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    • 能源產(chǎn)品及廠家

      華測(cè) 2024 高壓化電源
      華測(cè)hchv系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源,具有完善的保護(hù)系統(tǒng)?蛇b控或本地控制,面板有電壓、電流顯示,高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和an全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功
      更新時(shí)間:2024-11-23
      材料電學(xué)測(cè)試儀器---鐵電分析儀 介電溫譜電卡測(cè)試TSDC電阻等
      huace fe系列鐵電測(cè)試系統(tǒng),有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍,在±500v內(nèi)置電壓下,電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500khz;此系統(tǒng)包含huacepro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kv、10kv、20kv,huace fe主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線,脈沖,漏電流,iv、cv、擊穿測(cè)試,也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、tsdc和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè) TSDC熱刺激電流測(cè)試儀
      一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè) TSDC熱激勵(lì)電流測(cè)試儀
      一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè) TSDC熱激發(fā)化電流測(cè)試儀
      一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè) 高溫絕緣電阻測(cè)試儀   近紅外爐
      高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè) 高溫絕緣電阻測(cè)試儀   近紅外反射爐
      高溫絕緣電阻測(cè)試儀運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《gb/t 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),并參考美國(guó) astm 標(biāo)準(zhǔn)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)高溫絕緣電阻測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè) 多通道介電測(cè)試儀
      一、產(chǎn)品概述多通道介電電阻測(cè)試儀主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用切換時(shí)間 1 ms 高速i/o 輸出控制基于 im3570 與 z
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè)  2024 低壓漏電起痕測(cè)試儀
      hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè)   低壓漏電起痕測(cè)試儀  固體絕緣材料
      hcdh-300低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%nh4cl),用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(ct1)和耐電痕化指數(shù)(pt1)。 hcdh-300 低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、漏電起痕測(cè)試
      更新時(shí)間:2024-11-23
      華測(cè) TSDC 熱刺激測(cè)試儀
      一、產(chǎn)品概述hc-tsc2000熱刺激電流測(cè)試儀借鑒國(guó)jizui先jin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上,由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā),其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kv,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。屬真正的國(guó)產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、
      更新時(shí)間:2024-11-23

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