | |||
恒定： | 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān) | |||
測(cè)試信號(hào) | ||||
直流偏置： | 標(biāo)準(zhǔn)：0V，1.5V和2V 選件：0V-±40V | |||
測(cè)量顯示范圍 | 參數(shù) | 范圍 | ||
|Z|,R,X | 0.01mΩ-99.9999MΩ | |||
|Y|,G,B | 0.01nS-99.9999S | |||
C | 0.01fF-9.9999F | |||
L | 0.01nH-99.9999kH | |||
D | 0.000001-9.99999 | |||
Q | 0.01-99999.9 | |||
θ | -180.000°~180.000° | |||
Δ% | -999.999%~999.999% | |||
基本測(cè)量精度
| |Z|,C,L | D | ||
0.05% | 0.0005 | |||
測(cè)量時(shí)間： | 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間 | |||
短 | 40ms | |||
中等 | 190ms | |||
長(zhǎng) | 830ms | |||
選件001直流偏流輸出 | 100mA max | |||
顯示器 | ||||
LCD點(diǎn)陣顯示： | 顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示 | |||
修正功能 | 開路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 | |||
接負(fù)載： | 利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度 | |||
列表掃描功能 | 最多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程？蛇M(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試 | |||
比較器 | 10倉(cāng)室（ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù) | |||
倉(cāng)室計(jì)數(shù)： | 0-999999 | |||
列表掃描比較器： | 高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn) | |||
其它功能 | ||||
存儲(chǔ)/加載： | 10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載 | |||
HP-IB | 所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果 | |||
存儲(chǔ)器： | 存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)最多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式 | |||
電源要求 | 100/120/220V±10%,240V 5%/-10%,47-66Hz | |||
功耗 | 200VA max | |||
工作溫度和濕度 | 0°~55℃,在40℃時(shí)相對(duì)濕度≤95% | |||
尺寸 | 42mm(寬）＊177(高）mm＊498mm(長(zhǎng)）（16.77英寸）＊（6.97英寸）＊（19.61英寸） | |||
重量： | 約16kg (35.2磅） | |||
附件： ·42841A偏置電流電源 偏置阻抗輸出：（23±5℃）；0.01A-20.0A 基本阻抗精度：當(dāng)與4284A/4285A配用時(shí)為1%（1kHz-1MHz) 接口：常規(guī)，可直接由4284A/帶選件002的4285A控制·HP 42842A/B偏置電流測(cè)試夾具 -對(duì)于大的直流偏置電流測(cè)量，與4284A和42841A配用： 42842A:20A max 42842B:40A max·42842C偏置測(cè)試夾具： 對(duì)于大的直流偏置電流測(cè)量，與4285A和42841A柄用，10A max.·42843A偏置電流電纜： 與4284A，42841A（2臺(tái)件），和用于最大電流為40A的42842B配用 主要技術(shù)資料： ·4284A/4285A/4286A精密LCR測(cè)試儀系列技術(shù)資料，p/n5963-5391E·4284A技術(shù)數(shù)據(jù)，p/n5963-5390E·LCR測(cè)試儀，阻抗分析儀和測(cè)試夾具選購(gòu)指南，p/n 5950-1430E 訂貨信息 ·4284A 精密LCR測(cè)試儀式 Opt 001功能放大器。直接偏置 Opt 002偏置電流接口 Opt 004存儲(chǔ)卡 Opt 2m/4m電纜長(zhǎng)度操作 Opt 除GPIB接口（用于兩種測(cè)試儀） Opt 201一般用途處理器接口（用于兩種測(cè)試儀） Opt 202處理器接口（用于兩種測(cè)試儀） Opt 301掃描器接口（用于兩種測(cè)試儀）42841A 偏置電流源42842A 偏置電流測(cè)試夾具（20Amax)42842B 偏置電流測(cè)試夾具（40Amax)42842C 偏置電流測(cè)試夾具（10Amax) Opt 001 SMD 測(cè)試夾具（只用于HP42842C）42843A 偏置電流電纜 | ||||
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