技術(shù)參數(shù):執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T1764-79,GB/T134522-92ISO2808-74測(cè)量范圍:0-500μm測(cè)量精度:40μm以下+/-2,40μm以上+/-5% |
X-strata960X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
基于25年涂鍍層測(cè)量經(jīng)驗(yàn),在CMI900系列測(cè)厚儀的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)上,引進(jìn)的設(shè)計(jì):
•;新100瓦X射線管 - 市場(chǎng)上所能提供的的X射線管。提高30%測(cè)量精度,同時(shí)減少50%測(cè)量時(shí)間
•;更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器,可測(cè)量電子器件上更小的部位。提供改進(jìn)的CCD攝像頭及縮放裝置,同時(shí)提供更高精度的Y軸控制。
•;距離獨(dú)立測(cè)量(DIM) - 更靈活地特殊形狀樣品,可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm(0.5-3.5inch)對(duì)樣品表面進(jìn)行測(cè)量,Z軸可控制范圍為230mm(9inch)?赏ㄟ^(guò)手動(dòng)調(diào)整也可以通過(guò)自動(dòng)鐳射聚焦來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的精確對(duì)準(zhǔn)。
•;自動(dòng)鐳射聚焦 - 自動(dòng)尋找振決的聚焦距離,改善DIM的聚焦過(guò)程并提高系統(tǒng)測(cè)量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。
•;的大型樣品室 - 更大的開(kāi)槽式樣品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),開(kāi)槽式設(shè)計(jì)可容納超大尺寸的樣品?蓮母鱾(gè)方向簡(jiǎn)便的裝載和觀察樣品。
•;3種樣品臺(tái)選項(xiàng) - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動(dòng)范圍)/XY手動(dòng)控制(250x250mm或10x10英寸)/固定樣品臺(tái);標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動(dòng)范圍)。
•;內(nèi)置PC用戶界面
X-Strata 960測(cè)厚儀
主要應(yīng)用領(lǐng)域:
用于高精度要求的別測(cè)厚儀
電路板/半導(dǎo)體/連接器端子/五金貴金屬電鍍
(如1.0uinch Au,Ag…)
主要特點(diǎn):
X-Strata 960 X熒光射線測(cè)厚儀,可快速測(cè)定各種材料構(gòu)成
的多層鍍層厚度和元素組成。長(zhǎng)壽命100瓦微焦點(diǎn)X射線管
(其它測(cè)厚儀為50瓦)。提高30%分析精度和減少50%的分
析時(shí)間三種樣品臺(tái)可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm;
手動(dòng)XY軸:250 x 250mm+230mm程控Z軸;固定位置樣品臺(tái),
最大高度230 mm更小準(zhǔn)直器,測(cè)量更小區(qū)域:最小直徑15um
圓形準(zhǔn)直器,20x/80xCCD圖像放大倍數(shù)自由距離測(cè)量DIM:
更靈活地測(cè)量不規(guī)則樣品(凹凸),在12.5~102mm自由聚
焦范圍內(nèi)可聚焦樣品表面任意測(cè)量點(diǎn)。并有自動(dòng)雷射
聚焦功能 一體機(jī)工作站式設(shè)計(jì),簡(jiǎn)化設(shè)備安裝,減少占用
空間。
儀器介紹:
960系列 X射線熒光測(cè)厚儀樣品臺(tái)采用箱體式設(shè)計(jì)‘能
測(cè)量多種幾何形體、各種尺寸的樣品’,測(cè)定方法滿足
ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987
技術(shù)參數(shù):
元素范圍: Ti22 – U92 同時(shí)分析層數(shù)和元素定量:5層
(4層+基體);最多同時(shí)15種元素定量
X射線激發(fā):100瓦(50kV-2.0mA)微焦點(diǎn)鎢靶X射線管
(可選鉬靶X射線管)
X射線檢測(cè): Xe封氣正比計(jì)數(shù)器,可最多裝備3種二次
濾光片
準(zhǔn)直器: 最多4種,多種規(guī)格備選樣品形態(tài): 電鍍、
涂鍍、薄膜、合金、液體、等等
數(shù)字脈沖處理器:4096通道數(shù)字多道分析器,包含自動(dòng)
波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
工作環(huán)境: 10-40℃、相對(duì)濕度小于98%,無(wú)冷凝水
樣品臺(tái)移動(dòng)量: 程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm; 手
動(dòng)XY軸:250 x 250mm+230mm程控Z軸
儀器尺寸:H744 x W686 x D813
重量: 160公斤
GALVANOTEST庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀的介紹:
1. 可測(cè)實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層
2. 利用庫(kù)侖電量分析原理,測(cè)量鍍層、多層鍍層
3. 符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177
GALVANOTEST 可以測(cè)量
70種以上鍍層/基體組合
預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
TT230主要技術(shù)指標(biāo) | |||||||||||||||||
測(cè)量范圍:0~1250μm | |||||||||||||||||
TT230詳細(xì)技術(shù)指標(biāo) | |||||||||||||||||
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UTM-101H 超聲波測(cè)厚儀多少錢 名稱 型號(hào) 頻率 晶片直徑 測(cè)量范圍 說(shuō)明 常規(guī)管測(cè)厚探頭 CT-10 5MHZ Ф10mm 1.2-220mm 用于常規(guī)測(cè)量 小徑管測(cè)厚探頭 XT-6 6MHZ Ф6mm 0.8-50mm 用于測(cè)薄及小徑管測(cè)量 微型測(cè)厚探頭 WT-4 7.5MHZ Ф4mm 2.0-20mm 用于點(diǎn)接觸測(cè)厚,不可做小徑管探頭 鑄鐵測(cè)厚探頭 ZT-12 2.5MHZ Ф12mm 2.0-100mm 可測(cè)各種鑄鐵 中溫測(cè)厚探頭 GT-300 5MHZ Ф10mm 2.0-220mm 上限350℃,需配高溫藕合劑
聯(lián)系人:馬先生 139-5475-7737
TT220涂層測(cè)厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: TT220采用了磁性測(cè)厚法,是一種超小型測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、 精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬 加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小,測(cè)頭與儀器一體化, 特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 主要技術(shù)指標(biāo): ◆測(cè)量原理:磁性法 ◆測(cè)量范圍:1~1250μm ◆測(cè)量精度:±(3%H+1)μm(零點(diǎn)校準(zhǔn)) ±[(1~3)%H+1] μm(二點(diǎn)校準(zhǔn)) 主要功能: ◆可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)。 ◆可對(duì)測(cè)頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。 ◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。 ◆可存貯和統(tǒng)計(jì)計(jì)算15個(gè)測(cè)量值。 ◆具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)。 ◆具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。 ◆刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量。 ◆操作過(guò)程有蜂鳴聲提示。 ◆有欠壓指示功能。 ◆有錯(cuò)誤提示功能。
功能特點(diǎn):
1、自動(dòng)校對(duì)零點(diǎn):可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
2、耦合提示、低電壓提示、自動(dòng)關(guān)機(jī)(無(wú)操作三分鐘后)等功能;
3、聲速調(diào)節(jié):可利用已知厚度試塊測(cè)量聲速;
4、數(shù)據(jù)存儲(chǔ):可以存儲(chǔ)10個(gè)厚度值和5個(gè)聲速值;
5、TT100A具有背光功能,適合在光線不好的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。
技術(shù)參數(shù):
基本配置:
可選附件:
1、TT100/TT100A/TT110/TT120/TT130系列超聲波測(cè)厚儀可選探頭
2、耦合劑