Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀
30多年來，Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，結(jié)合動態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。 應(yīng)用領(lǐng)域： 有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。
主要特點(diǎn)
﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級，提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，避免了多重散射現(xiàn)象，高濃度溶液中納米顆粒測 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測量窗口，消除雜散光對檢測器的負(fù)面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢 測系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對米氏理論計(jì)算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫，提 高顆粒粒度分布測試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)
技術(shù)參數(shù)
粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒） 測量原理：動態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專利技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設(shè)計(jì)，“非球形”顆粒校正選項(xiàng)，微電場設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321 環(huán)境溫度：10ºC to 35ºC 相對濕度：小于90%
NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀
NanoPlus是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術(shù)來分析納米粒度和zeta電位，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。
該款儀器具有以下技術(shù)特點(diǎn)：
- 可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
- 可測定固體zeta電位
- 寬粒徑范圍（0.6nm~10μm），寬濃度范圍（粒徑測試：0.00001%~40%，zeta電位測試：0.001%~40%）
- 可精確測量稀釋或濃縮的懸浮液
- 用戶友好的軟件
- 多種樣品池選擇
- 可選擇一次性樣品池
- 結(jié)合線性相關(guān)器和對數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對各種樣品進(jìn)行表征
- 可選擇自動滴定裝置控制懸浮液PH值
產(chǎn)品應(yīng)用：
半導(dǎo)體
研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。
醫(yī)藥和食品行業(yè)
乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。
陶瓷和顏料工業(yè)
表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
聚合物和化工領(lǐng)域
乳劑（涂料和粘合劑）的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。
激光粒度儀及Zeta電位分析儀
諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威
【河北慧采科技開發(fā)有限公司】老百姓信得過產(chǎn)品★★消費(fèi)者放心滿意品牌★★邢臺十強(qiáng)企業(yè)★★中國質(zhì)量AAA級企業(yè)★★邢臺質(zhì)量.服務(wù).誠信AAA企業(yè)★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號2、諸城納米粒度及zeta電位分析儀宣威激光粒度及zeta電位分析儀宣威多種型號圖片 |  |  |
| 型號:RL134585激光粒度分析儀-WJL-628 | 型號:RL134587CW300S-70清潔度掃描儀 | 型號:RL134592激光粒度分析儀WJL-628 |
型號:RL134585激光粒度分析儀-WJL-628主要技術(shù)指標(biāo)：
1、測量范圍：濕法：0.02～1200微米
干法：0.1～1200微米
2、準(zhǔn)確性誤差：〈±1%（國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）
3、重復(fù)性偏差：〈±1%（國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）
4、電氣要求：交流220±10V，50Hz, 200W
5、外觀尺寸：主機(jī)1000×330×300mm
干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm
濕法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm
6、重量：50KG
工作原理：
采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。
顆粒測試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對比較簡單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134585-pid-9502.html激光粒度分析儀-WJL-628型號:RL134587CW300S-70清潔度掃描儀CW300S-70清潔度掃描儀
清潔度掃描儀用途:
CW300S-70 清潔度掃描顯微鏡性能卓越，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。在模具制造、精密制造、電線電纜、數(shù)字化工程、鞋楦服飾等方面都有成功案例。
清潔度掃描儀應(yīng)用范圍 ：
汽車零部件掃描、快速檢測、快速成型、汽車零件清潔度檢測、顆粒度分析、醫(yī)用針制造，電纜絕緣層檢測、科學(xué)研究、計(jì)算機(jī)視覺、先進(jìn)制造、數(shù)字文物、數(shù)字博物館、考古研究、顯微形貌
清潔度掃描儀功能介紹：
1.本掃描儀可以快速掃描樣品表面數(shù)據(jù)，能掃描顆粒、空洞、溝槽，斷裂的表面。
2.具有圖形編輯功能，可以去噪、標(biāo)準(zhǔn)化，去處不需要部分
3.掃描速度可以無級調(diào)整，可以快速預(yù)覽掃描結(jié)果
4.可以通過標(biāo)定自定位，進(jìn)行自動拼接，無需貼標(biāo)記點(diǎn)；也可以手工輔助拼接。
5.提供標(biāo)定功能，無需返廠即可進(jìn)行精度校正，標(biāo)定完成后，會自動分析標(biāo)定結(jié)果報(bào)告，保證標(biāo)定質(zhì)量
6.提供多處理器優(yōu)化，使多核工作站能全速運(yùn)行，獲得實(shí)時(shí)性能
7.可以生成多種數(shù)據(jù)格式，供其他軟件使用，包括sfl，ply等，可以轉(zhuǎn)換到AutoCAD，Geomagic Studio，Rapid Form中進(jìn)行高級處理 。
掃描范圍及精度:
產(chǎn)品型號: CW300S-70
單面掃描范圍(mm): 250×70
單幅精度(mm): 0.005
平均點(diǎn)距(mm): 0.04
單面掃描速度(s) : ＜30s
掃描方式: 非接觸/面掃描
工作原理：
采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。
顆粒測試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對比較簡單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。
無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設(shè)，通過光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測器設(shè)計(jì)和粒度分級，給設(shè)備本身提出很高的要求。
采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級，從而能夠準(zhǔn)確地測量顆粒群的粒度分布。
技術(shù)特點(diǎn)：
測試穩(wěn)定的基礎(chǔ)：只有系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的光信號，才能夠充分保證測試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定。Rise-2022型干濕兩用激光粒度分析儀選用He-Ne氣體激光光源，波長0.6328微米，波長短，線寬窄，穩(wěn)定性好，使用壽命大于25000小時(shí)，能夠很好的為系統(tǒng)提供穩(wěn)定的激光源信號。
數(shù)據(jù)可靠的保證：保證測試數(shù)據(jù)可靠首先是信號探測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)合理，被測樣品分散效果的優(yōu)劣和被測分散液的均勻程度是得出真實(shí)結(jié)果的另一決定性因素。
探測器：光電探測系統(tǒng)設(shè)計(jì)獨(dú)特，靈敏度高，主檢測器一個(gè)，輔助檢測器多個(gè)，采用非均勻性交叉三維扇形矩陣排列，檢測角達(dá)到90度，充分保證了信號探測的全面性。
光路：采用一個(gè)量程設(shè)計(jì)，會聚光路獨(dú)特，減少了傅立葉透鏡組，使測量范圍更寬，分辨率更高，光路免調(diào)。
功能強(qiáng)大的分析軟件：PADMAS顆粒粒度測量分析系統(tǒng)（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能強(qiáng)大，測試數(shù)據(jù)可以做平均、統(tǒng)計(jì)、比較和模式轉(zhuǎn)換等處理，具有微分分布、累積分布、標(biāo)準(zhǔn)分級、R-R分布、自定義分級、按目分級和數(shù)量分布等多種格式。在0.02~2000微米內(nèi)默認(rèn)分級130級，在量程范圍內(nèi)，從1~130級可自定義分級。測試報(bào)告中有粒度分布圖形和粒度數(shù)據(jù)圖表，有D10、D50、D90、平均粒徑和比表面積等特征參數(shù)，有四個(gè)自定義參數(shù)根據(jù) 需要自行輸入，重量比表面積與體積比表面積可以互換。粒度數(shù)據(jù)可保存到EXCEL。支持中、英文格式測試報(bào)告打印，頁眉和頁腳可根據(jù)需要進(jìn)行修改，有打印預(yù)覽功能，能夠?qū)⒘６确植紙D形和粒度數(shù)據(jù)圖表存成圖片或PDF格式，便與WORD交互使用？筛鶕(jù)用戶需要增加其他處理功能。操作簡便：標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡單的操作能夠在短時(shí)間內(nèi)熟練掌握，測試數(shù)據(jù)過程在1分鐘內(nèi)完成。
可視性強(qiáng)：測試軟件界面友好，測試過程清晰可見，瞬時(shí)刷新，可視性強(qiáng)，可隨時(shí)觀察儀器運(yùn)行狀況、測試數(shù)據(jù)波動清況，分析所測數(shù)據(jù)的真實(shí)性、可靠性。循環(huán)、超聲、攪拌和排液等操作鍵都在智能化觸摸式操作面板上，標(biāo)準(zhǔn)、量化、簡單的操作，有效縮短了測試時(shí)間，降低了對操作人員的要求。
設(shè)備維護(hù)：全面的技術(shù)培訓(xùn)和內(nèi)容詳盡的使用操作說明書、軟件在線幫助使操作人員能準(zhǔn)確操作、解決疑問、排除故障。
技術(shù)支持：根據(jù)樣品的密度、異性、脆性、磁性、毒性、流動性、團(tuán)聚性、溶解性和物理化學(xué)反應(yīng)等理化特性，我們總結(jié)出了一套科學(xué)、系統(tǒng)和完整的分散測試方案，隨著儀器提供給用戶。我們既銷售儀器，又提供分散測試方案。
分散方法
集合了WJL系列濕法激光粒度分析儀和干法激光粒度分析儀的分散方法，干樣干測，濕樣濕測。
干法分散：
在干法狀態(tài)下，樣品通過自動干粉進(jìn)樣器均勻輸送到高壓氣流中，在高壓氣流的帶動下連續(xù)高速噴射到分散器中，在到達(dá)分散器出口處樣品已經(jīng)被充分分散，穿過激光束之后樣品進(jìn)入收集器中，同時(shí)電腦立刻顯示出粒度分布信息。
1.干法分散，不需要任何分散劑和溶劑。
2. 采用靜音無油空氣壓縮機(jī)，配以高效冷凝器，保證產(chǎn)生純凈壓縮空氣；
3. 瞬時(shí)分散、瞬時(shí)測量，測試精度快，分析效率高，從進(jìn)樣到出結(jié)果一分鐘內(nèi)完成；
濕法分散：
超聲分散系統(tǒng)能夠?qū)Ρ粶y樣品進(jìn)行充分的分散。大功率超聲器（100W），超聲時(shí)間全自動操作和觸摸式按鍵連續(xù)調(diào)節(jié)，設(shè)置時(shí)間數(shù)字顯示，超聲時(shí)間0~9分50秒連續(xù)可調(diào), 可根據(jù)樣品分散的難易程度設(shè)置超聲時(shí)間，良好的屏蔽處理使超聲分散和樣品測試可同時(shí)進(jìn)行，即使具有超強(qiáng)團(tuán)聚性的顆粒也能夠充分分散以獲得真實(shí)的粒度分布數(shù)據(jù)。樣品分散池（400ml）與主機(jī)一體,不銹鋼材質(zhì)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，呈圓形，循環(huán)排液方便，不留塵垢，便于清洗。采用濕法分散，可用蒸餾水、純凈水和酒精等液體作分散介質(zhì)。
分散液均化：分散液的均勻程度是向探測系統(tǒng)提供穩(wěn)定散射光信號的前提，本儀器采用連續(xù)可調(diào)的攪拌和循環(huán)充分保證了分散液的均勻度。
攪拌系統(tǒng)：根據(jù)被測樣品的特性選擇合適的攪拌速度，防止顆粒沉淀，使分散液混合均勻，攪拌轉(zhuǎn)速全自動操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào)，設(shè)置速度數(shù)字顯示，攪拌轉(zhuǎn)速0~3000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào)，測試過程中同時(shí)開啟超聲可避免因攪拌速度過快產(chǎn)生氣泡造成的測試誤差。
循環(huán)系統(tǒng)：根據(jù)被測樣品的特性選擇合適的循環(huán)泵速，防止循環(huán)管路中顆粒沉淀，循環(huán)泵速全自動操作和觸摸式按鍵連續(xù)可調(diào)，設(shè)置速度數(shù)字顯示，循環(huán)泵速0~5000轉(zhuǎn)/分鐘連續(xù)可調(diào)，測試過程中同時(shí)開啟超聲既可避免因循環(huán)速度過快產(chǎn)生氣泡造成的測試誤差，又能夠防止顆粒在循環(huán)過程中產(chǎn)生團(tuán)聚。
主要技術(shù)指標(biāo)：
1、測量范圍：濕法：0.02～1200微米
干法：0.1～1200微米
2、準(zhǔn)確性誤差：〈±1%（國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）
3、重復(fù)性偏差：〈±1%（國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）
4、電氣要求：交流220±10V，50Hz, 200W
5、外觀尺寸：主機(jī)1000×330×300mm
干法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm
濕法進(jìn)樣系統(tǒng)350×330×300mm
6、重量：50KG
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/9502.html粒度分析儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-134592-pid-9502.html激光粒度分析儀WJL-628溫馨提示：潤聯(lián)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請說明是在潤聯(lián)看到的，并告知型號
超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202
超聲粒度及Zeta電位分析儀
提供所有單臺儀器測量粒度分布, zeta電位和流變性質(zhì)(選件)的可能性 在一個(gè)樣品池中可以同時(shí)測量粒度分布和zeta電位 可以選擇附加各種探頭式測量傳感器, 包括溫度、pH值、電導(dǎo)率、和流變性質(zhì)測量，以及非水系統(tǒng)選項(xiàng)和軟件控制的自動滴定系統(tǒng) 所有探頭均可同時(shí)操作 統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理 超聲粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品簡介：利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí)，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的Zeta電位。對于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無需進(jìn)行樣品稀釋或處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測量。 傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò)，而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進(jìn)行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數(shù)規(guī)格： 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無需稀釋直接測定,測量固體含量范圍:1% ～ 50% 3. 樣品※大測量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500～3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動掃描18個(gè)gap或以上 7. 粒徑測量: 5nm ～ 1000um 8. 可測量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個(gè)別粒徑 9. 測量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計(jì)圖 - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90 - 數(shù)據(jù)庫可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個(gè)參數(shù)的散射圖 - 用戶定義自動選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動測量粒徑及Zeta電位對pH變化 13.可以及時(shí)分析/顯示Zeta電位與等電點(diǎn) 14.可及時(shí)測量/顯示樣品pH值,電導(dǎo)率,溫度 15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng): Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer
超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產(chǎn)品特點(diǎn)：1.能分析多種分散物的混合體 2.無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾 5.可精確測量無水體系 6.Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量 7.樣品的※高濃度可達(dá)50％（體積比）,被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量 8.具有自動電位滴定功能產(chǎn)品相冊： 
DT-300電聲法zeta電位分析儀
DT系列儀器即是由專業(yè)從事聲學(xué)研究的科學(xué)家組成的、位于美國新澤西州的dispersion technology Co.研發(fā)生產(chǎn)的系列儀器，可準(zhǔn)確測量原濃溶液的粒徑、流變及電動學(xué)參數(shù)，如zeta電位、電導(dǎo)率等等。
1、 用于水相、有機(jī)相（極性或非極性溶劑）懸浮液和乳液表征
2、 采用多頻電聲測量技術(shù)由超聲探頭（Zeta Probe）直接測量
3、 Zeta電位測量范圍：無限制；低表面電荷可低至0.1mV
4、 原濃溶液測試，最小樣品量低至 2ml
5、 同時(shí)測量動態(tài)遷移率和雙電層厚度（Debye Length， 德拜長度）
6、 通過Access數(shù)據(jù)庫進(jìn)行數(shù)據(jù)管理
7、可選自動滴定系統(tǒng)（DT-310）
激光粒度儀及Zeta電位分析儀
Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀
30多年來，Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，結(jié)合動態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。 應(yīng)用領(lǐng)域： 有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。
主要特點(diǎn)
﹡ 專利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級，提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，避免了多重散射現(xiàn)象，高濃度溶液中納米顆粒測 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測量窗口，消除雜散光對檢測器的負(fù)面影響 ﹡ 專利的快速傅利葉變換算法FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢 測系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對米氏理論計(jì)算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫，提 高顆粒粒度分布測試的性 ﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)
技術(shù)參數(shù)
粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒） 測量原理：動態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專利技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設(shè)計(jì)，“非球形”顆粒校正選項(xiàng)，微電場設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321 環(huán)境溫度：10ºC to 35ºC 相對濕度：小于90%
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