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X熒光鍍層測厚儀X-Strata960 X熒光鍍層測厚儀X-Strata960

X-Strata960測厚儀基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）�？赏ㄟ^手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。
自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
的大型測厚儀樣品室 - 更大的開槽式測厚儀樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品�？蓮母鱾€方向簡便的裝載和觀察樣品。
3種測厚儀樣品臺選項 - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移動范圍）/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制（230mm或9inch移動范圍）。
測厚儀內置PC用戶界面

技術參數

主要規(guī)格	規(guī)格描述
X射線激發(fā)和檢測	牛津儀器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦點鎢靶X射線管
X射線激發(fā)和檢測	高分辨封氣（Xe）正比計數器可獲取的計數靈敏度，配合二次濾光器機構實現的檢出效果
數字脈沖處理	4096通道數字多道分析器，數字光譜處理過程可獲取的信號采集（每秒計數量），從而的測量統(tǒng)計結果
手動或自動透鏡控制	手動透鏡控制：通過手動調整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
手動或自動透鏡控制	自動透鏡控制：激光束自動尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
自由距離測定	簡化系統(tǒng)設置和維護
	在聚焦距離范圍內僅需要一個校正
	對不規(guī)則樣品更靈活的測量
	在12.7mm-88.9mm的自由距離內，可測量樣品表面的任何一點
	通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離

附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦	獨特的、自動樣品擺放系統(tǒng)
	激光掃描單鍵啟動
	消除樣品碰擊Z軸的機會
	改善DIM的聚焦過程
標準激光聚焦	標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動尋找正確的Z軸位置，提高分析再現性，結果不受人為操作的影響
	Z軸聚焦掃描單鍵啟動
	改善DIM和常規(guī)固定焦距測量時的聚焦過程
微小準直器	儀器至少裝備一個客戶指定規(guī)格的準直器以化測量，并提高測量效率
	備有各種規(guī)格準直器（0.015mm – 0.5mm）,園形或矩形供客戶選用
	多準直器程序交換系統(tǒng)可同時安裝4個準直器
大樣品室設計	方便超大樣品的推拉式平臺：如大面積PCB板、較長的管材樣品
	大型開發(fā)式樣品室：方便于從各方向進樣和觀察樣品
	三種樣品臺備選：可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺
	標準配置自動化Z軸：最大高度230mm
集成化計算機	工作站式設計：改善人機工程學、方便使用
	簡化設備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜
	減少整機占用空間
	USB和Ethernet接口：打印機、刻錄機、局域網和遠程在線支持功能
其他硬件特點	CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實現對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測
	溫度補償功能監(jiān)測系統(tǒng)溫度，并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩(wěn)定性
	光譜校準、單擊鼠標執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
	堅實耐用的儀器設計適用于各種工業(yè)環(huán)境
	一體化工作站設計實現的人機

該公司產品分類：真空度計日本理音日本小野欣銳儀器德國Novi 德國百瑞高臺灣泰仕TES 德國德圖testo 美國雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港希瑪SMART 德國QBL 意大利哈納HANNA 美國聯(lián)合系統(tǒng) 美國ESC 美國斯德克韓國卡利安株式會社德國喜利得HILTI

CMI900CMI900(X熒光鍍層測厚儀)

詳細說明

CMI900鍍層測厚儀特點：

精度高、穩(wěn)定性好
強大的數據統(tǒng)計、處理功能
測量范圍寬
NIST認證的標準片
全球服務及支持

技術參數

主要規(guī)格	規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng)	垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
	空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
	標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
	裝備有安全防射線光閘
	二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng)	最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
	多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸	在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
	在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室	CMI900		CMI950
－樣品室結構	開槽式樣品室		開閉式樣品室
－最大樣品臺尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍	標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選		300mm x 300mm
－Z軸程控移動高度	43.18mm		XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統(tǒng)		高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
		激光自動對焦功能
		可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統(tǒng)配置		IBM計算機惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件		操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍		可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能		采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
		樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
		可檢測元素范圍：Ti22 – U92
		可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
		貴金屬檢測，如Au karat評價
		材料和合金元素分析，
		材料鑒別和分類檢測
		液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
		多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
		元素光譜定性分析
－調整和校正功能		系統(tǒng)自動調整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移
－測量自動化功能		鼠標激活測量模式：“PointShoot”
		多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
		測量位置預覽功能
		激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能		設定測量點
		連續(xù)多點測量
		測量位置預覽(圖表顯示)

－統(tǒng)計計算功能	平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
	數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
	數據庫存儲功能
	任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能	Z軸保護傳感器
	樣品室門開閉傳感器
	操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師

行業(yè)

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優(yōu)點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。

應用

用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。

CMI900X-熒光鍍層測厚儀

CMI做為品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個行業(yè)標準，南華地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具

X-熒光鍍層測厚儀CMI900 / 950金屬鍍層厚度的精確測量

CMI 900 / 950 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的自動化控制，

技術參數：

CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業(yè)

A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層

（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。

B ：精確度領先于世界，精確到0。025um (相對與標準片)

C ：數據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；

如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。

D ：統(tǒng)計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：一：手動樣品臺1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

二：自動樣品臺

1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。此樣品臺可實現測定點自動編程控制。 2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。

3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

CMI900/950主要技術規(guī)格如下：

No.	主要規(guī)格	規(guī)格描述
1	X射線激發(fā)系統(tǒng)	垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
		空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
		標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
		功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 X射線管功率可編程控制
		裝備有安全防射線光閘
2	濾光片程控交換系統(tǒng)	根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)
		二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
		位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3	準直器程控交換系統(tǒng)	最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制
		多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4	測量斑點尺寸	在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
		在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
5	X射線探測系統(tǒng)	封氣正比計數器
		裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6	樣品室	CMI900	CMI950
	－樣品室結構	開槽式樣品室	開閉式樣品室
	－最大樣品臺尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
	－XY軸程控移動范圍	標準：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mm x 300mm
	－Z軸程控移動高度	43.18mm	XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm
	－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

X-Strata960 X熒光鍍層測厚儀X-Strata960

X-Strata960測厚儀基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）�？赏ㄟ^手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。
自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
的大型測厚儀樣品室 - 更大的開槽式測厚儀樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品�？蓮母鱾€方向簡便的裝載和觀察樣品。
3種測厚儀樣品臺選項 - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移動范圍）/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制（230mm或9inch移動范圍）。
測厚儀內置PC用戶界面

技術參數

主要規(guī)格	規(guī)格描述
X射線激發(fā)和檢測	牛津儀器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦點鎢靶X射線管
X射線激發(fā)和檢測	高分辨封氣（Xe）正比計數器可獲取的計數靈敏度，配合二次濾光器機構實現的檢出效果
數字脈沖處理	4096通道數字多道分析器，數字光譜處理過程可獲取的信號采集（每秒計數量），從而的測量統(tǒng)計結果
手動或自動透鏡控制	手動透鏡控制：通過手動調整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
手動或自動透鏡控制	自動透鏡控制：激光束自動尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
自由距離測定	簡化系統(tǒng)設置和維護
	在聚焦距離范圍內僅需要一個校正
	對不規(guī)則樣品更靈活的測量
	在12.7mm-88.9mm的自由距離內，可測量樣品表面的任何一點
	通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離

附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦	獨特的、自動樣品擺放系統(tǒng)
	激光掃描單鍵啟動
	消除樣品碰擊Z軸的機會
	改善DIM的聚焦過程
標準激光聚焦	標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動尋找正確的Z軸位置，提高分析再現性，結果不受人為操作的影響
	Z軸聚焦掃描單鍵啟動
	改善DIM和常規(guī)固定焦距測量時的聚焦過程
微小準直器	儀器至少裝備一個客戶指定規(guī)格的準直器以化測量，并提高測量效率
	備有各種規(guī)格準直器（0.015mm – 0.5mm）,園形或矩形供客戶選用
	多準直器程序交換系統(tǒng)可同時安裝4個準直器
大樣品室設計	方便超大樣品的推拉式平臺：如大面積PCB板、較長的管材樣品
	大型開發(fā)式樣品室：方便于從各方向進樣和觀察樣品
	三種樣品臺備選：可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺
	標準配置自動化Z軸：最大高度230mm
集成化計算機	工作站式設計：改善人機工程學、方便使用
	簡化設備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜
	減少整機占用空間
	USB和Ethernet接口：打印機、刻錄機、局域網和遠程在線支持功能
其他硬件特點	CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實現對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測
	溫度補償功能監(jiān)測系統(tǒng)溫度，并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩(wěn)定性
	光譜校準、單擊鼠標執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
	堅實耐用的儀器設計適用于各種工業(yè)環(huán)境
	一體化工作站設計實現的人機工程學

該公司產品分類：紡織儀器工具記錄儀變送器儀器配件電源供應器溫度熱電偶空調檢測儀器農業(yè)檢測儀器表面測試儀器家居系列產品安規(guī)檢測儀器測繪檢測儀器建筑檢測儀器計量標定儀器通用檢測儀器電子電力工具水質分析儀器電力電工儀器警用安檢設備

XRF2000熒光鍍層測厚儀

詳細資料請電：１３７６１４００８２６

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.

可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）可測量厚度范圍：原子序 22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射線管：油冷,超微細對焦高壓：0-50KV（程控）準直器：固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標準藥液. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質

該公司產品分類：共立水質測試包孔銅測厚儀 X光測厚儀其他檢測設備其他檢測設備其他自動添加控制器電鍍生產線自動添加設備測厚儀

X-Strata960X熒光鍍層測厚儀

基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：

l 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間

l 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。

l 距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）�？赏ㄟ^手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。

l 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。

l 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。

l 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。

l 內置PC用戶界面　

技術參數

l X射線激發(fā)和檢測

牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管

高分辨封氣(Xe)正比計數器可獲取的計數靈敏度，配合二次濾光器機構實現的檢出效果

l 數字脈沖處理

4096通道數字多道分析器，數字光譜處理過程可獲取的信號采集(每秒計數量)，從而的測量統(tǒng)計結果

l 手動或自動透鏡控制

手動透鏡控制：通過手動調整DIM旋鈕控制分析聚焦距離

自動透鏡控制：激光束自動尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離

l 自由距離測定

簡化系統(tǒng)設置和維護

在聚焦距離范圍內僅需要一個校正

對不規(guī)則樣品更靈活的測量

在12.7mm-88.9mm的自由距離內，可測量樣品表面的任何一點

通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離

l 附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦

獨特的、自動樣品擺放系統(tǒng)

激光掃描單鍵啟動

消除樣品碰擊Z軸的機會

改善DIM的聚焦過程

l 標準激光聚焦

標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動尋找正確的Z軸位置，提高分析再現性，結果不受人為操作的影響

Z軸聚焦掃描單鍵啟動

改善DIM和常規(guī)固定焦距測量時的聚焦過程

l 微小準直器

儀器至少裝備一個客戶指定規(guī)格的準直器以化測量，并提高測量效率

備有各種規(guī)格準直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用

多準直器程序交換系統(tǒng)可同時安裝4個準直器

l 大樣品室設計

方便超大樣品的推拉式平臺：如大面積PCB板、較長的管材樣品

大型開發(fā)式樣品室：方便于從各方向進樣和觀察樣品

三種樣品臺備選：可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺

標準配置自動化Z軸：最大高度230mm

l 集成化計算機

工作站式設計：改善人機工程學、方便使用

簡化設備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜

減少整機占用空間

USB和Ethernet接口：打印機、刻錄機、局域網和遠程在線支持功能

l 其他硬件特點

CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實現對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測

溫度補償功能監(jiān)測系統(tǒng)溫度，并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩(wěn)定性

光譜校準、單擊鼠標執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性

堅實耐用的儀器設計適用于各種工業(yè)環(huán)境

一體化工作站設計實現的人機工程學

該公司產品分類：超聲波測厚儀

CMI960X熒光鍍層測厚儀

CMI900 X熒光鍍層測厚儀特點:● 精度高、穩(wěn)定性好 ● 強大的數據統(tǒng)計、處理功能 ● 測量范圍寬 ● X熒光鍍層測厚儀NIST認證的標準片 ● 全球服務及支持

CMI900 X熒光鍍層測厚儀技術參數： X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準? 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選裝備有安全防射線光閘二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選準直器程控交換系統(tǒng)X熒光鍍層測厚儀最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)樣品室結構：開槽式樣品室最大樣品臺尺寸： 610mm x 610mm XY軸程控移動范圍：標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 Z軸程控移動高度:? 43.18mm XYZ三軸控制方式: X熒光鍍層測厚儀多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制樣品觀察系統(tǒng):高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。激光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能計算機系統(tǒng)配置: IBM計算機,惠普或愛普生彩色噴墨打印機分析應用軟件:? 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺, 分析軟件包：SmartLink FP軟件包測厚范圍:?可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 CMI900 X熒光鍍層測厚儀基本分析功能:采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正貴金屬檢測，如Au karat評價材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析調整和校正功能: 系統(tǒng)自動整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移測量自動化功能鼠標激活測量模式：“PointShoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能樣品臺程控功能: 設定測量點, 連續(xù)多點測量, 測量位置預覽(圖表顯示)X熒光鍍層測厚儀統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師

CMI900X熒光鍍層測厚儀

CMI900 X熒光鍍層測厚儀

產品特點：

u 精度高、穩(wěn)定性好

u 強大的數據統(tǒng)計、處理功能

u 測量范圍寬

u NIST認證的標準片

u 全球服務及支持

技術參數

主要規(guī)格	規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng)	垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
	空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
	標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標準 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選
	裝備有安全防射線光閘
	二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng)	最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
	多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸	在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準直器）
	在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準直器）
樣品室	CMI900		CMI950
－樣品室結構	開槽式樣品室		開閉式樣品室
－最大樣品臺尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍	標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選		300mm x 300mm
－Z軸程控移動高度	43.18mm		XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統(tǒng)		高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
		激光自動對焦功能
		可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統(tǒng)配置		IBM計算機惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件		操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍		可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能		采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
		樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
		可檢測元素范圍：Ti22 – U92
		可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
		貴金屬檢測，如Au karat評價
		材料和合金元素分析，
		材料鑒別和分類檢測
		液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
		多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
		元素光譜定性分析
－調整和校正功能		系統(tǒng)自動調整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移
－測量自動化功能		鼠標激活測量模式：“PointShoot”
		多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
		測量位置預覽功能
		激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能		設定測量點
		連續(xù)多點測量
		測量位置預覽（圖表顯示）
－統(tǒng)計計算功能		平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
		數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
		數據庫存儲功能
		任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能		Z軸保護傳感器
		樣品室門開閉傳感器
		操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師

行業(yè)：

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優(yōu)點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。

應用：

用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。

該公司產品分類：產品介紹 JAZ系列光譜儀 NIR近紅外光譜儀 QE65000系列光譜儀 maya2000系列光譜儀 HR4000系列光譜儀 USB2000系列光譜儀海洋光學

900CMI900（X熒光鍍層測厚儀）

應用

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優(yōu)點的

情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。

行業(yè)

用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量。

主要規(guī)格規(guī)格描述

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

裝備有安全防射線光閘

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器

多種規(guī)格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

樣品室

－樣品室結構開槽式樣品室

－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm

－XY軸程控移動范圍標準：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選

－Z軸程控移動高度 43.18mm

－XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數為30倍。

（50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）激光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍：Ti22 – U92。可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

貴金屬檢測，如Au karat評價

材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析

－調整和校正功能系統(tǒng)自動調整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移

－測量自動化功能鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測量模式，測量位置預覽功能，激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能設定測量點，連續(xù)多點測量，測量位置預覽

－統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能

－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器

●精度高、穩(wěn)定性好

●強大的數據統(tǒng)計、處理功能

●測量范圍寬

●NIST認證的標準片

●全球服務及支持

980X熒光鍍層測厚儀ROHS檢測儀

主要規(guī)格規(guī)格描述

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

裝備有安全防射線光閘

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器

多種規(guī)格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

樣品室

－樣品室結構開槽式樣品室

－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm

－XY軸程控移動范圍標準：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選

－Z軸程控移動高度 43.18mm

－XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數為30倍。

（50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）激光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍：Ti22 – U92�？赏瑫r測定5層/15種元素/共存元素校正

貴金屬檢測，如Au karat評價

材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析

－調整和校正功能系統(tǒng)自動調整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移

－測量自動化功能鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測量模式，測量位置預覽功能，激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能設定測量點，連續(xù)多點測量，測量位置預覽

－統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能

－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器

●精度高、穩(wěn)定性好

●強大的數據統(tǒng)計、處理功能

●測量范圍寬

●NIST認證的標準片

●全球服務及支持